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「強誘電体メモリ」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 強誘電体メモリの意味・解説 > 強誘電体メモリに関連した英語例文

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強誘電体メモリの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1368



例文

電子部品情報を記録する不揮発性強誘電体メモリを電子部品パッケージに設け、対応する記憶情報読み書き(R/W)部により、非接触で電子部品パッケージから所定の情報を読み出し或いは記録することで、部品の管理をしやすくする記憶機能付き電子部品パッケージにある。例文帳に追加

This electronic component package with a storage function is provided with a non-volatile ferroelectric memory for recording electronic component information, and predetermined information is read or recorded from or in the electronic component package in a non-contact status by a corresponding storage information reading/writing (R/W) part so that the electronic components can be easily managed. - 特許庁

強誘電体メモリ装置は、プログラマブルレジスタ装置を利用し、駆動電源に連結されたキャパシタの容量を調節するスイッチのオン・オフを制御することにより、レファレンスレベル制御信号の電圧を調節して出力するレファレンスプログラム部、及び前記レファレンスレベル制御信号に応じてレファレンス電圧を出力するレファレンス電圧発生部を含む。例文帳に追加

This ferroelectric memory device includes: a reference program part for adjusting and outputting the voltage of a reference level control signal by using a programmable register device to control the on/off of a switch for adjusting the capacitance of a capacitor connected to a driving power source; and a reference voltage generating part for outputting the reference voltage in accordance with the reference level control signal. - 特許庁

1トランジスタ型メモリセルを用いる不揮発性半導記憶装置において、トランジスタのゲート絶縁膜の厚さ方向の少なくとも一部を、Li、BeおよびMgからなる群より選ばれた少なくとも一種類の元素によりZnの一部が置換された誘電性のZnO薄膜により構成する。例文帳に追加

In this nonvolatile semiconductor storage device using single transistor memory cells, at least part of the gate insulating film of a transistor in the thickness direction is constituted of a ferromagnetic ZnO thin film the Zn of which is partially replaced with at least one kind of element selected from among a group composed of Li, Be, and Mg. - 特許庁

本発明はタイミングレファレンス制御機能を有する不揮発性強誘電体メモリ装置及びその制御方法に関し、特にメインビットラインにおいてCMOSしきい値電圧レファレンスを利用してセルデータのセンシング電圧レベルを増幅し、時間軸を基準にレファレンスタイミングストローブの印加時点でセルデータを判定することができるようにする技術を開示する。例文帳に追加

To disclose a technology for amplifying the sensing voltage level of cell data by utilizing a CMOS threshold voltage reference especially in a main bit line and deciding the cell data at the time of application of a reference timing strobe on a basis of a time axis, regarding a nonvolatile ferroelectric memory device having a timing reference control function and a method for controlling the same. - 特許庁

例文

強誘電体メモリセルにデータを書き込み、直ちに読み出しを行うのではなく、書き込んだデータに対応する分極を弱めるような電位差を加えた後、読み出しを行うことにより、短時間でデポラリゼーションした後のセル特性を評価でき、合わせて抗電圧が小さい不良セルをスクリーニングすることが可能となる。例文帳に追加

To evaluate cell characteristics after depolarization in a short time and at the same time to screen faulty cells whose coercive voltage are small without reading out data right after the data is written in ferroelectric memory cells but by reading out the data after applying electric potential which weakens polarization to the memory cells. - 特許庁


例文

少なくとも1個の誘電膜を用いたキャパシタFCと、このキャパシタに直列に接続された1個のMOS FET(Tr)とを備え、キャパシタの一方の電極に与えられる電位により変化するn値(n≧3)の分極量を情報として蓄積するメモリセルを有することを特徴とする。例文帳に追加

This memory is provided with a capacitor FC using at least one ferroelectric film and with one MOSFET (Tr) connected to this capacitor in series, and has a memory cell accumulating polarization quantity of (n) level (n≥3) varied by a potential given to one side of electrodes of the capacitor as information. - 特許庁

このため、本発明は不揮発性強誘電体メモリを利用してテストモード及びデータピンの配置をプログラムし、プログラムされたコードに従いソフトウェア的にアドレス、制御信号及びデータピンの配置状態を再調整することにより、別途のプロセスなくセルアレイの特性を正確にテストすることができるようになる。例文帳に追加

The present invention utilizes the nonvolatile ferroelectric memory to program a test mode and data pin arrangement and rearranges an address, a control signal and a data pin arrangement state in a software manner according to a programmed code, thereby accurately testing the characteristics of the cell array without requiring another process. - 特許庁

メモリ装置1の駆動においては、上述のように、機能素子部50における上部電極24および下部バリア電極19の間に電圧を印加して、機能膜22の抗電場以上に電界を印加することで誘電分極の反転/非反転の状態によりデータを保存することができる。例文帳に追加

As mentioned above in driving the memory device 1, a voltage is applied to between an upper electrode 24 and a lower barrier electrode 19 in a functional element 50, and an electric field is applied at a coercive electric field or more in a functional film 22, resulting in storing data according to a reverse/non-reverse state of a ferroelectric polarization. - 特許庁

プレート線PL,/PLに接続されるメモリセルMCにおける誘電キャパシタFCの下部電極BEを、下部電極−拡散層間コンタクトを介して拡散層AAに接続し、上記拡散層は、拡散層−金属配線間コンタクトcAA−M1を介して、金属配線層で形成されるプレート線に接続した。例文帳に追加

A bottom electrode BE of a ferroelectric capacitor FC in a memory cell MC to be connected to plate lines PL, /PL is connected to an active area AA through a contact between the bottom electrode-active area, and the active area is connected to the plate line formed by the metal wiring layer through a contact cAA-M1 between the active area-metal wiring. - 特許庁

例文

強誘電体メモリ装置のプログラム方法は、信号入力部に入力された信号をディコーディングする第1の段階、ディコーディングの結果、所定のプログラムモードを示す場合にプログラムモードに対応するプログラムモード動作信号を活性化し、信号入力部を非活性化する第2の段階、及びプログラムモード動作信号に応えてプログラムモードを行う第3の段階を含む。例文帳に追加

This programming method includes the first step of decoding a signal entered to a signal input part, the second step of activating, when a predetermined program mode is indicated as a result of the decoding, a program mode operation signal corresponding to the program mode to inactivate the signal input part, and the third step of carrying out the program mode according to the program mode operation signal. - 特許庁

例文

少なくとも1個の反誘電膜を用いたキャパシタAFCと、このキャパシタに直列に接続された1個のMOS FET(Tr)とを備え、キャパシタの一方の電極に与えられる電位により変化するn値(n≧3)の分極量を情報として蓄積するメモリセルを有することを特徴とする。例文帳に追加

This semiconductor memory is provided with at least one capacitor AFC using anti-ferroelectric film, one MOS FET (Tr) connected to this capacitor in series, and has a memory cell accumulating polarization quantity of (n) level (n≥3) varied by a potential given to one side of electrodes of the capacitor as information. - 特許庁

TC並列ユニット直列接続型強誘電体メモリにおいてソース・ドレイン拡散層5、6の一方側と下部電極9との第1コンタクト部15と上部電極11とソース・ドレイン拡散層5、6の他方側との第2コンタクト部17をそれぞれ第1耐酸化性導電膜13、第2耐酸化性導電膜16で形成する。例文帳に追加

Related to a TC parallel unit series connection type ferroelectric memory, a first contact 15 between one side source/drain diffusion layers 5 and 6 and a lower part electrode 9, and a second contact 17 between an upper part electrode 11 and the other side of source/drain diffusion layers 5 and 6, are formed from a first oxidation resistant conductive film 13 and a second oxidation resistant conductive film 16, respectively. - 特許庁

各種特性に優れた電子デバイスを最適な構造で実現することができる電子デバイス用基板、および、かかる電子デバイス用基板を備える電子デバイス、さらに、かかる電子デバイスを備える強誘電体メモリ、電子機器、インクジェット式記録ヘッドおよびインクジェットプリンタを提供すること。例文帳に追加

To provide a substrate for an electronic device by the use of which the electronic device with a variety of excellent characteristics can be formed in the optimum structure, to provide an electronic device having the substrate for the electronic device and to provide a ferroelectric memory, an electronic appliance, an ink jet recording head and an ink jet printer having the electronic device. - 特許庁

本発明による強誘電体メモリトランジスタは、ソース領域、ゲート領域およびドレイン領域を有する基板と、ゲート領域上に位置するゲートスタックと、基板とゲートスタック上に位置するパッシベーション酸化物層と、ソース領域、ドレイン領域およびゲートスタックそれぞれへのコンタクトを形成するためのメタライゼーションとを備える。例文帳に追加

This ferroelectric memory transistor comprises a substrate including a source region, a gate region and a drain region, a gate stack arranged on the gate region, passivation oxide layers arranged on the substrate and the gate stack, and metallized parts for having each contact with the source/drain regions and the gate stack. - 特許庁

記録担1は、基板2と、前記基板2上に堆積されかつデータ読取り及び/又は書込みデバイスの電極と共に動作するように意図される対向電極3と、これらデータを格納することができかつ前記対向電極3と隣接する第1の面4aを提示する少なくとも1つの誘電メモリ層4と、を備える。例文帳に追加

The record carrier 1 is provided with a substrate 2, a counter electrode 3 deposited on the substrate 2 and intended to cooperate with the electrode of a data reading and/or writing device, and at least one ferroelectric memory layer 4 capable of storing these data and exhibiting a first face 4a adjacent to the counter electrode 3. - 特許庁

多数本のビットライン、各ビットラインに垂直なプレート電極ラインとワードラインを有し、M×N配列で各ラインに接続されトランジスタとキャパシターからなる多数の単位セルを有する強誘電体メモリにおいて、読み出されるデータの判定信頼性を高め且つ高集積化を図る。例文帳に追加

To improve reliability for discrimination of read-out data and to increase integration density of a ferroelectric memory having many bit lines, plate electrode lines and word lines being perpendicular to each bit line, and having many unit cells connected to each line in M×N arrangement and each consisting of a transistor and a capacitor. - 特許庁

FeRAM素子に用いられる強誘電体メモリセルにおいて、空乏形トランジスタのゲートを含む第1活性領域10と、エンハンスメント形トランジスタのゲートを含んで、前記第1活性領域と接する第2活性領域20と、前記空乏形トランジスタのゲート及び前記エンハンスメント形トランジスタのゲートが接続されているワードライン66と、データを貯蔵し、前記エンハンスメント形トランジスタのドレインに接続された誘電キャパシタとを含んでなる。例文帳に追加

The ferroelectrics memory cell used for an FeRAM element includes a first active region 10 including the gate of a depletion type transistor, a second active region 20 including the gate of an enhancement type transistor and abutting on the first active region 10, a word line 66 connected with the gates of the depletion type and enhancement type transistors, and a ferroelectrics capacitor for storing data therein and connected with the drain of the enhancement type transistor. - 特許庁

例文

また、強誘電体メモリ装置のプログラム方法は、信号入力部に入力された信号をディコーディングする第1の段階、前記ディコーディング結果所定のプログラムモードに該当する場合、前記プログラムモードに対応するプログラムモード動作信号を活性化して前記信号入力部を非活性化する第2の段階、及び前記プログラムモード動作信号に応えてプログラムモードを行う第3の段階を含む。例文帳に追加

A programming method of the ferroelectric memory device includes; a first step for decoding a signal inputted to a signal inputting part; a second step for activating a program mode operation signal corresponding to a program mode and deactivating the signal input part in the case that the decoding result corresponds to a prescribed program mode; and a third step for performing the program mode in response to the program mode operation signal. - 特許庁

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