「検査工程」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

成形型の製造方法は母型２を治具３に固着する第一固着工程、形状創成工程、デブロック工程、第一検査工程、第二固着工程、面取り加工工程、デブロック工程、第二検査工程を備える。例文帳に追加

The method includes the first fixing process for fixing the mold 2 to a tool 3, a shape creation process, a deblocking process, the first inspection process, the second fixing process, a chamfering process, a deblocking process, and the second inspection process. - 特許庁

その後、アセンブリ工程（Ｓ３）と検査工程（Ｓ４）を経て製品出荷する。例文帳に追加

After that, products are shipped through an assembly process (S3) and a test process (S4). - 特許庁

ブレードの欠陥検査工程と寸法検査工程とを連動させて自動化を図る。例文帳に追加

To link a defect inspection process with a dimension inspection process of a blade for automization. - 特許庁

工場出荷前におけるガスセンサの検査工程において、該検査工程の時間短縮を図る。例文帳に追加

To shorten the time required for the inspection process of gas sensors, prior to factory shipment. - 特許庁

検査基準設定装置及び方法、並びに、工程検査装置例文帳に追加

INSPECTION STANDARD SETTING SYSTEM, INSPECTION STANDARD SETTING METHOD AND PROCESS INSPECTION DEVICE - 特許庁

半導体デバイスの組み立て工程検査装置及び検査方法例文帳に追加

INSPECTING EQUIPMENT FOR ASSEMBLING PROCESS OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS INSPECTING METHOD - 特許庁

工程Ｓ５で、欠陥などの有無を検査する欠陥検査を行なう。例文帳に追加

In the stage S5, defect inspection is performed for inspecting whether defects or the like are present or not. - 特許庁

欠陥検査方法、工程管理方法及び欠陥検査装置例文帳に追加

DEFECT INSPECTION METHOD, SCHEDULE CONTROL METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE - 特許庁

電気事業法に基づく使用前検査の工事の工程毎の検査事項例文帳に追加

Inspection items of Pre-service Inspection on each construction phase defined by the Electricity Business Act - 経済産業省

タイヤ型部材検査方法、タイヤ型部材検査装置、および型部材作製工程精度検査方法例文帳に追加

TIRE MOLD MEMBER INSPECTION METHOD, TIRE MOLD MEMBER INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD FOR MOLD MEMBER MANUFACTURING PROCESS ACCURACY - 特許庁

組立て（検査）工程でのトナーシール引かれ防止。例文帳に追加

To prevent a toner seal from being pulled off in the course of an assembly (inspection) process. - 特許庁

配線基板の導体層形成工程の検査方法例文帳に追加

INSPECTION METHOD FOR CONDUCTOR LAYER FORMING PROCESS ON WIRING BOARD - 特許庁

回収された使用済み電池１Ａについて、保護回路検査工程と、水没履歴検査工程と、使用期限検査工程と、温度履歴検査工程とにより、電池保護機能の有無を判定する。例文帳に追加

In relation to a recovered used battery 1A, presence of a battery protecting function is determined by a protective circuit inspection process, a submergence history inspection process, an expiration date inspection process and a temperature history inspection process. - 特許庁

無菌充填ボトル製造工程における検査方法例文帳に追加

INSPECTION METHOD IN MANUFACTURING PROCESS OF ASEPTICALLY FILLING BOTTLE - 特許庁

円筒形電池の工程検査方法および装置例文帳に追加

PROCESS INSPECTION METHOD AND PROCESS INSPECTION DEVICE OF CYLINDRICAL BATTERY - 特許庁

円筒形部品の直径の工程内検査装置例文帳に追加

IN-PROCESS INSPECTION DEVICE FOR DIAMETER OF CYLINDRICAL PARTS - 特許庁

容器の外洗工程を容器漏れの検査工程と組み合わせることにより、漏れ検査精度を高め、外洗工程の機能を高める。例文帳に追加

To enhance inspection accuracy of leakage and the function of exter nal washing process of container by combining the external washing process with the leak inspection process. - 特許庁

また、当該製造方法は、成形工程の後段階、かつ、前記焼成工程Ｓ５の前段階に、クラックを検査する検査工程Ｓ４を備える。例文帳に追加

The manufacturing method also has an inspection step S4 of inspecting cracks at a later stage of the molding step and at a preceding stage of the calcining step S5. - 特許庁

修理前の導通検査工程と修理工程と修理後の導通検査工程のフローの簡素化による品質保証と製造コストの低減化。例文帳に追加

To assure the quality and reduce the manufacturing cost by simplifying the flow of a continuity inspection process before repair, a repair process, and a continuity inspection process after repair. - 特許庁

前工程の検査結果を有効に利用して、後工程の検査精度を向上させることのできる自動検査システムを提供する。例文帳に追加

To provide an automatic inspection system capable of enhancing inspection precision of a post process, using effectively an inspection result in a prior process. - 特許庁

そして、製品に関する情報と第２の検査工程の検査結果との相関関係に基づいて、第１の検査工程における基準を調整する。例文帳に追加

On the basis of correlation between information about the product and a test results of the second test process, the standard in the first test process is adjusted. - 特許庁

容器内の液体は、撮像工程、画像認識工程、基準画素数設定工程及びフロック発生判定工程を経て検査される。例文帳に追加

The liquid in the container is inspected through an imaging process, an image recognizing process, a reference pixel number setting process and a floc occurrence judging process. - 特許庁

本発明の半導体装置１Ａは、接続工程ａ、検査工程ｂおよび実装工程ｃもしくは分解工程ｄを経て製造される。例文帳に追加

The semiconductor device 1A according to the present invention is manufactured through a connection step (a), an inspection step (b), and a mounting step (c) or disassembling step (d). - 特許庁

アレイ工程、セル工程、モジュール工程を有する液晶表示装置の製造方法において、セル工程の最後に行う液晶パネルの検査では、点灯検査後に外観検査を行う。例文帳に追加

In the method for manufacturing the liquid crystal display device which has an array stage, a cell stage, and the module stage, visual inspection is performed after illumination inspection when a liquid crystal panel is inspected in the ending of the cell stage. - 特許庁

基板に有機層及び電極を蒸着する蒸着工程（ｃ）〜（ｆ）を経た後に、この蒸着された有機層及び電極に対して所定の検査を行う検査工程（ｇ）を備え、該検査工程の後に封止工程（ｈ）を行う。例文帳に追加

After having passed through vapor deposition processes (c) to (f) to vapor-deposit the organic layer and electrode, a test process (g) to perform a predetermined test to the vapor-deposited organic layer and electrode is equipped, and a sealing process (h) is performed after the test process. - 特許庁

第１検査工程の電気検査と第２検査工程の光学検査との結果を照合工程において照合し、電気的に短絡または断線している致命欠陥１８１を特定する。例文帳に追加

The results of an electricity inspection of a first inspection step and an optical inspection of a second inspection step are collated in a collation step and the critical defect 181 of electric shorting or disconnection is specified. - 特許庁

多様な基板の検査工程を統合基板検査装置１００を通じて実施するので基板検査工程の効率が向上し、多様な基板検査工程の信頼度が向上する。例文帳に追加

Since various inspection steps of the substrate are carried out with the integrated substrate inspection apparatus 100, the efficiency of the substrate inspection steps is enhanced, and reliability of the various substrate inspection steps is enhanced. - 特許庁

この生産ラインは、順次並ぶ検査工程部１１、鍛造工程部１２、旋削工程部１３、刻印工程部１４、熱処理工程部１５、研削工程部１６、および組立工程部１７を備える。例文帳に追加

The production line has an inspection section 11, a forging section 12, a turning section 13, a punching section 14, a heat treatment section 15, a grinding section 16 and an assembly section 17 sequentially arranged therein. - 特許庁

製品の製造方法において、製品を作製する作製工程と、この製品を検査する第１の検査工程と、第１の検査工程において基準を満たした製品のうち、一部の製品について検査する第２の検査工程と、を設ける。例文帳に追加

The manufacturing method of the product includes: a creation process for creating the product; a first test process for testing the product; and a second test process for testing a part of products that meet a standard in the first test process. - 特許庁

ウェハ検査（工程ｃ）で、ウェハ検査装置はウェハ検査のスキップ判定を半導体検査管理装置に依頼する２０４ａ。例文帳に追加

In a wafer inspection process c, a wafer inspection device requests skip judging of wafer inspection to the semiconductor inspection management device (204a). - 特許庁

同一の検査項目を複数の製品１に対して、複数の検査装置によって並列に検査する検査工程を含む製造方法である。例文帳に追加

This manufacturing method includes: a checking step for parallely checking a plurality of products 1 about the same checking item by a plurality of checking devices. - 特許庁

半導体装置の検査工程及び検査内容が簡略化された検査を行う半導体装置検査方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a semiconductor device inspection method for performing inspection where the inspection process and content of a semiconductor device have been simplified. - 特許庁

異物検査装置は、異物検査（工程ｂ）で行った異物検査の結果を半導体検査管理装置に送信する２０２ｃ。例文帳に追加

A contamination inspection device transmits result of contamination inspection performed in a contamination inspection process b to a semiconductor inspection management device (202c). - 特許庁

検査工程における工数を減少させ、検査者の検査負担を軽減することができるＬＥＤ点灯検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an LED lighting inspection apparatus capable of reducing working hours in an inspection process and reducing the inspection burden of an inspector. - 特許庁

検査工程では、検査用パターン３０の検査領域３５を計測することにより、主パターンにおける線幅とアライメントずれとを検査する。例文帳に追加

In the inspection stage, the inspection region 35 of the pattern 30 for inspection is measured to inspect line widths and misalignment of the main pattern. - 特許庁

工業用検査に利用されるデジタルＸ線検査装置の検査工程を自動化した自動検査システムを提供する。例文帳に追加

To provide an automatic inspection system wherein an inspection process of a digital X-ray inspection device used for industrial inspection is automatized. - 特許庁

検査工程の効率を向上し、さらに製品とは別途に検査可能な検査合理化システム及び合理化検査装置を提案する。例文帳に追加

To provide an inspection rationalization system and a rationalization inspection device enhanced in efficiency for an inspection process, and allowing inspection separately from a product. - 特許庁

目視検査工程３２では、表示部８は、目視検査作業者に自動検査での非検査領域と検出された欠陥とを表示する。例文帳に追加

In a visual inspection step 32, a display part 8 displays a defect detected as a non-inspection area by a visual inspection operator in the automatic inspection. - 特許庁

加工処理後に検査工程にて製品検査が施された検査結果が検査結果ＤＢ１に格納される。例文帳に追加

The inspection results that a product inspection is conducted in an inspection process after the processing are stored in an inspection result DB1. - 特許庁

基板検査方法は、主表面上に複数の層が形成された基板を準備する基板準備工程および成膜工程と、局所的なエッチング工程（Ｓ３２１）と、検査工程（Ｓ３２３）または組成分析工程（Ｓ３２２）とを備える。例文帳に追加

The substrate inspection method includes a step of preparing the substrate provided at its main surface with the plurality of layers, a film forming step, a local etching step (S321), and an inspection step (S323) or a composition analysis step (S322). - 特許庁

磁気記録媒体の製造方法は製造工程中に上記の検査の工程を含むものである。例文帳に追加

This manufacturing method includes the above process in the manufacturing processes. - 特許庁

マスターディスク、マスターディスククリーニング工程、およびマスターディスク検査工程例文帳に追加

MASTER DISK, MASTER DISK CLEANING PROCESS, AND MASTER DISK INSPECTION PROCESS - 特許庁

検査工程と調整工程をほぼ同時に実行可能な、アナログ電圧調整回路を提供する。例文帳に追加

To provide an analog voltage adjustment circuit which can perform an inspection process and an adjustment process substantially simultaneously. - 特許庁

工程Ｓ６で工程Ｓ５において補修した部位の寸法、品質検査を行うものである。例文帳に追加

In the stage S6, inspection for the dimensions and quality of the location repaired in the stage S6 is performed. - 特許庁

組立て，検査等の工程において用いる作業台環境を工程に応じて最適なものにする。例文帳に追加

To provide an optimum working table environment used in a process such as assembly and inspection according to the process. - 特許庁