「機器テスト」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

電子機器並びに電子機器のテスト装置およびテスト方法例文帳に追加

ELECTRONIC EQUIPMENT, AND TEST DEVICE AND TEST METHOD FOR ELECTRONIC EQUIPMENT - 特許庁

電子機器のテスト装置、テスト方法、及びテストプログラム例文帳に追加

TEST DEVICE, TEST METHOD, AND TEST PROGRAM FOR ELECTRONIC EQUIPMENT - 特許庁

固体撮像装置、電子情報機器、テスト装置、及びテスト方法例文帳に追加

SOLID-STATE IMAGING DEVICE, ELECTRONIC INFORMATION APPARATUS, TEST DEVICE, AND TEST METHOD - 特許庁

被試験機器テスト装置、被試験機器テスト方法及び通信ケーブル切断／接続治具例文帳に追加

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING DEVICE UNDER TEST, AND TOOL FOR CUTTING AND CONNECTING TRANSMISSION CABLE - 特許庁

テスト信号発生装置及び映像機器の検査方法例文帳に追加

TEST SIGNAL GENERATING DEVICE AND TESTING METHOD OF VIDEO APPARATUS - 特許庁

ネットワーク機器のテスト制御システム例文帳に追加

TEST CONTROL SYSTEM OF NETWORK DEVICE - 特許庁

機器、試験装置、テストシステム、および試験方法例文帳に追加

EQUIPMENT, AND TEST APPARATUS, SYSTEM, AND METHOD - 特許庁

半導体装置およびそのテスト方法、電子情報機器例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF TESTING THE SAME, AND ELECTRONIC INFORMATION APPARATUS - 特許庁

表示機器テストシステム及び方法並びにプログラム例文帳に追加

DISPLAY DEVICE TEST SYSTEM, METHOD AND PROGRAM - 特許庁

電子機器用テスト・チャンバ及び方法例文帳に追加

TEST CHAMBER FOR ELECTRONIC DEVICE AND TESTING METHOD - 特許庁

デバイスのテスト方法およびそれを用いた電子機器例文帳に追加

TEST METHOD OF DEVICE, AND ELECTRONIC EQUIPMENT USING IT - 特許庁

アプリケーションの例にはテスト機器および集積回路用の組込み自己テスト機能が含まれる。例文帳に追加

Examples of these applications include built-in test function for test equipment and integrated circuit. - 特許庁

放送受信機器の検査やテスト工程において、様々なテストデータを簡易に作成する。例文帳に追加

To simply generate a variety of test data for inspection and test processes of a broadcast receiver device. - 特許庁

テスト治具を用いて行う制御機器の制御動作のテストを効率的に行うことができるようにする。例文帳に追加

To efficiently test the control operation of a controller by using a testing tool. - 特許庁

半導体集積回路およびそのテスト方法、電子情報機器例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS TEST METHOD, AND ELECTRONIC INFORMATION APPLIANCE - 特許庁

半導体記憶装置のテスト方法、マイクロコンピュータ及び電子機器例文帳に追加

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY, MICROCOMPUTER, AND ELECTRONIC EQUIPMENT - 特許庁

定電圧電源回路とそのテスト方法およびそれを用いた電子機器例文帳に追加

CONSTANT VOLTAGE POWER SUPPLY CIRCUIT, TEST METHOD THEREOF AND ELECTRONIC EQUIPMENT USING THE SAME - 特許庁

テストチャート測色システムおよびカラー出力機器校正システム例文帳に追加

TEST CHART COLORIMETRY SYSTEM AND COLOR OUTPUT INSTRUMENT CALIBRATION SYSTEM - 特許庁

乱数発生回路、電子機器、およびＩ／Ｏセルのテスト方法例文帳に追加

RANDOM NUMBER GENERATION CIRCUIT, ELECTRONIC DEVICE, AND METHOD OF TESTING I/O CELL - 特許庁

自動テスト機器をプログラミングし操作する方法および装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR PROGRAMMING AND OPERATING AUTOMATIC TESTING EQUIPMENT - 特許庁

キャリッジを用いてクラッシュテストを行う方法および対応する機器例文帳に追加

METHOD OF CONDUCTING CRASH TEST USING CARRIAGE AND CORRESPONDING DEVICE - 特許庁

通信機器や通信ソフトウェアの良好なテスト環境を提供する。例文帳に追加

To provide excellent test environment for communication equipment and communication software. - 特許庁

信号発生装置、テストパターン及び映像機器の評価方法例文帳に追加

SIGNAL GENERATOR, TEST PATTERN, AND EVALUATION METHOD OF VIDEO APPARATUS - 特許庁

テストパターン、信号発生装置及び映像機器の評価方法例文帳に追加

TEST PATTERN, SIGNAL GENERATOR AND METHOD OF EVALUATING VIDEO DEVICE - 特許庁

標準のテスト・パターンと比較して修正され、それよりも活用的なテスト・パターンを使用して通信機器をテストすることが可能である。例文帳に追加

This system enables testing of communications equipment by using a modified test pattern which is more serviceable than standard test pattern. - 特許庁

テスターがテストを実施した際のテスト機器に入力された全ての入力信号と、入力された時刻と、テスト機器で実行された時刻を含む操作内容を、テストＩＤ毎に、テストデータと、その管理テーブルと操作履歴として記録してバグ管理データベースとして管理する。例文帳に追加

An operation content including all the input signals inputted to test equipment when a tester performs testing, an input time of day, and a time of day when the test has been performed by the test equipment is recorded as test data, their management table, and operation history every test ID, and is managed as a bug management database. - 特許庁

読み出すべき装置ＩＤが未書込等により異常値を示す場合であっても、それを使用すべき通信機能等のテストを進めることができる電子機器並びに電子機器のテスト装置およびテスト方法を提供する。例文帳に追加

To provide electronic equipment, and a test device and a test method for the electronic equipment that can advance a test on a communication function or the like using a device ID even when the device ID to be read shows an abnormal value owing to an unwritten condition or the like. - 特許庁

テスト治具は、入力機器及び出力機器の動作を模擬的に行う模擬入力部３１及び模擬出力部３２を有し、テスト対象制御機器２に接続されている。例文帳に追加

The testing tool 3 comprises a simulated input part 31 and a simulated output part 32 which respectively simulatively perform the operation of an input apparatus and the operation of an output apparatus and is connected to a test target controller 2. - 特許庁

半導体装置や各種の電子機器のテストにどのようなテストシステムやテスト装置等が必要かの情報を、テストする者の要求に応じて複種類のテストシステムやテスト装置の中から最適なものの情報を選択し提供すること。例文帳に追加

To select and provide information of the optimum one out of plural kinds of test systems or test devices in response to requirement from a testing person, as to the information what test system, what test device or the like is required for a test of a semiconductor device or various kinds of electronic equipments. - 特許庁

マスタ機器２はスレーブ機器にコマンドを送信し、スレーブ機器はレジスタの値を元に所定の機器に受信コマンドと同一内容のコマンドを再送信し、マスタ機器はスレーブ機器及びターゲット機器からの応答が期待している応答と一致しているかを判断し、テストの合否を行う。例文帳に追加

The master device 2 transmits a command to the slave devices, the slave devices retransmit a command with the same contents as those of the received command to a prescribed device on the basis of a register value, and the master device determines whether response from the prescribed device coincides with expected response to determine that the test is a success or a failure. - 特許庁

テストを行う場合には、前記無線周波数テストポートは前記プローブを介してテスト機器に接続されて、前記携帯式電子装置に対してテストを行う。例文帳に追加

When performing a test, the RF test port is connected via the probe to test equipment, and the portable electronic device is tested. - 特許庁

複数の機器を有するプラントに対してサーベイランステストを行う前に、サーベイランステスト手順の検証を効率的に行う。例文帳に追加

To efficiently verify a surveillance test procedure before performing a surveillance test to a plant having a plurality of apparatuses. - 特許庁

自動テスト機器（ATE）のような半導体テストシステム用の分散オペレーティングシステムが記載されている。例文帳に追加

A distributed operating system for a semiconductor test system such as automatic test equipment (ATE) is described. - 特許庁

サーバーとの通信状況を調べるため、検針機器１に所定の間隔でテスト信号を送信するテスト情報通信部３を設ける。例文帳に追加

A test information communication part 3 sending test signals at predetermined intervals to the meter reading apparatus 1 is provided for checking a communication situation with the server. - 特許庁

電子機器に対して、テストシナリオの実行順序がテスト結果に与える影響を容易に検証することを実現する。例文帳に追加

To easily verify an influence given to a test result by the order of execution of a test scenario in electronic equipment. - 特許庁

テストの準備作業を効率的に行うことができる電子機器、およびテスト用治具を提供する。例文帳に追加

To provide an electronic apparatus in which preparatory work of test can be carried out efficiently, and to provide a test tool. - 特許庁

ＰＬＬ回路によらずにテスト時間と費用を削減することができる電子機器テスト回路を提供する。例文帳に追加

To provide testing circuit for electronic apparatuses, capable of reducing testing time and cost, without relying on a PLL circuit. - 特許庁

表示部を備える電気機器に対する電源の入切テストを確実に行うことができるテスト装置を提供する。例文帳に追加

To provide a testing apparatus which enables a secure ON/OFF testing of a power for an electric apparatus including a display part. - 特許庁

赤外線通信機能を有する機器において、赤外線の発光機能と受光機能のテストを行う。例文帳に追加

To test an infrared emitting function and an infrared light receiving function in equipment having an infrared communication function. - 特許庁

テスト用ソケット、及びその接触端子の製造方法、並びに電子機器あるいは半導体パッケージ例文帳に追加

SOCKET FOR TEST, MANUFACTURE OF ITS CONTACT TERMINAL, AND ELECTRONIC APPARATUS OR SEMICONDUCTOR PACKAGE - 特許庁

テストモード設定方法、そのプログラムを記憶した記憶媒体、半導体装置及び電子機器例文帳に追加

METHOD FOR SETTING TEST MODE, MEDIUM STORING ITS PROGRAM, SEMICONDUCTOR DEVICE AND ELECTRONIC APPARATUS - 特許庁

マイコン機器ソフトウェアのデバッグ効率、テスト品質を向上させること。例文帳に追加

To improve the debugging efficiency and test quality of software for a microcomputer apparatus. - 特許庁

画像表示機器におけるソフトウェアのテストの効率とそれらソフトウェアの品質とを向上させる。例文帳に追加

To improve test efficiency of software and quality of the software in an image display device. - 特許庁

ヘッド素子部を備える部品の製造方法、そのテスト装置及び電子機器の製造方法例文帳に追加

METHOD OF MANUFACTURING COMPONENT INCLUDING HEAD ELEMENT PART, ITS TEST DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRONIC APPARATUS - 特許庁

被検デバイスとテスト機器間との間の信号電送における性能の向上を図る。例文帳に追加

To improve performance in a signal transmission between a test device and test equipment. - 特許庁