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Beam Deflectionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 826件
CHARGED PARTICLE BEAM DEFLECTION DEVICE例文帳に追加
荷電粒子線偏向装置 - 特許庁
CHARGED-PARTICLE BEAM DEFLECTION DEVICE例文帳に追加
荷電粒子ビーム偏向装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM DEFLECTION DEVICE例文帳に追加
荷電粒子ビーム偏向装置 - 特許庁
ELECTROSTATIC BEAM DEFLECTION SCANNING DEVICE AND BEAM DEFLECTION SCANNING METHOD例文帳に追加
静電式ビーム偏向走査装置及びビーム偏向走査方法 - 特許庁
DEFLECTION AMPLIFIER AND CHARGED PARTICLE BEAM DEFLECTION DEVICE例文帳に追加
偏向アンプ及び荷電粒子ビーム用偏向装置 - 特許庁
CHARGED PARTICLE BEAM DEFLECTION DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM DEFLECTION METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
荷電粒子線偏向装置、荷電粒子線の偏向方法および荷電粒子線装置 - 特許庁
DEFLECTION DEVICE FOR PULSE CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加
パルス荷電粒子軌道偏向装置 - 特許庁
VACUUM CONTAINER FOR BEAM DEFLECTION ELECTROMAGNET例文帳に追加
ビーム偏向電磁石用真空容器 - 特許庁
SEPTUM ELECTROMAGNET FOR BEAM DEFLECTION AND SEPARATION, ELECTROMAGNET FOR BEAM DEFLECTION AND SEPARATION, BEAM DEFLECTING METHOD例文帳に追加
ビーム偏向分離用セプタム電磁石、ビーム偏向分離用電磁石、及びビーム偏向方法 - 特許庁
DEFLECTION METHOD FOR ELECTRON BEAM IRRADIATION DEVICE例文帳に追加
電子線照射装置の偏向方法 - 特許庁
DEFLECTION SIGNAL COMPENSATION OF CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加
帯電粒子ビームの偏向信号補償 - 特許庁
A beam bolt engaged with the beam is fastened (S5), and a deflection amount of the beam to which deflection has been given is measured (S6).例文帳に追加
ビームに噛み合うビームボルトを締め付け(S5)、たわみを付与したビームのたわみ量を測定する(S6)。 - 特許庁
ELECTRON BEAM APPARATUS, METHOD FOR MEASURING DISTORTION IN DEFLECTION POSITION OF ELECTRON BEAM, METHOD FOR CORRECTING DEFLECTION POSITION OF ELECTRON BEAM例文帳に追加
電子線装置、電子ビームの偏向位置歪み測定方法、電子ビームの偏向位置補正方法 - 特許庁
LASER BEAM SCANNER, LIGHT DEFLECTION MECHANISM AND LIGHT DEFLECTION OPTICAL ELEMENT例文帳に追加
レーザビーム走査装置、光偏向機構及び光偏向光学素子 - 特許庁
DEFLECTION ELECTROMAGNET AND ION BEAM IRRADIATION DEVICE例文帳に追加
偏向電磁石およびイオンビーム照射装置 - 特許庁
ELECTRON BEAM DEFLECTION DEVICE AND COLOR DISPLAY TUBE例文帳に追加
電子ビーム偏向装置およびカラー表示管 - 特許庁
DEFLECTION MECHANISM OF CHARGED PARTICLE BEAM AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加
荷電粒子ビームの偏向機構及び荷電粒子ビーム装置 - 特許庁
DEFLECTION UNIT OF ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLE BEAM AND ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS例文帳に追加
荷電粒子ビームの偏向ユニット及び荷電粒子ビーム装置 - 特許庁
Based on the calculation result, a beam deflection element driving circuit drives/controls a beam deflection means.例文帳に追加
ビーム偏向素子駆動回路は、その演算結果に基づきビーム偏向手段を駆動/制御する。 - 特許庁
DEFLECTION CONTROL CIRCUIT AND ELECTRON BEAM SCANNING DEVICE例文帳に追加
偏向制御回路、及び電子線走査装置 - 特許庁
SCANNING ELECTRON BEAM DEVICE HAVING ELECTROMAGNETIC DEFLECTION CIRCUIT例文帳に追加
電磁偏向回路を有する走査電子線装置 - 特許庁
BEAM DEFLECTION SCANNING METHOD, BEAM DEFLECTION SCANNING DEVICE AS WELL AS ION IMPLANTATION METHOD, AND ION IMPLANTER例文帳に追加
ビーム偏向走査方法及びビーム偏向走査装置並びにイオン注入方法及びイオン注入装置 - 特許庁
ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM, ELECTRON BEAM DEFLECTION CORRECTING METHOD, AND STANDARD SUBSTRATE例文帳に追加
電子ビーム露光装置、電子ビーム偏向校正方法、及び基準基板 - 特許庁
ILLUMINATION DEFLECTION SYSTEM IN ELECTRON BEAM ALIGNER例文帳に追加
電子線露光装置における偏向照明光学系 - 特許庁
DEFLECTION AUTOMATIC MONITORING METHOD OF BRIDGE BEAM IN SERVICE例文帳に追加
供用中橋梁のたわみ自動モニタリング方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM EXPOSURE DEVICE AND DEFLECTION AMOUNT CORRECTING METHOD例文帳に追加
電子ビーム露光装置及び偏向量補正方法 - 特許庁
METHOD FOR CONTROLLING DEFLECTION OF LASER BEAM AND OPTICAL SHAPING APPARATUS例文帳に追加
光ビームの偏向制御方法及び光造形装置 - 特許庁
DEFLECTION ABERRATION CORRECTION IN CHARGED PARTICLE BEAM PROJECTION SYSTEM例文帳に追加
荷電粒子線投影系における偏向収差補正 - 特許庁
SADDLE-SHAPED COIL AND ELECTRON BEAM DEFLECTION DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
鞍型コイル及びそれを用いた電子ビーム偏向装置 - 特許庁
The deflection beam 120 includes a first deflection beam 121 that extends from the end of the first twist beam 111 in the x direction and a second deflection beam 121 that extends from the end of the second twist beam 112 in the x direction.例文帳に追加
撓み梁部120は、第1捩れ梁111の端部から、x方向に延出する第1撓み梁121と、第2捩れ梁112の端部からx方向に延出する第2撓み梁121とを有する。 - 特許庁
ELECTROSTATIC DEFLECTION CONTROL CIRCUIT OF ELECTRON BEAM MEASURING DEVICE AND METHOD OF CONTROLLING ELECTROSTATIC DEFLECTION例文帳に追加
電子線計測装置の静電偏向制御回路および静電偏向制御方法 - 特許庁
The deflecting electrode is arranged so that a deflection orbit of a beam by a magnetic field and a deflection orbit of a beam by electric field are overlapped with the deflection magnet.例文帳に追加
偏向電極は偏向磁石に対して、磁場によるビームの偏向軌道と、電場によるビームの偏向軌道とが重なるように設置される。 - 特許庁
A bright field signal particle beam 11 is synchronized with scanning of the particle beam and deflected in the direction opposite to the deflection of the particle beam by the deflection yoke under the sample.例文帳に追加
試料の下の偏向コイルによって、明視野信号粒子線11を、粒子線の走査と同期させ且つ逆方向に偏向させる。 - 特許庁
METHOD FOR CONTROLLING DEFLECTION OF LASER BEAM IN OPTICAL SHAPING SYSTEM例文帳に追加
光造形システムにおけるレーザビームの偏向制御方法 - 特許庁
ION IMPLANTATION APPARATUS AND DEFLECTION ANGLE CORRECTING METHOD OF ION BEAM例文帳に追加
イオン注入装置およびイオンビームの偏差角補正方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM EXPOSURE DEVICE, AND ITS DEFLECTION EFFICIENCY ADJUSTING METHOD例文帳に追加
電子ビーム露光装置及びその偏向効率調整方法 - 特許庁
BEAM DEFLECTION PLATE, SWITCHING SYSTEM HAVING THE BEAM DEFLECTION PLATE, AND METHOD OF SELECTIVELY COUPLING TERMINAL WITH RESPECT TO LIGHT SIGNAL例文帳に追加
ビーム偏向板、ビーム偏向板を備えるスイッチング・システム、および光信号について選択的に端子を結合する方法 - 特許庁
To provide a beam deflection scanning device in which a beam diameter, while scanning by electrostatic deflection, can be kept uniform at any scanning position.例文帳に追加
静電偏向による走査中におけるビーム径を走査位置によらずほぼ一定に保つことができるようにする。 - 特許庁
To provide an electron beam biprism having a large deflection angle of an electron beam per applied voltage.例文帳に追加
印加電圧当たりの電子線の偏向角が大きな電子線バイプリズムを提供する。 - 特許庁
The beam of a laser beam 3 is faced to the target location by the two-dimensional deflection means of a scanner 7.例文帳に追加
スキャナー7の2次元偏向手段で、レーザー光3のビームを目標位置に向ける。 - 特許庁
DEFLECTION MECHANISM OF CHARGED PARTICLE BEAM, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
荷電粒子ビームの偏向機構及び荷電粒子ビーム装置並びに走査電子顕微鏡 - 特許庁
The beam is collimated, when the knees of both traces match each other through zero-beam deflection.例文帳に追加
ビームは、両方のトレースのニーがゼロ・ビーム偏向において一致するときにコリメートする。 - 特許庁
DEFLECTION AMPLIFIER ESTIMATING METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING DEVICE例文帳に追加
偏向アンプの評価方法および荷電粒子ビーム描画装置 - 特許庁
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