「Beam Deflection」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

The distortion in the image is corrected by deriving a deflecting rotational angle to the direction of observation of the charged particle beam and deforming the deflection pattern of the charged particle beam when the deflecting direction of the charged particle beam and the inclined axis of the sample are not in parallel.例文帳に追加

本発明では、荷電粒子ビームの偏向方向と試料の傾斜軸が平行となっていない場合に、荷電粒子ビームの観察方向に対する偏向回転角を求め、荷電粒子ビームの偏向パターンを変形することにより、画像の歪みを補正することに関する。 - 特許庁

The liquid crystal deflection element 102 corrects the scanning position and defects the laser beam which is made incident on a polygon mirror 7 on the basis of the detected result from a laser beam detector 101, and the detection of the scanning position of the laser beam is performed unsynchronized with the output timing of an image forming signal.例文帳に追加

液晶偏向素子１０２はレーザビーム検出器１０１からの検出結果に基づいて、走査位置の補正、ポリゴンミラー７に対して入射するレーザビームの偏向を行うが、レーザビームの走査位置検出は画像形成信号の出力タイミングと非同期に実行される。 - 特許庁

To provide a method and a device for charged particle beam alignment, which can more precisely grasp the cleaning time period ically of the device, and can avoid the degradation of resolution and the increase of beam deflection distortion.例文帳に追加

装置の洗浄時期（定期）をより正確に把握することができ、解像度の低下やビーム偏向歪みの増大等を回避することができる荷電粒子ビーム露光方法ならびに荷電粒子ビーム露光装置を提供する。 - 特許庁

A vibrating body 233 having a mirror part for changing the direction of the laser beam is arranged in an optical path between the light source device 210 and the deflection means 22, and is driven and controlled so that the scanning position of the laser beam may be the specified position.例文帳に追加

光源装置２１０と偏向手段２２との間の光路内にレーザビームの向きを変えるミラー部を有する振動体２３３が配置され、振動体２３３はレーザビームの走査位置が所定位置となるように駆動制御される。 - 特許庁

The cross-sectional shape A is formed in the same shape as an area for receiving force from a magnetic field made by a deflection yoke 25, that is, an electron beam deflecting area M to finally draw a rectangular raster on the screen 22 by an electron beam.例文帳に追加

そして、断面形状Ａを、電子ビームが最終的にスクリーン２２上に長方形のラスタを描くために、偏向ヨーク２５で作られた磁界から力を受ける領域、つまり電子ビーム偏向領域Ｍと同じ形状とする。 - 特許庁

To shape a particle beam of oblong, circular and elliptic shape in a vertical cross section to be a particle beam having oblong and elliptic shape in a vertical cross section prolonged in a horizontal direction and make it enter a deflection scanning unit.例文帳に追加

縦断面が長円形、円形、楕円形の粒子ビームを、縦断面が横方向に長い長円形状、楕円形状の粒子ビームとなるように整形して、偏向走査装置に入射させることができるようにする。 - 特許庁

A blood flow angle calculating part 22 calculates a blood flow angle based on the blood flow velocity component at each angle measuring beam direction obtained from the two angle measuring beams of the measuring beams and a deflection angle of each angle measuring beam.例文帳に追加

血流角度演算部２２は、計測ビームのうちの２本の角度計測ビームから得られる各角度計測ビーム方向における血流の速度成分と各角度計測ビームの偏向角度から血流角度を演算する。 - 特許庁

The electron gun 11 is located so as to form a prescribed angle between its optical axis and the normal 4 of the sample 3, and deflection means 16 and 17 deflect the electron beam so as to irradiate the surface of the sample 3 with the electron beam of a uniform irradiation dose.例文帳に追加

電子銃１１はその光軸と試料３の法線４とが所定の角度をなすように配置され、偏向手段１６、１７は、電子線を試料表面に一様な照射量で照射するよう偏向させる。 - 特許庁

To provide a cathode ray tube, which can remove the change of focus state of electron beam caused when the deflection amount or the current amount of the electron beam change, and obtain a good image property around the screen.例文帳に追加

電子ビームの偏向量や電子ビームの電流量が変化した場合に生ずる電子ビームの集束状態の変化をなくして、画面全面にわたり良好な画像特性が得られる陰極線管を構成することを目的とする。 - 特許庁

The present invention discloses a shape measuring instrument constituted of an optical system for scanning quickly a measuring object surface one-dimensionally with a laser beam, and for detecting simultaneously an angular deflection of the laser beam caused by an inclination of the measuring object surface.例文帳に追加

レーザビームを測定対象表面上で高速に１次元走査し、かつ同時に測定対象表面の傾斜によるレーザビームの角度振れを検出する光学系で構成される形状測定装置を発明した。 - 特許庁

To provide an optical scanner in which the reference scanning position of a light beam is corrected even when the reference scanning position of the light beam in a subscanning direction with a deflection mirror having a large time constant as response characteristic varies, and to provide an image forming apparatus.例文帳に追加

応答特性としての時定数が大きい偏向ミラーの副走査方向の光ビーム基準走査位置が変動した場合でも、光ビーム基準走査位置を修正できる光走査装置及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The electron beam EB is varied in radiation angle by an electronic deflection apparatus (not shown), and is radiated into a chamber 1 forming an electron beam radiation region where the atmosphere around the beverage vessel 30 (object) is managed in a negative pressure state.例文帳に追加

飲料容器３０（対象物）まわりの雰囲気を負圧の状態に管理した電子線照射領域を形成するチャンバ１内に、電子線ＥＢが不図示の電子偏向器で照射角度を変えられて入射される。 - 特許庁

To provide a charged particle beam drawing device capable of checking data transfer from a deflection control circuit up to a DAC amplifier unit without reducing drawing accuracy, and to provide a drawing method in the charged particle beam drawing device.例文帳に追加

描画精度を低下させることなく、偏向制御回路からＤＡＣアンプユニットまでのデータ転送をチェックすることが可能な荷電粒子ビーム描画装置および荷電粒子ビーム描画装置における描画方法を提供する。 - 特許庁

To provide an small-sized and high-performance optical device which uses photonic crystal and to determine the angle of incidence of a light beam on the photonic crystal for the purpose of obtaining a large angle of deflection of the light beam.例文帳に追加

フォトニック結晶を用いた小型で高性能の光学デバイス、およびフォトニック結晶に入射した光線の大きな偏向角を得るためのフォトニック結晶への前記光線の入射角を決定する方法を提供する。 - 特許庁

Laser beams from a laser beam source 1 for treatment and a laser beam source 5 for diagnosis are two-dimensionally deflected by a light deflection element 8 and a galvano-mirror 13, are irradiated to an eyeground and the eyeground images are displayed on a monitor 26.例文帳に追加

治療用レーザー光源１と診断用レーザー光源５からのレーザー光が光偏向素子８及びガルバノミラー１３により２次元的に偏向されて眼底１６ｂに照射され、その眼底像がモニター２６に表示される。 - 特許庁

To solve the problem that coma aberration affects the spot shape of an electron beam and distorts the spot shape when a distortion of an image on a projecting screen is corrected by using a sub deflection yoke.例文帳に追加

投影スクリーン上での画像の歪みをサブ偏向ヨークを用いて補正する場合にコマ収差の影響で電子ビームのスポット形状が歪んでしまう。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device and its observation positioning method for enhancing quality of an observation image through restraint of a deflection volume of charged particle beams.例文帳に追加

荷電粒子線の偏向量を抑えて観察像の像質を向上させることができる荷電粒子線装置及びその観察位置合わせ方法を提供する。 - 特許庁

To solve the following problem: in a display device such as a HMD (head-mounted display), aberrations are increased when the incident position of a scanning beam on a deflection means is near a scanning means, consequently, the resolution is reduced.例文帳に追加

ＨＭＤ（ヘッドマウントディスプレイ）等の表示装置で、走査ビームの偏向手段上の入射位置が走査手段に近いと収差が大きくなり、解像度が低下する。 - 特許庁

The traffic signal of high directivity is provided using a laser beam, and desired light distribution is attained by revising a shape of a deflection groove of an edge light waveguide panel.例文帳に追加

レーザ光を用いて指向性の高い信号機を実現するとともに、エッジライト導光板の偏向溝の形状を工夫することにより所望の配光とする。 - 特許庁

To provide a structure for connecting a horizontal member and a column together, which enables transfer and removal after construction without exerting an influence of deflection of the horizontal member such as a beam and a girder on the column.例文帳に追加

梁や桁などの横架材の撓みの影響を柱に及ぼすことがなく、施工後の移動、撤去が可能な、横架材と柱の接続構造を提供する。 - 特許庁

To provide a head support mechanism that can improve flexibility of resonance design by changing the deflection position of a load beam without using bending work, and a disk device equipped with the head support mechanism.例文帳に追加

曲げ加工を用いずにロードビームの撓み姿勢を変更し共振設計の自由度を上げることのできるヘッド支持機構、およびこれを備えたディスク装置を提供する。 - 特許庁

In the optical modulator, a deflection region 110 is formed at part of both ends-fixed beam 105, and particularly, is formed in the vicinity of one fixed end 105a.例文帳に追加

光変調装置では、撓み部位１１０が、両端固定梁１０５の一部に形成されており、特に一方の固定端１０５ａの近傍に形成されている。 - 特許庁

To provide a cathode ray tube device that prevents the induction current from flowing through a degaussing coil by a deflection magnetic field and avoiding a landing position of an electron beam from deviating.例文帳に追加

偏向磁界によって消磁コイルに誘導電流が流れることを抑制し、電子ビームのランディング位置ずれを防止できる陰極線管装置を提供する。 - 特許庁

In this case, the polarization beam splitter 42_1 makes most of the P-polarized light transmit without regard to a deflection angle of the incident light, and reflects most of the S-polarized light.例文帳に追加

この場合には、偏光ビームスプリッタ４２_１では、入射光の偏向角に関係なく、Ｐ偏光のほとんどを透過させ、Ｓ偏光のほとんどを反射することができる。 - 特許庁

To eliminate bending moment generated due to deflection of a building material such as a beam and a slab so as to reduce a load of a vertical member such as a column material and a wall material supporting the building material.例文帳に追加

梁・スラブ等の建材の撓みによって発生する曲げモーメントを解消し、建材を支える柱材・壁材等の鉛直方向部材の負担を軽減する。 - 特許庁

The weight portions 7 are structured so as to be displaceable in the directions of the three axes of the X-axis, Y-axis, and Z-axis by the deflection of the frame-shaped beam portion 4.例文帳に追加

錘部７は、枠状の梁部４の撓み変形によってＸ軸方向とＹ軸方向とＺ軸方向の三軸方向に変位可能な構成と成す。 - 特許庁

To provide an optical profiler for an ultra-smooth surface, such as a magnetic recording disk, which imparts a beam deflection made incident at a right angle to the target surface to be profiled.例文帳に追加

測定すべき目標とする表面に対して直角に入射するビーム偏向を与える、磁気記録ディスクのような超平滑面用のオプティカルプロファイラを提供する。 - 特許庁

When the contact 23 comes into contact with the electrode P for inspection, the protrusion portion 27 rotates and deflects in an opposite direction to a deflection direction of the beam 22.例文帳に追加

検査時に接触子２３が電極Ｐと接触する際、突出部２７は梁部２２の撓み方向と逆方向に回転して撓むように構成されている。 - 特許庁

A rotating disk 3, where a diffraction grating 6 is formed on an emission side end face 52, is used in the optical scanning apparatus 1 as a deflection member which deflects an incident light beam L1.例文帳に追加

光走査装置１において、入射光Ｌ１を偏向させる偏向部材として、出射側端面５２に回折格子６が形成された回転盤３を用いる。 - 特許庁

Subsequently, a beam PB' is adjusted to pass the center C of the second stage lens 19 using an alignment function having a deflection fulcrum P1 on the major surface of the first stage lens 15.例文帳に追加

その後、一段目のレンズ１５の主面に偏向支点Ｐ１を持つアライメント機能を用いて、ビームＰＢ´が二段目のレンズ１９の中心Ｃを通るように調整する。 - 特許庁

Thereby, because a distance between the outer bulb electrode 5 and an inner bulb electrode 4 is shortened to increase an electric field in the fringe part by just that much, deflection force applied to an electron beam can be increased.例文帳に追加

これによって、外球電極５と内球電極４の距離が短くなる分だけ、そのフリンジ部分の電場は強まり、電子ビームの偏向力を増すことができる。 - 特許庁

To provide a small-sized lightweight rotary irradiation therapy equipment having a beam transportation device, that contains a superconductive deflection electromagnet, with a simple structure.例文帳に追加

超電導偏向電磁石が設けられたビーム輸送装置を簡易な構成によって設置することにより、小型かつ軽量な回転照射治療装置を提供する。 - 特許庁

An electron beam is incident on the sample 7 diagonally by means of a first deflection means 25, and secondary scanning is carried out while diagonally irradiating condition is maintained.例文帳に追加

第１の偏向手段２５により、電子ビームを試料７に対して斜めに入射させ、斜め照射の状態を保ったまま２次元走査を行うようにした。 - 特許庁

A door means 40 which can adjust the opening dimension L" in the direction perpendicular to the width direction of an ion beam 4 is installed at the exit 19 of the ion deflection casing 17.例文帳に追加

イオン偏向ケーシング１７の出口部１９に、イオンビーム４の幅方向と直角な方向の開口寸法Ｌ’を調節可能な扉手段４０を配設する。 - 特許庁

The number of spots illuminated in the system pupil surface (70) in an exposure process, during which the mask is imaged on the light sensitive surface, is larger than the number of beam deflection elements (Mij).例文帳に追加

マスクが感光表面上に結像される露光処理中にシステム瞳表面（７０）において照らされるスポットの数は、ビーム偏向要素（Ｍｉｊ）の数よりも大きい。 - 特許庁

Deflection electromagnets 1a, 1b for controlling a position in the planar direction in an irradiation range 7 inside a body 6 to be irradiated by deflecting a charged particle beam 2 are disposed.例文帳に追加

荷電粒子ビーム２を偏向させて、被照射体６の内部の照射領域７での平面方向の位置を制御する偏向電磁石１ａ，１ｂが設けられている。 - 特許庁

To enable the simple fixation of a substrate steel material such as a runner, and to solve a problem such as a variation in the height of a ceiling which is caused by the deflection of a beam material.例文帳に追加

ランナ等の下地鋼材の固定を簡易に行うことができ、しかも梁材の撓みに起因して生じる天井高さのバラツキ等の問題を解消する。 - 特許庁

To do away with processing unevenness due to glitch noise generated when a multi-bit D/A converter is used for controlling of deflection voltage, in the course of processing by convergent charged particle beam.例文帳に追加

収束荷電粒子線による加工において、偏向電圧の制御にマルチビット型Ｄ／Ａ変換器を用いた時に発生するグリッチノイズによる加工ムラをなくす。 - 特許庁

The measurement optical system includes a shared optical path shared by the light projecting optical system and the photoreceiving optical system, and the light beam deflection member is arranged at the shared part.例文帳に追加

測定光学系は前記投光光学系と前記受光光学系とが共用する共用光路を含み、光束偏向部材はその共用部分に配置されている。 - 特許庁

Thereby, the both ends-fixed beam 105 can be inclined to the space 108 side according to the deformation of the deflection region 110 caused by the action of electrostatic attraction.例文帳に追加

これにより、両端固定梁１０５は、静電引力が作用することにより、撓み部位１１０の変形に伴って空隙１０８側に傾斜することができる。 - 特許庁

In the laser device (1) for the construction, the laser beam (4) from a laser unit (3) is deflected by the deflection means (5), which is mounted in a tilting part (6) with the laser unit (3).例文帳に追加

建設用レーザ装置（１）におけるレーザユニット（３）からのレーザビーム（４）は，レーザユニット（３）と共に傾動部（６）内に配置された偏向手段（５）により偏向される。 - 特許庁

A zoom image is generated, by combining zooming by a beam deflection function and zooming by software, and image shift operation is carried out by the software, without making its sample stage move.例文帳に追加

ビーム偏向機能によるズームとソフトウエアによるズームを組み合わせてズーム画像を生成し、試料ステージを移動させることなく、ソフトウエアによって画像シフトを行う。 - 特許庁

To obtain a high correction accuracy and improve writing accuracy, by eliminating a drift influence for adjusting accurately and exactly a deflection correction gain in an electron beam lithography system.例文帳に追加

電子線描画機において、ドリフトの影響を排して高精度かつ正確に偏向補正のゲインを調節し、高い補正精度を得ることで、描画精度を向上する。 - 特許庁

The sectional shape of the sample is imaged, by using the vibrating mirror 62 as a stationary mirror, and the confocal image is imaged by using it as a beam deflection mirror.例文帳に追加

振動ミラー（６２）を静止ミラーとして用いることにより試料の断面形状が撮像され、ビーム偏向ミラーとして用いることにより共焦点画像が撮像される。 - 特許庁

In the electrostatic deflection system according to the invention, rod-shaped electrodes are held in an axially symmetric arrangement in an inwardly hollow carrier through which a corpuscular beam can be directed.例文帳に追加

本発明による静電偏向システムでは、ロッド状の電極は、粒子線を方向付けることができる内側方向に中空のキャリアに軸対称配置で保持される。 - 特許庁