「Beam Deflection」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a charged particle beam device and an FIB (focused ion beam) device excellent in performance by reducing an influence on an ion beam by a noise component included in an electrostatic deflection power source.例文帳に追加

静電偏向電源に乗っているノイズ成分によるイオンビームへの影響を軽減して、性能のよい荷電粒子ビーム装置およびＦＩＢ装置を提供すること。 - 特許庁

Further, the optical deflection element deflects the linearly polarized beam within a plane parallel to the direction of the vibration of the electric field of the linearly polarized beam.例文帳に追加

更に、光偏向素子は、直線偏光の電場の振動の方向に対して平行な面内で直線偏光を偏向する。 - 特許庁

The sensor unit 118 comprises a sensor beam having length sufficiently shorter than an inter-fulcrum distance of the beam 104 and a transferring member for transferring the deflection at the central part of the beam 104 to the sensor beam.例文帳に追加

センサユニット１１８は、ビーム１０４の支点間距離に比べて十分に小さな長さを有するセンサビームと、ビーム１０４の中央位置の撓みをセンサビームに伝達する伝達部材とを備える。 - 特許庁

To provide a cathode-ray tube in which reduction effect of deflection power can be improved by enhancing improvement effect of deflection efficiency of horizontal deflection, while securing atmospheric pressure-proof strength and preventing beam shadow neck.例文帳に追加

耐気圧強度を確保し、ビームシャドウネックを防止しつつ、水平偏向の偏向効率の向上効果を高めて偏向電力の低減効果を高めることができる陰極線管を提供する。 - 特許庁

To implement high-precision deflection control by calculating 8-pole deflection data of an electric beam pattern forming with high precision and adjusting a deflection amplifier for all of the 8 poles with high precision.例文帳に追加

電子ビーム描画の８極偏向データの演算を高精度に行うと共に、８極相互の偏向アンプのゲイン調整を高精度に行うことにより高精度の偏向制御を実現する。 - 特許庁

A transmission optical system 67 is constituted so that the light beam guided from the transmission optical system 67 to a deflection device 65 diverges according to the deflection angles.例文帳に追加

伝達光学系６７から偏向素子６５に導く光ビームがその偏向角に応じて発散するように伝達光学系６７が構成されている。 - 特許庁

In a first operation mode (for example, 30 keV ion beam energy), a deflection electric field is generated for all of the deflection electrode pairs, as shown by an arrow 55.例文帳に追加

第１動作モード（例えば、３０ｋｅＶのイオンビームエネルギー）においては、矢印５５で示すように全部の偏向電極対に偏向電場を発生させる。 - 特許庁

The deflection electrode 16 is provided with a liner tube passing the electron beam B, and a deflection coil 24 attached to an outer circumference of the liner tube 22.例文帳に追加

偏向電極１６は、電子ビームＢが通過するライナーチューブ２２と、このライナーチューブ２２の外周に装着された偏向コイル２４とを備えている。 - 特許庁

To provide a deflection amplifier estimating method that can quickly determine the presence or absence of a failure of a deflection amplifier, and a charged beam drawing device having the functions of the same method.例文帳に追加

迅速に偏向アンプの故障の有無を判断できる偏向アンプの評価方法と、この機能を備えた荷電粒子ビーム描画装置とを提供する。 - 特許庁

Therefore, the deflection angle of the light beam varies to mutually offset the variations of the light beam deflection angles which are caused by both deflecting mirror faces 651a, 651b and associated with the variations of the resonance characteristics A, B.例文帳に追加

このため、共振特性Ａ，Ｂの変動にともなう両偏向ミラー面６５１ａ，６５１ｂによる光ビームの偏向角の変化を、互いに打ち消し合うように光ビームの偏向角が変動する。 - 特許庁

Superimposing effect of deflection of each filament electrode by piling filament electrodes of the electron beam biprism in multistage in an optical axis direction totally gives a large deflection angle to the electron beam.例文帳に追加

光軸方向に電子線バイプリズムのフィラメント電極を多段に重ねることにより、それぞれのフィラメント電極がもつ偏向の効果を重ね合わせ、全体として電子線に大きな偏向角を与える。 - 特許庁

To precisely detect a laser beam when deflected at the same deflection angle, by inexpensive constitution, even when deflection-scanned bidirectionally with the laser beam by a reciprocation operation of an MEMS mirror 4.例文帳に追加

レーザ光束がＭＥＭＳミラー４の往復動作によって双方向に偏向走査する場合においても、同一の偏向角で偏向された時のレーザ光束を安価な構成で精度良く検知する。 - 特許庁

To align time differences of outputs of deflection voltages in respective electrodes of an 8-pole electrostatic deflection means, and to carry out deflection of electron beams in high accuracy, in an electron beam scanning device equipped with an 8-pole electrostatic deflection means deflecting electron beams.例文帳に追加

電子線を偏向する８極静電偏向手段を備えた電子線走査装置において、８極静電偏向手段の各電極で偏向電圧の出力の時間差を高精度に揃え、電子線の偏向を高精度に行う。 - 特許庁

The deflection device not only deflects the light beam in a main scanning direction X and scans with the light beam, but also adjusts the position of the scanning light beam on a photoreceptor 2 in a subscanning direction Y by deflecting the light beam in a subscanning direction Y simultaneously with the deflection and scanning.例文帳に追加

この偏向素子は単に光ビームを主走査方向Ｘに偏向走査するのみならず、偏向走査と同時に光ビームを副走査方向Ｙに偏向することによって感光体２上での走査光ビームの位置を副走査方向Ｙに調整可能となっている。 - 特許庁

The light beam scanner 12 deflects a light beam from a light source 8 with a deflection means 15, and scans the surface of a photoreceptor 30 with a focused light beam, and a first electrooptic element 1 is disposed on the optical axis of the light beam between the light source 8 and the deflection means 15.例文帳に追加

この光ビーム走査装置１２は、光源８からの光ビームを偏向手段１５により偏向し、感光体３０の表面を結像した光ビームで走査するもので、光源８と偏向手段１５との間の光ビームの光軸上には第１の電気光学素子１が配置される。 - 特許庁

This scanner includes, in the rear region, a turning unit 42 for turning the light beam to a second deflection unit 44, and a second deflection unit for periodically deflecting the light beam in a second deflection direction extending laterally to the first deflection direction.例文帳に追加

このスキャナには、光線を第２の偏向ユニット４４へ向けて方向転換させるために後方領域に方向転換ユニット４２が設けられ第２の偏向ユニットが光線を第１の偏向方向に対して横方向に延伸する第２の偏向方向に周期的に偏向させるように構成されている。 - 特許庁

To achieve a secure and rapid re-search operation, which is performed when incidence of a light beam is cut off during a servo operation, without increasing a deflection frequency in a biaxial light deflection means as to a photodetector including the biaxial light deflection means capable of controlling the deflection of the light beam.例文帳に追加

光ビームの偏向制御が可能な２軸光偏向手段を有する光検出装置であって、サーボ動作中に光ビームの入射が遮断されたときに行う再サーチ動作において、２軸光偏向手段における偏向周波数を高くすることなく、確実、迅速な再サーチ動作を実現する。 - 特許庁

The hybrid deflector 500 for an ion implantation system is composed of a magnetic deflection module 350 which works to deflect ion beam from a beam axis, an electrostatic deflection module 504 which works to deflect the ion beam from the beam axis, and a controller 304 which, based on one or a plurality of input controlling signals, operates either the magnetic deflection module or the electrostatic deflection module selectively.例文帳に追加

本発明に係るイオン注入システムのためのハイブリッド偏向器５００は、イオンビームをビーム軸から偏向するように動作する磁気偏向モジュール３５０と、前記イオンビームを前記ビーム軸から偏向するように動作する静電偏向モジュール５０４と、１つまたは複数の入力制御信号に基づいて、前記磁気偏向モジュールと前記静電偏向モジュールの１つを選択的に動作させるコントローラー３０４とを含む。 - 特許庁

This beam deflection scanning device (20) is constituted of the opposed arranged bipolar type deflection electrodes (21, 22), and the bipolar type deflection electrodes are made to be a symmetrical recessed counter electrode which has grooves (21A, 22A) extending in the beam axial direction in the inner face of the opposite direction.例文帳に追加

本ビーム偏向走査装置（２０）は対向配置した二極式偏向電極（２１、２２）により構成され、該二極式偏向電極はその対向方向の内面にビーム軸方向に延びる溝（２１Ａ、２２Ａ）を持つ左右対称形の凹状対向電極とした。 - 特許庁

To obtain a deflection yoke and a display device having excellent purity, by compensating the tilt of a beam at four corners of a panel face in a display device having a deflection yoke used for a cathode-ray tube of a beam index type or the like and a deflection yoke mounted to the cathode-ray tube.例文帳に追加

ビームインデックス方式等の陰極線管に用いる偏向ヨーク及びその陰極線管に装着した偏向ヨークを有する表示装置に於けるパネル面の４隅でのビームのチルトを補正し、純度の良好な偏向ヨーク及び表示装置を得る。 - 特許庁

The expansible structure 106 increases the displacement quantity of the beam 101 to increase the deflection angle of the light reflective surface.例文帳に追加

伸縮構造１０６は、梁の変位量を増やし、光反射面の偏向角度を大きくする。 - 特許庁

The electron beam irradiation device having an electron gun generating an electron beam and an electrostatic deflection apparatus controlling the electron beam is such that an electrode surface of a deflection electrode 61 formed on a surface inside a cylindrical electrode base material 60 structuring an electrostatic deflection apparatus is covered with a metal coating 62 as a conductive oxide coating.例文帳に追加

電子ビームを発生する電子銃と電子ビームを制御する静電偏向器を有する電子ビーム照射装置において、静電偏向器を構成する円筒状の電極基材６０内表面に形成された偏向電極６１の電極表面が、導電性酸化物被膜である金属被膜６２で覆われてなる。 - 特許庁

According to the deflection order of the step S103, the electron beam is deflected to all characters (S106).例文帳に追加

ステップＳ１０３の偏向順序にしたがい、すべてのキャラクタに対して電子ビームを偏向する（Ｓ１０６）。 - 特許庁

Consequently, the patterns can be drawn continuously, without making the electron beam deflection amount diverge.例文帳に追加

これにより、電子線の偏向量を発散させることなく連続してパターンを描画することが可能となる。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus which corrects the deflection or inclination of a laser beam in a digital manner.例文帳に追加

本発明は、レーザビームの曲がりや傾きをデジタル補正する画像形成装置を提供することである。 - 特許庁

If a distance from an ion beam deflection position to a slit is set to L, a width of the slit is made 0.017 L or less.例文帳に追加

スリット巾はイオンビーム偏向位置からスリットまでの距離をLとするスリットの巾は0.017L以下とする。 - 特許庁

A deflection electromagnet for cross irradiation is provided in a lower part of the scanning tube to deflect an electron beam laterally.例文帳に追加

走査管の下部に電子線を左右に偏向するためのクロス照射用偏向電磁石を設ける。 - 特許庁

To suppress a deflection error associated with blanking of a charged particle beam, and to improve drawing accuracy.例文帳に追加

荷電ビームのブランキングに伴う偏向誤差を抑制することができ、描画精度の向上をはかる。 - 特許庁

To compensate laser-beam deflection with a simple method, to simplify a method for controlling laser-beam emission timing etc. and to facilitate assembly work.例文帳に追加

簡易な方法でビーム位置を補正できるようにし，レーザビームの出射タイミングなどの制御方法を簡素化し，また組立作業も容易にする。 - 特許庁

As a result, the electron beam is deflected by a deflection coil 11, and the electron beam is radiated to the range of the sample ordered by the bright spot.例文帳に追加

この結果、偏向コイル１１により電子ビームは偏向され、輝点によって指示された試料領域に電子ビームが照射される。 - 特許庁

To provide an optical scanner that can reduce changes of beam diameter due to temperature change and pitch deflection of a sub-scanning beam pitch of multiple beams.例文帳に追加

温度変動によるビーム径変動やマルチビームの副走査ビームピッチのピッチ偏差を低減することのできる光走査装置を提供すること。 - 特許庁

A laser beam positioner 340 employs a steering mirror that performs small-angle deflection of a laser beam to compensate for cross-axis setting errors of a positioner stage.例文帳に追加

レーザビームポジショナ３４０は、位置決めステージの交差軸設定誤差を補償するためにレーザビームの小角度偏向を行う操作ミラーを用いる。 - 特許庁

A correction magnetic field is generated on the optical axis of the ion beam 3 from a correction magnetic field generation part 10 to offset the deflection of the ion beam by an external magnetic field.例文帳に追加

補正磁場発生部10からイオン・ビーム３の光軸上に補正磁場を発生させ、外部磁場によるイオン・ビームの偏向を相殺する。 - 特許庁

A semiconductor laser 1 includes: a laser part 2 of emitting a laser beam; and a light deflection part 3 of deflecting the laser beam emitted from the laser part 2.例文帳に追加

半導体レーザ１は、レーザ光を出射するレーザ部２と、レーザ部２から出射されたレーザ光を偏向する光偏向部３とを備える。 - 特許庁

Using this measurement results, at least one of the angle deflection in the y direction, a divergent angle, and beam size of the ion beam 4 is measured.例文帳に追加

そしてこの計測結果を用いて、イオンビーム４のｙ方向の角度偏差、発散角およびビームサイズの内の少なくとも一つを計測する。 - 特許庁

A laser beam positioner 340 employs a steering mirror that performs small-angle deflection of a laser beam to compensate for cross-axis settling errors of a positioner stage.例文帳に追加

レーザビームポジショナ３４０は、位置決めステージの交差軸設定誤差を補償するためにレーザビームの小角度偏向を行う操作ミラーを用いる。 - 特許庁

This is accomplished with the help of a beam multiplier unit (57) that multiplies the light beams reflected from the beam deflection elements (Mij).例文帳に追加

これは、ビーム偏向要素（Ｍｉｊ）から反射される光ビームを増倍するビーム増倍器ユニット（５７）の助けによって達成することができる。 - 特許庁

In addition to an upper-step and lower-step electron-beam biprisms in the conventional two-step electron-beam biprism interferometer, an electron beam deflector is used anew, or an electron-beam deflection function is also given to the upper-step or the lower-step electron-beam biprisms.例文帳に追加

従来の２段電子線バイプリズム干渉計における上段と下段の電子線バイプリズムに加えて、新たに、電子線偏向器を使用することにより、もしくは上段または下段の電子線バイプリズムに電子線偏向機能を合わせ持たせた。 - 特許庁

Along a straight line obtained by rotating one diagonal between two diagonals of a main deflection region with the center C of the main deflection region 50 as an axis, patterns P are drawn by moving the electron beam through main deflection by a long distance from the sub-deflection region 101a to a sub-deflection region 123w.例文帳に追加

主偏向領域の２つの対角線の間で一の対角線を主偏向領域５０の中心Ｃを軸として回転させることで得られる直線に沿って、主偏向により電子ビームを副偏向領域１０１ａから副偏向領域１２３ｗに長距離移動させてパターンＰを描画する。 - 特許庁

Accordingly, only the center of the incident light beam is reflected on the deflection mirror 651 and guided to the scanning lens as the scanning beam even if there is beam rotation.例文帳に追加

そのため、ビームローテーションが生じた状態でも入射光ビームの中心部のみが偏向ミラー面６５１により反射されて走査光ビームとして走査レンズに導光される。 - 特許庁

Furthermore, the apparatus has an ion beam generating unit for irradiating the ion beam for sputtering of the target 105, and a deflection unit for irradiating the ion beam to the target 105.例文帳に追加

成膜装置は、また、ターゲット１０５をスパッタリングするためにイオンビームを照射するイオンビーム発生手段と、イオンビームをターゲット１０５に照射するための偏向手段とを有している。 - 特許庁

A grounded anode 15 forming the electric field generating the electron beam EB with the beam formation electrode 12 is arranged face to face to the deflection part 13 while putting the electron beam EB between them.例文帳に追加

ビーム形成電極１２とともに電子ビームＥＢを生成する電界を形成する接地されたアノード１５を、電子ビームＥＢを挟んでデフレクション部１３と対向するように配置する。 - 特許庁

In the beam deflection scanning device to be applied for a beam treatment device such as an ion implantation device, a pair of scanning electrodes 21A, 21B are provided to face each other with a beam orbit in between.例文帳に追加

イオン注入装置等のビーム処理装置に適用されるビーム偏向走査装置において、ビーム軌道を間にして対向し合うように一対の走査電極２１Ａ、２１Ｂを配置する。 - 特許庁

Since member force and the quantity of a deflection generated in the S beam 4 are decreased, and the size of the S beam 4 is shrunk because of the S beam 4 as a continuous beam, the material cost of the S beam 4 and a construction cost for building the S beam 4 are reduced.例文帳に追加

また、Ｓ梁４が連続梁であるため、Ｓ梁４に生じる部材力並びにたわみ量を小さくしてＳ梁４のサイズを縮減することができるので、Ｓ梁４の材料コスト、及びＳ梁４を架設するための施工コストを低減させることができる。 - 特許庁

The horizontal deflection coil 60 of a horizontal deflection circuit 6 generates a horizontal deflection magnetic field AH for deflecting an electronic beam reciprocatingly in the horizontal direction in response to a horizontal synchronization signal H and a switching signal CS.例文帳に追加

水平偏向回路６の水平偏向コイル６０は、水平同期信号ＨＳおよび切替信号ＣＳに応答して水平方向に電子ビームを往復偏向させるための水平偏向磁界ＡＨを発生する。 - 特許庁