「Breakdown Test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a high quality electrostatic tester for acquiring information sufficient to grasp the path of electrostatic discharge when electrostatic discharge test is performed and easily identifying the location of dielectric breakdown at its occurrence.例文帳に追加

静電気放電の試験実施時に、静電気放電の経路を把握するのに十分な情報を得ることができ、絶縁破壊が発生した場合にはその位置を容易に同定可能である高品質な静電気試験器を提供する。 - 特許庁

In the defect simulation method using the discharge tester, a test voltage 32 is applied from a high voltage generator 30 to a continuous cable via an electrode, a detector 44 recognizes and displays dielectric breakdown, and a defect counter 48 sums them.例文帳に追加

放電試験器を用いた欠陥シミュレーション方法において、高電圧発生器３０から電極を介して試験電圧３２を連続ケーブルに印加し、検出器４４により絶縁破壊を認識して表示し、欠陥カウンタ４８により合算する。 - 特許庁

When a fracture surface of the composite ceramic body 1 subjected to a four-point bending test according to JIS R 1601 is observed and the square root of the projected area of an internal defect acting as the starting point of breakdown is regarded as a defect size, the defect size is ≤55 μm.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｒ １６０１に基づく４点曲げ試験を行った複合セラミック体１の破面を観察し、破壊の起点となった内部欠陥の投影面積の平方根を欠陥サイズとした場合に、その欠陥サイズが５５μｍ以下である。 - 特許庁

To early detect a deterioration of a printed wiring board which responds to the harmful degree of the environment wherein the board is to be used, without making a breakdown test of the wiring board by drawing out the wiring board from an electronic device or the like and to prevent a system failure or the like.例文帳に追加

本発明は、電子装置等からプリント配線板を抜き取って破壊検査をしたりすることなく、使用環境の有害度に応じたプリント配線板の劣化を早期に検出し、システム等のダウンを未然に防止することを目的とする。 - 特許庁

To provide a coupling circuit which is capable of preventing quality degradation, i.e. throughput reduction, of a power-line carrier communication signal transmitted between a device to be tested and an opposite device at a lighting surge breakdown test of an information and communication technology (ICT) device for power-line carrier communication.例文帳に追加

電力線搬送通信用ＩＣＴ機器の雷サージ耐力試験において、被試験装置と対向装置間を伝送される電力線搬送通信信号の品質劣化を生じさせない、すなわちスループットの劣化防止が可能な結合回路を提供する。 - 特許庁

Since the semiconductor chip 3 can be handled in the unit of the carrier board 1, long term continuity test and measurement of high frequency characteristics can be facilitated and the reliability can be enhanced because an IC can be protected against breakdown at the time of searching the cause of failure.例文帳に追加

これにより、半導体チップ３がキャリヤ基板１単位で取り扱い可能となるため、長時間通電試験、高周波特性の測定を容易に行えるとともに、不良原因を探る際もＩＣ破壊を防止することができ、信頼性を向上できる。 - 特許庁

By making a thickness of the inside craft paper layer 6 at 1/3 to 2/3 of that of the total paper layer constituting the oil-immersed insulation layer 3, the manufacturing time needed of the cable 1 can be shortened without deteriorating direct-current breakdown voltage during the cooling period of the heat cycle test.例文帳に追加

内側クラフト紙層６の厚さを、油浸絶縁層３を構成する全紙層の厚さの１／３〜２／３としたことにより、ヒートサイクル試験の冷却期間中における直流破壊電圧を低下させることなくケーブル１の製造所要時間を短縮することができる。 - 特許庁

The fixed potential of the element forming regions 6a, 6b differs from a fixed potential of the non element-forming region 7, and a prescribed voltage is respectively applied to the element-forming regions 6a, 6b and the non element-forming region 7 for a prescribed time, to apply the breakdown voltage screening test to the trench insulation isolation section 5U.例文帳に追加

素子形成領域６ａ、６ｂ内の固定電位と、素子形成外領域７の固定電位とは異なり、素子形成領域６ａ、６ｂ、および素子形成外領域７のそれぞれに所定の電圧を一定時間印加して、トレンチ絶縁分離部５Ｕの耐圧スクリーニング試験を行う。 - 特許庁

This highly insulating polyphenylene ether resin molding is a resin molding comprising a resin composition containing at least a polyphenylene ether resin as the resin component, and the dielectric breakdown strength of which is ≥85 kV/mm measured by the following test conditions according to IEC 60243.例文帳に追加

樹脂成分として少なくともポリフェニレンエーテル系樹脂を含む樹脂組成物からなる樹脂成形品であって、ＩＥＣ６０２４３に準拠して、下記試験条件で測定された絶縁破壊強度が８５ｋＶ／ｍｍ以上であることを特徴とする高絶縁性ポリフェニレンエーテル系樹脂成形品。 - 特許庁

When positive charges are applied to the pad 1 for external connection at the time of an ESD test, a first N-channel MIS transistor 7 in the electrostatic discharge protective circuit 2 is turned off and a second N-channel MIS transistor 8 is turned on to lower the breakdown voltage of the electrostatic discharge protective circuit thus enhancing surge resistance.例文帳に追加

ＥＳＤ試験時に、外部接続用パッド１に正電荷を印加すると静電放電保護回路２の第１のＮチャネル型ＭＩＳトランジスタ７がオフし、第２のＮチャネル型ＭＩＳトランジスタ８がオンすることで、静電放電保護回路のブレークダウン電圧が低下し、サージ耐圧が向上する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which enhances maintainability by using only semiconductor relays as relays for a route reaching a DUT from a pin electronic part, and increasing packaging density, moreover can prevent degradation in waveform quality caused by impedance mismatching, and can also prevent breakdown in the DUT caused by a voltage on the occasion of calibration.例文帳に追加

ピンエレクトロニクス部からＤＵＴに至る経路のリレーを半導体リレーのみにして実装密度を高めてメンテナンス性の向上を図るとともにインピーダンス不整合による波形品位劣化を防止でき、校正時の電圧によるＤＵＴの破壊も防止できる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a carrier tape capable of reducing the electrostatic breakdown of an integrated circuit element caused by the discharge of an electrified charge or the like, and conducting performance test on the integrated circuit element such as conducting input/output inspection of signals by contacting a probe pin with an input terminal or output terminal or the like in the manufacturing process of the tape carrier package.例文帳に追加

テープキャリアパッケージの製造工程の過程において、帯電された電荷の放電等により集積回路素子が静電破壊するのを低減するとともに、入力端子または出力端子にプローブピンを当てて信号の入出力検査を行う等の集積回路素子の性能試験を行うことができるキャリアテープを提供すること。 - 特許庁