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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Memory B cellsの意味・解説 > Memory B cellsに関連した英語例文

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Memory B cellsの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 27



例文

A non-volatile semiconductor memory has memory cells 100 having first and second MONOS memory cells controlled by a word gate and a control gate, and a memory cell array region in which a plurality of memory cells are arranged in the direction of A and B.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置は、ワードゲートと、コントロールゲートにより制御される第1,第2のMONOSメモリセルとを有するメモリセルを100、第1及び第2の方向A,Bにそれぞれ複数配列してなるメモリセルアレイ領域を有する。 - 特許庁

The nonvolatile semiconductor memory comprises a plurality of memory cells 100, each having two MONOS memory cells 108A and 108B being controlled by a word gate and a control gate, arranged in first and second directions A and B.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置は、ワードゲートとコントロールゲートにより制御される2つのMONOSメモリセル108A,108Bを有するメモリセル100を、第1,第2の方向A,Bにそれぞれ複数配列してなる。 - 特許庁

This device has a memory cell array 11 having at least three memory cells A, B and C for storing data and a majority decision circuit for selecting data in the memory cell, which is not affected by a software error, according to a majority decision concerning the stored contents of the respective memory cells A, B and C.例文帳に追加

データを格納する少なくとも3つ以上のメモリセルA,B,Cを備えたメモリセルアレイ11と、メモリセルA,B,Cの各々の記憶内容について多数決をとってソフトエラーを被っていないメモリセルのデータを選択する多数決回路とを有する。 - 特許庁

A non-volatile semiconductor memory has a memory cell array region in which a plurality of twin memory cells 100 having first and second MONOS memory cells 108A, 108B controlled by a word gate and a control gate are arranged respectively in the first direction A and the second direction B.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置は、ワードゲートとコントロールゲートにより制御される第1,第2のMONOSメモリセル108A,108Bを有するツインメモリセル100を、第1,第2の方向A,Bにそれぞれ複数配列してなるメモリセルアレイ領域を有する。 - 特許庁

例文

A non-volatile semiconductor memory has a memory cell array region in which a plurality of memory cells 100 having first and second MONO memory cells 108A, 108B controlled by a word gate and a control gate are arranged in the first and second directions A, B.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置は、ワードゲートとコントロールゲートにより制御される第1,第2のMONOSメモリセル108A,108Bを有するメモリセル100を、第1,第2の方向A,Bにそれぞれ複数配列してなるメモリセルアレイ領域を有する。 - 特許庁


例文

Memory cells CELL1-CELL3 store an MSB with the respective color components of R (red), G (green), and B (blue).例文帳に追加

メモリセルCELL1〜CELL3は、R(赤)、G(緑)、B(青)の各色成分のそれぞれのMSBを格納する。 - 特許庁

Memory cells CELL4-CELL18 store a lower bit data other than the MSB of the respective color components of R (red), G (green), and B (blue).例文帳に追加

メモリセルCELL4〜CELL18は、R(赤)、G(緑)、B(青)の各色成分のそれぞれのMSB以外の下位ビットデータを格納する。 - 特許庁

The nonvolatile semiconductor memory comprises a plurality of memory cells 100, each having two MONOS memory cells being controlled by a word gate and control gate 106A and 106B, arranged in first direction and second direction B.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置はワードゲートとコントロールゲート106A,106Bにより制御される2つのMONOSメモリセルを有するメモリセル100を、第1の方向,第2の方向Bにそれぞれ複数配列して構成される。 - 特許庁

The nonvolatile semiconductor storage device has a memory cell array area formed by arraying a plurality of memory cells 100 having first and second MONOS memory cells 108A and 108B controlled by a word gate and a control gate in first and second directions A and B.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置は、ワードゲートとコントロールゲートにより制御される第1,第2のMONOSメモリセル108A,108Bを有するメモリセル100を、第1,第2の方向A,Bにそれぞれ複数配列してなるメモリセルアレイ領域を有する。 - 特許庁

例文

A memory device comprises a memory cell array 1 in which the resistance change type memory cells M are arranged in a matrix, word lines W_1 to W_m, bit lines B_1 to B_n, plate electrode lines P_1 to P_n, and a transistor T.例文帳に追加

メモリ装置は、抵抗変化型のメモリセルMがマトリックス状に配置されたメモリセルアレイ1と、ワード線W_1〜W_mと、ビット線B_1〜B_nと、プレート電極線P_1〜P_nと、トランジスタTとを有する。 - 特許庁

例文

This structure is provided with a plurality of arrangements (arrangement A, B) of memory cells, a bus for input signals to be tested (line for analog signal) connected in parallel to each of the plurality of fetch cells.例文帳に追加

メモリ・セルの複数の配列(配列A、B)と;複数の取り込みセル10の各々に並列接続された被試験入力信号用バス(アナログ信号用ライン)とを具えている。 - 特許庁

A semiconductor memory device includes a memory cell array region A formed in a p-type well 1 where a plurality of memory cells are arranged in a matrix, a plurality of word lines 13 for commonly connecting memory cells aligned in the same row, and a protective diode region B formed in the p-well 1 to be separated from the memory cell array region A.例文帳に追加

半導体記憶装置は、P型ウェル1に形成され、複数のメモリセルが行列状に配置されたメモリセルアレイ領域Aと、複数のメモリセルのうち同一の行に並ぶメモリセル同士を共通に接続する複数のワード線13と、P型ウェル1にメモリセルアレイ領域Aと分離して形成された保護ダイオード領域Bとを有している。 - 特許庁

Each sub-control gate line SCG is connected commonly to first and second control gates 106A, 106B being adjacent in the row direction B out of two twin memory cells 100 of each row being adjacent in the row direction B.例文帳に追加

各サブコントロールゲート線SCGは、行方向Bで隣合う各行の2つのツインメモリセル100のうち、行方向Bで隣接する第1,第2のコントロールゲート106A,106Bにそれぞれ共通接続される。 - 特許庁

The pixel data of the second frame (search frame) is stored in a unit B with multiple memory cells in a memory cell array unit 20b arranged in a complement form in the direction to which the bit line BL is extending.例文帳に追加

第2のフレーム(探索フレーム)の画素データを、メモリセルアレイ部20bの、ビット線BLが延びる方向に並ぶ複数のメモリセルからなるユニットBに2の補数の形式で記憶する。 - 特許庁

In this semiconductor memory, read-out of data is performed by conducting selectively nodes of memory cells MC (MC11-MCij) to bit lines (B1-Bi) and /B (/B1-/Bi) by activation of word lines (W1-Wj).例文帳に追加

この半導体メモリは、ワード線W(W1〜Wj)の活性によってメモリセルMC(MC11〜MCij)のノードが選択的にビット線B(B1〜Bi)及び/B(/B1〜/Bi)に導通されることでデータの読み出しが行われる。 - 特許庁

The nonvolatile semiconductor memory device 1B includes a memory plane 110 of which the plurality of memory cells are arrayed in a bit line direction B and a word line direction W and also a memory cell objective for control is specified by a row decoder 101 and a column decoder.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置1Bは、ビット線方向B及びワード線方向Wに複数のメモリセルが配列され、ロウデコーダ101及びカラムデコーダによって制御対象メモリセルが指定されるメモリプレーン110を有する。 - 特許庁

The nonvolatile semiconductor memory comprises a memory cell array region 210 where a plurality of memory cells 100, having two MONO memory cells 108A and 108B controlled by a word gate 104 and control gates 106A and 106B, are arranged in directions A and B, and fist and second select regions 220 and 222.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置は、ワードゲート104とコントロールゲート106A,106Bにより制御される2つのMONOSメモリセル108A,108Bを有するメモリセル100を、方向A,Bにそれぞれ複数配列してなるメモリセルアレイ領域210と、第1,第2の選択領域220,222とを有する。 - 特許庁

This semiconductor memory device is constructed in such a manner that a memory cell array formed by arraying a plurality of memory cells is divided into a plurality of groups 1a and 1b along at least one of a bit line direction and a word line direction, and individual source lines SL (a) and SL (b) are commonly connected for each group.例文帳に追加

半導体記憶装置において、複数のメモリセルを配列して成るメモリセルアレイは、ビットライン方向、またはワードライン方向の少なくとも一方に沿って複数のグループ1a、1bに分割されており、各グループ毎に個別のソースラインSL(a)、SL(b)が共通接続されている。 - 特許庁

Two memory cells MC(a) and MC(b) to be accessed at the same time are sensed in a time division manner using two sensing amplifiers SA0 and SA0A, and restored at the same time.例文帳に追加

同時にアクセスされる2つのメモリセルMC(a),MC(b)に対するセンス動作を2つのセンスアンプSA0,SA0Aを用いて時分割で行い、その後、リストア動作を同時に行う。 - 特許庁

This can conform an area of a region in which a charge storage layer 17 and a controlling gate CG face even the height of the rising part 27 is different between the memory cells of a position (A) and a position (B) of the substrate 9.例文帳に追加

このため、半導体基板9の位置(A)のメモリセルと位置(B)のメモリセルとで、立上り部27の高さが異なっていても、電荷蓄積層17と制御ゲートCGとが対向する領域の面積を同じにできる。 - 特許庁

Two control gate lines 106B and 106A adjacent to each other through the boundary between respective memory cells 100 in the second direction B are connected commonly with one sub-control gate line CG.例文帳に追加

第2の方向Bでの複数のメモリセル100間の各境界を挟んで隣り合う各2本のコントロールゲート線106B,106Aが、各1本のサブコントロールゲート線CGに共通接続されている。 - 特許庁

A pixel data storage part for storing one pixel data in which the respective color components of R (red), G (green), and B (blue) are composed of a 6-bit data has 18 memory cells CELL1-CELL18.例文帳に追加

R(赤)、G(緑)、B(青)の各色成分がそれぞれ6ビットのデータで構成される1つの画素データを格納するための画素データ格納部は、18個のメモリセルCELL1〜CELL18を有する。 - 特許庁

This device is constituted so that an internal chip control signal ICC is clamped to a low level and operation of memory cells are stopped when system voltage is low voltage, (i.e., b section, c section) by providing a means sensing variation of system voltage.例文帳に追加

システム電圧の変動を感知する手段を設け、システム電圧が(すなわち、b区間、c区間)低電圧の場合には内部チップコントロール信号ICCをローレベルにクランプしメモリセルの動作を停止させるよう構成した。 - 特許庁

The memory block B is equipped with: multiple memory cells C provided in matrix configuration; multiple sub bit lines BL provided for each column; multiple word lines WL provided for each column and row, and common to the multiple memory blocks B; and a switch circuit SC for connecting a corresponding main bit line GL to any of the multiple sub bit lines BL.例文帳に追加

メモリブロックBは、行列状に設けられた複数のメモリセルCと、列ごとに設けられた複数の副ビット線BLと、列及び行ごとに設けられ、複数のメモリブロックBに共通である複数のワード線WLと、対応する主ビット線GLを複数の副ビット線BLのいずれかに接続するスイッチ回路SCとを備える。 - 特許庁

As shown in the cross-sectional diagram 1 (b), a bit line BLUn comprises extension parts 16A and 16N extending in the column direction along the memory cells 10, and a contact plug 14 connected to an access transistor of each memory cell (not shown in the Fig.) formed in an Si substrate 15.例文帳に追加

図1(b)の断面図に示すように、ビット線BLUnは、メモリセル群10に沿って列方向に延びる延伸部16Aおよび16Bと、Si基板15に形成された各メモリセルのアクセストランジスタ(不図示)に接続されたコンタクトプラグ14とを有している。 - 特許庁

A ROM device 1 is provided with: memory cells M00 to M1n from which data are read out depending on impedance between a terminal B connected to bit lines BL0, BL1 and a source terminal S; and source power supply line SL0, SL1 connected to the source terminal S.例文帳に追加

ROM装置1は、ビットラインBL0,BL1に接続される端子Bとソース端子Sとの間のインピーダンスに応じて、データが読み出されるメモリセルM00〜M1nと、ソース端子Sに接続されるソース電源ラインSL0,SL1と、を備えている。 - 特許庁

例文

In a peripheral circuit region B (other than a memory cell region A, in which several memory cells having the transistor 3 and capacitor 8 are included), a second insulation layer 9, which is formed at the same time as the columnar insulation member 8a of the capacitor 8 and is identical with the columnar insulation member 8a which are equal in height and material, is provided.例文帳に追加

MOSトランジスタ3とキャパシタ8とを有するメモリセルを複数含むメモリセル領域A以外の周辺回路領域Bには、第1絶縁層5上に、キャパシタ8の柱状絶縁部材8aと同時に形成され同等の高さを持ち同一の絶縁材料からなる第2絶縁層9が設けられている。 - 特許庁

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