| 例文 |
NAND circuitsの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 49件
NOR-NAND circuits NND1-NND4 are composite gates, where a NOR circuit and a NAND circuit are combined.例文帳に追加
NOR-NAND回路NND1〜NND4は、NOR回路とNAND回路とが合成されて構成された複合ゲートである。 - 特許庁
The circuits Ub1 to Ubn are provided with NAND circuits 504-1 to 504-n and NOR circuits 505-01 to 505-n.例文帳に追加
演算単位回路Ub1〜Ubnはナンド回路504-1〜504-nとノア回路505-01〜505-nとを備えている。 - 特許庁
This phase comparator circuit 10 is provided with 3 S-R flip-flop circuits 1-3, each consisting of two NAND gates, NAND gates G1-G6 and inverters IV1-IV6.例文帳に追加
本発明の位相比較回路10は、それぞれ2個のNANDゲートからなる3個のS−Rフリップフロップ1〜3と、NANDゲートG1〜G6と、インバータIV1〜IV6とを備えている。 - 特許庁
NAND circuits 514 limit the effective period of time of the negative sampling signal based on the output signals of NAND circuits 511 in the next stage arithmetic unit circuit.例文帳に追加
ナンド回路514は次段の演算単位回路におけるナンド回路511の出力信号に基づいて、負サンプリング信号の有効期間を制限する。 - 特許庁
The comparison circuit 14 is provided with differential circuits D1 to D3, and 2-input NAND gates NAND 21 to NAND 23 and a 3-input NAND gate NAND 24 executes majority decision of output values of the differential circuits D1 to D3 and the comparison circuit 14 provides an output of the result of majority decision.例文帳に追加
比較回路14には差動回路D1乃至D3を設け、2入力のナンドゲートNAND21乃至NAND23及び3入力のナンドゲートNAND24が、差動回路D1乃至D3の出力値の多数決をとって比較回路14から出力するようにする。 - 特許庁
The outputs of the NAND circuits 8, 9 are respectively connected to one inputs of NOR circuits 11, 12.例文帳に追加
NAND回路8,9の出力はNOR回路11,12の各一方の入力に接続されている。 - 特許庁
The outputs of the inverters 6, 7 are respectively connected to the inputs of NAND circuits 8, 9.例文帳に追加
インバータ回路6,7の出力はNAND回路8,9の入力に接続されている。 - 特許庁
The XOR circuits 224 to 226 in the second and subsequent stages can switch to NAND circuits or NOR circuits in response to the switch signals.例文帳に追加
2段目以降のXOR回路224〜226は、切替信号に応答して、NAND回路またはNOR回路に切り替え可能に構成されている。 - 特許庁
The latch circuit (14; 64) includes first and second logical operation circuits (for example, a NAND circuit).例文帳に追加
ラッチ回路(14;64)は、第1および第2の論理演算回路(たとえば、NAND回路)を含む。 - 特許庁
The clock synchronous circuits 6 consist of NAND circuits 6a, 6b, synchronize with a high level of an internal clock signal ϕCK and transfer an address signal.例文帳に追加
クロック同期回路6は否定論理積回路6a,6bからなり、内部クロック信号φCKのハイレベルに同期してアドレス信号を転送する。 - 特許庁
The initialization signal I and the output signal of the four-input NAND circuit 9 are inputted to a NAND circuit 21 and the output thereof is inputted through an inverter circuit 22 to two-input NAND circuits 5 and 8.例文帳に追加
NAND回路21には初期化信号Iおよび4入力NAND回路9の出力信号を入力し、その出力をインバータ回路22を通して2入力NAND回路5および8へ入力する。 - 特許庁
Flip-flop circuits 21-25 for composing a prescaler 16 and NAND circuits 26-29 are arranged in two parallel rows on a semiconductor substrate.例文帳に追加
プリスケーラ16を構成するフリップフロップ回路21〜25、NAND回路26〜29は、半導体基板上において、互いに平行な2本の列上に並べられる。 - 特許庁
When the voltage at the output terminal 46 reaches +1V or -1v at this time, comparator circuits 41, 42 and flip-flop circuits comprising NAND gates 44, 45 change over the switch elements 36, 37.例文帳に追加
この時、出力端46の電圧が±1Vになると、比較回路41,42およびナンドゲート44,45によるフリップフロップによってスイッチ素子36,37が切り換えられる。 - 特許庁
Each of delay circuits UDCM0 to UDCMn+1 comprises first and second inverters 15a and 15b, first and second NAND circuits 16a and 16b, a switching transistor 17, and a transfer gate 18, and a delay circuit of a front stage and a delay circuit of a rear stage are connected through the second NAND circuit 16b.例文帳に追加
各遅延回路UDCM0〜UDCMn+1を、第1及び第2インバータ15a,15b、第1及び第2ナンド回路16a,16b、スイッチングトランジスタ17及びトランスファーゲート18で構成するとともに、その第2ナンド回路16bを介して前段の遅延回路と後段の遅延回路とを接続するようにした。 - 特許庁
The signal S20 is given together with the signal S40 to a NAND 50, and accordingly a signal S50 of the NAND 50 is fixed to "L" during the delay time by the integration circuits from the rise of the clock signal CLK.例文帳に追加
信号S20は信号S40と共にNAND50に与えられるので、このNAND50の信号S50は、クロック信号CLKの立ち上がり時点から積分回路による遅延時間の間、“L”に固定される。 - 特許庁
An output buffer is provided with a NAND circuit ND1, NMOS transistors NT1, NT2, driving circuits 21 to 24 and a delay circuit 24.例文帳に追加
出力バッファは、NAND回路ND1と、NMOSトランジスタNT1,NT2と、駆動回路21−23と、遅延回路24とを備える。 - 特許庁
Logical circuits of shift registers 32, 33, a NOT circuit 34, and a NAND circuit 35, detect completion of rise of the demodulated TDD switching signal.例文帳に追加
シフトレジスタ32,33と、NOT回路34と、NAND回路35との論理回路は、復調TDD切替信号の立ち上がりの完了を検出する。 - 特許庁
Delay signals outputted from the delay circuits 11 to 14 are supplied to one-input sides of NAND gates G11 to G14 for High output selection.例文帳に追加
フィードバック付遅延回路11〜14から出力される遅延信号はHigh出力選択用NANDゲートG11〜G14の一方入力に付与される。 - 特許庁
To perform rewriting control with a small number of circuits by storing the number of times of rewriting in a memory element analogically in a NAND type flash memory.例文帳に追加
NAND型フラッシュメモリにおいて、書き換え回数をメモリセルと同様の記憶素子にアナログ的に記憶し、少ない回路数で書き換え制御を行う。 - 特許庁
This Schmitt input circuit is provided with an input terminal 101, NAND circuits 102, 105, and 106, an NOR circuit 103, inverter circuits 104, 107, and 108, and an output terminal 109.例文帳に追加
本発明のシュミット入力回路は、入力端子101と、NAND回路102、105及び106と、NOR回路103と、インバータ回路104、107及び108と、出力端子109と、を備えている。 - 特許庁
The ring oscillator performs oscillation at desired oscillation period by serially connecting delay circuits 1-5 with selecting functions and NAND gates 6-10, and constituting a loop as a whole.例文帳に追加
この発明は、選択機能付き遅延回路1〜5とナンドゲート6〜10とを直列接続するとともに、全体でループを構成して所望の発振周期で発振する。 - 特許庁
When a signal S20 of the NAND 20 rises, a signal S40 of an integration part 40 falls after delay time by the integration circuits of the integration parts 30 and 40.例文帳に追加
NAND20の信号S20が立ち上がると、積分部30,40の積分回路による遅延時間の後、この積分部40の信号S40が立ち下がる。 - 特許庁
NAND circuits 4g and 4h input outputs of EXCLUSIVE-OR circuits 3g and 3h, deciding timing signals 4a and 4b generated from a timing generator 1 and an expected value pattern 4e to be output from a pattern generator 6.例文帳に追加
NAND回路4g,4hはEXOR回路3g,3h各々の出力とタイミング発生器1の発生する判定タイミング信号4a・4bとパタン発生器6から出力される期待値パタン4eを入力とする。 - 特許庁
Signals S11, S12 output from the D-flipflops 11, 12 are supplied to data input terminals of fail memories 30, 31, respectively through NAND circuits 17, 18, and signals S21, S22 output from the D-flipflops 13, 14 are supplied to data input terminals of the fail memories 30, 31, respectively through the NAND circuits 17, 18.例文帳に追加
Dフリップフロップ11,12から出力される信号S11,S12はNAND回路17,18各々を介してフェイルメモリ30,31のデータ入力端にそれぞれ供給され、Dフリップフロップ13,14から出力される信号S21,S22はNAND回路17,18各々を介してフェイルメモリ30,31のデータ入力端にそれぞれ供給される。 - 特許庁
NAND gate circuits G1-G4 share an n-type MOS field effect transistor N2 having a current path connected between a node Q where a signal appears and the ground VSS.例文帳に追加
否定的論理積ゲート回路G1〜G4は、信号が現れるべきノードQとグランドVSSとの間に電流経路が接続されたn型MOS電界効果トランジスタN2を共有する。 - 特許庁
An encoder detects a run position of the pulse signal in the pulse running circuit 10 based on output signals from the respective NAND circuits 111-142, and outputs data corresponding to the run position.例文帳に追加
エンコーダは、NAND回路111〜142の各々からの出力信号に基づきパルス走行回路10内でのパルス信号の走行位置を検出し、走行位置に応じたデータを出力する。 - 特許庁
The latch 1 installed in an I/O part or the like of this semiconductor circuit device is constituted from inverters 2-13, logical sum circuits 14, 15, a NAND circuit 16, and a NOR circuit 17.例文帳に追加
半導体集積回路装置のI/O部などに設けられたラッチ1は、インバータ2〜13、論理和回路14,15、否定論理積回路16、ならびに否定論理和回路17から構成されている。 - 特許庁
In a pulse running circuit 10, a plurality of identical NAND circuits 111-142 in each of which delay time between an input signal and an output signal changes according to the size of a power source or a current source are connected in series, and a starting signal for starting run of a pulse signal is input in the NAND circuit 111.例文帳に追加
パルス走行回路10は、入力信号と出力信号との遅延時間が電源又は電流源の大きさに応じて変化する、同一のNAND回路111〜142が複数個直列に連結されると共に、NAND回路111に対して、パルス信号の走行を開始させる起動信号が入力される。 - 特許庁
The delay flip-flop circuit can increase the operation speed of data storage and data output by decreasing number of overall pass through transistor gate stages, from 6 stages of a conventional delay flip-flop circuit to 2 stages through the combination of the NOR-NAND circuits NND1-NND4, whose configuration is simplified, and the inverters INV1, INV2.例文帳に追加
ディレイフリップフロップ回路は、構成が簡略化されたNOR-NAND回路NND1〜NND4及びインバータINV1及びインバータINV2の組み合わせにより、全体の通過トランジスタゲート段数を従来のディレイフリップフロップ回路の6段から2段まで減少させることにより、データ保持及びデータ出力の動作速度を高速化することが出来る。 - 特許庁
A relay 4c of a primary impedance changeover circuit 4 validates either of impedance adjustment circuits 4a, 4b under the control in response to a state of the control signals S1, S2 through a NAND gate 22 and a driver 11.例文帳に追加
一次側インピーダンス切換回路4では、NANDゲート22およびドライバ11による制御信号S1,S2の状態に応じた制御の下に、リレー4cがインピーダンス調整回路4a,4bのいずれかを有効とする。 - 特許庁
When the detection result (f) reaches 0, each of the shift registers 15, 17 of the protection circuits 51-58 is reset, and since an output of NAND gates 16, 18 becomes '1', an output value of a F/F 19 is unchanged but keeps a previous value.例文帳に追加
検出結果fが0になると、保護回路51〜58のシフトレジスタ15,17がリセットされ、NANDゲート16,18の出力が1となるため、F/F19の出力値は変化せず、前値保持となる。 - 特許庁
In respective unit circuits 10, the gate of a switching transistor 1 is connected to the output terminal of two inputs NAND gates 3 through an inverter 4 while the other terminal of a resistive element 2 is connected to a row power source line 12.例文帳に追加
各ユニット回路10において、スイッチングトランジスタ1のゲートは、2入力NANDゲート3の出力端子とインバータ4を介して接続され、抵抗素子2の他方の端子はロウ電源線12と接続されている。 - 特許庁
At this point, in a data line selection circuit 150 for determining data lines 114 to be sampled, NAND circuits 1512 of odd-numbered columns are made effective by supply of one of enable signals Enb1-Enb4 in the first half period Sub1 and NAND circuit 1522 of even-numbered columns are made effective by supply of one of enable signals Enb5-Enb8 in the second half period Sub2.例文帳に追加
このとき、サンプリングすべきデータ線114を決めるデータ線選択回路150においては、前半期間Sub1で奇数列のNAND回路1512についてイネーブル信号Enb1〜Enb4のいずれかの供給で有効とさせ、後半期間Sub2で偶数列のNAND回路1522についてイネーブル信号Enb5〜Enb8のいずれかの供給で有効とさせる。 - 特許庁
An output signal of a shift register 140 wherein 131 stages of latch circuits 1450 are connected, is branched to two paths, NAND circuits 142 are provided in the respective branch paths, and a sampling switch 148 is turned on based on the output signal to sample an image signal on a data line 114.例文帳に追加
ラッチ回路1450が131段接続されたシフトレジスタ140の出力信号を2つの経路に分岐するとともに、これらの分岐経路にそれぞれNAND回路142を設けて、この出力信号に基づいてサンプリングスイッチ148をオンさせて、データ線114に画像信号をサンプリングさせる。 - 特許庁
In this vertical field effect transistor laminated in its thickness direction, at least either an NOR circuit or an NAND circuit among logical circuits is realized according to the arrangement positions of a semiconductor layer and a gate electrode 4.例文帳に追加
厚み方向に積層される縦型の電界効果トランジスタにおいて、半導体層とゲート電極4との配設位置によって、論理回路のうちNOR回路およびNAND回路の少なくともいずれか一方を実現する。 - 特許庁
Then this enable signal ENB is a signal which is common to all 3-input NAND circuits, the output timing is within a period output signals of adjacent output stage overlap, and the pulse width is narrower than the period.例文帳に追加
そして、このイネーブル信号ENBは、全ての3入力NAND回路について共通の信号とし、出力タイミングは、隣接する出力段の出力信号が重なる期間内とし、パルス幅は、当該期間よりも短い幅とする。 - 特許庁
Shield wiring 24 or scan paths 26_1 to 26_3, whose signal levels in normal operation are held constant by NAND circuits 14_1 to 14_3, are wired on both sides of a clock path 22 adjacently to the clock path 22.例文帳に追加
シールド配線24及びNAND回路14_1〜14_3により通常動作時の信号レベルが一定に保たれるスキャンパス26_1〜26_3の一方がクロックパス22に隣接するように、クロックパス22の両側に配線されている。 - 特許庁
The operating efficiency of the circuit cells is enhanced by incorporating in advance a NAND circuit U1 in heavy usage in various digital circuits such as multipliers to each circuit cell so as to suppress the whole size of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加
乗算器などの種々のディジタル回路において多用されるNAND回路U1を回路セル中に予め内蔵させることにより、回路セルの使用効率の向上を図り、半導体集積回路の全体のサイズを抑えることができる。 - 特許庁
At least one of inverter circuits 21 for a plurality of stages comprising a clock buffer part 121 of a scan line driving circuit 12 is composed of a NAND circuit 22 and a voltage to be impressed to the drain of n-ch TFT is divided.例文帳に追加
走査線駆動回路12のクロックバッファ部121を構成する複数段のインバータ回路21のうちの少なくとも一つをNAND回路22で構成して、n−chTFTのドレインに印加される電圧を分圧するようにした。 - 特許庁
In this case, active periods of output signals from each NAND circuit 1464 provided between of two continuous unit circuits 1430 and corresponding to them, respectively are restricted by a signal obtained by delaying a signal outputted from a unit circuit 1430 at the rear stage of the two continuous unit circuits by td (each NOR circuit 1474).例文帳に追加
この場合に、連続する2つの単位回路1430の間にそれぞれ対応して設けられる各NAND回路1464の出力信号のアクティブ期間を、該連続する2つの単位回路のうち後段の単位回路1430から出力される信号をtdだけ遅延させた信号により制限する(各NOR回路1474)。 - 特許庁
In this case, an active period of an output signal of each NAND circuit 1464 arranged correspondingly between two successive unit circuits 1430 is limited by a signal delayed by td from a signal outputted from the latter stage unit circuit 1430 of the successive two unit circuits (each NOR circuit 1474).例文帳に追加
この場合に、連続する2つの単位回路1430の間にそれぞれ対応して設けられる各NAND回路1464の出力信号のアクティブ期間を、該連続する2つの単位回路のうち後段の単位回路1430から出力される信号をtdだけ遅延させた信号により制限する(各NOR回路1474)。 - 特許庁
In a VCO consisting of a triple ring oscillator and output inverters, two inverts 201 and 202 and an RS flip-flop circuit 400 consisting of two NAND circuits 401 and 402 are connected to a post-stage of the ring oscillator 100 and an output waveform of the circuit 400 is used for an output waveform of the VCO.例文帳に追加
3連のリングオシレータと出力インバータからなるVCOにおいて、リングオシレータ100の後段に、2個のインバータ201、202と、2個のNAND回路401、402からなるRS−フリップフロップ回路400を接続し、その出力波形をVCOの出力波形とした。 - 特許庁
This characteristics evaluation device for the transistor has a plurality of unit circuits 10, including the transistor 1 of a measuring object with a gate connected to an output terminal of a two-input NAND circuit 2 via an inverter 3, with a drain connected to a column electric power source 11, and with a source connected to a row electric power source 12.例文帳に追加
トランジスタの特性評価装置は、ゲートが2入力NAND回路2の出力端子とインバータ3を介して接続され、ドレインがカラム電源線11と接続され、ソースがロウ電源線12と接続された測定対象のトランジスタ1を含む複数のユニット回路10を有している。 - 特許庁
At this time, an NAND circuit 503a is provided in each even numbered transfer circuit and, on the other hand, an NOR circuit 503b is provided in each odd numbered transfer circuit and outputs of these circuits are controlled respectively by control signals PWM1 to PWM4 at timing when malfunction is to be generated.例文帳に追加
ここで、偶数行目の転送回路にはNAND回路503aが備えられる一方、奇数行目の転送回路にはNOR回路503bが備えられて、その出力を、誤動作が発生するタイミングにて、それぞれ制御信号PWM1〜PWM4によって制御する。 - 特許庁
Based on the anode driving voltage and power saving set voltage supplied from anode driving voltage waveform generation parts 441 to 448 and a power saving setting register 40, NAND circuits 451 to 4512 determine the presence of anode driving voltages in a power saving mode, and output "0" when all the anode driving voltages are "0".例文帳に追加
NAND回路451〜4512は、アノード駆動電圧波形生成部441〜448と省電力設定レジスタ40から供給されるアノード駆動電圧と省電力設定電圧に基づいて、省電力モードのときのアノード駆動電圧の有無を判別し、アノード駆動電圧が全て「0」になると「0」を出力する。 - 特許庁
Plural redundancy selecting signal lines are made common every plural lines and connected to input terminals of a 3 input NAND gate 5 from redundancy selecting circuits 2A, 2B, 2C in which address decode-signal lines 1A, 1B, 1C are connected to its input terminal and a redundancy cell selecting signal line is connected to its output terminal, and a redundancy cell selecting signal is outputted.例文帳に追加
入力端にアドレスデコード信号線1A、1B及び1Cが接続され出力端にリダンダンシーセル選択信号線が接続されたリダンダンシー選択回路2A、2B及び2Cから、3入力NANDゲート5に複数の前記リダンダンシー選択信号線が複数本ずつ共通化され、NANDゲート5の入力端に接続されて、リダンダンシーセル選択信号を出力する。 - 特許庁
In a display device including a pixel section and a driver circuit on the same insulator, the driver circuit comprises: a decoder 100 having a plurality of NAND circuits including p-channel TFTs 104-106 connected in parallel and p-channel TFTs 107-109 connected in series; and a buffer section 101 having a plurality of buffers including three p-channel TFTs 114-116.例文帳に追加
同一の絶縁体上に画素部および駆動回路を含む表示装置において、駆動回路は、並列に接続されたpチャネル型TFT104〜106および直列に接続されたpチャネル型TFT107〜109を含む複数のNAND回路を有したデコーダ100と、三つのpチャネル型TFT114〜116を含む複数のバッファを有したバッファ部101とを含むことを特徴とする。 - 特許庁
In a display device including a pixel portion and a driver circuit on one insulator, the driver circuit comprises a decoder 100 including plural NAND circuits including p-channel TFTs 104-106 connected in parallel and p-channel TFTs 107-109 connected in series, and a buffer portion 101 including plural buffers including three p-channel TFTs 114-116.例文帳に追加
同一の絶縁体上に画素部および駆動回路を含む表示装置において、駆動回路は、並列に接続されたpチャネル型TFT104〜106および直列に接続されたpチャネル型TFT107〜109を含む複数のNAND回路を有したデコーダ100と、三つのpチャネル型TFT114〜116を含む複数のバッファを有したバッファ部101とを含むことを特徴とする。 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|