「PIN ELECTRONICS」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Consequently, a final-stage relay between the pin electronics 70 and performance board 30 can be omitted.例文帳に追加

これによりピンエレクトロニクス７０とパフォーマンスボード３０との間の最終段リレーを省略できる。 - 特許庁

To replace all stages of a pin electronics output part with semiconductor relays without causing any problem.例文帳に追加

ピンエレクトロニクス出力部の全段を、不具合を生じることなしに、半導体リレーに置換する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can intuitively obtain position information of a pin of a pin electronics card allocated to each pin of a DUT with a simple operation procedure.例文帳に追加

簡単な操作手順で、ＤＵＴの各ピンに割り付けられたピンエレクトロニクスカードのピンの位置情報を直感的に把握できる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To allow precise calibration even in pin electronics of only a driver.例文帳に追加

ドライバのみのピンエレクトロニクスでも精度よく校正できるＩＣテスタ校正装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of reducing a processing time for collecting measurement data of all pin electronics cards into a control unit, without increasing the memory area in which the measurement data of the pin electronics cards are stored.例文帳に追加

ピンエレクトロニクスカードの測定データを格納するメモリ領域を増大させることなく制御ユニットに全ピンエレクトロニクスカードの測定データを収集するための処理時間を短縮できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

These are Single Inline Packages (SIPs), pin-mountable for integration into the electronics of equipment they monitor. 例文帳に追加

これらのシングルインラインパッケージ(SIP)は, 彼らが監視する装置の電子部品に統合できるように, ピン取り付け可能になっている. - コンピューター用語辞典

This IC test device for testing an object to be tested is provided with a plurality of pin electronics cards for giving and receiving signals to and from the tested object, and a daisy chain signal conductor for daisy-chain connecting between the pin electronics cards, thereby performing data transmission.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣ試験装置において、被試験対象と信号の授受を行う複数のピンエレクトロニクスカードと、このピンエレクトロニクスカード間をディジチェーン接続するディジチェーン信号線とを設け、データ伝送を行うことを特徴とするものである。 - 特許庁

An operator sets a pin electronics relay 13 on and the other relays off when an output voltage of an IC 4 to be measured is not more than a rated voltage of a comparator 12.例文帳に追加

被測定ＩＣ４の出力電圧がコンパレータ１２の定格電圧以内の場合、操作者はピンエレリレー１３をＯＮ、その他のリレーをＯＦＦさせる。 - 特許庁

In a pin electronics 102a within the semiconductor device test apparatus 100, the reading of the data input/output signal DQ is performed by a comparator 171.例文帳に追加

半導体デバイス試験装置１００内のピンエレクトロニクス１０２ａにおいては、データ入出力信号ＤＱの読み取りをコンパレータ１７１で行う。 - 特許庁

Mechanical relays switching circuits in pin electronics 70 constituting the output part of the semiconductor test device are all composed of semiconductor relays 75.例文帳に追加

半導体試験装置の出力部を構成するピンエレクトロニクス７０内の回路の切換えを行うメカリレーを全て半導体リレー７５で構成する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus is configured such that measurement data of a large number of objects to be measured are taken in the control unit 12 through a large number of pin electronics cards 11 which are controlled by the control unit 12, wherein each pin electronics card 11 is configured to directly write corresponding measurement data in the control unit 12.例文帳に追加

制御ユニット１２により制御される多数のピンエレクトロニクスカード１１を介して、多数の被測定対象の測定データを前記制御ユニット１２に取り込むように構成された半導体試験装置において、前記各ピンエレクトロニクスカード１１は、それぞれの測定データを前記制御ユニット１２に直接書き込む。 - 特許庁

On the other hand, he/she sets the pin electronics relay 13 off and the other relays on when an output voltage of the IC 4 to be measured is not less than the rated voltage of the comparator 12.例文帳に追加

一方、被測定ＩＣ４の出力電圧がコンパレータ１２の定格電圧以上の場合、操作者はピンエレリレー１３をＯＦＦ、その他のリレーをＯＮさせる。 - 特許庁

To satisfy both of versatility and reduction of a logic scale and a cost of a semiconductor device tester, by configuring a pin electronics logic of the tester so as to correspond to a semiconductor device to be tested.例文帳に追加

半導体装置テスタのピンエレクトロニクス論理を被試験半導体装置に合わせ構成することで、テスタの論理規模や費用の低減と汎用性を両立する。 - 特許庁

The semiconductor inspecting apparatus comprises at least a driver and a comparator and is provided with a plurality of pin electronics for transmitting and receiving signals to and from the objects to be inspected, at least one cable for receiving the input of the output of the objects to be measured, and a time measuring part for receiving the input of the comparator output of the pin electronics or the output of the cable and measuring time.例文帳に追加

本装置は、ドライバ、コンパレータを少なくとも有し、被検査対象と信号の授受を行う複数のピンエレクトロニクスと、被試験対象の出力を入力する少なくとも１つのケーブルと、ピンエレクトロニクスのコンパレータ出力またはケーブルの出力を入力し、時間測定を行う時間測定部とを設けたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester having, in pin electronics, a terminating device that can terminate an output signal with improved waveform quality even if the current drive capacity of the output pin of DUT is small and is capable of measuring the timing of DUT precisely.例文帳に追加

ＤＵＴの出力ピンの電流駆動能力が小さい場合においても良好な波形品質で終端可能で、ＤＵＴのタイミング測定が精度良く測定可能な終端装置をピンエレクトロニクスに備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an IC tester (semiconductor device-testing apparatus) which can restrict ringing generated when a response waveform from a DUT (semiconductor device to be tested) is multiple reflected in a transmission line between the DUT and a pin electronics.例文帳に追加

ＤＵＴからの応答波形がＤＵＴとピンエレクトロニクス間の伝送路で多重反射して発生するリンギングを抑制することができるＩＣテスタを提供することにある。 - 特許庁

A pattern selector 12 selects any of pattern data 2-1∼2-n according to a pattern select signal 10 and outputs it as an output signal 6-1 to pin electronics, etc., of a semiconductor tester.例文帳に追加

パターンセレクタ１２は、パターンセレクト信号１０に従ってパターンデータ２-1〜２-nの何れかを選択し、これを出力信号６-1として半導体試験装置のピンエレクトロニクス等に出力する。 - 特許庁

This device of the present invention is an improved IC tester calibrating device for calibrating the drivers and comparators in the plural pin electronics of which each is constituted of at least one selected from the driver and the comparator.例文帳に追加

本発明は、ドライバ、コンパレータの少なくとも一方から構成される複数のピンエレクトロニクスにおけるドライバ、コンパレータの校正を行うＩＣテスタ校正装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

A pin electronics 17 of this semiconductor testing device 1 includes a sub-driver control circuit 20, a main driver MDR1, a sub-driver SDR1, a comparator COMP1, a control transistor STR1, a switch SW1, a resistance R1 and a resistance R2.例文帳に追加

半導体試験装置１のピンエレクトロニクス１７には、サブドライバ制御回路２０、メインドライバＭＤＲ１、サブドライバＳＤＲ１、コンパレータＣＯＭＰ１、制御トランジスタＳＴＲ１、スイッチＳＷ１、抵抗Ｒ１、及び抵抗Ｒ２が設けられる。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester that does not have the risk of damaging a DUT, since pulse signals within the semiconductor tester are prevented from being sent out to the DUT side, even if only semiconductor relays are used as relays on a route from a pin electronics part to the DUT.例文帳に追加

ピンエレクトロニクス部からＤＵＴに至る経路のリレーを半導体リレーのみにしても、半導体試験装置内部のパルス信号がＤＵＴ側に送出されることはなく、ＤＵＴを破損する恐れのない半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 is provided with a controller 11, a converter 12, and a pin electronics section 13 which functions as an interface to a DUT 40 and tests the DUT 40, on the basis of signals obtained by applying test signals to the DUT 40.例文帳に追加

半導体試験装置１は、制御装置１１、変換装置１２、及びＤＵＴ４０に対するインターフェイスとして機能するピンエレクトロニクス部１３を備えており、ＤＵＴ４０に試験信号を印加して得られる信号に基づいてＤＵＴ４０の試験を行う。 - 特許庁

A pattern generator part 105 generates a signal to be inputted into the virtual semiconductor integrated circuit device 112 from a timing condition and logic pattern data, and inputs the signal into the virtual semiconductor integrated circuit device 112 through a pin electronics part 114 and an inspection board part 115.例文帳に追加

パターンジェネレータ部１０５は、タイミング条件と論理パターンデータから仮想半導体集積回路装置１１２に入力する信号を生成し、ピンエレクトロニクス部１１４、検査用ボード部１１５へ通し、仮想半導体集積回路装置１１２に入力する。 - 特許庁

In a pin electronics part 100 of this semiconductor testing device, when a control part 150 performs OFF-control of the semiconductor relay 130 at a time other than a test time of the DUT 180, ON-control of a relay 140 for direct current measurement is performed simultaneously even when the direct current measurement is not performed.例文帳に追加

半導体試験装置のピンエレクトロニクス部１００では、ＤＵＴ１８０の試験時以外において、制御部１５０が半導体リレー１３０をＯＦＦ制御すると、同時に直流測定を行っていない場合においても直流測定用リレー１４０をＯＮ制御しておく。 - 特許庁

A high-speed signal transmission path to which the transmitter having a pre-emphasis function is connected is characterized that a serial circuit of ferrite beads and a capacitor is connected between the transmission path and a return path, and is effective also as a pin electronics part path of the semiconductor test device which performs a highly reliable high-speed test.例文帳に追加

プリエンファシス機能を有する送信機が接続される高速信号伝送路において、前記伝送路とリターン路との間にフェライトビーズとコンデンサの直列回路が接続されたことを特徴とするもので、信頼性の高い高速テストを行う半導体試験装置のピンエレクトロニクス部経路としても有効である。 - 特許庁

This test head for the semiconductor tester wherein a pin electronics card stored inside the test head and a performance board provided on an upper part of the test head are connected together through a plurality of coaxial cables has a characteristic wherein the coaxial cables are fixed and supported inside the test head by an insulating member.例文帳に追加

テストヘッド内部に収納されているピンエレクトロニクスカードとテストヘッドの上部に設けられているパフォーマンスボードが複数本の同軸ケーブルを介して接続された半導体テスタ用テストヘッドにおいて、前記同軸ケーブルは、断熱部材によりテストヘッド内部に固定支持されていることを特徴とするもの。 - 特許庁

Parameters required for operating the IC tester are sequentially set up to a register in a test header using the normal built-in software using the built-in software built in a pin electronics 1 of the test head 12 according to a test program 30 created by a user, and a parameter management system 34 saves the normal parameters as reference parameters 44.例文帳に追加

ユーザの作成したテストプログラム３０に従って、テストヘッド１２のピンエレクトロニクス１８に組み込まれている組み込みソフトウェアを用いて、テストヘッド内のレジスタに、ＩＣテスタの駆動に必要なパラメータを、正常な組み込みソフトウェアを用いて順次設定し、パラメータ管理システム３４は、この正常なパラメータを、リファレンスパラメータ４４として保存する。 - 特許庁

In a semiconductor inspection apparatus having a loop counter counting a loop count of loop instructions for generating a pattern address to be given to pin electronics for DUT testing and the fail memory for storing information related to DUT pass/fail, the fail memory stores necessary information only when count output data of the loop counter change in an all trace mode which captures respective data in all inspection cycles.例文帳に追加

ＤＵＴのテストのためにピンエレクトロニクスに与えるパターンアドレスを発生するためのループ命令のループ回数をカウントするループ回数カウンタと、ＤＵＴのパス／フェイルに関する情報を格納するフェイルメモリを有する半導体検査装置において、前記フェイルメモリは、全ての検査サイクルで各データを取り込むオールトレースモード設定状態では、前記ループ回数カウンタのカウント出力データが変化した時にだけ必要な情報を格納することを特徴とするもの。 - 特許庁