「block test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TEST CIRCUIT OF FUNCTIONAL BLOCK, AND INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

機能ブロックのテスト回路及び集積回路装置 - 特許庁

The selection unit, when the test block includes a circuit block which has been determined to be faulty operation, divides the test block into a plurality of block groups.例文帳に追加

選択部は、試験ブロックが判定部によって動作不良と判定された回路ブロックを含むとき、試験ブロックを複数のブロック群に振り分ける。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF BLOCK RAW MATERIAL FOR ULTRASONIC DEFECT DETECTION TEST例文帳に追加

超音波深傷試験用ブロック素材の製造方法 - 特許庁

Therefore, the arrangement state in the circuit block does not change before and after insertion of the test point, namely, the test point can be inserted without changing the arrangement state in the circuit block.例文帳に追加

したがって、テストポイントを挿入する前後において回路ブロック内の配置の状態が変わることがない。 - 特許庁

The logic verification method is provided with: a means of determining whether the output of a functional block test is an input to another functional block test; and a means of making the output be the input to the other functional block test.例文帳に追加

機能ブロックテストの出力が他の機能ブロックテストの入力となるかどうかを判定する手段と、出力を他の機能ブロックテストの入力とする手段を設ける。 - 特許庁

A memory cell block for the acceleration test and a memory cell block for a normal operation are prepared in the SRAM block to carry out the acceleration test and a normal operation in parallel.例文帳に追加

加速試験は、ＳＲＡＭブロック中に加速試験用のメモリセルブロックと通常動作用のメモリセルブロックを用意し、通常動作と並行して行う。 - 特許庁

To reduce test cost by using a simple test pattern to perform a test of a circuit operated upon receiving the output of a functional block.例文帳に追加

機能ブロックの出力を受けて動作する回路のテストを簡易なテストパターンを用いて実施し、テストコストを削減する。 - 特許庁

The memory test operation is executed in parallel in each memory cell block.例文帳に追加

メモリテスト動作は、各メモリセルブロックにおいて並行に実施される。 - 特許庁

A functional block 12 has a normal operation mode and a test mode.例文帳に追加

機能ブロック１２は、通常動作モードおよびテストモードを有する。 - 特許庁

Then, the test block (180) is composed using a subsection of the reference block (110) and a subsection of the first corona block (130, 140, 160, 170).例文帳に追加

続いてテストブロック(180)は、前記参照ブロック(110)の小区分及び前記第1コロナブロック(130,140,160,170)の小区分を用いて作られる。 - 特許庁

The determination unit determines the quality of the operation of the circuit block on the basis of the results of the test by the test unit.例文帳に追加

判定部は、試験部による試験の結果に基づいて、回路ブロックの動作の良否を判定する。 - 特許庁

TEST SIGNAL FAN-OUT DEVICE, AND METHOD OF SUPPLYING SIMULTANEOUSLY TEST DATA BLOCK TO AT LEAST ONE DEVICE例文帳に追加

テスト信号ファンアウト装置および少なくとも一つのデバイスにテストデータブロックを同時に供給する方法 - 特許庁

It will test both copies, and eventually tell us that the block is interesting. 例文帳に追加

チップは同じものをテストして、いずれおもしろいブロックを教えてくれる。 - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』

To reduce human cost and a test time to be required for a scanning test when the scanning test is performed for a part of a gate array block.例文帳に追加

ゲートアレイブロックの一部に対してスキャンテストを実施する場合に、テストに要する人的なコストおよびテスト時間を短縮化できる。 - 特許庁

A test block 28 includes textures 25 which are contained in an original image and its corresponding test image, and FFT(fast-Fourier transformation) is applied to every pixel included in the block 28.例文帳に追加

オリジナル画像及び試験画像内のテキスチャー２５を含むように試験ブロック２８を設定し、この試験ブロック内の各ピクセルをＦＦＴする。 - 特許庁

A test cell reception section 12 detects a function block not normally sending the test cell as a fault location.例文帳に追加

試験セル受信部１２は、試験セルを正常に送信しなかった機能ブロックを故障箇所として検出する。 - 特許庁

A gate array block 2 having a scanning test inapplicable circuit 21, 23, and a scanning test applicable circuit 22 is provided.例文帳に追加

この発明は、スキャンテスト不適用回路２１、２３と、スキャンテスト適用回路２２を有するゲートアレイブロック２を備える。 - 特許庁

To provide a communication network automatic test system that requires no man-hour for a communication test up to a wireless terminal of a wireless block and a wired block, automatically discriminates the result of communication test for a time band where general communication is less performed and conducts the man-hour saved communication test.例文帳に追加

無線区間及び有線区間の無線端末までの通信路の通信試験を人手を要せず、かつ、一般通信が少ない時間帯に自動的に判定し、その省力化した通信試験を可能にする。 - 特許庁

To perform a test so that plural word lines are not select in a same block.例文帳に追加

同一ブロック内で複数のワード線が選択されないようにテストを行う。 - 特許庁

AUTOMATIC FAILURE TESTING OF LOGICAL BLOCK USING INTERNAL AT-SPEED LOGIC BUILT IN SELF TEST例文帳に追加

内部アットスピード論理ＢＩＳＴを用いた論理ブロックの自動故障試験 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR RETRIEVING TEST BLOCK FROM BLOCKWISE STORED REFERENCE IMAGE例文帳に追加

ブロックで保存された参照画像からテストブロックを取得する方法及び装置 - 特許庁

To segment a quality deterioration block, and to efficiently search for the cause of the quality deterioration by acquiring precision close to the line test of End-End even in a test environment in which a test block is divided.例文帳に追加

試験区間を分割して行う試験環境においてもＥｎｄ〜Ｅｎｄの回線試験に近い精度を得て、品質劣化区間の切り分けを行い、品質劣化原因の究明を効率よく行う。 - 特許庁

To ensure an external terminal required for a test input for inputting a test signal to a functional block so as to test the functional block even if the number of the functional blocks is large.例文帳に追加

機能ブロックの数が多くても、各機能ブロックに対してテストできるように、機能ブロックにテスト信号を入力するために必要なテスト入力用の外部端子を確保することを目的とする。 - 特許庁

When manufacturing the ASIC, the test routine can execute a wide test of an ASIC block without receiving supply of a complicated test pattern from the testing device.例文帳に追加

ＡＳＩＣ製造中に、テストルーチンは、試験装置から複雑なテストパターンの供給を受ける事なく、ＡＳＩＣブロックの幅広いテストが可能である。 - 特許庁

Next, a retest is automatically made according to the test condition stored in the test condition memory portion 24 with respect to the test determined to be block failure.例文帳に追加

ついで、ブロック不良と判断されたテストについて試験条件記憶部２４に格納されている試験条件に従い自動的に再試験を行う。 - 特許庁

When a withstand voltage test and an electrical circuit verification test (sequence test) of a distribution panel are carried out, a wire connection device is attached on a block terminal stand in the distribution panel.例文帳に追加

配電盤の耐電圧試験及び電気回路検証試験（シーケンス試験）を行う時に配電盤内のブロック端子台に結線装置を取り付ける。 - 特許庁

This leakage test device 200 performs the test by applying a load onto a central block 201 by a cylinder 220.例文帳に追加

漏洩試験装置２００は、シリンダー２２０によって中央のブロック２０１に対して荷重を付加することにより行う。 - 特許庁

Second test data TWD2 is written not only in a second regular memory block MB2 but also in a parity memory block PMB.例文帳に追加

第２試験データＴＷＤ２は、第２レギュラーメモリブロックＭＢ２だけでなくパリティメモリブロックＰＭＢにも書き込まれる。 - 特許庁

To facilitate a shift to a test mode and a test of a functional block without requiring a terminal dedicated for testing, a terminal also used for testing, and a decoding circuit for selecting a target functional block.例文帳に追加

テスト専用端子、テスト兼用端子および対象機能ブロックを選択するデコード回路を不要とし、テストモードへの移行および機能ブロックのテストを容易に行う。 - 特許庁

A test circuit 12 tests the memory cell of a memory block 10 by hardware.例文帳に追加

テスト回路１２はメモリブロック１０のメモリセルに対してハードウエアでテストを実行する。 - 特許庁

For other than a test mode, a defective word line is replaced by a spare word line contained in a spare block.例文帳に追加

テストモード以外では、欠陥ワード線はスペアブロックに含まれるスペアワード線で置換される。 - 特許庁

At this time, the common data block, contained in two or more arbitrary test patterns, is searched.例文帳に追加

このとき、任意の２つ以上のテストパターンに含まれる共通のデータブロックを検索する。 - 特許庁

The segmenter identifies block segments associated with columnar body test in the media material.例文帳に追加

セグメンタは、媒体資料内のコラム状の本文テキストに関連するブロックセグメントを識別する。 - 特許庁

After this, a power supply voltage VT is supplied for the second logic circuit block 2 to perform test.例文帳に追加

その後、電源電圧ＶＴを第２の論理回路ブロック２に供給してテストを行う。 - 特許庁

The signal control block provides the test signal to the signal processing block, or provides the final determination signal to the outside.例文帳に追加

信号制御ブロックはテスト信号を信号処理ブロックに提供するか、または最終判定信号を外部に提供する。 - 特許庁

If a failure occurs during a test, fail data are written to the block of the defective block memory 130 to which the address where the failure occurs belongs.例文帳に追加

試験中にフェイルが発生するごとに、フェイルが発生したアドレスが属する不良ブロックメモリのブロックにフェイルデータを書き込む。 - 特許庁

Test data and test sequence required for test operation are set in a register, in an input signal region of the functional block to be tested from the outside of the LSI or the CPU.例文帳に追加

テスト対象とする機能ブロックの入力信号領域におけるレジスタにＬＳＩの外部又はＣＰＵからテスト動作に必要なテストデータとテストシーケンスを設定する。 - 特許庁

Therefore, even though a function block that operates in accordance with a test condition is not set, a test case generating part 131 acquires information about a function block that operates in accordance with the test condition from the function block specification information storing part 111 and can automatically generate a test case in which a plurality of function blocks operate in association with one another.例文帳に追加

このため、試験条件に関連して動作する機能ブロックが設定されていなくても、テストケース生成部１３１は、機能ブロック仕様情報記憶部１１１より関連して動作する機能ブロックに関する情報を取得して、複数の機能ブロックが関連して動作するテストケースを自動的に生成することができる。 - 特許庁

A processing means is preset in a test condition memory portion 24 as a test condition when block failure is detected from an input portion 22 during a burn-in test, so that a burn-in board is attached/detached when block failure is detected during a burn-in test.例文帳に追加

予め入力部２２からバーンイン試験中にブロック不良を検出した場合の処理の仕方を試験条件として試験条件記憶部２４に設定しておき、バーンイン試験中にブロック不良を検出した場合には、バーンインボードの着脱を行う。 - 特許庁

The selector is controlled to select, for execution of the scan test, the input signal 4 of the non-scan block and select, for non-execution of the scan test, the output signal of the non-scan block.例文帳に追加

セレクタは、スキャンテストを行なう場合は非スキャンブロックの入力信号４を選択し、スキャンテストを行なわない場合は非スキャンブロックの出力信号を選択するように制御される。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which is provided with a test mode capable of testing a test block selected out of a plurality of circuit blocks, and can test the test block under a condition of voltage distribution nearly equal to its real working condition even when the device is in the test mode.例文帳に追加

複数の回路ブロックから選択された試験ブロックについて試験が行われるテストモードを備える半導体集積回路装置において、テストモード時においても実使用状態に近い電圧分布のもとで、試験ブロックを試験することが可能な半導体集積回路装置を提供することである。 - 特許庁

The BIST control part transmits, in the test mode, control data, a command signal, test pattern data and a test address signal to the BIST logic circuit through the system bus to test the IP block, and compresses and stores the test result data received through the system bus.例文帳に追加

ＢＩＳＴコントロール部は、テストモードで、システムバスを介してＢＩＳＴロジック回路に制御データ、コマンド信号、テストパターンデータ、及びテストアドレス信号を伝送してＩＰブロックをテストし、システムバスを介して受信されるテスト結果データを圧縮して保存する。 - 特許庁

Many block selecting circuits CBS0-CBSn are selected by test block signals ST0-STn from a test block specifying means 1 activated at the time of test access operation comparing with the block selecting circuits CBS0-CBSn selected by the column block addresses CAq-CAq+k, thus more column blocks CB0-CBn can be activated.例文帳に追加

試験アクセス動作時に活性化される試験ブロック指定手段１からの試験ブロック信号ＳＴ０乃至ＳＴｎによりコラムブロックアドレスＣＡｑ乃至ＣＡｑ＋ｋで選択されるブロック選択回路ＣＢＳ０乃至ＣＢＳｎに比して多数のブロック選択回路ＣＢＳ０乃至ＣＢＳｎが選択され、より多数のコラムブロックＣＢ０乃至ＣＢｎを活性化することができる。 - 特許庁

To provide a test circuit capable of facilitating testing of a standby function of an interface block.例文帳に追加

インターフェースブロックのスタンバイ機能を容易にテストすることが可能なテスト回路を提供すること。 - 特許庁

With this structure, the withstand voltage test and the electrical circuit verification test (sequence test) of a distribution panel can be carried out without detaching the wire connection device from the block terminal stand.例文帳に追加

このように構成することによって、結線装置をブロック端子台から取り外すことなく、配電盤の耐電圧試験及び電気回路検証試験（シーケンス試験）を行うことができる。 - 特許庁