「block test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a block sampling method which enables sampling to be performed without disturbing a test target area of a wide range, and a tracer test method.例文帳に追加

広い範囲の試験対象領域を撹乱することなく採取することができるブロックサンプリング方法およびトレーサー試験方法を提供する。 - 特許庁

One test pattern is divided into a plurality of blocks and deployed, optimal block layout is performed in accordance with a size of a recording medium, and the test pattern is deployed.例文帳に追加

１つのテストパターンを複数ブロックに分割して展開し、記録媒体のサイズに応じて最適なブロックレイアウトを行い、テストパターンを展開する - 特許庁

A relation between the concentration of calcium sulphate and the wear rate (metal wear rate) of the block test piece in the wear test is found as an increasing relation expression (exponential relation expression).例文帳に追加

該摩耗試験の際における硫酸カルシウム濃度とブロック試験片の摩耗率（メタル摩耗率）との関係を増加関係式（指数関係式）として求める。 - 特許庁

When a test mode is specified by a mode signal MOD, ports A and B of a memory block 1 are connected respectively to self-test circuits 10A, 10B.例文帳に追加

モード信号ＭＯＤで試験モードが指定されると、メモリブロック１のＡ及びＢポートは、それぞれ自己試験回路１０Ａ，１０Ｂに接続される。 - 特許庁

Accordingly, it becomes possible to test the test block A regionally under a different distribution in voltage drop of the regions inside the semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

よって半導体集積回路装置内部を、領域ごとに異なる電圧降下分布として試験ブロックＡの試験を行う事が可能となる。 - 特許庁

In this case, the logic block 21 outputs data in a built-in register to a test control part 31 based on a control signal of the test control part 31.例文帳に追加

このとき、論理ブロック２１は、テスト制御部３１のコントロール信号に基づいて、内蔵するレジスタのデータをテスト制御部３１に出力する。 - 特許庁

In a first data compression test mode for invalidating the error correction function, first test data TWD1 is written in a first regular memory block MB1.例文帳に追加

誤り訂正機能を無効にする第１データ圧縮試験モード中に、第１試験データＴＷＤ１は、第１レギュラーメモリブロックＭＢ１に書き込まれる。 - 特許庁

To provide a circuit block testing method in an integrated circuit capable of carrying out a test in a short time.例文帳に追加

短時間でテストを行うことができる集積回路における回路ブロック試験方法を提供する。 - 特許庁

A function/template library for the function block related to verification items listed in a test item table is preliminarily formed.例文帳に追加

テスト項目表に挙げた検証項目に係わる機能ブロックの機能・テンプレート・ライブラリを作成しておく。 - 特許庁

The test data generator 200 is provided with a HSI sample data generator 210 and a noise injecting block 220.例文帳に追加

テストデータ発生器２００は、ＨＳＩサンプルデータ生成器２１０及びノイズ注入ブロック２２０を備える。 - 特許庁

A sequence control part 10 performs the control to stop the test to the block, when the address outputted from a pattern generating part 11 is included in the block specified by the block address stored in the bad block determining part 15.例文帳に追加

シーケンス制御部１０は、パターン発生部１１から出力されるアドレスがバッドブロック判定部１５に記憶されているブロックアドレスで特定されるブロックに含まれる場合には、そのブロックに対する試験を中止する制御を行う。 - 特許庁

A tint block image is generated by a density parameter used for generating one of the plurality of tint block image patches arranged in the test printing image.例文帳に追加

試し刷り画像に配置された複数の地紋画像パッチのうち、一つの地紋画像パッチの生成に用いられた濃度パラメータで地紋画像を生成する。 - 特許庁

The jig set for a tensile test has a structure for suitably applying the compression load due to the load applying block 14 to a test piece as tensile load, and can well perform a tensile test.例文帳に追加

引張試験用治具セットは、荷重印加用ブロック１４による圧縮荷重を試験片ＴＰに引張荷重として好適に印加する構造のもので、引張試験が良好に行えるものである。 - 特許庁

A CPU 8 as a test data storing means detects a block failure by checking the test data stored in the test data storing memory 6 against the failure occurrence patterns stored in the memory 5 for storing failure occurrence patterns and determining a block failure in the case that test data similar to a failure occurrence pattern is present.例文帳に追加

テストデータ格納手段としてのＣＰＵ８は、テストデータ格納メモリ６に格納されたテストデータと不良発生パターン記憶メモリ５に格納された不良発生パターンとを照合し、不良発生パターンと相似のテストデータが存在する場合にブロック不良と判定し、これによりブロック不良を検出する。 - 特許庁

An external memory BIST 21, which tests a nonvolatile semiconductor memory which is an external memory, is provided with a bad block address management table having a function which monitors block addresses, stores bad block addresses and perform test control in a test of nonvolatile semiconductor memory 4.例文帳に追加

外部メモリである不揮発性半導体メモリをテストする外部メモリＢＩＳＴ２１には、不揮発性半導体メモリ４のテストにおいて、ブロックアドレスの監視、バッドブロックアドレスの格納、ならびにテスト制御などの機能を有するバッドブロックアドレス管理テーブルが設けられている。 - 特許庁

To provide a test device for a semiconductor memory in which a test time can be shortened by interrupting logical comparison after the block when a defect is detected once in a noticing block, in a memory to be tested.例文帳に追加

本発明は、被試験メモリにおいて、注目ブロックで一度不良が検出されたら、以後そのブロックで論理比較を行なわないことにより試験時間の短縮が可能な半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

In this test atmosphere construction system, a function block specification information storing part 111 stores information showing a function block that operates in connection with specification information of a prescribed function block while associated with the specification information.例文帳に追加

発明の試験環境構築システムは、機能ブロック仕様情報記憶部１１１は、所定の機能ブロックの仕様情報に対応させて関連して動作する機能ブロックを示す情報を記憶する。 - 特許庁

To increase test speed of a flash memory in which a block in which failure is caused is erased the block whenever failure is caused and write-in tests are performed repeatedly until failure is not caused in the block.例文帳に追加

フェイルの発生毎にそのフェイルが発生したブロックを一括して消去し、そのブロックでフェイルが発生しなくなるまで書き込み試験を繰り返して実行するフラッシュメモリの試験を高速化する。 - 特許庁

This device is provided with a base block 14 attached to a bolster plate 10 of a fatigue test device body 9, and a pressure block 15 fixed removably to the base block 14 by bolts 16.例文帳に追加

疲労試験装置本体９のボルスタプレート１０に取り付けるようにしたベースブロック１４と、該ベースブロック１４にボルト１６により着脱可能に固定できるようにした押えブロック１５とを備える。 - 特許庁

Following the initialization of an internal memory element, a set of a test signal group is generated and processed with a logic block.例文帳に追加

内部記憶要素の初期化に続いて、テスト信号群のセットが論理ブロックによって発生および処理される。 - 特許庁

To test a program including a random output block outputting a random value for an input value.例文帳に追加

入力値に対してランダムな値を出力するランダム出力ブロックを含むプログラムをテストできるようにする。 - 特許庁

The generator (150) generates test data of a block unit by a combination of signals receiving from external pins.例文帳に追加

データ発生回路１５０は、外部ピンから受ける信号の組合わせによりブロック単位のテストデータを発生する。 - 特許庁

To retrieve a test block at a freely selectable position from a blockwise stored reference image.例文帳に追加

本発明は、ブロックで保存された参照画像から自由に選択できる位置でのテストブロックの取得に関する。 - 特許庁

In this inspection device to be constituted, a test is performed by bringing the probe needle 13 of a probe block 12 into contact with the liquid crystal panel 5.例文帳に追加

液晶パネル５にプローブブロック１２のプローブ針１３を接触させて試験を行う検査装置である。 - 特許庁

the block is then tested hydraulically to its full design test pressure on each stream separately 例文帳に追加

それから、そのブロックは水圧テストにかけられ、それぞれの流れに個別的に完全な設計試験圧力をかける - 日本語WordNet

To suppress an increase in the number of test patterns in each functional block, regarding a semiconductor device which comprises a plurality of functional blocks.例文帳に追加

複数の機能ブロックを有する半導体装置について、各機能ブロックのテストパターン数の増加を抑制する。 - 特許庁

This management table 35 compares a bad block allowable total number optionally set to a bad block allowable total number value setting register with the total number of the bad blocks of the test which a bad block total number counter counts, and when a counter value reaches the allowable limit, a flag of upper limit of the bad blocks is set and the test failure is determined.例文帳に追加

この管理テーブル３５は、バッドブロック総数許容値設定レジスタに任意に設定されたバッドブロック総数の許容値とバッドブロック総数カウンタによりカウントされるテストのバッドブロックの総数とを比較し、カウンタ値が許容値に達した際にバッドブロック数上限フラグを立てテストフェイルとする。 - 特許庁

An arithmetic processing block (hereinafter, arithmetic processing B), which the control model stored in a model storing part 10 has, is replaced by a test block replacement part 12 with a test block in which the same processing as the arithmetic processing B is expressed and an output point of a result in the midway of the arithmetic processing is defined.例文帳に追加

モデル格納部１０に格納された制御モデルが有する演算処理ブロック（以下、演算処理Ｂ）を、その演算処理Ｂと同じ処理を表し、かつ演算処理の途中結果の出力箇所が定義された検査ブロックに、検査ブロック置換部１２が置換する。 - 特許庁

A test input signal is given to the functional block due to the setting into the register in the input signal region, and the functional block performs testing operations, so that a test output signal outputted from the functional block is set as output data in a register in an output signal region.例文帳に追加

前記入力信号領域におけるレジスタへの設定により機能ブロックにテスト入力信号が与えられ、機能ブロックがテスト動作することにより機能ブロックから出力されたテスト出力信号が出力信号領域におけるレジスタに出力データとして設定される。 - 特許庁

When a test command code preset to a microprogram ROM part 11 is executed, execution control of the program is shifted to a test mode memory area block 41, and the functional block 3 to be tested is tested by an access control part 12 and a selector circuit 2 corresponding to an evaluation program written in the test mode memory area block 41.例文帳に追加

予めマイクロプログラムＲＯＭ部１１に設定されたテスト用の命令コードが実行されると、プログラムの実行制御がテストモードメモリエリアブロック４１に移され、テストモードメモリエリアブロック４１に書き込まれている評価用プログラムにしたがって、アクセス制御部１２およびセレクタ回路２によってテスト対象とする機能ブロック３のテストが行われる。 - 特許庁

To provide a transmission signal generating circuit that can test each function block of a reception circuit in detail without the need for provision of a special test device other than a transmitter-receiver.例文帳に追加

送受信装置以外に特別な試験装置を用意することなく、受信回路の詳細な機能ブロック毎の試験を可能にする送信信号生成回路を提供する。 - 特許庁

A test processor 1 of the memory testing device is capable of simultaneously writing, reading, or erasing a test signal for each memory block with respect to a plurality of devices (DUT) to be tested.例文帳に追加

メモリ試験装置のテストプロセッサ１は、複数の被試験デバイス（ＤＵＴ）に対して同時に、メモリブロック単位で試験信号を書き込み、読み出し、あるいは消去が可能である。 - 特許庁

The test unit tests in parallel a test block including designated one or more circuit blocks of a semiconductor integrated circuit having a plurality of circuit blocks which can be tested singly.例文帳に追加

試験部）は、単独で試験可能な回路ブロックを複数備える半導体集積回路の指定された１または複数の回路ブロックを含む試験ブロックを並列に試験する。 - 特許庁

By changing the number of bits (data compression rate) for distributing the first and second test data TWD 1 and 2, a data compression test to the parity memory block PMB can be carried out without increasing the number of test terminals.例文帳に追加

第１および第２試験データＴＷＤ１−２を分配するビット数（データの圧縮率）を変えることで、試験端子の数を増やすことなく、パリティメモリブロックＰＭＢに対するデータ圧縮試験を実施できる。 - 特許庁

Hereby, when the electronic component is loaded on or unloaded from the test tray in the pushing block, interference between a picker and the pushing block does not occur, to thereby enhance working efficiency.例文帳に追加

したがって、本発明の押しブロックはテストトレイに電子部品をロードしたりアンロードする時、ピッカーと押しブロック間の干渉がなく、作業効率を増大させる。 - 特許庁

Therefore, even when a defective block is detected by a burn-in test after packaging, this defective block can be set easily to a non-selective holding state.例文帳に追加

したがって、パッケージ後のバーンイン試験により不良ブロックが検出された場合においても、この不良ブロックを容易に非選択保持状態に設定することができる。 - 特許庁

The selector 24 connects a specified functional block to input/output terminals 18 according to these selecting signals, and a test of the functional block according to the set operation mode is performed.例文帳に追加

セレクタ２４は、これら選択信号に応じて所定の機能ブロックを入出力端子１８と接続し、設定された動作モードに応じた機能ブロックのテストが行なわれる。 - 特許庁

To realize a temporally parallel test between a predetermined circuit block having a self-diagnosis circuit and another circuit block in a testing method for an IC having a plurality circuit blocks.例文帳に追加

複数の回路ブロックを有するＩＣのテスト方法において、自己診断回路を有する所定の回路ブロックと、その他の回路ブロックとの時間的な並列テストを実現する。 - 特許庁

The communication network automatic test system automatically tests the communication quality of respective transmission system in a communication path from a wired block and a wireless block to a wireless terminal.例文帳に追加

無線区間及び有線区間から無線端末までの通信路での複数の伝送方式におけるそれぞれの伝送方式の通信品質を自動試験する。 - 特許庁

The encoder further applies error correction encoding with multiple block encoding formats to an information array including the original symbol and the RS test symbols, and generates test symbols of multiple formats corresponding to the block encoding formats.例文帳に追加

また、元の情報記号とＲＳ検査記号とを有する情報配列に複数のブロック符号化形式による誤り訂正符号化を施すとともに、ブロック符号化形式に対応する複数の形式の検査記号を生成する。 - 特許庁

When repair is performed by a spare cell of an adjacent memory block for a defective cell of a self-block as this invention, a memory test time can be shortened by matching the cell data topology, and the complexity of a test program can be reduced.例文帳に追加

本発明のように自己ブロックの不良セルを隣接したメモリブロックのスペアセルでリペアーした場合セルデータトポロジーを合わせることでメモリテスト時間を短縮させることができテストプログラムの複雑度を減少させることができる。 - 特許庁

When a code block of an input code is altered, a test case is automatically generated, and start priority is computed based upon relation between the altered code block and each code block to be influenced by the alteration.例文帳に追加

入力コードのコード・ブロックが変更されると、テスト・ケースが自動的に生成され、開始優先度が、変更されたコード・ブロックと、変更による影響を受ける各コード・ブロックとの間の関係に基づき計算される。 - 特許庁

In generating the tint block image, this is based on user's selection that the tint block image is to be generated by a density parameter used for generating which from among the plurality of tint block image patches arranged in the test printing image.例文帳に追加

そして、地紋画像を生成するにあたり、試し刷り画像に配置された複数の地紋画像パッチのうち、どの一つの地紋画像パッチの生成に用いられた濃度パラメータで生成するかはユーザの選択に基づく。 - 特許庁

Columnar members 13, 14 used as fulcrums of a loading tool in the four-point bending test are fixed to a block by means of holes remained on the facing surfaces E and F of an approximately rectangular parallelepiped block 10, to be thereby integrated with the block.例文帳に追加

４点曲げ試験において負荷治具の支点となる円柱部材１３、１４は略直方体ブロック１０の対向する面Ｅと面Ｆに残された円形の穴でブロックに固定されブロックと一体化している。 - 特許庁

The test circuit 30 outputs an output of the circuit block 10 set as a testing target without passing through the circuit block 20 and transmits an input value input without passing through the circuit block 10 to the circuit block 20 set as a testing target.例文帳に追加

テスト回路３０は、テスト対象として設定された回路ブロック１０の出力を回路ブロック２０を経由せずに出力すると共に、回路ブロック１０を経由せずに入力された入力値をテスト対象として設定された回路ブロック２０へ伝送する。 - 特許庁