「consumption test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To reduce energy consumption of a device while maintaining a test environment for a test object.例文帳に追加

試験対象物に対する試験環境を維持しつつ装置の消費エネルギーを低減させる。 - 特許庁

In a standby test before a screening test, a consumption current is measured at each test point, and when the consumption current value exceeds a first consumption current threshold, the semiconductor device is regarded as faulty.例文帳に追加

スクリーニングテスト前のスタンバイテストで、各テストポイントでの消費電流を測定し、それら消費電流値が第１の消費電流しきい値よりも大きい場合には、その半導体装置を不良とする。 - 特許庁

In a standby test after the screening test, as a result of the calculation of the difference between the consumption current measured at each test point and the consumption current measured before the screening test, the semiconductor device of which the difference exceeds a second consumption current threshold is regarded as faulty.例文帳に追加

次に、スクリーニングテスト後のスタンバイテストでは、各テストポイントで測定した消費電流とスクリーニングテスト前に測定した消費電流との差分を算出し、それらが第２の消費電流しきい値よりも大きい半導体装置を不良品とする。 - 特許庁

Then fuel consumption in a fuel consumption reference test and fuel consumption based on the virtual map are compared, and correction processing of CO2 discharging specific consumption is executed so that an error becomes small.例文帳に追加

更に、燃費基準試験の燃費と仮想マップに基づく燃費とを比較し、誤差が小さくなるように、ＣＯ２排出原単位の修正処理を実行する。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING OR MEASURING ENERGY CONSUMPTION USING 13C-EXPIRATION TEST例文帳に追加

１３Ｃ−呼気試験を用いたエネルギー消費の評価または測定方法 - 特許庁

To reduce power consumption in a scan test of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のスキャンテストにおける消費電力を削減する。 - 特許庁

To prevent power consumption from increasing while reducing dependency of a test pattern.例文帳に追加

データパターンの依存性を低減しつつ、消費電力の増加を抑制する。 - 特許庁

To provide a circuit and a method for reducing consumption power for module-type scan test.例文帳に追加

モジュール型スキャンテストの消費電力を減らす回路と方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which current consumption of a memory can be measured accurately without being affected by current consumption of a test circuit used only at the time of a test.例文帳に追加

テスト時にのみ使用するテスト回路の消費電流に影響されずにメモリの消費電流を正確に測定することが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To reduce power consumption in a macro test for a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路におけるマクロ試験時の消費電力を削減すること。 - 特許庁

To remove a useless consumption of power energy even in a long-time load test of a pulse power supply.例文帳に追加

パルス電源の長時間負荷試験にも電力エネルギーの無駄な消費を無くす。 - 特許庁

MEMORY CIRCUIT WITH REDUNDANT MEMORY CELL ARRAY SIMPLE IN SHIPPING TEST AND REDUCED IN ELECTRIC POWER CONSUMPTION例文帳に追加

出荷試験が簡単で消費電力を削減した冗長メモリセルアレイ付きメモリ回路 - 特許庁

To realize a semiconductor device which can improve a reliability with suppressing an increase of power consumption at a burn-in test time and, its test apparatus and its test method.例文帳に追加

バーンインテスト時の消費電力の増加を抑制しつつ信頼性を向上させることができる半導体装置、そのテスト装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

The two test areas that configure the second pair have the same test area consumption direction, which is the direction opposite to the test area consumption direction of the first pair, and the test areas are disposed such that regions to be subsequently used do not easily overlap each other.例文帳に追加

第２ペアを構成する２つのテストエリアは、それぞれテストエリアの消費方向が同一であって、かつ第１ペアのテストエリアの消費方向とは逆方向とされるとともに、各テストエリアは、次に使用する領域が互いに層方向に重なりにくいように配置する。 - 特許庁

To provide a loading system for a cell load test by which consumption of power generated by a fuel cell is suppressed in the cell load test, and heat generation involved in such consumption of power is suppressed.例文帳に追加

電池の負荷試験において、燃料電池が発生する電力の消費を抑制し、この電力の消費に伴う発熱を抑制する電池試験用負荷装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device capable of reducing power consumption in a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験時の消費電力を低減することが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, a test time of the semiconductor memory can be shortened without increasing quantity of current consumption.例文帳に追加

これにより、電流消耗量の増加無しに半導体メモリ装置のテスト時間を短縮しうる。 - 特許庁

To reduce the current consumption of the whole system when an automatic test of a fire sensor is conducted.例文帳に追加

火災感知器の自動試験実施時におけるシステム全体の消費電流を減少させる。 - 特許庁

Power consumption is kept low by using coefficient test operation parallel with the operation of the ALU.例文帳に追加

ＡＬＵ演算と並列な係数テスト演算を使用して消費電力が低く維持される。 - 特許庁

TEST METHOD OF BULLET CORE CONSUMPTION CHARACTERISTIC AND OPTIMIZATION TECHNIQUE USING THE SAME FOR COMPOSITE ARMORING STRUCTURE例文帳に追加

弾芯消耗特性試験法及びこれを用いた複合装甲構造の最適化手法 - 特許庁

To prevent a malfunction by reducing peak power consumption in a scan test, especially, in a capture mode.例文帳に追加

スキャンテスト時、特にキャプチャモード時におけるピーク消費電力を削減し、誤動作を防止する。 - 特許庁

To provide a test environment adjusting device of a central air conditioner, reducing consumption energy required for forming a test environment and stabilizing the test environment.例文帳に追加

試験環境の形成にかかる消費エネルギーを低減するとともに、その試験環境を安定化させることができるセントラル空調装置の試験環境調整装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test print that enables a cost reduction due to a reduced size and consumption, and a test print colorimeter.例文帳に追加

テストプリントのサイズを小さくして消費量を少なくしコストを削減することが可能なテストプリント及びテストプリント測色装置を提供する。 - 特許庁

To enable shortening a test process in a semiconductor storage and to enable reducing power consumption in a burn-in test process.例文帳に追加

半導体記憶装置における検査工程を短縮できるようにし、また、バーンイン検査工程において、消費電力を低減できるようにする。 - 特許庁

Thereafter, as a result of judgment whether the consumption current value measured after the screening test is less than the first consumption current threshold or not, the semiconductor device with a larger consumption current value is regarded as faulty.例文帳に追加

続いて、スクリーニングテスト後に測定した消費電流値が第１の消費電流しきい値よりも小さいかを判断し、大きい消費電流値の半導体装置を不良品とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device provided with a test circuit of a little power consumption at the time of normal operation.例文帳に追加

通常動作時において消費電力の少ないテスト回路を有する半導体装置を提供する - 特許庁

A house was built to test whether the system can reduce electricity consumption by 10 percent. 例文帳に追加

このシステムが電力消費量を10％削減できるかどうか検証するために家が建てられた。 - 浜島書店 Catch a Wave

This allows power consumption to be suppressed in the combined circuit 101 during shift in the scan test.例文帳に追加

これにより、スキャンテストのシフト中の組合せ回路１０１の部分における電力消費が抑えられる。 - 特許庁

To monitor a current flowing to a device to be measured, even in tests which are other than a test for measuring current consumption.例文帳に追加

消費電流を測定する以外の試験でも被測定デバイスに流れる電流を監視する。 - 特許庁

Therefore, current consumption of the test circuit 24 is included in a standby leak current of the memory 30.例文帳に追加

したがって、メモリ３０のスタンバイリーク電流にテスト回路２４の消費電流が含まれることはない。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a high operating speed in which current consumption can be reduced at the time of test.例文帳に追加

動作速度が速く、かつ試験時の消費電流を低減できる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit which can prevent operation errors or start errors of a circuit to be tested regardless of items to be tested and can reduce the power consumption during the test.例文帳に追加

試験項目によらず、被試験対象回路の誤作動や誤起動を防止でき、試験時の消費電力を削減できる試験回路を提供する。 - 特許庁

The scan pass test circuit having no malfunction and a large operating margin can be made by this configuration, and the instantaneous current consumption at the time of scan test can be reduced.例文帳に追加

この構成により、誤動作のない動作マージンの大きいスキャンパス・テスト回路が可能となり、またスキャンテスト時の瞬時消費電流を削減できる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit raised in effect of an accelerated test in a reliability evaluation test while suppressing consumption current in normal operation.例文帳に追加

通常動作時における消費電流を抑えたまま、信頼性評価試験における加速試験の効果が高められた半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To reproduce a test by simulation with the pseudo random numbers of a logic BIST in the stage of RTL, and to execute power consumption estimation in test.例文帳に追加

ＲＴＬの段階でロジックＢＩＳＴの擬似乱数によるテストをシミュレーションで再現し、テスト時の消費電力見積もりを実施可能とする。 - 特許庁

The two test areas that configure the first pair have the same test area consumption direction, and the test areas are disposed such that regions to be subsequently used do not easily overlap each other.例文帳に追加

また第１ペアを構成する２つのテストエリアは、それぞれテストエリアの消費方向が同一とされるとともに、各テストエリアは、次に使用する領域が互いに層方向に重なりにくいように配置する。 - 特許庁

To provide an electronic circuit provided with a circuit for a scanning test capable of reducing an electric power consumption in a usual operation mode other than a scanning test mode, an integrated circuit, and a method of reducing the electric power consumption used for the integrated circuit.例文帳に追加

スキャンテストモード時以外の通常動作モード時の消費電力が低減されるスキャンテスト用回路を備える電子回路、集積回路及び該集積回路に用いられる消費電力低減方法を提供する。 - 特許庁

A consumption current value within a prescribed test time is calculated on the basis of the monitoring current value and the maximum load current value of the system, and the battery 8 is subjected to a capacity test by dummy load on the basis of the consumption current value.例文帳に追加

システムの監視電流値及び最大負荷電流値を基に、所定の試験時間内の消費電流値を求め、その消費電流値を基にして、疑似負荷による電池８の容量試験を行う。 - 特許庁

To provide a surge test circuit that can realize the same testing condition regardless of consumption current of tested-equipment.例文帳に追加

被試験機器の消費電流によらず、同一の試験条件を実現できるサージ試験回路を提供する。 - 特許庁

To reduce the power consumption of a scan flip-flop generated when a test enable signal is in a disabled state.例文帳に追加

テストイネーブル信号がディセーブル状態のときに発生するスキャンフリップフロップの消費電力を低減化する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of reducing electric power consumption at testing and easily attaining compression scan test.例文帳に追加

テスト時の消費電力の低減と共に圧縮スキャンテストを容易に実現可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To shorten time and reduce fuel consumption, in a test for a particulate filter regenerating device.例文帳に追加

パティキュレートフィルタ再生処理装置の検査を行なう際、時間の短縮及び燃料消費量の低減を図ること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which power consumption is low and a sure operation margin test can be performed and a test method for semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

低消費電力で、かつ確実な動作マージン試験が可能な半導体集積回路及び半導体集積回路のテスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Therefore, the amount of ink consumption in test print runs can be further reduced and test printing can be completed in much less time as compared with test printing in which images, the same images shown in actual prints, for all pages are printed.例文帳に追加

これにより、全頁を本印刷と同一の画像により試し刷りするものに比して、試し刷りで消費するインク量をより少なくすることができる共に試し刷りをより短時間で完了させることができる。 - 特許庁

To enable suppression of test consumption current for every circuit by performing an operation test of a fire detector one by one in order without overlapping test signals and without the need of a dedicated fire receiver.例文帳に追加

専用の火災受信機を必要とせず、試験信号を重ならせずに火災感知器を１台ずつ順送りに動作試験を行うことにより、回線毎の試験消費電流を抑制できることを目的とする。 - 特許庁