「cycle test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

CYCLE FATIGUE TEST METHOD AND CYCLE FATIGUE TESTER例文帳に追加

サイクル疲労試験方法およびサイクル疲労試験装置 - 特許庁

HEAT CYCLE TESTING METHOD AND JIG FOR HEAT CYCLE TEST例文帳に追加

熱サイクル試験方法および熱サイクル試験用治具 - 特許庁

CYCLE DETERMINING METHOD FOR LSI TEST PATTERN例文帳に追加

ＬＳＩテストパターンのサイクル決定方法 - 特許庁

APPARATUS FOR THERMAL SHOCK OR THERMAL CYCLE TEST例文帳に追加

熱衝撃又は熱サイクル試験装置 - 特許庁

To provide an insulation substrate capable of satisfying both of a cold heat cycle test and a power cycle test.例文帳に追加

冷熱サイクル試験とパワーサイクル試験の双方を満足する絶縁基板を提供すること。 - 特許庁

To provide an insulating substrate that passes both a cooling cycle test and a power cycle test.例文帳に追加

冷熱サイクル試験とパワーサイクル試験の双方を満足する絶縁基板を提供すること。 - 特許庁

A corrosion test is performed at SAE J2334 120 cycle, for example.例文帳に追加

腐食試験は、例えば、SAE J2334 120サイクルで行う。 - 特許庁

To locally and freely adjust cycle time in an arbitrary test cycle.例文帳に追加

任意のテストサイクルにおけるサイクル時間を局所的に自由に調整する。 - 特許庁

LINEAR GAS VALVE CYCLE CONTROL, CUTOFF VALVE AND TEST THEREOF例文帳に追加

リニアガスバルブサイクル制御、遮断バルブ及びその試験 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR HIGH CYCLE FATIGUE LIFE TEST例文帳に追加

高サイクル疲労寿命試験の方法及び装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR HEAT CYCLE TEST例文帳に追加

温度サイクル試験装置及び温度サイクル試験方法 - 特許庁

We use an incremental design, build, test, redesign cycle例文帳に追加

段階的な設計・製作・テスト・再設計のサイクルを - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

TEST PIECE FOR HIGH PRESSURE AIR-TIGHT TESTING DEVICE AND REFRIGERATING CYCLE例文帳に追加

高圧気密試験装置の供試体及び冷凍サイクル - 特許庁

THERMAL CYCLE TEST MACHINE HAVING AUTOMATICALLY ARRANGEABLE LID例文帳に追加

自動的に配置可能な蓋を有する熱サイクル試験機 - 特許庁

To provide a scanning test circuit and a scanning test method capable of shortening a clock cycle.例文帳に追加

クロックサイクルを短縮できるスキャンテスト回路及びスキャンテスト方法を提供する。 - 特許庁

To locally and freely adjust a cycle time in an arbitrary test cycle and reduce a chip size and a test cost.例文帳に追加

任意のテストサイクルにおけるサイクル時間を局所的に自由に調整するとともにチップサイズ、テストコストを削減する。 - 特許庁

A corrosion test can be performed in an SAE J2334 120 cycle, for instance.例文帳に追加

腐食試験は例えばSAE J2334 120サイクルで行うことができる。 - 特許庁

To suppress reduction of charge and discharge efficiency in a cycle test of a battery, and maintain a battery capacity high after the cycle test.例文帳に追加

電池のサイクル試験における充放電効率の低下を抑制し、サイクル試験後の電池容量の高く維持する。 - 特許庁

Waveforms of shorter cycle or longer cycle than that of, for example, ordinary test waves are used as the test waves for insertion.例文帳に追加

挿入用試験波としては、例えば、定常用試験波よりも、短周期あるいは長周期の波形を用いる。 - 特許庁

TRANSLATOR TOOL AND METHOD FOR CONVERTING TEST DATA ON EVENT BASE INTO TEST DATA ON CYCLE BASE例文帳に追加

イベントベースの試験データをサイクルベースの試験データに変換するトランスレータツール及び方法 - 特許庁

The test relates to a reliability test of flexible separator configured so that a cycle speed in a test can be raised.例文帳に追加

試験におけるサイクルの速度を上げることが可能なように構成された可撓セパレータの信頼性試験に関する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which shows an excellent test result in both a heat cycle test and a moisture absorption resistance reflow test.例文帳に追加

温度サイクル試験においても、また耐吸湿リフロー性試験においても良好な半導体装置を提供する。 - 特許庁

When the duty cycle corresponding to the test clock is different from a predetermined duty cycle, the apparatus modifies the duty cycle of the test clock signal so as to reduce an error.例文帳に追加

装置は、テスト・クロック対応のデューティ・サイクルが所定のデューティ・サイクルとは異なる場合に、誤差を低減するためにテスト・クロック信号のデューティ・サイクルを変更する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having an excellent reliability in heat cycle test.例文帳に追加

温度サイクル信頼性に優れた半導体装置を提供する。 - 特許庁

To perform a power cycle test simultaneously on a plurality of MOSFETs.例文帳に追加

複数のＭＯＳＦＥＴに対して同時にパワーサイクル試験を行うこと。 - 特許庁

HEAT-CYCLE CREEP FATIGUE TEST PIECE AS WELL AS APPARATUS AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

熱サイクルクリープ疲労の試験片、その試験装置、及び、その試験方法 - 特許庁

Provided that, the output fixing circuit is a circuit for outputting the same signals as input during a multi-cycle test, and outputting an arbitrary fixed value during a single cycle test.例文帳に追加

但し、出力固定回路は、マルチサイクルテスト時には、入力と同じ信号を出力し、シングルサイクルテスト時には、任意の固定値を出力する回路である。 - 特許庁

In this test mode, operation can be performed with one clock per one cycle.例文帳に追加

このテストモードでは、１サイクル当たり１クロックで動作させることができる。 - 特許庁

A multicycle test step and a single cycle test step are provided, the test for the multicycle path is carried out while holding the date, using the clock enable signal to the FFI in the data output side, when executing the multicycle test step, and the test is carried out while bringing constitution not capturing the data, as to the multicycle path, when executing the single cycle test step.例文帳に追加

マルチサイクルテストステップと、シングルサイクルテストステップとを設けて、マルチサイクルテストステップ時には、データの出し側のFF1に対してクロックイネーブル信号を用いて、データをホールドしてマルチサイクルパスのテストを行い、シングルサイクルテストステップ時に、マルチサイクルパスに関してはデータをキャプチャさせない構成をとってテストを行う。 - 特許庁

A Propagation Test instruction, a Decay Test instruction and a Cycle Test instruction are added to the interconnect circuit test method of a circuit including a conventional JTAG boundary scan cell.例文帳に追加

伝搬テスト命令、減衰テスト命令、およびサイクル・テスト命令を従来型ＪＴＡＧ境界スキャン・セルを含む回路の相互接続回路テスト方法に追加する。 - 特許庁

The test pattern memory means 130 outputs a necessary test pattern every cycle period according to the address designation signal.例文帳に追加

テストパターン記憶手段１３０は、アドレス指定信号により、サイクル周期毎に必要なテストパターンを出力する。 - 特許庁

To provide an optical member which clears various environment tests such as a test on adhesive force, a durability test, a high-temperature test, a cycle temperature test and a humidity test without reducing transmittance, and to provide its manufacture method.例文帳に追加

透過率を低減させず、密着力、耐久性試験、高温試験、サイクル温度試験、湿度試験等の種々の環境試験をクリアする光学部材およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

A test pattern generating means 120 composes a part of the timing signal with a part of the test pattern every cycle period to generate the test pattern signal.例文帳に追加

テストパターン生成手段１２０は、タイミング信号の一部と、テストパターンの一部とを各サイクル周期毎に合成し、テストパターン信号を生成する。 - 特許庁

A cycle precision level simulation control part 220 obtains a cycle precision level simulation model, a cycle precision level test pattern, and an RTL description to make a cycle precision level simulation executing part 210 execute the cycle precision level simulation.例文帳に追加

サイクル精度レベルシミュレーション制御部２２０はサイクル精度レベルシミュレーションモデル、サイクル精度レベルテストパタン及びＲＴＬ記述を取得し、サイクル精度レベルシミュレーション実行部２１０にサイクル精度レベルシミュレーションを実行させる。 - 特許庁

Further, according to the heat cycle accelerating test, in 1,000 cycle times, the number of broken pieces is 15 based on the 40 measured pieces.例文帳に追加

また、熱サイクル加速試験によれば、サイクル回数1,000回で、測定個数40個に対して破断した個数は15個であった。 - 特許庁

As to this scan test circuit, the cycle of a clock in shift operation is made shorter than the cycle of the clock in capture operation.例文帳に追加

スキャンテスト回路において、シフト動作時のクロックの周期をキャプチャ動作時のクロックの周期に比して短くする。 - 特許庁

Further, according to the heat-cycle accelerating test, in 500 cycle times, the number of broken pieces is 5 based on the 20 measured pieces.例文帳に追加

また、熱サイクル加速試験によれば、サイクル回数500回で、測定個数20個に対して破断した個数は5個であった。 - 特許庁

A corrosion test is performed on a corrosion test cycle condition SAE J2334, using four kinds of test pieces with different shapes made of molten-zinc-plated steel plate, for example.例文帳に追加

例えば、溶融亜鉛めっき鋼板からなり、形状が異なる４種類の試験片を用いて、SAE J2334腐食試験サイクル条件で腐食試験を行なう。 - 特許庁

To provide a small-sized and low-profile choke coil in which core cracking in a vibration impulse test and a temperature cycle test is suppressed.例文帳に追加

振動衝撃試験、温度サイクル試験でのコア割れを抑制した、小型で低背型のチョークコイルを提供すること。 - 特許庁

In an aging acceleration test of the automobile tire, this test method is characterized by being exposed alternately to a wet heat cycle and a dry heat cycle.例文帳に追加

自動車用タイヤの老化促進試験において、湿熱サイクルと乾熱サイクルに交互に暴露させることを特徴とする試験方法により目的を達成する。 - 特許庁

To improve the reliability of a laminated type semiconductor device to a heat cycle test.例文帳に追加

積層型半導体装置の熱サイクル試験に対する信頼性を向上させる。 - 特許庁

To improve reliability of a heat cycle test on a stacked semiconductor device.例文帳に追加

積層型半導体装置の熱サイクル試験に対する信頼性を向上させる。 - 特許庁

To achieve a test based on an actual operation speed of a single cycle path in a logic circuit in which the single cycle path and a multi-cycle path are mixed when performing a scan test by integrating a scan path into a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路にスキャンパスを組み込んでスキャンテストを行う際に、シングルサイクルパスとマルチサイクルパスが混在している論理回路において、シングルサイクルパスの実動作速度によるテストを可能にすること。 - 特許庁

To provide a polarizing plate excellent in durability, which does not break in a heat cycle test.例文帳に追加

ヒートサイクル試験において破断しない耐久性に優れた偏光板を提供する。 - 特許庁

Control software accesses the data storage, and determines a duty cycle corresponding to the test clock.例文帳に追加

制御ソフトウェアはデータ・ストアにアクセスして、テスト・クロック対応のデューティ・サイクルを決定する。 - 特許庁