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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > dielectric analysisに関連した英語例文

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dielectric analysisの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 17



例文

A dielectric substance 20 as an analysis object is placed on one surface of a metallic thin film 8.例文帳に追加

金属薄膜8には、一方の面に分析対象である誘電体20が載置される。 - 特許庁

To prevent dielectric breakdown by the selection of a condition to prevent a void using analysis.例文帳に追加

解析を用いたボイドを防止できる条件の選定により絶縁破壊を防止する。 - 特許庁

The wiring part 24 provided in the interlayer dielectric film 22 under the index body 10 is an analysis object.例文帳に追加

指標体10の直下の層間絶縁膜22に設けられた配線部24が解析対象物となる。 - 特許庁

In particular, the entire semiconductor chip is regarded as a dielectric and inductance analysis is performed to obtain an inductance component of an equivalent circuit, and it is regarded as a dielectric having a metal thin film on a surface thereon and capacitance analysis is performed to obtain a capacitance component of the equivalent circuit, and the inductance analysis results and the capacitance analysis results are combined to obtain the equivalent circuit.例文帳に追加

特に、半導体チップ全体を誘電体とみなしてインダクタンス解析を行い等価回路のインダクタンス成分を求め、表面に金属薄膜を有する誘電体とみなして容量解析を行い等価回路の容量成分を求め、インダクタンス解析結果と容量解析結果を合成して、等価回路を求める。 - 特許庁

例文

The analysis is provided with a semiconductor substrate 1, the low dielectric constant film 3 formed on the semiconductor substrate, a plurality of dummy pattern 7 groups formed in the low dielectric constant film, and a metal film 6 formed on the surface of the low dielectric constant film.例文帳に追加

半導体基板1と、この半導体基板上に形成された低誘電率膜3と、この低誘電率膜内に形成された複数のダミーパターン7群と、低誘電率膜の表面に形成された金属膜6を有する。 - 特許庁


例文

At first a cell of an object to be measured is modeled, and the complex dielectric constant when an AC electric field is applied to the cell is determined by using numerical analysis (Step S1).例文帳に追加

先ず、測定対象の細胞の形状をモデル化し、その細胞にAC電場が印可されたときの複素誘電率応答を数値解析により求める(ステップS1)。 - 特許庁

To provide a wafer for CMP peeling analysis which can evaluate quantitatively peeling of a low dielectric constant film in a CMP (chemical mechanical polishing) process, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

CMP(化学機械研磨法)工程における低誘電率膜の剥離を定量的に評価できるCMP剥離解析用ウェハ及びその製造方法を得る。 - 特許庁

The method includes: a step of measuring reflectivity measurement data, and dispersion and polarization analysis data for the specimen; a step of determining thickness of a nitroxide gate dielectric formed on the specimen from the reflectivity measurement data; a step of determining refractive index of the nitroxide gate dielectric from the thickness and dispersion and polarization analysis data; and a step of determining nitrogen concentration of the nitroxide gate dielectric from the refractive index.例文帳に追加

試験体の測定のための方法において、該試験体の反射率測定データおよび分光偏光解析データを測定する工程と、該反射率測定データから、該試験体上に形成された窒化酸化物ゲート誘電体の厚さを判定する工程と、該厚さおよび該分光偏光解析データから、窒化酸化物ゲート誘電体の屈折率を判定する工程と、該屈折率から、該窒化酸化物ゲート誘電体の窒素濃度を判定する工程と、を含む。 - 特許庁

In a semiconductor laser apparatus including a dielectric material film to at least a part of the compound semiconductor surface, the dielectric material film includes at least silicon nitride and oxygen as the elements, and a ratio of oxygen in the dielectric material film to the number of secondary ions of silicon to be detected by the secondary ion mass analysis method is 0.01 or larger.例文帳に追加

化合物半導体表面の少なくとも一部に誘電体膜を有する半導体レーザ装置において、前記誘電体膜は成分として少なくとも窒化シリコンと酸素を有し、二次イオン質量分析法により検出される前記誘電体膜中の酸素とシリコンの二次イオン数の比が0.01以上であることを特徴とする。 - 特許庁

例文

To provide a method for mass analysis of polymers by mobility measurements of charge reduced ions generated by electrosprays of the polymers using solvents having high dielectric constants.例文帳に追加

高い誘電率を有する溶媒を使用して、ポリマーのエレクトロスプレーによって発生させた電荷の減少したイオンの移動度の測定による、ポリマーの質量分析のための方法を提供する。 - 特許庁

例文

In step S4, ellipso-parameters Δand Ψof the sample are calculated using the dielectric function, and fitting is performed by regression analysis so that the average square error, between the calculated values of the elipso-parameters Δ and Ψ and the measured values by the spectral ellipsometer, is minimized or lies within an allowable range to estimate an optimum dielectric function.例文帳に追加

ステップS4で前記誘電関数を用いて試料のエリプソパラメータΔ,ψを計算し、前記エリプソパラメータΔ,ψの計算値と分光エリプソメータによる測定値との平均2乗誤差が最小又は許容範囲内になるように回帰解析法でフィッティングを行い最適な誘電関数を推定する。 - 特許庁

A thermal analysis device 640 of this thermal analysis system 600 emits light from a light source 610 to a dielectric layer 330 on a front board 300 baked by the baking device after glass paste is applied thereto in a laminar form, and acquires an actual image where the state of its reflected light is expressed as a reflected light image.例文帳に追加

熱解析システム600の熱解析装置640は、ガラスペーストが層状に塗着された後に焼成装置にて焼成された前面基板300上の誘電体層330に対して、光源610から光を照射して、その反射光の状態が反射光像として表現された実画像を取得する。 - 特許庁

To provide a nonlinear dielectric microscope developed for usage of ultrahigh-sensitivity range sensing of vertical direction by using of the phenomenon based on an evidence where, when a gap is prepared between a probe and a sample surface, large variation of nonlinear dielectric signal by changing a minute gap can be predicted from theoretical analysis.例文帳に追加

本発明の課題は、探針と試料表面に空隙を設けた場合、微小な空隙の変化で非線形誘電率信号が大きく変化することが理論解析により予測されることに基き、この現象を利用して超高感度な垂直方向距離センシングに用いる非線形誘電率顕微鏡を開発し、提供することにある。 - 特許庁

An electromagnetic field analysis means 11 finally substitutes a fillmetal pattern in a wiring pattern library 32 by an insulator with a high dielectric constant, and accumulates parasitic capacity value information in which the parasitic capacity value of a parasitic capacity attached to the insulator is associated with the fillmetal pattern.例文帳に追加

電磁界解析手段11は最終的に、配線パターンライブラリ32中のフィルメタルパターンを高誘電率の絶縁体に置換し、該絶縁体に付随する寄生容量の寄生容量値とフィルメタルパターンとを対応づけた寄生容量値情報を容量値データベース33に蓄積する。 - 特許庁

A blood coagulation system analysis method is provided for acquiring information on blood coagulation property on the basis of a change incurred in a complex dielectric constant spectrum measured in a blood coagulation process by adding to blood a material that activates or inactivates platelets.例文帳に追加

血小板を活性化あるいは不活化する物質を血液に添加することにより該血液の凝固過程で測定される複素誘電率スペクトルに生じる変化に基づいて、前記血液の凝固能に関する情報を取得する血液凝固系解析方法を提供する。 - 特許庁

To perform high-speed measurement with an inexpensive and simple device constitution, concerning a measuring device for sample analysis such as a surface plasmon sensor for measuring an intensity change of reflected light from the interface between a thin film layer to be in contact with a sample and a dielectric member relative to various incident angles.例文帳に追加

種々の入射角度に対し、試料が接触させられる薄膜層と誘電体部材との界面からの反射光の強度変化測定する表面プラズモンセンサー等の試料分析用測定装置において、低コストの単純な装置構成による高速の測定を行う。 - 特許庁

例文

According to the blood coagulation system analysis method, in the case where a platelet activator is used for the material, on the basis of a change incurred in the complex dielectric constant spectrum with platelet activation by the material, information on the coagulation property of platelets contained in blood in an inactive state can be acquired.例文帳に追加

この血液凝固系解析方法では、前記物質に血小板活性化物質を用いた場合には、該物質による血小板活性化に伴って前記複素誘電率スペクトルに生じる変化に基づき、血液中に不活性な状態で含まれる血小板の凝固能に関する情報を取得することができる。 - 特許庁




  
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