「diffraction scattering」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

FLOODLIGHTING AND DISPLAY DEVICE USING OPTICAL ELEMENT FOR DIFFRACTION AND SCATTERING例文帳に追加

回折、散乱をなす光学素子を使用した投光、表示装置 - 特許庁

Since diffraction contrast is mainly due to interband scattering, plasmon scattering can be neglected in contrast theories. 例文帳に追加

回折コントラストは、主にインターバンド散乱によるものなので、プラズモン散乱はコントラスト理論において無視できる。 - 科学技術論文動詞集

QUANTITATIVE DETERMINATION METHOD FOR PHASE STRUCTURE OF POLYMER BLEND BY LASER DIFFRACTION/SCATTERING METHOD例文帳に追加

レーザ回折／散乱法によるポリマーブレンド相構造の定量化方法 - 特許庁

METHOD FOR CONTROLLING SCATTERING ANGLE OF INCIDENCE X RAY IN X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

Ｘ線回折装置における入射Ｘ線の発散角制御方法 - 特許庁

This light guide panel 20 emits an incident light after scattered or/and diffracted in the plurality of light scattering diffraction areas 22, while guiding the light within a thickness range thereof, and the light scattering diffraction areas 22 are constituted to make a light non-scattering non-diffraction clearance of forming a clearance with respect to the adjacent light scattering diffraction area 22 less than 90 μm.例文帳に追加

入射した光を厚み内で導光しながら、複数の光散乱回折領域２２で散乱或いは／及び回折させて出射させる導光板２０であって、前記光散乱回折領域２２は、隣接する光散乱回折領域２２との間隙をなす光非散乱非回折間隙を９０μｍ未満としてある。 - 特許庁

The spherical calcium aluminate has the uniformity of particle degree (D90/D10) of 4 or less; the uniformity (D90/D10)={particle diameter (μm) of 90%/10% measured by dry laser diffraction light scattering method}.例文帳に追加

式１による均一度(D_90/D_10)が、4以下である球状カルシウムアルミネート。 - 特許庁

The frequency measuring method: the frequency is measured by a laser diffraction/scattering grain size distribution measuring apparatus.例文帳に追加

頻度測定法：レーザー回折・散乱式粒度分布測定装置により測定する。 - 特許庁

In the optical structure 13, an optical functional pattern having rugged structure such as diffraction structure having a light diffraction function and scattering structure having a light scattering function is formed.例文帳に追加

光学構造体１３は、光回折機能を有する回折構造や光散乱機能を有する散乱構造などの凹凸構造を有する光学機能パターンが形成されている。 - 特許庁

At least part of each light scattering area 12a is covered with a light reflection layer, and diffraction light by Fraunhofer diffraction is generated from light incident to each light scattering area 12a.例文帳に追加

各光散乱領域１２ａの少なくとも一部を光反射層で覆い、各光散乱領域１２ａへの入射光からフラウンホーファー回折による回折光を発生させる。 - 特許庁

To provide a light scattering reflective plate which gives good scattering characteristics while suppressing diffraction and to provide a method for manufacturing the same.例文帳に追加

回折を抑制しつつ良好な散乱特性を得ることができる光散乱反射基板及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

Especially, scattering anisotropy and change of the diffraction efficiency based on its angle of incidence and wavelength are used.例文帳に追加

特に、その入射角度や波長による散乱異方性、回折効率の変化を利用する。 - 特許庁

Diffuse scattering in diffraction patterns may arise from an irregular arrangement of atoms on the lattice sites. 例文帳に追加

回折図形中の散漫散乱は、格子サイト上の原子の不規則な配列から起こる(生じる)。 - 科学技術論文動詞集

The determination process and the analysis process can be performed by using an electronic back scattering diffraction image method.例文帳に追加

判定工程と解析工程とは、電子後方散乱回折像法を用いて行うことができる。 - 特許庁

To enable the optical spectrophotometry of Raman scattering with a spacial resolving power exceeding a diffraction limit.例文帳に追加

回折限界を超える空間分解能で、ラマン散乱などの光学的分光測定を可能にする。 - 特許庁

To provide an apparatus capable of easily performing measurement of small angle scattering, X-ray diffraction, or reflectance by use of one apparatus.例文帳に追加

一台の装置で、小角散乱、Ｘ線回折、反射率測定等を容易に行える装置を提供する。 - 特許庁

In point diffraction patterns, diffuse scattering is convoluted with the incident cone of illumination angles. 例文帳に追加

点状の回折図形においては、散漫散乱は照射角の入射コーンによって畳み込まれる(コンボリューションされる)。 - 科学技術論文動詞集

In a preferable execution form, the diffraction scattering element is arranged in the etalon housing between a plano-convex lens and the etalon.例文帳に追加

好ましい実施形態では、回折散乱エレメントは、前記平凸レンズとエタロンとの間のエタロンハウジング内に配置される。 - 特許庁

In this ink composition, it is preferable that the silver colloid is ≤0.03μm in median diameter determined by laser diffraction scattering method.例文帳に追加

銀コロイドとしては、レーザー回折散乱法によるメジアン径が０．０３μｍ以下であるものを用いるのが好ましい。 - 特許庁

The X-ray diffraction apparatus has a X-ray source F, an X-ray detector 10, a divergence slit 2 and a scattering slit 8.例文帳に追加

Ｘ線源Ｆと、Ｘ線検出器１０と、発散スリット２と、散乱スリット８とを有するＸ線回折装置である。 - 特許庁

CALIBRATION METHOD IN LASER DIFFRACTION/SCATTERING TYPE PARTICLE SIZE DISTRIBUTION MEASUREMENT METHOD, AND MEASURING METHOD OF VOLUME CONCENTRATION OF BUBBLE IN LIQUID例文帳に追加

レーザ回折・散乱式粒度分布測定法における校正方法および液体中の気泡の体積濃度の測定方法 - 特許庁

Therefore, the background due to the scattering of air and scattered X-rays is reduced and a diffraction pattern having a desired S/B ratio is measured.例文帳に追加

このため、空気散乱及び散乱Ｘ線によるバックグラウンドが低減され、所望のＳ／Ｂ比を有する回折パターンが測定される。 - 特許庁

To provide a diffraction type display capable of reducing scattering of illumination light on non-display parts and improving the contrast.例文帳に追加

非表示部において照明光が散乱されるのを低減することができ、コントラスト向上を図ることができる回折型表示装置の提供。 - 特許庁

To provide a method for forming a pattern with high precision, in which diffraction of exposure light, light reflection between a surface and a mask, and light scattering on the surface are suppressed.例文帳に追加

露光光の回折、表面−マスク間反射、表面散乱を抑制することで、高精細なパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

The cobalt hydroxide particles are characterized in that the D_50 is 0.1-1 μm when measured by a laser diffraction/scattering particle size distribution measurement method.例文帳に追加

レーザー回折散乱式粒度分布測定法によるＤ_５０が０．１μｍ〜１μｍであることを特徴とする記載の水酸化コバルト粒子。 - 特許庁

In a certain application, diffraction grating or another wave length scattering element arrayed to reversely reflecting a selection wave length is irradiated in the telescope.例文帳に追加

あるアプリケーションでは、テレスコープは、回折グレーティング又は、選択波長を逆反射するように整列された他の波長散乱エレメントを照射する。 - 特許庁

To measure a diffraction pattern having a desired S/B ratio by reducing the background due to the scattering of air generated by X-rays transmitted through a sample in the case of the measurement of the diffraction of obliquely emitted X-rays.例文帳に追加

斜出射Ｘ線回折測定を行う場合において、試料を透過したＸ線で発生する空気散乱によるバックグラウンドを低減させることにより、所望のＳ／Ｂ比を有する回折パターンを測定する。 - 特許庁

To enhance measurement precision for various X-ray diffractometers for usual X-ray diffraction, X-ray abnormal scattering diffraction and the like, by setting an X-ray size within a range assigned by the present invention.例文帳に追加

Ｘ線のサイズを、本発明で指定した範囲内に設定することにより、各種の、通常のＸ線回折用、及び、Ｘ線異常散乱回折用等の、Ｘ線回折装置の測定精度を高めること。 - 特許庁

A method for analyzing the structure of a porous material allows small angle electron beam scattering to form a small angle electron beam scattering image 15 through image formation of a small angle electron beam scattering portion emerging at the central part of the electron beam diffraction image of the porous material.例文帳に追加

本発明の多孔質材料の構造解析方法は、小角電子線散乱により多孔質材料の電子線回折像の中央部に現れる小角電子線散乱部分を結像させることで小角電子線散乱像１５を形成することを特徴とする。 - 特許庁

In particular, it is preferable that the power has, in a particle size distribution on a volume basis measured by the laser diffraction/scattering type particle size measurement method, a median diameter of ≤10 μm.例文帳に追加

特に、レーザー回折散乱式粒子径測定法で測定した体積基準の粒度分布において、メディアン径が１０μｍ以下であることが望ましい。 - 特許庁

Regardless of the radiation position of the beam, diffraction light L45 from the hologram recording medium 45 reconstructs the image 35 of the same linear scattering plate at the same position.例文帳に追加

ビームの照射位置にかかわらず、ホログラム記録媒体４５からの回折光Ｌ４５は、同一の散乱板の再生像３５を同じ位置に再生する。 - 特許庁

The objective aperture is generally centered by viewing the plane of the aperture in diffraction mode in the presence of a scattering object such as a carbon film. 例文帳に追加

対物絞りは、カーボン膜などの散乱物体の存在下で、回折モードで絞りの面を見ることによって、一般的に(光軸の)中心に(合わせて)置かれる。 - 科学技術論文動詞集

The mask is equipped with a light absorption layer having light absorption characteristics appropriate for light intensity distribution with inverted peak pattern, a light scattering layer having light scattering characteristics, a light reflection layer having light reflection characteristics, a light refraction layer having light refraction characteristics, or a light diffraction layer having light diffraction characteristics.例文帳に追加

マスクは、逆ピークパターンの光強度分布に応じた光吸収特性を有する光吸収層、光散乱特性を有する光散乱層、光反射特性を有する光反射層、光屈折特性を有する光屈折層、または光回折特性を有する光回折層を備えている。 - 特許庁

The position detecting mark consisting of the diffraction gratings formed of ruggedness on the substrate surface and light scattering bodies having light scattering elements formed of the ruggedness of the substrate surface in the same regions as those of the diffraction gratings are used for the position detecting mark for optically reading the positions.例文帳に追加

光学的に位置を読み取るための位置検出マークにおいて、 基材表面の凹凸で形成された回折格子と、前記回折格子と同一の領域に基材表面の凹凸で形成された光散乱要素を有する光散乱体とからなることを特徴とする位置検出マークを用いることにより解決した。 - 特許庁

The formula (1): orientation α=(180-Δβ)/180, provided that Δβ expresses a half width when the X-ray diffraction intensity distribution from 0 to 360° azimuth angle direction is measured by fixing a peak scattering angle in the X-ray diffraction measurement.例文帳に追加

配向度α＝（１８０−Δβ）／１８０…（１）（但し、Δβは、Ｘ線回折測定によるピーク散乱角を固定して方位角方向の０〜３６０度までのＸ線回折強度分布を測定したときの半値幅を表す。） - 特許庁

The density of the suspended particulate matter P on the filter 1 is brought to a degree, capable of adopting a laser diffraction/scattering type particle size distribution measurement.例文帳に追加

フィルタ１上での浮遊粒子状物質Ｐの密度を、レーザ回折・散乱式粒度分布測定の採用が可能な程度とすることにより、所期の目的を達成する。 - 特許庁

The light scattering part 7 is constituted to scatter the light for every wavelength by using a plurality of diffraction gratings having the wavelength selectivity for each wavelength of the light source.例文帳に追加

光散乱部７において、光源の各波長に対して波長選択性を有する複数の回折格子を用いて、波長毎に光を散乱させる構成とした。 - 特許庁

Irrespective of the exposure position of the beam, a diffraction beam L45 from the hologram recording medium 45 creates a reproduced image 35 of the scattering plate on a spatial light modulator 200.例文帳に追加

ビームの照射位置にかかわらず、ホログラム記録媒体４５からの回折光Ｌ４５は、空間光変調器２００上に散乱板の再生像３５を生成する。 - 特許庁

To provide a means for correcting scattering of focus position caused by an error of groove distribution pattern on a grid surface in a spectroscope using a diffraction grating with uneven interval groove.例文帳に追加

不等間隔溝回折格子を用いた分光器において、格子面上の溝分布パターンの誤差に起因する焦点位置のばらつきを補正する手段を提供する。 - 特許庁

By laminating holograms having different diffusing characteristic such as the hologram diffusing body for controlling an illumination pattern and the diffraction grating for controlling scattering intensity in the illumination pattern, the diffuse reflection plate having such scattering characteristic that the illumination pattern exists in scattered light and the scattering intensity is uniform in the pattern is obtained.例文帳に追加

照明パターンの制御をするホログラム拡散体や照明パターン内の散乱強度を制御する回折格子など異なる拡散特性を持つホログラムを積層することにより、散乱光に照明パターンがありかつパターン内で散乱強度が一様となるような散乱特性を持つ拡散反射板が得られる。 - 特許庁

Although scattering and diffraction of the beam flux by the shielding plate 18c is afraid therein, scattered light and diffraction light are regulated not to be image-focused on a photoreception face, by combination with the objective lens in an embodiment of the present invention, so as to solve the anxiety.例文帳に追加

ここで遮光板（１８ｃ）によるビーム光束の散乱、回折が懸念されるが、本実施例では対物レンズとの組合せにより、そうした散乱光や回折光が受光面に結像しない調整とすることで、解消することができる。 - 特許庁

In the nickel powder, the average particle size obtained by SEM observation is 0.1-1 μm and the D50 value obtained by laser diffraction scattering type particle size distribution measurement and the average particle size obtained by SEM observation satisfy the condition of the following inequality: 1≤{(D50 value by laser diffraction scattering type particle size distribution measurement)/(average particle size by SEM observation)}≤1.8.例文帳に追加

ＳＥＭ観察による平均粒子径が０．１〜１μｍであり、且つレーザ回折散乱式粒度分布測定によるＤ_50値及びＳＥＭ観察による平均粒子径が下記式（１）の条件を満たしていることを特徴とするニッケル粉： １≦｛（レーザ回折散乱式粒度分布測定によるＤ_50値）／（ＳＥＭ観察に よる平均粒子径）｝≦１．８‥‥‥（１） - 特許庁

Varying the scattering factors is accomplished by using different types of radiation, such as performing both X-ray and neutron diffraction, or by performing neutron diffraction on materials with the same composition but different isotopes. 例文帳に追加

散乱因子を変化させることは、X線回折と中性子回折の両方を行うことなどの異なる種類の放射線を使うことにより、或いは同じ組成であるが異なる同位体をもつ材料について中性子回折を行うことにより、果たされる。 - 科学技術論文動詞集

It is favorable that a ratio (Dd/Ds) of an average particle diameter (Dd) measured by the laser diffraction-light scattering method and an average particle diameter (Ds) given from the BET specific surface area is 1-3.例文帳に追加

レーザー回析・光散乱法で測定される平均粒径（Ｄｄ）とＢＥＴ比表面積より求められる平均粒径（Ｄｓ）の比（Ｄｄ／Ｄｓ）が１〜３であることが好ましい。 - 特許庁

The liquid crystal polyester particle is characterized in that the degree of accumulation of a grain size of 5.0 μm or less is 40% or less in the accumulation particle size distribution determined on a volume basis measured by a laser diffraction scattering method.例文帳に追加

レーザー回折散乱法で測定される体積基準の累積粒径分布において粒径５．０μｍ以下の累積度が４０％以下である液晶ポリエステル粒子とする。 - 特許庁

(Step 2) The crystal size of t is determined by a following equation from a half value width w of a peak observed when q of a scattering vector is in a range of 5<q<30 nm^-1 on the X-ray diffraction pattern acquired.例文帳に追加

（ステップ２）得られたＸ線回折図形で、散乱ベクトル：ｑが、５＜ｑ＜３０ｎｍ^-1の範囲に観察されるピークの半値幅：ｗより次式により結晶サイズ：ｔを求める。 - 特許庁