「interface testing」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SERIAL INTERFACE CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

シリアルインターフェイス回路及びその試験方法 - 特許庁

DUT INTERFACE FOR SEMI-CONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のＤＵＴインターフェース - 特許庁

PROBER INTERFACE DEVICE FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND DEVICE INTERFACE SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のプローバインタフェース装置及び半導体試験装置のデバイスインターフェース装置 - 特許庁

INTERFACE DEVICE AND METHOD FOR TESTING FREQUENCY FLUCTUATION例文帳に追加

インタフェース装置及び周波数変動試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING INTERFACE例文帳に追加

境界面検査方法及び境界面検査装置 - 特許庁

INTERFACE, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

インターフェース、及びそれを用いた半導体テスト装置 - 特許庁

INTERFACE BOARD TESTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

インタフェースボード試験装置及びインタフェースボードの試験方法 - 特許庁

SYSTEM CONTROLLER, SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF TESTING INTERFACE例文帳に追加

システムコントローラ、半導体装置、及びインターフェイス試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, PERFORMANCE BOARD, AND INTERFACE PLATE例文帳に追加

半導体試験装置、パフォーマンスボードおよびインターフェースプレート - 特許庁

The eBay Sandbox supports both API testing as well as site testing via the GUI interface. 例文帳に追加

eBay Sandbox は、API のテストおよび GUI インターフェイスによるサイトのテストの両方をサポートしています。 - PEAR

The MUBS also may interface with an external testing device which initiates BIST testing.例文帳に追加

ＭＵＢＳはまた、ＢＩＳＴテストを開始する外部テスト・デバイスとインターフェースすることができる。 - 特許庁

SUBSCRIBER LINE TESTING METHOD, SUBSCRIBER LINE TESTING CIRCUIT, AND SUBSCRIBER INTERFACE DEVICE例文帳に追加

加入者線路試験方法、加入者線路試験回路及び加入者インタフェース装置 - 特許庁

ERROR TESTING DEVICE IN TIME DIVISION DIRECTION CONTROL INTERFACE例文帳に追加

時分割方向制御インタフェースにおけるエラー試験装置 - 特許庁

INTEGRATED DATA JITTER GENERATOR FOR HIGH-SPEED SERIAL INTERFACE TESTING例文帳に追加

高速シリアルインターフェースのテスト用の集積データジッター発生器 - 特許庁

ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE, SOCKET BOARD ASSEMBLY, AND INTERFACE DEVICE例文帳に追加

電子部品試験装置、ソケットボード組立体、及びインタフェース装置 - 特許庁

To provide an interface for an optical device for improving the coherent testing of the optical device.例文帳に追加

光学装置のコヒーレント測定を改善する光学装置へのインタフェース。 - 特許庁

To provide a testing device of DUT having a bidirectional differential interface.例文帳に追加

双方向差動インタフェースを有するＤＵＴの試験装置を提供する。 - 特許庁

DDR-SDRAM INTERFACE CIRCUIT, AND ITS TESTING METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

ＤＤＲ−ＳＤＲＡＭインターフェース回路、その試験方法、およびその試験システム - 特許庁

To perform voltage margin testing for DUTs having multilevel interface.例文帳に追加

多値インタフェースを有するＤＵＴを対象として電圧マージン試験を行う。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR MASKING DYNAMIC REGION IN USER INTERFACE TO ENABLE TESTING OF USER INTERFACE CONSISTENCY例文帳に追加

ユーザインタフェース中の動的な領域をマスキングしてユーザインタフェースの整合性のテストを可能にする方法およびシステム - 特許庁

The circuit interface card 4 as the testing object is based on the test bed 2 and connected to the interface converting adapter 3.例文帳に追加

試験対象の回線インタフェースカード４は、テストベッド２をベースにしインタフェース変換アダプタ３に接続される。 - 特許庁

To provide a VoIP interface apparatus capable of easily testing an echo canceller.例文帳に追加

エコーキャンセラの試験を容易に行えるＶｏＩＰインタフェース装置を提供する。 - 特許庁

An input output interface 101 is provided to be fit to an input output interface provided in the inspection-objective LSI, and the testing data is stored in a memory 103 for the testing data.例文帳に追加

検査対象ＬＳＩが有する入出力インターフェースに適合する入出力インターフェース１０１が設けられ、テストデータ用メモリ１０３にテスト用データが格納される。 - 特許庁

INTERFACE CIRCUIT, AND TESTING METHOD AND DEBUGGING METHOD USING THE SAME FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

インターフェース回路及びそれを用いた半導体装置のテスト方法とデバッグ方法 - 特許庁

To provide a more inexpensive interface between a testing device and an application device.例文帳に追加

試験装置とアプリケーション装置の間におけるより低コストのインターフェイスを提供する。 - 特許庁

To provide a testing device which integrates a mixed signal processing circuit with a test interface.例文帳に追加

本発明は、混合信号処理回路をテストインターフェースに統合する試験機を提供する。 - 特許庁

Twenty-five vendor companies participated in the initial interoperability testing of the optical User Network Interface (UNI) protocol. 例文帳に追加

25社のメーカが光ユーザ・網インタフェース（UNI）プロトコルの最初の相互運用性テストに参加した。 - コンピューター用語辞典

To provide an interface board testing device and an interface board testing method which can test an interface board in a short period of time, and obtain an appropriate test result independently of analog characteristics of a member stored in a slot.例文帳に追加

短時間でインタフェースボードを試験することができ、かつ、スロットに格納される部材のアナログ特性に依存せず、適切な試験結果を得ることができるインタフェースボード試験装置及びインタフェースボード試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit capable of facilitating testing of a standby function of an interface block.例文帳に追加

インターフェースブロックのスタンバイ機能を容易にテストすることが可能なテスト回路を提供すること。 - 特許庁

To provide a DDR-SDRAM interface circuit in which the loop-back test can be more exactly performed, and its testing method and its testing system.例文帳に追加

ループバック試験をより正確に行うことが可能なＤＤＲ−ＳＤＲＡＭインターフェース回路、その試験方法、その試験システムを提供すること。 - 特許庁

When the second testing device is connected to the system, this method includes the step of making the second testing device operational together with the above interface.例文帳に追加

第２の試験装置がシステムに接続されていた場合、本方法は、第２の試験装置が前記インタフェースと共に動作できるようにするステップを含む。 - 特許庁

An audio ports 13, 14 of an electric equipment 1 is used as an interface for testing the electric equipment 1.例文帳に追加

電気機器（１）のオーディオポート（１３，１４）を、電気機器（１）を検査するためのインタフェースとして使用する。 - 特許庁

The prevention provides an integrated data generator for testing a high-speed serial interface.例文帳に追加

本発明によれば、高速シリアルインターフェースのテストを行うための集積データ発生器が提供される。 - 特許庁

When the first testing device is connected to the system, this method includes the step of making the first testing device operatable with an interface(320) for the system, in which the first testing device can be connected to an object device to be tested.例文帳に追加

第１の試験装置がシステムに接続されていた場合、本方法は、第１の試験装置が試験対象デバイスに接続可能なシステムのインタフェース(320)と共に動作できるようにするステップを含む。 - 特許庁

To provide improved ultra high-speed optical technology for testing the characteristics of an interface between two materials, such as the interface between a substrate and an overlapping thin film.例文帳に追加

基板と重畳する薄膜との間の界面等の２つの材料の間の界面の特性を調べる改善された超高速光技術を提供する。 - 特許庁

To reduce the amounts of a noise to be generated due to the dynamic regions of a user interface screen, and to prevent any erroneous decision in the testing of static user interface layout.例文帳に追加

静的なユーザインタフェースレイアウトのテストにおいて、ユーザインタフェース画面の動的領域によって生じる雑音量を減らし誤判断を避ける。 - 特許庁

To provide a terminal capable of shortening a manufacturing period of an interface device for an electronic component testing apparatus.例文帳に追加

電子部品試験装置のインタフェース装置の製造期間の短縮化を図ることが可能な端子を提供する。 - 特許庁

The setting on the built-in EEPROMs is rewritten with a desired value through a test interface during LSI testing.例文帳に追加

内蔵されたＥＥＰＲＯＭへの設定は、ＬＳＩテスト時に所望の値をテストインターフェイス経由で書き換える。 - 特許庁

To shorten the testing time, and to reduce the testing cost and the manufacturing cost in a device having the transmitting-receiving function such as a physical layer device for an IEEE 1394 interface.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４インターフェースの物理層デバイスのように送受信機能を有するデバイスにおいて、テスト時間を短縮し、テストコスト及び製造費用の低減を図ること。 - 特許庁

To provide a method for testing an operation of a communication apparatus capable of testing from an external interface of the communication apparatus whether or not the operation of the communication apparatus is stopped or not.例文帳に追加

通信機器の動作が停止しているか否かを、通信機器の外部インタフェースから試験することが可能な通信機器の動作試験方法を提供する。 - 特許庁

To reduce a testing cost and a manufacturing cost, by reducing a testing time in a device having a transmission/reception function like the physical layer of an IEEE 13394 interface.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４インターフェースの物理層デバイスのように送受信機能を有するデバイスにおいて、テスト時間を短縮し、テストコスト及び製造費用の低減を図ること。 - 特許庁

To shorten a time required for testing a semiconductor apparatus comprised of a multi-chip package, a plurality of core chips, an interface chip and the like.例文帳に追加

マルチチップパッケージや、複数のコアチップとインターフェースチップからなる半導体装置のテストに要する時間を短縮する。 - 特許庁

To provide an interface testing device capable of setting disconnection time of a communication channel to timing when retry out is generated.例文帳に追加

通信路の切断時間をリトライアウトが発生するタイミングに設定することができるインタフェース試験装置を提供する。 - 特許庁

The planarity between the surface of a testing system (20) such as a bottom face of a chuck (16) (or substrate 17) and an interface (28) or an inspection head (22) is checked before testing a substrate.例文帳に追加

チャック（１６）（または基板（１７））と、インターフェース（２８）または検査ヘッド（２２）の底面のような、試験システム（２０）の表面との間の平面性をチェックした後、基板を試験する。 - 特許庁

The distributed testing system can be so expanded as to interface with physical agents and heterogeneous measurement without technical adjustment.例文帳に追加

分散テストシステムは、技術的な調整なしに物理エージェントおよびヘテロジニアスな測定にインタフェースするよう拡張可能である。 - 特許庁