「interface testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a convenient and nondestructive testing method capable of acquiring an interface data and limit dimension information of a material.例文帳に追加

材料の界面データおよび限界寸法情報をもたらし得る、便利かつ非破壊的な試験技術の必要性が強く感じられている。 - 特許庁

To provide a device driver switching system for easily testing an interface part between a computer on which a plug-and-play system OS is loaded and peripheral equipment.例文帳に追加

プラグアンドプレイ方式ＯＳを搭載したコンピュータと、周辺機器とのインタフェース部分のテストを容易に行うことができるデバイスドライバ切替システムを提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method of testing a report communication for a higher-order management system including a human-machine interface in a power transformation automation system.例文帳に追加

変電自動化システム内のヒューマンマシンインターフェースを含む上位運営システムに対するＩＥＣ ６１８５０基盤のレポート通信試験装置および方法。 - 特許庁

A device equipped with a distributed testing system including: a logical agent; a server communicating with the logical agent; and a graphical user interface (GUI) communicating with the server is provided.例文帳に追加

論理エージェント、論理エージェントと通信するサーバ、サーバと通信するグラフィカルユーザインタフェース（ＧＵＩ）を備える分散テストシステムを備える装置を提供する。 - 特許庁

To provide an error testing device in a TCM (time division direction control) interface which directly inserts an error bit into a main signal and can optionally set an error occurrence rate.例文帳に追加

主信号に直接エラービットを挿入し、エラー発生率を任意に設定できるＴＣＭインタフェースにおけるエラー試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an abrasion gage for simulating the abrasion of a magnetic recording component in an interface with a magnetic storage medium, and a testing method using the same.例文帳に追加

磁気記憶媒体とのインターフェースにおける磁気記録コンポーネントの磨耗をシミュレートするための磨耗ゲージ及びそれを使ったテスト方法を提供する。 - 特許庁

When the user interface 304 is displayed, the user is able to see the boundary scanning test data, generated by a boundary scanning testing device 314, in a form which is suitable for a debugging operation.例文帳に追加

該ユーザ・インタフェース表示によって、ユーザは、境界走査テスト装置によって生成された境界走査テスト・データをデバッグに適切な形式で見ることができる。 - 特許庁

The simulating circuit 2 for testing a transit-time flowmeter 1 includes an interface circuit 20 connected to the transit-time flowmeter.例文帳に追加

本発明の一実施形態による、通過時間流量計（１）を試験するためのシミュレーション用回路（２）は、通過時間流量計と接続するインターフェース回路（２０）を備える。 - 特許庁

The control device is configured to receive a plurality of replacement coefficients judged by comparing the real value with the known value from the testing device via the data interface.例文帳に追加

制御装置は、実際の値と既知の値とを比較することにより判定された複数の置換係数を試験装置からデータインタフェースを介して受信するように構成される。 - 特許庁

Having a system that recognizes the drawn widgets gives the designer a tool that can be used for designing, testing, and eventually producing a final application interface. 例文帳に追加

描かれたウィジェットを認識するシステムによって, 設計者は最終的な応用インタフェースを設計し, 試験し, 遂には制作するのに利用できるツールを得ることになる. - コンピューター用語辞典

This system for testing the plurality of integrated circuit(IC) devices (DUT) of testing objects is provided with an interface circuit coupled to a tester to receives a data value from a single channel or a plurality of channels so as to provide error information as to the DUT.例文帳に追加

テスト対象の複数の集積回路（IC）デバイス（DUT）をテストするためのシステムであって、このシステムは、単一チャンネルまたは複数チャンネルのテスターからデータ値を受け取って、DUTに関するエラー情報を提供するための、前記テスターに結合されたインターフェース回路を備える。 - 特許庁

The test board 2 includes an interface circuit 5 which requests the test program corresponding to the semiconductor device 4 from the semiconductor testing device 3 in accordance with the semiconductor device 4 to be mounted thereon, and which instructs the semiconductor testing device 3 to read out the requested test program.例文帳に追加

試験ボード２は、搭載される半導体装置４に応じて、半導体装置４に対応する試験プログラムを半導体試験装置３に要求し、要求した試験プログラムを半導体試験装置３に読み出し指令させるインターフェース回路５を有する。 - 特許庁

The physical layer device 21 is equipped with a link layer interface 2, a physical layer logic circuit 3 and boards 4-6 and further is equipped with a testing link layer circuit 22 in the inside, a testing physical layer logic circuit 23 and switches 24-26.例文帳に追加

この物理層デバイス２１は、リンク層インターフェース２、物理層ロジック回路３、およびポート４〜６の他に、物理層ロジック回路３とポート４〜６の動作をテストするために、テスト用リンク層回路２２、テスト用物理層ロジック回路２３、およびスイッテ２４〜２６を内部に備えている。 - 特許庁

To provide a high speed bus interface of a semiconductor testing device for increasing transfer capacity, reducing the number of signal conductors of a bus, and capable of freely setting order of the signal conductors.例文帳に追加

本発明は、転送容量を増加し、バスの信号線数を削減し、信号線の順番を自由に設定できる半導体試験装置の高速バスインタフェースを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device provided with a bus interface device applicable easily to transfer data continuously to a plurality of optional resistors out of a resistor group for conducting data transfer.例文帳に追加

データ転送を行うレジスタ群の中で任意の複数レジスタに対する連続的なデータ転送が容易に適用可能なバスインターフェース装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test interface capable of minimizing the number of connector contact points to enhance signal integrity in a high-speed transmission signal, capable of simplifying a semiconductor test interface to enhance maintainability of a semiconductor testing device, and capable of easily dealing also with tests of DUTs different each other.例文帳に追加

コネクタ接点の数を最小化して高速伝送信号の信号無欠性を向上させ、半導体テストインタフェースを単純化して半導体テスト装置のメンテナンス性を向上させ、お互い異なるＤＵＴのテストにも簡便に対応することが可能な半導体テストインタフェースを提供。 - 特許庁

To provide a system and a method for automatic failure testing of macro-interface having a logical block and a logic gate in a chip which uses an at-speed logic built in self test circuit inside the chip.例文帳に追加

チップの内部にあるアットスピードの論理ＢＩＳＴ回路を用いた、論理ブロックおよびチップ内の論理ゲートを持つマクロのインタフェースの自動的な故障テストのためのシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁

The control device is configured to receive the value, to convert the value into a real value by using a function having a plurality of predetermined coefficients and to dispatch the value through the data interface to the testing device.例文帳に追加

制御装置は前記値を受信し、複数の所定の係数を有する関数を用いてその値を実際の値に変換し、その値をデータインタフェースを介して試験装置へ渡すように構成される。 - 特許庁

The radio base station device 4 of the present invention sends a monitor/control signal to a monitor device 1 loop back to the radio-side interface in the radio base station device 4 and uses a testing call for the monitor/control signal set in the radio base station device 4 to has a function capable of monitoring and control from a testing monitor device 7.例文帳に追加

本発明の無線基地局装置４は、監視装置１への監視・制御信号を無線基地局装置４内部で無線側インタフェースに折り返し、無線基地局装置４内に設定した監視・制御信号用の試験用呼を使って、試験用監視装置７から監視、制御ができる機能を保有する。 - 特許庁

In the semiconductor testing device including a test head having the pin card inside it and an interface device above it, the pin card can be inserted or removed from a side surface of the test head.例文帳に追加

内部にピンカードが収納され上部にインターフェース装置が設けられているテストヘッドを含む半導体試験装置において、前記ピンカードの挿抜を前記テストヘッドの側面から行えるようにしたことを特徴とする。 - 特許庁

The test apparatus comprises a head load mechanism for receiving and positioning the read/write head during testing, and a multi-channel preamplifier arranged to interface plural channels to a measurement system.例文帳に追加

前記試験装置は、テスト中に、前記読取り／書込みヘッドを受容する及び位置決めするためのヘッドロード機構、及び複数のチャネルが測定システムとインターフェースで接続するように配置されたマルチチャネル前置増幅器を具備する。 - 特許庁

The mixed signal processing circuit is integrated with the test interface, especially the mixed signal processing circuit is integrated with the test interface of a probe card or a device under test, moreover the mixed signal processing circuit is integrated with the pin electric channel of the testing device, and the motion process of the mixed signal process circuit is integrated with the system software of the test device.例文帳に追加

混合信号処理回路をテストインターフェースに統合し、特に混合信号処理回路をプローブカードまたは被試験素子カードのテストインターフェースに統合し、かつ混合信号処理回路と試験機のピン電気チャンネルを統合し、混合信号処理回路の動作プロセスを試験機のシステムソフトウェアに統合する。 - 特許庁

A testing device 1009 realizes a radio connection by a CDMA radio interface with a mobile terminal device 150 by sending a layer-3 signal and transmits a signal to be measured to conduct the radio reception characteristic test and radio function test.例文帳に追加

試験装置１００は、移動端末装置１５０と、レイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インタフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送して無線受信特性試験及び無線機能試験を行う。 - 特許庁

To provide a digital data arithmetic unit that enables minimum testing terminals and a test on a peripheral circuit as an external interface with the same normal signal transmission path and timing by a simple structure.例文帳に追加

テスト用に設ける端子を最小限にするとともに、簡単な構成で外部とのインターフェイスを司る周辺回路のテストを通常時と同じ信号伝達経路及びタイミングで行うことができるデジタルデータ演算装置を提供する。 - 特許庁

To provide a data transmission device and an input/output interface circuit with a jitter transmission circuit, capable of testing for jitter tolerance in data transmission/reception at the time of a mass production test and of improving a fault detection rate.例文帳に追加

量産試験時にデータ送受信におけるジッタトレランスについて試験することができ、故障検出率の向上を図ることができるデータ送信装置およびジッタ送信回路を備える入出力インタフェース回路を提供する。 - 特許庁

At the time of testing a circuit 40, test control information is inputted externally to a test interface circuit 14 and set in the scan register 41 of circuit modules 21-24 to be tested through a test signal chain 20.例文帳に追加

被テスト回路（４０）のテストを行なうとき、外部からテストインタフェース回路（１４）にテスト制御情報を入力し、テスト対象回路モジュール（２１〜２４）のスキャンレジスタ（４１）にテスト信号チェーン（２０）を介してテスト制御情報をセットする。 - 特許庁

To enable an automatic test of a semiconductor device by connecting a controller for performing conveyance control of a semiconductor device to be tested and sequence control according to a predetermined test procedure to a semiconductor testing apparatus through a simple interface.例文帳に追加

被試験対象の半導体デバイスの搬送制御と所定試験手順に従ったシーケンス制御とを行うコントローラを、半導体試験装置に簡易なインターフェイスで接続し、半導体デバイスの自動試験を行えるようにする。 - 特許庁

An interface control circuit 102 of the inspection module 100 is controlled by setting a value of a state control flag 121 by an LSI inspection device 130 when inspected, the testing data is output to the inspection-objective LSI, and a result data output in response to the testing data is read in from the inspection-objective LSI.例文帳に追加

検査時には、ＬＳＩ検査装置１３０が状態制御フラグ１２１の値を設定することによって、検査モジュール１００のインターフェース制御回路１０２が制御され、テスト用データの検査対象ＬＳＩへの出力、前記検査対象ＬＳＩから前記テスト用データに応じて出力される結果データの読み込みが行われる。 - 特許庁

To provide an interface circuit capable of reducing its manufacturing cost and accurately performing functional test and debugging by reducing the number of input terminals from the exterior of a miniaturized semiconductor device, and provide a testing method and a debugging method using the same for the semiconductor device.例文帳に追加

小型化された半導体装置外部からの入力端子数を少なくし製造コストを抑制、かつ、機能テスト、デバッグを的確に行うことができるインターフェース回路及びそれを用いた半導体装置のテスト方法とデバッグ方法を提供する。 - 特許庁

The testing facility terminal (13) automatically changes an interface (14) based on the transferred information to meet the electrical equipment (1) to be tested, carries out the electrical characteristics evaluation/test and transfers the test result via the network (10) to the host computer (11).例文帳に追加

転送された情報から試験設備端末（１３）は、対象となる電気機器（１）に合わせてインターフェイス（１４）を自動的に変更し、電気特性評価試験を行い、試験結果をホストコンピュータ（１１）にネットワーク（１０）を介して転送する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of improving yield of a semiconductor device, and saving the labor and the time required from start until finish of an interface test of the semiconductor device even when an abnormality occurs.例文帳に追加

半導体デバイスの歩留まりの向上を図ることができるとともに、異常が発生したときにおいても半導体デバイスのインターフェーステストを開始してから終了するまでにかかる手間と時間とを省くことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A testing device 100 decides test items and when performing the wireless transmission characteristic test, a layer-3 signal is transmitted between the device and mobile terminal equipment 150 to realize wireless connection by a CDMA wireless interface, thereby transmitting a signal to be measured.例文帳に追加

試験装置１００は、試験項目を判断し、無線送信特性試験を行う場合には、移動端末装置１５０との間でレイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インターフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing a semiconductor device capable of evaluating an exact interface state density and its energy distribution of the semiconductor device having an insulating film permitting the tunnel current to easily flow.例文帳に追加

トンネル電流が流れやすい絶縁膜を有する半導体装置について正確な界面準位密度及びそのエネルギー分布を評価することを可能とする半導体装置の試験方法及び試験装置を提供することを提供する。 - 特許庁

A testing device 100 judges test items and, when performing the wireless transmission characteristics test, transmits a layer-3 signal to mobile terminal equipment 150 to realize a wireless connection by a CDMA wireless interface, thereby transmitting a signal to be measured.例文帳に追加

試験装置１００は、試験項目を判断し、無線送信特性試験を行う場合には、移動端末装置１５０との間でレイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インターフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送する。 - 特許庁

One method may comprise the steps of: saving existing network configuration settings for at least one network interface of the network-capable device; receiving network configuration parameters from at least one configuration server; testing at least one network interface utilizing received network configuration parameters; and restoring the existing saved network configuration settings, if the step of testing determines that the received network configuration parameters are incorrect.例文帳に追加

１つの方法は、ネットワーク対応機器の少なくとも１つのネットワーク・インタフェースについての既存のネットワーク環境設定を保存するステップと、少なくとも１つの環境設定サーバからネットワーク環境設定パラメータを受け取るステップと、受け取ったネットワーク環境設定パラメータを利用して少なくとも１つのネットワーク・インタフェースをテストするステップと、テストするステップで受け取ったネットワーク環境設定パラメータが誤っていると判断された場合に、保存されている既存のネットワーク環境設定値に復旧するステップを含む。 - 特許庁

This frame work system and the test method for testing a server having a mixed workload is provided with a workload case constitution utility interface including a function for allowing a frame work to call the workload constitution utility of a third party and a workload interface including a function for the setup and control and monitor of the workload for the purpose of defining a workload case according to various test targets.例文帳に追加

本発明は、混合ワークロードを有するサーバをテストするためのフレームワーク・システムおよびそのテスト方法を開示し、これは、様々なテスト目的でワークロード・ケースを定義するために、フレームワークにサード・パーティのワークロード構成ユーティリティを呼び出させる機能を含むワークロード・ケース構成ユーティリティ・インターフェースと、ワークロードのセットアップ、制御、および監視の機能を含むワークロード・インターフェースとを含んでいる。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 is provided with a controller 11, a converter 12, and a pin electronics section 13 which functions as an interface to a DUT 40 and tests the DUT 40, on the basis of signals obtained by applying test signals to the DUT 40.例文帳に追加

半導体試験装置１は、制御装置１１、変換装置１２、及びＤＵＴ４０に対するインターフェイスとして機能するピンエレクトロニクス部１３を備えており、ＤＵＴ４０に試験信号を印加して得られる信号に基づいてＤＵＴ４０の試験を行う。 - 特許庁

To display, at the real time, a scanning electron microscope image of the state of an interface between the side where a load is given and the opposite side or the like, by making inclinable a surface dynamics characteristic test device for testing a surface dynamics characteristic of composite material, and by arranging it in a sample chamber of the scanning microscope.例文帳に追加

複合材料の界面力学特性の試験を行う界面力学特性試験装置を傾斜可能にして走査型顕微鏡の試料室に配置し、荷重をかけた側と反対側の界面などの状態の走査型電子顕微鏡像をリアルタイムに表示する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, in which an increase of a chip area is restricted, failure of a depression type MOS transistor for output of a step-down circuit is prevented, and is capable of realizing an operation lower limit test of an internal circuit that operates by voltage lower than operating voltage of an external interface circuit, and a method of testing thereof.例文帳に追加

チップ面積の増加を抑え、また降圧回路の出力用デプレッション型ＭＯＳトランジスタの破壊を防ぎ、外部インタフェース回路の動作電圧より低い電圧で動作する内部回路の動作下限テストを実現することができる半導体装置、およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

In the method of testing the semiconductor device to determine an interface state density of a MIS transistor formed on a semiconductor substrate 1 by using the charge pumping method, first, a value of a first current made to flow to the semiconductor substrate by applying a first measurement signal composed of continuous pulse waves to a gate of the MIS transistor is measured.例文帳に追加

チャージポンピング法を用いて、半導体基板上に形成されたＭＩＳ型トランジスタの界面準位密度を求める半導体装置の評価方法において、まず、パルス波が連続してなる第１の測定信号をＭＩＳ型トランジスタのゲートに印加して前記半導体基板に流れる第１の電流値を測定する。 - 特許庁

A testing sever sends a test pattern that a voice signal is encoded into a signal loop-back means installed at an exchange interface side in the TGW through a voice encoding section and a packet assembling section in the TGW, and receives the test pattern sent from the signal loop-back means through the voice encoding section and the packet assembling section, again.例文帳に追加

試験サーバより、ＴＧＷの音声符号化部とパケット化部を介して、ＴＧＷ内の交換機インタフェース側に設けた折り返し手段へ、音声信号を符号化して得た試験パターンを送り、その信号折り返し手段からの試験パターンを、再度、音声符号化部とパケット化部を介して試験サーバで受信する。 - 特許庁

In the system for testing the characteristics of the interface in between thin films by measuring the mechanical and thermal characteristics, the light from a laser 136 is absorbed into the thin films or a structure made of multiple thin films, and variations in the transmission or the reflection of which are measured and are analyzed by using an analyzer 134.例文帳に追加

機械的特性及び熱特性の測定による薄膜と薄膜間の界面との特性調査のためのシステムにおいて、レーザ１３６からの光は、薄膜や、複数の薄膜で作製された構造物に吸収され、光の透過あるいは反射の変化が測定されて、解析器１３４を使用して分析される。 - 特許庁

This prober interface device for the semiconductor testing device comprises split GNDs split in DUTs or in preset DUT groups and provided for GND layers on a multi-layered substrate having a prove needle, where a plurality of devices to be tested are tested.例文帳に追加

プローブ針を備える多層基板により、複数個の被試験デバイスを試験する半導体試験装置のプローバインタフェース装置において、多層基板上のＧＮＤ層に対して各ＤＵＴ毎に分割した分割ＧＮＤ、若しくは所定のＤＵＴグループ単位毎に分割した分割ＧＮＤ、を備える半導体試験装置のプローバインタフェース装置。 - 特許庁

To a semiconductor tester 10 for general use constituted with test signal generation means 52, 53, 54 and 55, a data supply means, a data reading means, judging means and a control means 11, a special control signal generation means 12 and an interface means 13 for testing a semiconductor integrated circuit 16 incorporated BIST circuits 31 to 35 are provided.例文帳に追加

試験信号発生手段５２，５３，５４，５５、データ供給手段、データ読出手段、判定手段及び制御手段１１から構成される汎用的な半導体試験装置１０に対してＢＩＳＴ回路３１〜３５を内蔵した半導体集積回路１６を試験するための専用の制御信号発生手段１２及びインターフェイス手段１３を別個設けた。 - 特許庁

The method includes the step of preparing an object file management framework for establishing a standard interface between a vender-supplied pattern compiler and the module type test system, receiving a pattern source file, preparing a pattern object metafile on the basis of the pattern source file by using the object file management framework, and testing the device to be tested, through the test module by using the pattern object metafile.例文帳に追加

ベンダ供給パターンコンパイラとモジュール式試験システムとの間に標準インターフェースを確立するためのオブジェクトファイル管理フレームワークを作成すること、パターンソースファイルを受信すること、オブジェクトファイル管理フレームワークを用いて、パターンソースファイルに基づいてパターンオブジェクトメタファイルを作成すること、及びパターンオブジェクトメタファイルを用いて試験モジュールを通して被試験デバイスを試験する。 - 特許庁