「memory pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

A pattern processor 37 receives the frequency domain data together with pattern data sent by a memory 38, and corrects the pattern data so that the pattern data matches with the distortion in the substrate.例文帳に追加

パターン・プロセッサ３７はメモリ３８から送られたパターンデータと共に周波数ドメインデータを受け取り、パターンデータを基板歪に合致するよう修正する。 - 特許庁

This device is a modified pattern generation device for generating normal pattern data by a normal pattern memory based on an address generated by a pattern generator.例文帳に追加

本発明は、パターンジェネレータが発生するアドレスに基づいて、ノーマルパターンメモリがノーマルパターンデータを発生するパターン発生装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

When the pattern group similar to the pattern group stored in a pattern memory part 7 is confirmed, this pattern group is converted into a symbolic mark to be stored.例文帳に追加

パターンメモリ部７に記憶されたパターン群に類似するパターン群が認識された場合は、そのパターン群を象徴する記号に変換して保存する。 - 特許庁

A stripe pattern of the projector 10 is read out from a frame memory 110 to be written in a reference stripe pattern memory 111, and the written stripe pattern is corrected by recoding.例文帳に追加

投影装置１０のストライプパターンをフレームメモリ１１０から読み出して基準ストライプパターンメモリ１１１に書き込み、書き込んだストライプパターンを再コード化により補正する。 - 特許庁

FORMING METHOD FOR POLYSILICON PATTERN, DIODE INCLUDING POLYSILICON PATTERN, MULTI-LAYER CROSS POINT RESISTIVE MEMORY ELEMENT INCLUDING POLYSILICON PATTERN, AND MANUFACTURING METHOD FOR DIODE AND MEMORY ELEMENT例文帳に追加

ポリシリコンパターンの形成方法、該ポリシリコンパターンを含むダイオード、ポリシリコンパターンを含む多層交差点抵抗性メモリ素子及び、前記ダイオードと前記メモリ素子との製造方法 - 特許庁

METHOD FOR FORMING MINUTE PATTERN, METHOD FOR MANUFACTURING MASTER DISK FOR OPTICAL MEMORY DEVICE, MASTER DISK FOR OPTICAL MEMORY DEVICE, STAMPER FOR OPTICAL MEMORY DEVICE, AND OPTICAL MEMORY DEVICE例文帳に追加

微細パターンの形成方法及び光メモリ素子用原盤の製造方法、並びに光メモリ素子用原盤、光メモリ素子用スタンパ及び光メモリ素子 - 特許庁

In a fifth step, the test pattern of the semiconductor memory in which reappearance of the occurrence of defective operation is confirmed is incorporated in the evaluation pattern of the semiconductor memory of the semiconductor memory tester.例文帳に追加

第５ステップでは、動作不良発生の再現が確認された半導体メモリへのテストパターンを半導体メモリテスタの当該半導体メモリの評価パターンに組み込む。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PHASE CHANGE MEMORY DEVICE COMPRISING GST CHALCOGENIDE PATTERN例文帳に追加

ＧＳＴカルコゲニドパターンを備える相変化メモリ素子の製造方法 - 特許庁

A horizontal line image plotting section 75 applies the processing of plotting the image to a band memory by reading the halftone pattern from the scan line halftone pattern memory section 76.例文帳に追加

水平ライン描画部７５は、スキャンラインハーフトンパターン記憶部７６からハーフトンパターンを読み込みながらバンドメモリへ描画処理を施す。 - 特許庁

To avoid or reduce defective transfer of a servo pattern on a memory medium.例文帳に追加

記憶媒体へのサーボパターン転写不良を回避又は低減する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TEST PATTERN DATA GENERATING METHOD FOR THE DEVICE例文帳に追加

半導体メモリ装置およびこの装置のテストパターンデータ発生方法 - 特許庁

To check whether a test pattern is transferred normally or not, when a pattern data written in a device program is transferred to a pattern memory.例文帳に追加

デバイスプログラムに記述されたパタンデータをパタンメモリに転送する際に正常にテストパタンが転送されたか否かをチェックすること。 - 特許庁

A matching determining part 7 determines that switching of the pattern data of the pattern memory groups 3 has been completed, and confirms that switching of the pattern data of the pattern memory groups 3 has been completed to continue accelerating operation.例文帳に追加

整合判定部７は、パターンメモリ群３のパターンデータの切り替えが完了したことを判定し、パターンメモリ群３のパターンデータの切り替えが完了したことを確認して加速運転を継続する。 - 特許庁

A super cycle pattern memory 4 records a plurality of pattern data and execution sequences to pattern memory groups which sends set values to electromagnet power source groups 1 and an electromagnetic wave generating device 2, a timing signal generating device 6 generates switching timing signals of the pattern data and execution sequences to the super cycle pattern memory 4 to switch a plurality of the pattern data and the execution sequences to the pattern memory group 3.例文帳に追加

スーパーサイクルパターンメモリ４は、電磁石電源群１及び電磁波発生装置２に設定値を送るパターンメモリ群に対する複数のパターンデータ及び実行順序を記録し、タイミング信号発生装置６はスーパーサイクルパターンメモリ４に対してパターンデータ及び実行順序の切替タイミング信号を発生し、パターンメモリ群３に対する複数のパターンデータ及び実行順序を切り替える。 - 特許庁

A load pattern setting part 411 sets one of a fixed load pattern, a variable load pattern and an intrinsic load pattern that are stored in a load pattern memory 43 in advance every circuit of a distribution board.例文帳に追加

負荷パターン設定部４１１は、分電盤の回路毎に、負荷パターン記憶部４３に予め記憶された一定負荷パターン、変動負荷パターン、固有負荷パターンのいずれかを設定する。 - 特許庁

A pattern data memory stores a plurality of different pattern data items having the same data size as that of a bit plane.例文帳に追加

パターンデータ記憶部は、ビットプレーンとデータサイズが同じである複数の異なるパターンデータを記憶する。 - 特許庁

An output pixel pattern memory 52 stores an output pixel pattern corresponding to the fluctuation threshold value matrix.例文帳に追加

この変動閾値マトリクスに対応する出力画素パターンが出力画素パターンメモリ５２に格納されている。 - 特許庁

A layout pattern of the memory cell for the test is made a same pattern as the layout pattern of the memory cell, the memory cell section 103 for the test is arranged closely to a memory cell arranged at a position at which a ferroelectric capacitor is easy to deteriorate.例文帳に追加

テスト用メモリセルのレイアウトパターンは、メモリセルのレイアウトパターンと同一としてあり、テスト用メモリセル部１０３は、複数のメモリセルのうち、強誘電体キャパシタが劣化しやすい位置に配置されているメモリセルに対して、近接して、配置されている。 - 特許庁

This pattern is detected by the CCD type detector, and memorized in a memory.例文帳に追加

このパターンをＣＣＤ形検出器で検出しメモリに記憶する。 - 特許庁

The tester has a comparator circuit 14 for reading out data just after writing from the pattern memory 3 and comparing them with written data, to thereby make a diagnosis of the pattern memory 3 as well at data writing into the pattern memory 3.例文帳に追加

本発明は、パターンメモリ３から書き込んだ直後のデータを読み出して書き込んだデータとの間で比較する比較回路１４を設け、パターンメモリ３へのデータの書き込み時、併せてパターンメモリ３を診断する。 - 特許庁

A physical arrangement of a memory cell constituting a semiconductor memory is made into a pattern, and a coordinate transformation program is created by using the obtained pattern.例文帳に追加

前記半導体装置を構成するメモリセルの物理的配置をパターン化し、前記得られたパターンを用いて座標変換プログラムを作成する。 - 特許庁

The test circuit 160 outputs a test pattern for testing the memory 20 and obtains a test result of the memory 20 obtained on the basis of the test pattern.例文帳に追加

テスト回路１６０は、メモリー２０をテストするテストパターンを出力し、そのテストパターンにより得られるメモリー２０のテスト結果を取得する。 - 特許庁

The control device 1 includes a timer 2, a pattern 3 memory for deflection electromagnet current, a frequency pattern memory 4, and a frequency reference value correction circuit 5.例文帳に追加

制御装置１は、タイマ２、偏向電磁石電流用パターンメモリ３、周波数用パターンメモリ４、周波数基準値補正回路５を備える。 - 特許庁

SERVO CONTROL SYSTEM, SERVO WRITE HEAD, SERVO PATTERN WRITE APPARATUS, MAGNETIC MEMORY MEDIUM, AND METHOD FOR GENERATING SERVO PATTERN ON MAGNETIC MEMORY MEDIUM例文帳に追加

サーボ制御システム、サーボ書込みヘッド、サーボ・パターン書込み装置、磁気記憶媒体、及びサーボ・パターンを磁気記憶媒体上に生じさせる方法 - 特許庁

To enable the display of the selected figure pattern as the high probability figure pattern in the jackpot thereafter, the pattern is moved to the high probability figure pattern memory area (S355).例文帳に追加

そして、選択した図柄パターンを次回以降の大当たりでは高確率図柄パターンとして表示できるようにするため、高確率図柄パターン記憶エリアに移動する（Ｓ３５５）。 - 特許庁

A memory controller 7 is arranged between a system bus 5 and the image memory 3, and an addressing pattern corresponding to filter processing is preliminarily registered in a pattern register part 21 in the memory controller 7.例文帳に追加

システムバス５と画像メモリ３の間にメモリコントローラ７を配置し、メモリコントローラ７内のパターン登録部２１にあらかじめフィルタ処理に応じたアドレシングのパターンを登録しておく。 - 特許庁

FLASH MEMORY DEVICE HAVING BAR RESISTANCE MEASURING PATTERN AND METHOD FOR FORMING SAME例文帳に追加

バー抵抗測定パターンを有するフラッシュメモリ素子およびその形成方法 - 特許庁

To provide a memory test circuit in which a test employing an arbitrary test pattern is made possible.例文帳に追加

任意のテストパタンによるテストが可能なメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁

To flexibly form an arbitrary test pattern without requiring a memory area such as a memory medium when the test pattern is formed on a recording medium.例文帳に追加

記録媒体にテストパターンを形成する際に、記憶装置などの記憶領域を必要とせず任意のテストパターンを柔軟に形成することができること。 - 特許庁

The control part 10 reads the pattern files from a buffer memory 13 and relocates the pattern files on an execution memory 17.例文帳に追加

そして、制御部１０は、この求められた使用頻度に基づき、改めてバッファメモリ１３から読み出し、パタンファイルを実行メモリ１７上において再配置する。 - 特許庁

Time clock is simultaneously transmitted serially at prescribed time intervals from the timer 2 to the pattern memory 3 for deflection electromagnet current and the frequency pattern memory 4.例文帳に追加

タイマ２から偏向電磁石電流用パターンメモリ３と周波数用パターンメモリ４に同時に、タイムクロックが所定の時間間隔でシリアルに伝送される。 - 特許庁

To reduce the use memory capacity of a pattern control circuit supplying pattern data for inspection to a device to be inspected.例文帳に追加

検査用パターンデータを被検査デバイスに供給するパターン制御回路の使用メモリ容量を削減する。 - 特許庁

Before an earthquake breaks out, a reference pattern corresponding to the equipment is previously stored in a reference pattern memory section 3.例文帳に追加

なお、地震発生前に、上記機器に対応する参照パターンを、参照パターン記憶部３に予め記憶する。 - 特許庁

Test pattern data are preliminarily stored in the test pattern memory means 130 of this semiconductor testing device 100.例文帳に追加

半導体試験装置１００のテストパターン記憶手段１３０には、予めテストパターンデータが記憶されている。 - 特許庁

The test pattern memory means 130 outputs a necessary test pattern every cycle period according to the address designation signal.例文帳に追加

テストパターン記憶手段１３０は、アドレス指定信号により、サイクル周期毎に必要なテストパターンを出力する。 - 特許庁

A pattern generating circuit of the logic chip is operated in a first test mode, to generate an internal test pattern for the memory chip.例文帳に追加

ロジックチップのパターン発生回路は、第１試験モード時に動作し、メモリチップ用の内部試験パターンを発生する。 - 特許庁

A space pattern memory 233 memorizes the space pattern Ps including a plurality of element values each corresponding to pixels.例文帳に追加

空間パターンメモリ２３３は、各々が画素に対応する複数の要素値を含む空間パターンＰsを記憶する。 - 特許庁

The blocks of memory in the accessible region of each memory bank are erased or overwritten using the data pattern.例文帳に追加

各メモリバンクのアクセス可能な領域内のメモリのブロックは、このデータパターンを用いて消去又は上書きされる。 - 特許庁

An accompaniment information memory section 6 stores the accompaniment pattern data of musical tones and a song data memory section 7 stores the sequence data.例文帳に追加

伴奏情報メモリ部６は楽音の伴奏パターンデータを記憶し、ソングデータメモリ部７はシーケンスデータを記憶する。 - 特許庁

Here, the original pattern is stored in the memory and is comprised of several pixels having the corresponding memory addresses.例文帳に追加

ここで、原パターンはメモリに記憶されており、対応するメモリアドレスを有するいくつかの画素から構成されている。 - 特許庁

This device is characterized by installing a resource switching memory for generating a resource switching signal based on the address, one or more pattern resources for generating the pattern data, and a selection part for selecting the pattern data generated by the normal pattern memory and the pattern data generated by the pattern resources by the resource switching signal of the resource switching memory.例文帳に追加

本装置は、アドレスに基づいて、リソース切換え信号を発生するリソース切換えメモリと、パターンデータを発生する少なくとも１以上のパターンリソースと、ノーマルパターンメモリが発生するパターンデータ、パターンリソースが発生するパターンデータを、リソース切換えメモリのリソース切換え信号により選択する選択部とを設けたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

A scan line halftone pattern writing section 74 receives a parameter such as a value of a coordinate Y for plotting an image, reads the halftone pattern corresponding to the coordinate Y for plotting the image from the main memory 54, and then sequentially writes the halftone pattern to a scan line halftone pattern memory section 76.例文帳に追加

スキャンラインハーフトンパターン書込部７４は，描画のＹ座標値などのパラメータを受け取り，メインメモリ５４から描画するＹ座標に対応するハーフトンパターンを読み込み、スキャンラインハーフトンパターン記憶部７６へ順次書き込む。 - 特許庁

The character pattern and plural candidate character patterns are stored in the picture buffer memory 118.例文帳に追加

文字パターンと複数の候補文字パターンを画像バッファメモリ１１８に記憶する。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR MEMORY ELEMENT USING MASK PATTERN FOR CHANNEL ION IMPLANTATION例文帳に追加

チャンネルイオン注入用のマスクパターンを用いた半導体メモリ素子の製造方法 - 特許庁

OPERATION VERIFYING METHOD FOR MEMORY TEST PATTERN, SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

メモリテストパターンの動作検証方法、半導体試験装置、及び半導体装置 - 特許庁