「memory pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

A scanning pattern memory 32 stores a plurality of scanning pattern data and scans across a predetermined area on the image read by the plurality of scanning pattern data.例文帳に追加

走査パターンメモリー３２には、複数の走査パターンデータが格納されており、複数の走査パターンにより読み取られた画像上の所定領域の走査を行う。 - 特許庁

The data of the first scanning region in the data of the scanning region is scanned while collated with the pattern group of a pattern memory part 7 by a pattern confirmation part 5.例文帳に追加

その走査領域のデータの内、最初の走査領域のデータをパターン認識部５でパターンメモリ部７のパターン群と照合しながら走査する。 - 特許庁

To achieve an LSI tester for speedily downloading pattern data in a pattern memory, and a method for downloading the pattern data in the LSI tester.例文帳に追加

パターンメモリにパターンデータを高速にダウンロードできるＬＳＩテスタ及びＬＳＩテスタにおけるパターンデータのダウンロード方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

A memory 12 stores a vibration pattern of a vibration unit 10, a light-emitting pattern of a light emitting part 7, and a pronunciation pattern of an electronic sound, corresponding to the distance difference.例文帳に追加

メモリ１２には、この距離の差に応じた、バイブレーションユニット１０の振動パターン、発光部７の発光パターン、及び電子音の発音パターンが記憶されている。 - 特許庁

To solve a problem that a tracing pattern different from the substantial tracing pattern is superimposed when a memory storing tracing pattern information is replaced in an image forming device superimposing a tracing pattern onto an image.例文帳に追加

追跡パターンを重畳する画像形成装置において、追跡パターン情報を格納したメモリが差し換えられると、本来とは異なる追跡パターンが重畳されてしまう。 - 特許庁

The test aid device comprises a test pattern memory memorizing a plurality of test pattern data corresponding to a plurality of test items, and a test pattern signal generator which writes test pattern data selected from among a plurality of the test pattern data.例文帳に追加

テスト補助装置は、複数のテスト項目に対応した複数のテストパターンデータを記憶するテストパターンメモリと、複数のテストパターンデータの中から選択されたテストパターンデータを書き込テストパターン信号発生器を有する。 - 特許庁

A pattern table memory 18-3 stores basic patterns for interlace, each type of which corresponds to each gradation pattern.例文帳に追加

パターンテーブルメモリ１８−３は各階調レベルに対応付けてそれぞれ１種類ずつの間引き用基本パターンを記憶する。 - 特許庁

The memory file is configured to compare the first addressing pattern included in the entry with a second addressing pattern of a load operation.例文帳に追加

メモリファイルは、エントリに含まれる第１アドレッシングパターンをロード操作の第２アドレッシングパターンと比較するように構成される。 - 特許庁

A time pattern memory 273 memorizes a time pattern Pt to make the noise value NO correspondent to each of the plurality of the identification values.例文帳に追加

時間パターンメモリ２７３は、複数の識別値の各々にノイズ値Ｎ0を対応付ける時間パターンＰtを記憶する。 - 特許庁

To store an output pattern of a device under test in the main memory, without increasing the band width request for the main memory by a testing apparatus.例文帳に追加

試験装置のメインメモリの要求バンド幅を増やすことなく、被試験デバイスの出力パターンをメインメモリに格納する。 - 特許庁

The method for judging correct lamination of a tape member comprises a step of storing the imaging pattern of the board 2A in a first memory 73 (first memory) before the ACF4 is adhered.例文帳に追加

ＡＣＦ４が貼付される前の基板２Ａの撮像パターンを第１メモリ７３（第１のメモリ）に記憶する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device wherein the worst data pattern of a memory cell array can be written even in a contracted/parallel test.例文帳に追加

縮約・パラレルテストにおいてもメモリセルアレイのワーストデータパターンを書き込むことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To easily generate an optional piece of bit pattern data for test to be used for a memory test of a FIFO memory.例文帳に追加

ＦＩＦＯメモリのメモリ試験に使用する任意の試験用ビットパターンデータの生成を容易に行うことを可能にする。 - 特許庁

A composite arithmetic unit 11 of a control device 10 composes command values of an X-axis command value memory 12A and a Y-axis command value memory 12B to form one command value pattern, adds a control bit, and stores it in a composite pattern memory 13 of a pattern generator 14.例文帳に追加

制御装置１０の合成演算装置１１は、Ｘ軸指令値メモリ１２Ａ，Ｙ軸指令値メモリ１２Ｂの指令値を合成して１つ指令値パターンとし、制御ビットを付加し、パターン発生装置１４の合成パターンメモリ１３に格納する。 - 特許庁

Address information needed to analyze the memory test pattern operation is read out of a memory test pattern source 2 to calculates address operation and a pattern operation analytic log 5 for the pattern operation analysis is generated; and address operation in command performance is extracted from the pattern operation analytic log 5 to generate a pattern operation grasping log 7.例文帳に追加

メモリテストパターンソース２よりメモリテストパターン動作の解析に必要なアドレス情報を読み取り、アドレス動作を計算により求め、パターン動作解析のためのパターン動作解析ログ５を生成し、パターン動作解析ログ５より、コマンド実行時のアドレス動作を抽出し、パターン動作把握ログ７を生成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and a test pattern data generating method for the device.例文帳に追加

半導体メモリ装置およびこの装置のテストパターンデータ発生方法を提供する。 - 特許庁

An image data correcting part 7 reads the image from the memory 4 through an image data reading part 5, and reads correction pattern data stored in the memory 4 through a correction pattern reading part 6.例文帳に追加

画像データ補正部７は、画像データ読出部５を介してメモリ４から画像を読込み、また、補正パターン読出部６を介してメモリ４に格納された補正パターンデータを読込む。 - 特許庁

This invention is related to a magnetic memory storage device formed in an asymmetrical pattern.例文帳に追加

本発明は、非対称にパターン形成された磁気メモリ記憶デバイスを提供する。 - 特許庁

A standard mode memory part 52 having a standard mode operation pattern stored therein and a high-speed mode memory part 54 having a high-speed mode operation pattern stored therein are provided.例文帳に追加

標準モードの動作パターンが記憶された標準モード記憶部５２と、高速モードの動作パターンが記憶された高速モード記憶部５４が設けられている（図１（Ａ））。 - 特許庁

Generated test pattern data is stored in a standard memory, repeatedly written in all the areas of the mounted expansion memory and written test pattern data is printed out.例文帳に追加

発生したテストパターンデータを標準メモリに記憶し、装着した増設メモリの全ての領域に対して繰り返し書き込み、書き込み済みのテストパターンデータをプリントアウトする。 - 特許庁

To reduce the capacity of a memory necessary for storing base pattern image data and access frequency to the memory in the case of compounding the base pattern image data with original image data for output.例文帳に追加

オリジナル画像データに地紋画像データを合成して出力するときに、地紋画像データの保持に要するメモリの容量及びメモリへのアクセス回数を低減する。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF FLUSH MEMORY ELEMENT UTILIZING SELF-ALIGNMENT NON-EXPOSURE PATTERN FORMATION PROCESS例文帳に追加

自己整列無露光パターン形成プロセスを利用したフラッシュメモリ素子の製造方法 - 特許庁

The control part 10 further deletes the pattern file of the end part of the execution memory 17 as a pattern file with low use frequency when the empty capacity of the execution memory is insufficient.例文帳に追加

また、制御部１０は、実行メモリ１７の空き容量が不足した場合、使用頻度が低いパタンファイルとして実行メモリ１７の最後部のパタンファイルを削除する。 - 特許庁

The upper part of the first basal pattern is covered with a memory gate, and the memory gate is extended, from the upper part of the first basal pattern so that the upper part of the predetermined region of the channel region can be covered.例文帳に追加

第１基底パターンの上部をメモリゲートが覆い、メモリゲートは第１基底パターンの上部から拡張されてチャネル領域の所定の領域の上部を覆う。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory test pattern forming method by which an accurate semiconductor memory test pattern can be made based on semiconductor memory designer's semiconductor memory test specifications and its verification is facilitated and the semiconductor memory test specifications can also be formed.例文帳に追加

半導体メモリ設計者の半導体メモリ試験仕様にもとづいて正確な半導体メモリ試験パターンを作成することができ、その検証を容易になし得ると共に、半導体メモリ試験仕様書も生成することができる半導体メモリ試験パターンの作成方法を提供する。 - 特許庁

Test pattern data is generated based on this read out program data, and memory BIST is performed by comparing data read out after the test pattern data is written in a memory to be tested with expected value pattern data corresponding to the test pattern data.例文帳に追加

この読み出されたプログラムデータに基づいてテストパタンデータを生成し、被テスト対象メモリがテストパタンデータを書き込んだ後で読み出されたデータと、当該テストパタンデータに相当する期待値パタンデータとを比較することによりメモリＢＩＳＴを行う。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a nonvolatile memory device suppressing generation of pattern collapse or pattern short-circuit between adjacent memory cells in a lower part of the memory cells when a laminated film containing a resistance change layer and a rectifying layer is processed to form a columnar memory cell.例文帳に追加

抵抗変化層と整流層とを含む積層膜を柱状のメモリセルを加工する場合に、パターン倒れやメモリセル下部での隣接するメモリセルとの間のパターンショートの発生を抑える不揮発性記憶装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

The image processing apparatus of the present invention then stores dither pattern data arrayed in the dither pattern and includes a threshold storage memory for storing a plurality of dither pattern data in memory regions for one word on a memory space and an address generating means for generating an address for reading out the dither pattern data stored in the threshold storage memory.例文帳に追加

そして、本発明の画像処理装置は、ディザパターンに配列されるディザパターンデータを格納すると共に、メモリ空間上の１ワード分のメモリ領域に複数のディザパターンデータを格納可能な閾値格納メモリと、この閾値格納メモリに格納されたディザパターンデータを読み出すためのアドレスを生成するアドレス生成手段とを有している。 - 特許庁

In a fourth step, a test of a semiconductor memory determined as defective memory operation using the test pattern converted to the signal pattern by a semiconductor memory tester, is performed and reappearance of the occurrence of the defective operation is verified.例文帳に追加

第４ステップでは、半導体メモリテスタにより信号パターンに変換されたテストパターンを用いてメモリ動作不良と判定された半導体メモリのテストを実施し、上記動作不良発生の再現を検証する。 - 特許庁

The memory cell includes a resistive memory element pattern between two electrodes, and one of the two electrodes shows a plug configuration which decreases contact area with the resistive memory element pattern.例文帳に追加

本発明の抵抗メモリセルは二つの電極の間にある抵抗メモリ要素パターンを含み、前記二つの電極のうちいずれか一つはプラグ形態を示して前記抵抗メモリ要素パターンとの接触面積が減少する。 - 特許庁

A substrate 22 has a patterned surface with a channel pattern, and a transponder 70 provided with a memory 80 and arranged in the channel pattern.例文帳に追加

基板２２は、チャネルパターンを伴ったパターン化面と、メモリ８０を有しチャネルパターン内に配置されたトランスポンダ７０と、を備える。 - 特許庁

This acceleration pattern is compared with an acceleration pattern registered in advance in a memory 14 in a fixed state of the unit main body.例文帳に追加

この加速度パターンがメモリ１４に予め登録されている装置本体の固定状態時の加速度パターンと比較される。 - 特許庁

Next, the servo pattern is magnetically or physically transferred on the memory medium (step S4).例文帳に追加

続いて、記憶媒体にサーボパターンが、磁気的又は物理的に転写される（ステップＳ４）。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE PERMITTING TO WRITE VARIOUS PATTERN DATA THEREIN, ELECTRICAL TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

多様なパターンデータが書き込み可能な半導体メモリ素子およびその電気的検査方法 - 特許庁

To detect disturbance of regularity of an address included in a test pattern of a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリの試験パターンに含まれるアドレスの規則性の乱れを検出する。 - 特許庁

The backup battery is connected to the volatile memory via a wiring pattern on the substrate.例文帳に追加

バックアップ電池と揮発性メモリとは、基板の配線パターンを介して接続されている。 - 特許庁

The conductive film pattern is connected commonly to a plurality of ferroelectric memory cells at under part thereof.例文帳に追加

導電膜パターンは、下部の多数の強誘電体記憶セルに共通でに連結される。 - 特許庁

A plurality of pattern data are recorded in a character ROM (read only memory) 306, for example, as object data.例文帳に追加

キャラクタＲＯＭ３０６に複数の図柄データをたとえばオブジェクトデータとして記録する。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING WIRING PATTERN, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND THE SAME例文帳に追加

配線パターンの製造方法、半導体メモリデバイスの製造方法、及び半導体メモリデバイス - 特許庁

A pattern detection program 17 is stored in the program memory 11 of a personal computer 2.例文帳に追加

パーソナルコンピュータ２のプログラムメモリ１１には、パターン検出プログラム１７が記憶されている。 - 特許庁

A pattern of pressure-time differentiation in the gas leakage is stored in a memory 20.例文帳に追加

一方、メモリ２０にはガス漏洩時の圧力時間微分のパターンが記憶されている。 - 特許庁

Pattern memory 78 stores test patterns to be supplied for a device to be tested 40 in advance.例文帳に追加

パターンメモリ７８は、被試験デバイス４０に供給するテストパターンを予め格納する。 - 特許庁

A pattern generator 30 includes an address source for generating an external packet memory address signal.例文帳に追加

パターン発生器３０は外部パケットメモリアドレス信号を発生させるアドレスソースを含む。 - 特許庁

Therefore, a common test pattern can be used in order to test a regular memory cell and a parity memory cell, and the test cost can be reduced.例文帳に追加

このため、レギュラーメモリセルおよびパリティメモリセルを試験するために共通の試験パターンを使用でき、試験コストを削減できる。 - 特許庁

To increase the speed of plotting command to a memory, enabling access to the memory per word unit at a high speed, in painting out a rectangular pattern.例文帳に追加

矩形パターンを塗りつぶす際にワード単位で高速にメモリにアクセス可能としてメモリへの描画命令を高速化する。 - 特許庁