「near field measurement」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a near-field optical microscope capable of performing further accurate measurement.例文帳に追加

本発明の目的は、測定をより正確に行なえる近接場光学顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

A near-field photon field is generated by the presence of the measurement object in a near-field photon localized area formed at the tip of the probe 15, near-field photon response light that is a propagating light according to the near-field photon field is radiated, and the near-field photon response light is measured by a light-receiving part 17.例文帳に追加

プローブ１５の先端に形成される近接場フォトン局在領域内に測定対象を存在させることにより近接場フォトン場を生成し、近接場フォトン場に応じた伝搬光である近接場フォトン応答光を放射させ、受光部１７で近接場フォトン応答光を計測する。 - 特許庁

To provide an electromagnetic field measurement method for measuring the strength distribution and the phase distribution of an near-field electromagnetic field close by a measurement object, at high resolution and which is capable of accurate estimation of a far-field normalized values, as compared with those by conventional types.例文帳に追加

被測定物の近傍電磁界の強度分布と位相分布を高分解能で測定し、遠方規格値を従来よりも高精度で推定できる電磁界測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To easily determine an application range for measurement of a near- field while considering the number of lobes, in a method of determining the application range for the measurement of planar scanning near-field for measuring an electromagnetic field on a plane in the vicinity of an antenna using a probe.例文帳に追加

本発明はアンテナ近傍の平面上の電磁界をプローブにより測定する平面走査近傍界測定の適用範囲の判定法に関し，ローブ数を考慮して近傍界測定の適用範囲の判定を簡単に行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide a near-field light probe unit producing device for producing a near-field light probe unit that can efficiently perform an approach operation to a sample for near-field light measurement and can prevent damage due to a collision to the sample.例文帳に追加

近接場光測定を行うための試料へのアプローチ動作を効率的に行うことでき、しかもプローブの試料への衝突による破損を防ぐことが可能な近接場光プローブユニットを作製する近接場光プローブユニット作成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a near-field optical probe high in resolution and high in detection efficiency, which can be employed in a near-field optical microscope capable of carrying out a measurement with a S/N ratio better than conventional ones, and to provide a method and an apparatus for manufacturing the near-field optical probe.例文帳に追加

従来よりも良好なＳＮ比で測定可能な近接場光顕微鏡に使用できる、分解能が高くかつ検出効率も高い近接場光プローブ、近接場光プローブの作製方法および作製装置を提供する。 - 特許庁

The near-field fiber probe 14 used for near-field measurement of a sample 32 is characterized by using a short probe shortening a length of an optical fiber.例文帳に追加

試料３２を近接場測定する際に用いられる近接場ファイバープローブ１４において、光ファイバーの長さをショート化したショートプローブを用いたことを特徴とする近接場ファイバープローブ１４。 - 特許庁

To provide a near-field optical probe unit which can easily and efficiently carries out an operation to approach a sample in a near-field optical measurement and prevents a probe from colliding with the sample and being broken.例文帳に追加

近接場光測定を行うための試料へのアプローチ動作を簡便かつ効率的に行うこと、プローブの試料への衝突による破損を防ぐことが可能な近接場光プローブユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a reference signal detecting method for acquiring highly reliable measurement data in the measurement of near-electromagnetic-field vectors through the use of a high-spatial-resolution electromagnetic field sensor.例文帳に追加

高空間解像度電磁界センサーを用いた近傍電磁界ベクトル測定において、信頼性の高い測定データを得るための基準信号検出方法を提供すること。 - 特許庁

To perform measurement of a radar cross section of an aircraft, or the like, at near field from an object by small antennas.例文帳に追加

航空機等のレーダークロスセクションの測定を対象物からの近傍界で行え、かつ小さなアンテナで行えるようにする。 - 特許庁

To provide a device for magnetic near-field measurement for specifying a noise current which is a generation source of an unnecessary electromagnetic wave radiated from an electronic apparatus.例文帳に追加

電子機器から放射される不要な電磁波の発生源となるノイズ電流を特定する近傍磁界測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a radiation EMI measuring device capable of shortening a measuring time, and measuring by a uniform radiation pattern even in a near-field measurement.例文帳に追加

測定時間の短縮化や近傍界測定においても均一な放射パターンによる測定が可能な放射ＥＭＩ測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope apparatus capable of spectroscopic measurement and near-field measurement, in addition to conventional scanning probe measurement.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡装置によって、従来の走査型プローブ測定に加えて分光学的測定および近視野測定を行うことができる装置を提供すること。 - 特許庁

A measurement object 10 is irradiated with light by a light source 16, and a near-field light probe 15 makes an approach to a surface of the measurement object 10 to measure the air gap value between the measurement object 10 and the probe 15.例文帳に追加

光源１６により測定対象１０を照射し、近接場光プローブ１５を測定対象１０の表面に接近させ、測定対象１０とプローブ１５との間のエアーギャップ値を測定する。 - 特許庁

Consecutively, the electromagnetic field simulator generates analysis model data, in which an electric field or a magnetic field measured by the near field measuring instrument is set as a wave source, about a measurement data part in the generated new printed wiring board CAD data.例文帳に追加

続いて、電磁界シミュレーション装置は、生成された新たなプリント配線板ＣＡＤデータにおける測定データ部分について、近傍界測定器によって測定された電界または磁界を波源として設定した解析用モデルデータを生成する。 - 特許庁

To provide a measurement method which can determine not only the magnitude of a phase difference but also the sign of the phase difference over a wide frequency range in measurement of phase distribution of a near electromagnetic field.例文帳に追加

近傍電磁界の位相分布測定において、位相差の絶対値だけでなく、位相差の符号を、広い周波数範囲で判別できる測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

An electromagnetic field simulator replaces a prescribed region of printed wiring board CAD data being an electromagnetic field simulation target with measurement data measured by a near field measuring instrument so as to generate new printed wiring board CAD data.例文帳に追加

本願が開示する電磁界シミュレーション装置は、電磁界シミュレーション対象であるプリント配線板ＣＡＤデータの所定領域を、近傍界測定器によって測定された測定データで置き換えて、新たなプリント配線板ＣＡＤデータを生成する。 - 特許庁

To provide a system for measuring near-field film thickness, having ample film-thickness measurement accuracy, with spatial resolution of wavelength or smaller of light.例文帳に追加

本発明の目的は光の波長以下の空間分解能で、十分な膜厚測定精度を有する近接場膜厚測定装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a near field probe which is used for either measurement of a degree of depolarization, polarization and polarization dependence of a spectrum in a region smaller than the value of a wavelength of light.例文帳に追加

本発明の目的は、光の波長の値よりも小さい領域での偏光解消度、偏光度およびスペクトルの偏光依存性の何れかの測定に用いられる近接場プローブを提供することにある。 - 特許庁

To provide a measurement method of a scanning probe microscope for measuring a shape and optical characteristics of a sample using near field light without reducing a signal-to-noise ratio in a plasmon propagation beam SPM.例文帳に追加

本発明はプラズモン伝播形光ＳＰＭにおいて、信号対雑音比が低下させずに近接場光を用いて試料の形状と光学特性を測定する走査プローブ顕微鏡の測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an SPM probe capable of observing the spatial distribution of micro-scale energy sources such as near-field light or microwaves over a wide measurement range and with a high spatial resolution.例文帳に追加

近接場光やマイクロ波のような微小スケールのエネルギー源の空間分布を広い測定範囲、高空間分解能で観測することができるＳＰＭプローブを提供する。 - 特許庁

The origin of a magnetic field can be positioned near the grid pattern and the Hall voltage sensor collects one or more Hall voltage measurement values in one or more regions.例文帳に追加

磁場源を格子パターンの近傍に位置付けることが可能であり、１つ以上の領域についての一以上のホール電圧測定値が、ホール電圧センサで集められる。 - 特許庁

A PC 21 acquires film thickness information of the measurement object, on the basis of the intensity of the measured near-field photon response light and the measured air gap value.例文帳に追加

ＰＣ２１は、計測された近接場フォトン応答光の強度と、計測されたエアーギャップ値とに基づいて、測定対象の膜厚情報を求める。 - 特許庁

BIOMEDICAL DEVICE WITH NEAR FIELD COMMUNICATION FUNCTION AND METHOD THEREOF FOR USER IDENTIFICATION, BIOMEDICAL DATA MEASUREMENT, BIOMEDICAL DATA UPLOAD/DOWNLOAD, BIOMEDICAL DATA MANAGEMENT, AND REMOTE MEDICAL CARE例文帳に追加

近距離無線伝送機能を備えた生物医学装置、及びその使用者識別、生物医学データ測定、生物医学データアップロード／ダウンロード、生物医学データ管理、及びリモート医療看護の方法 - 特許庁

To provide a near-field probe capable of easily adjusting the distance between the measuring surface of a measurement object and the front end of a coaxial resonator to a distance suitable for measurement, and to provide an electrical characteristic measuring instrument equipped with the probe.例文帳に追加

被測定物の測定面と同軸共振器先端との間隔が測定に適した距離となるよう容易に調整できる近接場プローブ及びこの近接場プローブを備えた電気的特性測定装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

In addition to a spectral ellipsometer, there are a probe 9; a second light source 10 that becomes an excitation light emission means for emitting excitation light for generating near-field light; and a 3D actuator 11 that becomes a movement means for allowing the probe to approach a sample emission surface of the measurement light.例文帳に追加

分光エリプソメータに加えて、プローブ９と、近接場光を発生させる励起光を照射する励起光照射手段となる第２の光源１０と、上記プローブを測定光の試料照射面に近付ける移動手段となる３Ｄアクチュエータ１１とを備えている。 - 特許庁

Measurement information S acquired during the forcible application of the periodic disturbance T to the polarized wave plane maintenance fiber 5 by the disturbance application mechanism 40 is averaged, a magnetic field intensity near a Faraday element 2 or a current is obtained on the basis of an average value Sa of the measurement information S.例文帳に追加

この偏波面保持ファイバー５に対して、測定光ＳＬの位相差に変化を与え得る外乱Ｔを周期的に与える外乱付与機構４０によって周期的な外乱Ｔが偏波面保持ファイバー５に強制的に与えられている間に求められた測定情報Ｓを平均し、その測定情報Ｓの平均値Ｓａに基づきファラデー素子２周辺の磁界強度や電流値を得る。 - 特許庁

To provide an inspection image, inspection method and inspection device using electron beams, with an expanded beam scan dimension (a field of vision; FOV) and with uniform or near-uniform CD distribution in the field to stabilize measurement in the FOV, in order to make an easy process control including variations in local CD, CD difference of vertical and horizontal line and the like.例文帳に追加

ビームスキャン範囲（視野、ＦＯＶ）を拡大し、ＦＯＶ面内の測定値がばらつかないようにＣＤの面内分布を均一又は略均一に分布させ、ローカルなＣＤのばらつき、縦線と横線のＣＤの違いなどのプロセス管理が容易な、電子ビームを用いる検査画像、検査方法、検査装置を提供する。 - 特許庁