「phase-difference microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a phase plate and a method of manufacturing the same, and a phase difference electron microscope capable of acquiring a stable, high-resolution phase difference electron microscope image.例文帳に追加

安定で、かつ高分解能の位相差電子顕微鏡像の取得が可能な位相板及びその製造方法、並びに位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The present invention is applicable to an analyzer device for a phase difference microscope.例文帳に追加

本発明は、例えば、位相差顕微鏡のアナライザ装置に適用できる。 - 特許庁

To provide a phase difference electron microscope capable of alleviating the dimensional requirement of a phase shift element.例文帳に追加

位相シフト素子の寸法上の要件を軽減する位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

PHASE SHIFT METHOD AND DEVICE FOR REALIZING PHASE DIFFERENCE OBSERVATION OR MODULATION CONTRAST OBSERVATION IN MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡で位相差観察または変調コントラスト観察を実現するための位相シフト方法および装置 - 特許庁

To provide a phase-contrast microscope capable of realizing the phase-difference observation of the different spot of a fixed sample.例文帳に追加

固定された標本の異なる場所の位相差観察を可能とする位相差顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The position of the stage at the time and the position of the phase difference ring 27 are recorded in the phase contrast microscope as observation information.例文帳に追加

そして、位相差顕微鏡は、そのときのステージの位置と、位相差リング２７の位置とを観察情報として記録する。 - 特許庁

In addition, this phase plate 10 is arranged in a passage of electrons passing through an objective lens of a phase difference electron microscope and a sample.例文帳に追加

そして、この位相板１０を、位相差電子顕微鏡の対物レンズ及び試料を通過した電子の通路に配置する。 - 特許庁

To provide a phase-contrast microscope in which a phase ring of a phase-difference capacitor section is removed to assure a high degree of freedom and in which a measuring system can be incorporated.例文帳に追加

位相差コンデンサ部の位相リングを除去し、大幅な自由度を確保し、計測システムを組み込むことができる位相差顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an optical component and a phase contrast microscope, exhibiting a phase difference of a sample including frequency information and color information.例文帳に追加

周波数情報や色情報を含めて試料の位相差を示すことができる光学部品及び位相差顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The phase difference of a phase shift mask is determined by measuring the depth of the step in the shifter part 6 by using a scanning atomic force microscope so as to manufacture the phase shift mask.例文帳に追加

走査型原子間力顕微鏡によりシフター部６の段差深さを測定することにより位相シフトマスクの位相差を測定し、位相シフトマスクを製造する。 - 特許庁

To continuously shift a phase while using a microscope without using many different modulators in a phase shift method and device for realizing phase difference observation or modulation contrast observation in the microscope.例文帳に追加

顕微鏡で位相差観察または変調コントラスト観察を実現するための位相シフト方法および装置において、多数の異なる変調器を使用せずに、顕微鏡の使用中に連続的な位相シフトを可能にさせる。 - 特許庁

To provide a method for accurately positioning a phase difference imparting member used for a phase microscope in a horizontal direction orthogonal to an optical axis.例文帳に追加

位相差顕微鏡に用いられる位相差付与部材を、光軸と直交する横方向について、精度良く位置決めすることができる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for identifying and inspecting a simple easy phase object image, whereby a wide, deep measurement visual field is provided and a phase difference interference image is sharply obtained in the place of conventional phase difference microscope used for observing a phase object such as a biological cell.例文帳に追加

生体細胞のような位相物体の観察に用いられてきた従来の位相差顕微鏡に代わって、広くて深い測定視界を持ち、位相差の干渉画像が鮮明に得られる、単純で簡便な位相物体画像の識別、検査の方法と装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method to easily measure phase difference by using a scanning atomic force microscope(AFM) without peeling a resist 1 during manufacturing a Levenson type phase shift mask, and to provide a method for manufacturing phase shift mask such that the manufacture process of a Levenson phase shift mask can be significantly reduced by using the above method for measuring the phase difference.例文帳に追加

レベンソン位相シフトマスクの製造途中にレジスト１を剥離せずに、走査型原子間力顕微鏡(AFM)を用いて簡便に位相差を測定する方法を提供し、この位相差測定方法を用いてレベンソン位相シフトマスクの製造プロセスを大幅に短縮することが可能になる位相シフトマスク製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope constituted so that the different kinds of observation methods such as the phase difference observation method and the bright visual field observation method can be quickly switched.例文帳に追加

位相差観察と明視野観察等の異なる種類の観察方法を、迅速に切り替えることができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This microscope is provided with a light source 17 emitting coherent light and a polarization variable element 18 changing the phase difference of x-polarization and y-polarization of the light.例文帳に追加

可干渉光を発する光源１７と、この光のｘ偏波とｙ偏波の位相差を変える偏波可変素子１８とを有する。 - 特許庁

To provide a phase difference electron microscope including a phase plate which is used for an electron microscope and gets around problems that spacial frequency information of an observed specimen is lost, and minimizes effect of charge of an insulation film.例文帳に追加

電子顕微鏡に用いられる位相板において、観察試料の空間周波数情報が欠損する問題を回避し、かつ絶縁膜の帯電の影響を最小限にすることのできる位相板を備えた位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a phase plate of an electron microscope which minimizes shielding of an electron wave and prevents effect of charge of an insulation film without using an advanced manufacturing technology, and provide a phase difference electron microscope which does not require significant change and addition of an optical element.例文帳に追加

電子波の遮蔽を極小化し、かつ絶縁膜の帯電の影響を回避できる電子顕微鏡の位相板を高度な製造技術を利用せずに提供し、光学要素を大幅に変更・追加必要としない位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

An observed image of the phase-difference microscope is analyzed to regard as an optimum focus point the position where the sizes and number of images of an observed solid body are maximum.例文帳に追加

位相差顕微鏡の観測像を画像解析して、観測される個体の像影の大きさおよび像影の個数が最大となる位置を最適フォーカス位置とした。 - 特許庁

This transmission electron microscope is provided with a phase plate 8 for generating a phase difference between an electron beam passing through a predetermined region including a rear focal point of an object lens 6 and an electron beam passing through a region excluding the predetermined region.例文帳に追加

対物レンズ６の後焦点を含む所定の領域を通過する電子線と、前記所定の領域外の領域を通過する電子線との間に位相差を生じさせる位相板８を備える。 - 特許庁

To provide a microscope having an auto-focusing function using a phase difference optical system that can remove ghosts attributable to a light ray branching element, and to provide a ghost removing method.例文帳に追加

位相差光学系を用いたオートフォーカス機能を有する顕微鏡において、光線分岐素子に起因するゴーストを除去することが可能な顕微鏡及びゴースト除去方法を提供する。 - 特許庁

To provide an asbestos sampler and an asbestos sampling method capable of carrying out a series of works from the sampling of the asbestos to observation of dyeing by a phase difference microscope, on one substrate.例文帳に追加

アスベストの採取から位相差顕微鏡による染色観察までの一連の作業が一つの基板上で行なえるアスベスト採取装置及び採取方法を提供する。 - 特許庁

This composition has an initiation temperature of phase difference increase (Ts) measured using a scanning viscoelasticity microscope of not lower than 25°C, and this sheet having an easily formable surface is prepared by processing the resin composition into a sheet form.例文帳に追加

走査粘弾性顕微鏡を用いて、測定される位相差増大開始温度Ｔｓが２５℃以上である組成物、及び該樹脂組成物をシート状に加工してなる易表面賦形性シート。 - 特許庁

To provide a microscope sample which makes it efficient and accurate to evaluate the performance of a microscope using a differential interference contract method and a phase difference contrast method and also measure the size of the microstructure of a transparent living body sample as an object to be observed, and its manufacturing method.例文帳に追加

微分干渉コントラスト法や位相差コントラスト法を用いた顕微鏡の性能の評価や、観察対象である透明な生物標本の微細構造の大きさ測定を効率良くかつ正確に行うことができる顕微鏡標本、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope control device that can suppress a computation load required for distortion correction processing in a defocus detection processing using a phase-difference optical system, and an optical distortion correction method thereof.例文帳に追加

位相差光学系を用いたデフォーカス検出処理において、ディストーション補正処理に要する演算負荷を抑制することが可能な顕微鏡制御装置及び光学的歪み補正方法を提供すること。 - 特許庁

The microscope control device includes: an evaluation value calculation unit for calculating an evaluation value for evaluating the presence or absence of a sample for each local area constituting one of a pair of phase difference images of the sample imaged by a microscope; and an area determination unit for determining an area in which the sample is imaged in the one of the phase difference images based on the calculated evaluation value.例文帳に追加

本発明に係る顕微鏡制御装置は、顕微鏡により撮像されたサンプルの一組の位相差像の一方について、当該位相差像の一方を構成する局所的な領域毎に、前記サンプルの有無を評価するための評価値を算出する評価値算出部と、算出された評価値に基づいて、前記位相差像の一方において前記サンプルが撮像されている領域を判定する領域判定部と、を備える。 - 特許庁

To provide an illumination optical system for enabling bright phase difference observation and dark field observation by obtaining annular illumination without losing light intensity from a light source, and to provide an illumination optical system for an exposure device and a microscope lighting system using it.例文帳に追加

光源からの光量を損失することなく輪帯照明を得られ、明るい位相差観察や暗視野観察が可能な照明光学系、露光装置用の照明光学系とそれを用いた顕微鏡照明装置。 - 特許庁

To provide a microscope control device and a method for determining a processing range capable of disposing an observation object within a detectable range of a defocus amount at a high speed in a defocus amount detecting process using a phase difference optical system.例文帳に追加

位相差光学系を用いたデフォーカス量検出処理において、デフォーカス量の検出可能範囲内に観察対象をより高速に配置することが可能な顕微鏡制御装置及び処理範囲決定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device for detecting the concrete physical quantity of an observed object such as the inclination of the observed object, the minute planer part, the edge part, the level difference and the phase variation, etc., in a short time from the differential interference image of the observed object obtained through a differential interference microscope.例文帳に追加

観察物体の勾配，微小平面部，エッジ部，段差，位相変化量等の具体的な物理量を微分干渉顕微鏡によって得られる観察物体の微分干渉画像から短時間で検出するための装置とこれを用いた検出方法を提供する。 - 特許庁