「positioning test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TEST INTERFACE DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND POSITIONING DEVICE FOR TEST INTERFACE DEVICE例文帳に追加

半導体装置のテストインタフェイス装置およびテストインタフェイス装置の位置決め装置 - 特許庁

To provide a disk test device highly accurately positioning a disk.例文帳に追加

ディスクを高精度に位置だし出来るディスク試験装置。 - 特許庁

POSITIONING DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND CARRYING DEVICE FOR TEST APPARATUS例文帳に追加

半導体装置の位置決め装置及び試験装置用搬送装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR POSITIONING INTERFACE UNIT OF AUTOMATIC TEST SYSTEM例文帳に追加

自動試験システムのインタフェースユニットを位置付ける装置及び方法 - 特許庁

WORKPIECE POSITIONING METHOD OF WORKPIECE INSPECTION DEVICE, WORKPIECE CONVEYING PALLET, ENVIRONMENTAL TEST DEVICE AND ENVIRONMENTAL TEST SYSTEM例文帳に追加

ワーク検査装置のワーク位置決め方法、ワーク搬送パレット、環境試験装置および環境試験システム - 特許庁

EVALUATION SAMPLE AND METHOD FOR EVALUATING POSITIONING ACCURACY OF RECORDING MEDIUM TEST EQUIPMENT例文帳に追加

評価サンプルおよび記録媒体検査装置の位置決め精度評価方法 - 特許庁

POSITIONING SYSTEM FOR TEST HEAD, AND NON-CONTACT TYPE RESISTIVITY MEASURING DEVICE例文帳に追加

検査ヘッド用位置調整装置及び非接触型抵抗率測定装置 - 特許庁

This test piece gripping tool is structured so that it can be provided with a positioning member 44 for positioning the test piece in a direction B orthogonal to a direction A toward or away from gripping tooth members 26 and 27.例文帳に追加

つかみ歯部材２６，２７の離接方向Ａに直交する方向Ｂの試験片の位置決めを行う位置決め部材４４を設ける。 - 特許庁

MEDICAL TECHNOLOGY EQUIPMENT, TEST SPECIMEN AND CHECK METHOD OF POSITIONING ACCURACY OF PATIENT TABLE例文帳に追加

医療技術機器、試験体、および患者テーブルの位置決め精度のチェック方法 - 特許庁

To provide a device and a method for positioning an interface unit of an automatic test system.例文帳に追加

自動試験システムのインタフェースユニットを位置付ける装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

CONTACT BOARD FOR IC TEST DEVICE AND POSITIONING METHOD OF ROBOT FOR CONTACTING AND OPERATING THE SAME例文帳に追加

ＩＣ試験装置のコンタクトボード及びこれに接触動作するロボットの位置合わせ方法 - 特許庁

A manipulator 100 is provided for positioning an interface unit of the automatic test system 104.例文帳に追加

自動試験システム（１０４）のインタフェースユニットを位置付けるマニピュレータ（１００）を開示する。 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND POSITIONING CONTROL METHOD FOR TEST PIECE STAGE IN THE SAME例文帳に追加

電子顕微鏡装置および同装置における試料ステージの位置決め制御方法 - 特許庁

TEST BORING DEVICE, CYLINDRICAL MEMBER FOR POSITIONING USED IN IT, AND CYLINDRICAL MEMBER FOR ANCHORING例文帳に追加

試錐装置およびこれに使用する位置決め用筒状部材と固定用筒状部材 - 特許庁

This system includes a prober positioning assembly connected with a substrate supporting member in a test chamber.例文帳に追加

装置はテストチャンバ内で基板支持部に連結されたプローバ位置決めアセンブリを含む。 - 特許庁

To provide a test piece measuring apparatus capable of improving positioning accuracy of test pieces and reducing the dispersion of measured values.例文帳に追加

試験片の位置決め精度を向上させ、測定値の分散を低減することのできる試験片測定装置を提供する。 - 特許庁

This cutter for cutting a test piece comprises a test piece placing table 10 for positioning an injection molded test piece 1 and placing the same, and a cutter head 20 for cutting desired test pieces from the placed injection molded test piece 1.例文帳に追加

試験片裁断用カッター装置が、射出成型試験片１を位置決めして載置させる試験片載置台１０と、ここに載置された射出成型試験片１から所望試験片を切り取るカッターヘッド２０とを有して構成される。 - 特許庁

A positioning means is provided to position the test head 3 with the testing part, while aside from the positioning means, a rotary means is provided to turn the test head 3 to a position that allows the loading or unloading thereof.例文帳に追加

テストヘッド３をテスト部に対して位置決めする位置決め手段を備えると共に、該位置決め手段とは別に、テストヘッド３を着脱可能な位置に回動する回動手段を備える。 - 特許庁

To provide an environmental test device capable of positioning and fixing a workpiece which is placed on and conveyed by a workpiece conveying pallet at the test position.例文帳に追加

ワーク搬送パレットに載せられて搬送されてくるワークを試験位置で位置決め固定できる環境試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a positioning system used for holding and moving heavy load such as a test head.例文帳に追加

テストヘッド等の重い負荷を保持及び移動するために使用される位置決めシステムを提供する。 - 特許庁

A sensor unit for measuring light reflectance is preferably used for positioning the test element.例文帳に追加

テストエレメントの位置決め（ポジションニング）には光反射率を測定するセンサユニットの使用が好ましい。 - 特許庁

To provide a testing method for a liquid crystal device with which positioning is excellently performed when performing an acceleration test and reliability of a test result can be maintained.例文帳に追加

加速試験する際の位置決めを良好に実行して、試験結果の信頼性を維持できる液晶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

The substrate supporting member is a test table in which X, Y and Z axes are movable, while the prober positioning assembly is movable to the test table.例文帳に追加

基板支持部はＸ、Ｙ及びＺ軸の移動が可能なテストテーブルであり、プローバ位置決めアセンブリはテストテーブルに対して移動可能である。 - 特許庁

To provide a test boring device capable of simply achieving the work for positioning this device for the center of excavation on the ground surface and to provide a cylindrical member for positioning used in the test boring device.例文帳に追加

地面上の掘削中心に対する試錐装置の位置決め作業を簡単に行うことができる試錐装置およびこれに使用する位置決め用筒状部材を提供することを目的とする。 - 特許庁

The positioning apparatus 1 mounts a test head 3 and positions it with respect to an autohandler.例文帳に追加

テストヘッド３を搭載し、該テストヘッドをオートハンドラに対して位置決めするテストヘッドの位置決め装置１である。 - 特許庁

And next, a region covering the above-mentioned positioning mark and the test pads on the dicing line is irradiated by laser.例文帳に追加

次に、ダイシングライン上の上記位置合わせマーク及びテストパッドを覆う領域にレーザを照射する。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR RECEIVING AND POSITIONING READ/WRITE HEAD TO DISK IN TEST APPARATUS例文帳に追加

読取り／書込みヘッドを受け入れ、そして、試験装置内のディスクに対し位置決めするための装置及び方法 - 特許庁

An image forming apparatus regards a start signal as a trigger, and writes the positioning test pattern between papers (Lb) when continuously writing a plurality of normal images, and reads the test pattern with a sensor on an intermediate transfer belt in order to regulate an image formation control condition to be fed back.例文帳に追加

スタート信号をトリガとし、複数枚の通常画像を連続して書込む際の紙間（Lb）で位置合わせ用等のテストパターンを書込む。 - 特許庁

To ensure a sequence strategy for defining a set of limitation applicable to test rod pattern design and positioning a subset of the test rod pattern design.例文帳に追加

試験ロッドパターンデザインに適用可能な限界のセットが定義され、試験ロッドパターンデザインのサブセットを位置決めするためのシーケンス戦略が確定される。 - 特許庁

When the workpiece is conveyed to the test position 12, a workpiece positioning mechanism 50 inserts pallet positioning pins 55, 56 in pallet positioning through holes 21b, 21c to position the workpiece conveying pallet 20.例文帳に追加

ワークが試験位置１２まで搬送されてくると、ワーク位置決め機構５０がパレット位置決めピン５５、５６をパレット位置決め貫通孔２１ｂ、２１ｃに挿入して、ワーク搬送パレット２０の位置決めを行う。 - 特許庁

To provide a test piece retention mechanism capable of precisely positioning and holding without changing the position of the test piece even if it expands and shrinks by temperature change and a test piece processing and observation device equipped with this test piece retention mechanism.例文帳に追加

温度変化によって膨張、収縮したとしても保持している試料の位置を変化させること無く、正確に位置決め、保持することが可能な試料保持機構、及び、この試料保持機構を備えた試料加工・観察装置に提供する。 - 特許庁

To provide a positron emission tomography capable of easily positioning a test subject.例文帳に追加

被検体のポジショニングを容易にすることが可能な陽電子放射断層撮像装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an extensometer capable of accurately positioning the knife edge provided to a lever at the left to right central position of a test piece.例文帳に追加

レバーに設けられたナイフエッジを、試験片の左右中央位置に正確に位置決めすることができる伸び計。 - 特許庁

To provide a test paper conveyance mechanism positioning accurately a test paper in a longitudinal direction and in a width direction, and a chemical analyzer equipped with the conveyance mechanism.例文帳に追加

試験紙の長手方向および幅方向の位置決めを正確に行なうことが可能な試験紙搬送機構および該搬送機構を備えた化学分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a compact electron beam test system capable of saving a clean room space, and positioning a flat panel display surely under an electron beam test device.例文帳に追加

クリーンルームの空間を節約することができ、フラットパネルディスプレイを電子ビームテスト装置の下方に確実に位置させることができるコンパクトな電子ビームテストシステムを提供する。 - 特許庁

To suppress noise due to heat drift or oscillation in stopping of a test piece stage and to shorten positioning time.例文帳に追加

試料ステージ停止時における熱ドリフトや振動によるノイズを抑えるとともに、位置決め時間の短縮を行う。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for a performance test of a mobile terminal with a global positioning system packaged therein.例文帳に追加

本発明は、位置追跡システムが搭載された移動端末機の性能テスト方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a positioning/wiring method of a semiconductor device for obtaining the hold time of a flip flop in a scan test sufficiently.例文帳に追加

スキャンテスト時にフリップフロップのホールドタイムが十分得られるようにする半導体素子の配置配線方法を提供する。 - 特許庁

Then, the EFM signal envelope EFML is obtained by utilizing this test pattern, thereby the positioning adjustment of the focus is performed.例文帳に追加

そして、このテストパターンを利用してＥＦＭ信号エンベロープＥＦＭＬを得、これによりフォーカスの位置決め調整を行う。 - 特許庁

To eliminate the use of positioning activity during test, while making it possible to inspect defects at marginal part of glass plate with high precision.例文帳に追加

ガラス板縁部における欠点を高精度に検査することを可能としつつ、検査時の位置決め作業を不要とする。 - 特許庁

A recessed fitting part for positioning the test boring device 1 in the horizontal direction on the ground E by pressing the test boring device against a side face part of the cylindrical member 81 for positioning in the horizontal direction while fitted into the side face part of the cylindrical member 81 is formed on a pedestal 3 of the test boring device 1 for drilling hole in the ground E.例文帳に追加

位置決め用筒状部材８１の側面部に嵌合させた状態で該側面部に水平方向に押し当てて試錐装置１の地面Ｅに対する水平方向の位置決めを可能とする凹形状の嵌合部を、地面Ｅに穴を穿つための試錐装置１の台座３に形成する。 - 特許庁

To shorten a down time generated when performing control preventing back copying of a test pattern occurring in a system reading a positioning test pattern on an intermediate transfer body.例文帳に追加

位置合わせ用等のテストパターンを中間転写体上で読取る方式において起きるテストパターンの裏写りを防止する制御を行う際に生じるダウンタイムを短縮化する。 - 特許庁

To provide an apparatus for receiving a read/write head and accurately positioning it in a desired position of a disk in a test apparatus.例文帳に追加

読取り／書込みヘッドを受け入れ、そして、試験装置内のディスクの所望の位置に正確に位置決めできる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester capable of easily placing and tuning a test head body on a handler body and improving positioning accuracy.例文帳に追加

ハンドラ本体に対するテストヘッド本体の設置調整が容易で、位置精度が向上出来る半導体テスタ装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor chip test socket 1 attaches the probe 16 to the socket receiving part 10 and attaches a positioning stage 43 of the semiconductor chip C on the socket cover part 40.例文帳に追加

ソケット受部１０にはプローブ１６を取り付け、ソケット蓋部４０には半導体チップＣの位置決めステージ４３を取り付ける。 - 特許庁