「probe component」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PROBE SUPPORT, PROBE DEVICE, AND IN-VIVO COMPONENT MEASURING APPARATUS例文帳に追加

プローブ支持具、プローブ装置、生体内成分測定装置 - 特許庁

CONTACT PROBE DEVICE FOR INSPECTION OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品検査用コンタクトプローブ装置 - 特許庁

PROBE CARD AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

プローブカード及び電子部品試験装置 - 特許庁

THERMOMETER HAVING MOLDED PROBE COMPONENT例文帳に追加

成形プローブコンポーネントを有する温度計 - 特許庁

MEASURING PROBE FOR COMPONENT OF MOLTEN METAL例文帳に追加

溶融金属の成分測定用プローブ - 特許庁

INSPECTING DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT AND CONTACT PROBE例文帳に追加

電子部品の検査装置およびコンタクトプローブ - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING CONTACT PROBE CARD FOR ELECTRONIC COMPONENT INSPECTION例文帳に追加

電子部品検査用コンタクトプローブカードの製造方法 - 特許庁

CHIP COMPONENT INSPECTION DEVICE AND CLEANING METHOD FOR PROBE CARD例文帳に追加

チップ部品検査装置及びプローブカードクリーニング方法 - 特許庁

FREE-CUTTING CERAMIC SINTERED COMPACT AND PROBE GUIDING COMPONENT例文帳に追加

快削性セラミックス焼結体及びプローブガイド部品 - 特許庁

ELECTRONIC COMPONENT INSPECTION PROBE, AND ELECTRONIC COMPONENT INSPECTION SOCKET EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加

電子部品検査用プローブ及び該プローブを備えた電子部品検査用ソケット - 特許庁

To provide a component detection probe that can maintain a detection accuracy of a component.例文帳に追加

部品の検出精度を維持し得る部品検出プローブを提供する。 - 特許庁

PROBE CARD AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE INCLUDING THE SAME例文帳に追加

プローブカードおよびそれを備えた電子部品試験装置 - 特許庁

The electric signal of the probe light is divided into a DC component and an AC component.例文帳に追加

プローブ光の電気信号を直流成分と交流成分に分離する。 - 特許庁

ELECTRONIC COMPONENT INSPECTING PROBE, AND ELECTRONIC COMPONENT INSPECTING SPLICER PROVIDED WITH SAME例文帳に追加

電子部品検査用プローブ及び該プローブを備えた電子部品検査用接続具 - 特許庁

SELF-ALIGNMENT MECHANISM IN CONTACT BETWEEN ELECTRONIC COMPONENT AND PROBE CARD例文帳に追加

電子部品とプローブカードの接触におけるセルフアライメント機構 - 特許庁

BIOLOGICAL COMPONENT MEASURING PROBE SUPPORTER AND BIOLOGICAL COMPONENT MEASURING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

生体内成分測定用プローブ支持具及びそれを用いた生体内成分測定装置 - 特許庁

NEAR FIELD PROBE, HIGH FREQUENCY DIELECTRIC CONSTANT MEASURING DEVICE EQUIPPED WITH THE NEAR FIELD PROBE, AND REPLACEMENT COMPONENT OF NEAR FIELD PROBE例文帳に追加

近接場プローブ、この近接場プローブを備えた高周波誘電率測定装置及び前記近接場プローブの交換部品 - 特許庁

PROBE CARD FIXING DEVICE, AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE PROVIDED THEREWITH例文帳に追加

プローブカード固定装置及びそれを備えた電子部品試験装置 - 特許庁

The rotation mechanism rotates any component in the fixture with respect to the probe, and the probe indicates whether the component meets quality standard.例文帳に追加

回転機構は固定具内の部品をプローブに対して回転させ、プローブは部品が品質基準に適合するか否か指示する。 - 特許庁

The collet assembly body is connected to the probe circuit component and the pin is connected to the probe support member.例文帳に追加

コレットアセンブリ本体はプローブ回路構成要素に接続され、ピンはプローブ支持部材に接続されている。 - 特許庁

A modulation spectrum of the probe light is calculated by dividing the AC component by the DC component.例文帳に追加

交流成分を直流成分で除算することでプローブ光の変調スペクトルを求める。 - 特許庁

COLLECTING MECHANISM FOR INSPECTED SPECIFIC COMPONENT OF INSPECTING APPARATUS HAVING ELEVATING PROBE例文帳に追加

昇降プローブ付き検査装置の検査済み特定部品の回収機構 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING POWDER COMPONENT AND OPTICAL FIBER PROBE FOR POWDER COMPONENT MEASUREMENT例文帳に追加

粉末成分測定方法、粉末成分測定装置および粉末成分測定用の光学ファイバプローブ - 特許庁

METHOD FOR CLEANING MEASURING PROBE FOR ELECTRONIC COMPONENT INSPECTING DEVICE AND ELECTRONIC COMPONENT INSPECTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

電子部品検査装置用測定プローブのクリーニング方法及びこれを用いる電子部品検査装置 - 特許庁

To provide a probe position adjusting film capable of adjusting efficiently the position of a probe disposed on electronic component inspection equipment or the like such as a probe card.例文帳に追加

プローブカード等の電子部品検査機器等に配設されたプローブの位置の調整を効率よく行うことができるプローブ位置調整用フィルムを提供する。 - 特許庁

To remove properly aluminum refuse adhering to a probe contact of a contact component.例文帳に追加

コンタクト部品のプローブ接点に付着したアルミのクズを適切に除去する。 - 特許庁

To assemble a sensor probe allowing reduction of manufacturing cost and replacement of a failure component.例文帳に追加

製造コストが安く、故障部品が交換可能なセンサプローブを組み立てる。 - 特許庁

An eddy current (EC) probe (12) for inspecting a component (16) is provided.例文帳に追加

部品（１６）を検査するための渦電流（ＥＣ）プローブ（１２）が提供される。 - 特許庁

IC CHIP, SEMICONDUCTOR COMPONENT, TEST PROBE, HANDY MULTI-TESTER, AND COMMUNICATION DEVICE例文帳に追加

ＩＣチップ、半導体部品、検査用プローブ、ハンディマルチテスター、及び通信装置 - 特許庁

The probe is brought into contact with a terminal of the electronic component supported by the support part.例文帳に追加

そして、支持部に支持された電子部品の端子にプローブを接触させる。 - 特許庁

To provide a drying processing method for a probe fixing face capable of preventing a component of a probe solution used for fixing a probe from being left ununiformly on a probe fixing face, when the probe fixing face on a substrate is dried.例文帳に追加

基板上のプローブの固定面を乾燥処理する際に、プローブの固定に用いたプローブ溶液の成分が不均一にプローブ固定面に残存することを防止できるプローブ固定面の乾燥処理方法を提供すること。 - 特許庁

A class loader 1002 loads a byte code of the component to be measured using the found component and the static list, and a transformer/probe builder 1000 inserts a probe.例文帳に追加

クラスローダ１００２が、発見されたコンポーネントおよび静的リストを用いて計測対象のコンポーネントのバイトコードをロードし、トランスフォーマ／プローブビルダ１０００がプローブを挿入する。 - 特許庁

To reduce the number of component items of a signal processing circuit for a touch probe, and to reduce its cost.例文帳に追加

タッチプローブ信号処理回路の部品点数の削減およびコストの低減。 - 特許庁

By a probe data division part 34 and an orthogonal component decomposition part 35, an in-vehicle terminal device 30 performs division of the probe data and the decomposition of the orthogonal component using principal component score vector acquired from the center device 10 and aims to reduce the probe data to be uplinked.例文帳に追加

車載端末装置３０は、プローブデータ分割部３４と直交成分分解部３５により、センタ装置１０から取得した主成分得点ベクトルを用いてプローブデータの分割と直交成分分解を行い、アップリンクするプローブデータの削減を図る。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe appropriate for extracting a higher harmonic wave component obtained from bubbles.例文帳に追加

バブルから得られる高調波成分の抽出に適した超音波プローブを提供する。 - 特許庁

PROBE AND DEVICE FOR MEASURING ELECTROMAGNETIC FIELD, AND METHOD FOR SPECIFYING ELECTROMAGNETIC WAVE RADIATING COMPONENT例文帳に追加

電磁界測定用プローブ、電磁界測定装置及び電磁波放射部品の特定方法 - 特許庁

When the probe part 1 of an inspection probe A3 is brought into contact with the terminal (not indicated in the figure) of a component to be inspected, the probe part 1 is brought surely into contact by the urging force of a spring part S1.例文帳に追加

検査用プローブＡ３の探針部１を被検査部品の端子（不図示）に接触させた場合、該探針部１はスプリング部Ｓ１の付勢力によって確実に接触される。 - 特許庁

This probe position adjusting film is used for adjusting the probe position for electronic component inspection, and preferably formed of an elastomer composition.例文帳に追加

本プローブ位置調整用フィルムは、電子部品検査用のプローブ位置を調整する際に用いられるものであり、好ましくはエラストマー組成物から形成される。 - 特許庁

An interference signal from a laser interferometer as a displacement sensor of a probe is output as a two-phase sinusoidal wave consisting of a high-frequency component caused by the probe vibration and a low-frequency component caused by irregularities of the surface to be measured by a probe displacement signal output circuit 42.例文帳に追加

探針の変位センサであるレーザ干渉計からの干渉信号を探針変位信号出力回路４２によって探針振動による高周波成分と被測定面の凹凸による低周波成分とからなる二相正弦波を出力させる。 - 特許庁

To provide a contact probe unit capable of mounting contact probes inexpensively with a short lead time for a component.例文帳に追加

部品のリードタイムを短く、かつ安価にコンタクトプローブを実装できるコンタクトプローブユニットを提供する。 - 特許庁

MANUFACTURE OF ELECTRONIC COMPONENTS WITH CABLE, THE ELECTRONIC COMPONENT WITH THE CABLE, ULTRASONIC PROBE AND ULTRASONIC IMAGE-PICKUP APPARATUS例文帳に追加

ケ—ブル付電気部品製造方法、ケ—ブル付電気部品、超音波プロ—ブおよび超音波撮像装置 - 特許庁

Then, a detection line for detecting the physical state of the probe cable 20 is provided inside the probe cable 20, and thus it is possible to detect the capacitance component of the probe cable 20 or the like, for instance.例文帳に追加

そこで、プローブケーブル２０内に、プローブケーブル２０の物理的な状態を検出するための検出線が設けられ、これにより、例えばプローブケーブル２０の容量成分などを検出することが可能となっている。 - 特許庁

To provide a contactless continuity test apparatus and method, capable of checking continuity of a probe for insulation test and electrodes of a component to be tested with the probe attached to the component to be tested.例文帳に追加

絶縁試験用のプローブと試験対象部品の電極との導通を、プローブを試験対象部品に装着した状態で確認することのできる非接触導通試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

In this component inspection method, a plurality of multifrequency excitation signals is applied to a probe to generate a plurality of multifrequency response signals in the inspection objective component.例文帳に追加

部品検査方法は、検査対象部品に対して複数の多周波応答信号を発生させるために、プローブに複数の多周波励起信号を印加する。 - 特許庁

This fluid layer may be maintained by immersing the component in liquid or by using a captive couplant column between the probe and the component surface.例文帳に追加

この流体層は部品を液体に浸す、またはプローブと部品表面の間に係留性の接触媒質を使用することによって維持されてもよい。 - 特許庁