「probe tip」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

DETACHABLE PROBE TIP DEVICE FOR MEASURING PROBE例文帳に追加

測定プローブ用着脱自在プローブ・チップ装置 - 特許庁

PROBE TIP CLEANING MEMBER, PROBE CLEANING DEVICE, AND PROBE TIP CLEANING METHOD例文帳に追加

プローブ先端クリーニング部材、プローブクリーニング装置及びプローブ先端クリーニング方法 - 特許庁

MEMBER FOR CLEANING TIP OF PROBE, DEVICE FOR CLEANING PROBE, AND METHOD OF CLEANING TIP OF PROBE例文帳に追加

プローブ先端クリーニング部材、プローブクリーニング装置及びプローブ先端クリーニング方法 - 特許庁

PROBE DEVICE AND METHOD FOR RECOGNIZING PROBE TIP例文帳に追加

プローブ装置及びプローブ針の針先認識方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR PROBE TIP STRUCTURE例文帳に追加

プローブチップ構造の製造方法 - 特許庁

PROBE TIP EVALUATION METHOD FOR SCAN TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針先端評価方法 - 特許庁

LOGIC SIGNAL-USE MULTI-BIT PROBE TIP例文帳に追加

ロジック信号用の多ビットプローブ先端部 - 特許庁

PROBE TIP MANUFACTURING METHOD AND APPARATUS AND METHOD FOR REPAIRING PROBE TIP例文帳に追加

プローブチップの製造方法、プローブチップ修復装置およびプローブチップの修復方法 - 特許庁

METHOD FOR FABRICATING PROBE TIP AND PROBE FOR USE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査探針顕微鏡に用いられる探針ティップ及び探針の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR GENERATING PROBE TIP OF NANOSTRUCTURE例文帳に追加

ナノ構造物の探針先端生成方法 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING TIP POSITION OF PROBE, ALIGNMENT METHOD, TIP POSITION DETECTOR AND PROBE UNIT例文帳に追加

プローブの針先位置の検出方法、アライメント方法、針先位置検出装置及びプローブ装置 - 特許庁

SCAN SYSTEM WITH DISPLACEABLE PROBE TIP例文帳に追加

変位可能な探針尖端を備えたスキャンシステム - 特許庁

TIP-REINFORCED RAMAN PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

チップ増強ラマンプローブ及びその製造方法 - 特許庁

The foreign matter 4 adhering to the probe 1 tip is removed to clean the probe tip by generating proper friction on the probe tip.例文帳に追加

探針先端への適切な摩擦を発生することにより、探針1の先端をに付着した異物4を取り除き、洗浄することができる。 - 特許庁

The tip of the second probe 40 is separated from the circuit board 24 farther than the tip of the first probe 30.例文帳に追加

第２のプローブ４０の先端は、第１のプローブ３０の先端よりも、回路基板２４から離れている。 - 特許庁

To provide a probe tip evaluation method for scan type probe microscope capable of evaluating the degradation of sharpness of the probe tip with a simple procedure, when the tip of the probe under use is worn.例文帳に追加

使用中の探針の先端が摩耗したとき探針先端の太さの劣化を簡易な手順で評価できる走査型プローブ顕微鏡の探針先端評価方法を提供する。 - 特許庁

When the probe 4 is to be formed, a probe protection projection 5 whose tip area is larger than that of the tip in the probe 4 is also formed.例文帳に追加

プローブ４を形成する際に、プローブ４の先端の面積よりも先端の面積の大きいプローブ防護突起物５も形成する。 - 特許庁

REMOVING MEMBER FOR FOREIGN MATTER STUCK TO PROBE TIP, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, METHOD FOR CLEANING FOREIGN MATTER STUCK TO PROBE TIP, PROBE AND PROBING DEVICE例文帳に追加

プローブ先端付着異物の除去部材とその製造方法、プローブ先端付着異物のクリーニング方法、プローブおよびプロービング装置 - 特許庁

METHOD OF JOINTING NANOTUBE TO SPM PROBE TIP END PART例文帳に追加

ＳＰＭ探針尖端部へのナノチューブの接合方法 - 特許庁

To facilitate positional adjustment of the needle tip of a contact probe.例文帳に追加

コンタクトプローブの針先の位置調整を容易にする。 - 特許庁

ALIGNMENT METHOD, TIP POSITION DETECTING DEVICE AND PROBE APPARATUS例文帳に追加

アライメント方法、針先位置検出装置及びプローブ装置 - 特許庁

To restrain vibration in the whole of a contact type probe caused by vibration of the probe, in the probe wherein a probe tip of the contact type probe is oscillated with a high-frequency wave to reduce frictional force between the probe tip and a measured face.例文帳に追加

接触式プローブのプローブ先端を高周波振動させて、プローブ先端と被測定面間の摩擦力を低減するものにおいて、プローブの振動による接触式プローブ全体の振動を抑止すること。 - 特許庁

To guide a probe highly accurately, and to narrow a pitch of tip arrangement of each probe, in a probe unit.例文帳に追加

プローブユニットにおいて、プローブを高精度に案内し、各プローブの先端配置の狭ピッチ化を可能とすることである。 - 特許庁

The tip of the needle front domain of each probe is positioned at the tip parts of the slits.例文帳に追加

各プローブの針前部領域の先端はスリットの先端部に位置されている。 - 特許庁

A dispensing tip is attached to the tip of a reagent dispensing probe, the reagent is sucked, then the tip is installed in a reagent heating mechanism heating both the probe and dispensing tip, to heat the reagent.例文帳に追加

試薬分注プローブ先端に分注チップを取付け、試薬吸引後、分注チップごと加温可能な試薬加温機構へ設置して試薬加温を実施する。 - 特許庁

To enable orientation of a tip of a probe element without changing the position of a probe card.例文帳に追加

プローブ要素の先端の配向を，プローブカードの一を変更する事なく可能にする。 - 特許庁

To facilitate and simplify the assembly of a probe device including a fine adjustment process of a probe tip.例文帳に追加

プローブ装置の組立を針先の微調整工程を含めて容易かつ簡単にする。 - 特許庁

A nozzle 34 for blowing air to the tip portion of the probe 12A is provided in a vicinity of the tip portion of the probe 12A.例文帳に追加

プローブ１２Ａの先端に対してエアーを噴射するノズル３４がプローブ１２Ａの先端の近傍に配置される。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING TIP POSITION OF PROBE NEEDLE例文帳に追加

プローブ針の針先位置の検出方法及び検出装置 - 特許庁

A tip edge part of the probe is formed to have roundness.例文帳に追加

上記プローブの先端縁部には丸みが設けられている。 - 特許庁

A magnetic field sensor includes magnetic fine particles in a sharpened tip of a probe by immersing the tip of the probe or the overall probe in a magnetic fluid.例文帳に追加

磁性流体に先鋭化された探針先端または探針全体を浸漬することにより、探針先端に磁気微粒子を備える磁場センサを特徴とする。 - 特許庁

To provide a probe-cleaning film and a probe-cleaning member that is superior in cleaning performance for a probe tip, less likely to have the probe tip worn out, after repeated cleanings and capable of keeping a prolonged service life of a probe.例文帳に追加

プローブ先端のクリーニング性能に優れると共に、クリーニングを繰り返してもプローブの先端が磨耗され難く、プローブの寿命を長い間保つことができるプローブクリーニングフィルム及びプローブクリーニング部材を提供する。 - 特許庁

OPTICAL FIBER TIP WORKING METHOD AND OPTICAL FIBER PROBE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

光ファイバ先端加工方法と光ファイバプローブ製造方法 - 特許庁

The probe 12 includes a cantilever and a silver tip at its head end.例文帳に追加

前記プローブ１２はカンチレバーとその先端の銀チップから成る。 - 特許庁

EDDY CURRENT PROBE WITH FOIL SENSOR MOUNTED ON FLEXIBLE TIP OF PROBE AND ITS USAGE例文帳に追加

プローブの可撓性先端に装着された箔センサを持つ渦電流プローブとその使用方法 - 特許庁

The tip end of the coaxial cable 148 becomes the probe tip 151 and near the tip end, pressure sensors 142, 143 are provided.例文帳に追加

同軸ケーブル１４８の先端がプローブ・チップ１５１となり、先端近傍に圧力センサ１４２、１４３が設けられる。 - 特許庁

A CSP probe is constituted, comprising a CSP probe measuring part 120, a CSP probe control part 130 and a device tip position controller 150 installed with a device tip position measuring system, realizing a measuring method for device tip position.例文帳に追加

CSPプローバ測定部120、CSPプローバ制御部130、及びデバイスチップ位置測定方法を実現するデバイスチップ位置測定システムを内装させたデバイスチップ位置制御装置150を具えて、CSPプローバを構築する。 - 特許庁

This probe used for the continuity test includes a probe main body, and a needle tip member attached onto the probe main body by bonding or welding.例文帳に追加

通電試験用プローブは、プローブ本体と、プローブ本体に接着又は溶接により取り付けられた針先部材とを含む。 - 特許庁

Also, a wedge- shaped tip part 3 is formed at the tip side of the probe card pin via a tapered part 2.例文帳に追加

また、プローブカードピンの先端側はテーパ部２を介して楔形状の先端部３を形成した。 - 特許庁

To continuously perform measurements without having to remove foreign matter from a probe tip part nor replace a cantilever even if foreign matter has adhered to a probe tip in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡において、プローブ尖端へ異物が付着しても、異物をプローブ尖端部から除去してカンチレバー交換をすることなく測定を継続可能とすること。 - 特許庁

The tip parts of the probe elements are arranged at least in a line for every group of probe elements, and each distributing wire stretches to the inside of a corresponding probe region from the tip part of a corresponding probe element.例文帳に追加

プローブ要素の先端部はプローブ要素群毎に少なくとも一列に配列されており、各配線は対応するプローブ要素の先端部から対応するプローブ領域の内側へ伸びている。 - 特許庁

In this probe for inspecting the semiconductor device, the probe has a hardness difference between a tip part and a barrel part, and is formed to make a hardness in the probe tip part higher than that of in a probe root part.例文帳に追加

半導体デバイスを検査するプローブであって、該プローブは先端部と胴体部に硬度差を有し、且つ、プローブ元部よりプローブ先端部の方が、より硬度が高くなるように作られたプローブ。 - 特許庁

For example, a tip part of a probe is made a plate shape and sharp.例文帳に追加

例えば、プローブの先端部を板状でかつ尖ったものとする。 - 特許庁

PROBE TIP GENERATING METHOD FOR NANOSTRUCTURE AND ITS GENERATING DEVICE例文帳に追加

ナノ構造物の探針先端生成方法及びその生成装置 - 特許庁

To prevent a dispersion in the height position of a needle tip of a probe.例文帳に追加

プローブの針先の高さ位置のばらつきを防止することにある。 - 特許庁