「random testing」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

RANDOM-NUMBER GENERATING CIRCUIT, NONCONTACT IC CARD AND READER/WRITER HAVING SAME RANDOM-NUMBER GENERATING CIRCUIT INSIDE, AND METHOD FOR TESTING DEVICE HAVING SAME RANDOM-NUMBER GENERATING CIRCUIT INSIDE例文帳に追加

乱数生成回路、当該乱数生成回路を内蔵する非接触ＩＣカード及びリーダ／ライタ、並びに、当該乱数生成回路を内蔵する装置のテスト方法 - 特許庁

By selecting the band at random, a more accurate predicted value is obtained and a testing speed can be accelerated.例文帳に追加

バンドをランダムに選択することで、より正確な予想値を得るとともに、テスト速度を速めることができる。 - 特許庁

An IC (100) is equipped with a compact nonvolatile "ID" memory (110), such as a ferroelectric random access memory (FeRAM), which stores information on the manufacturing, testing, and performance of an IC.例文帳に追加

ＩＣの製造、試験及び性能に関する情報を記憶するＦｅＲＡＭ等の小型の不揮発性「ＩＤ」メモリ（１１０）を備えた集積回路（１００）。 - 特許庁

These random interference images can electronically be processed so as to provide video animation of stress effect onto the testing object 15.例文帳に追加

この無作為の干渉像は電子的に処理して試験物１５における応力効果のビデオ動画を提供し得るように電子的に処理することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device for selectively executing a fast random cycle writing operation and a boundary scan testing operation without increasing a circuit area.例文帳に追加

回路面積を大きくすることなく、高速なランダムサイクルのライト動作とバウンダリスキャンテスト動作とを選択的に実行する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A test device 10 for testing an information processor using test data generated at random and test commands includes a program generating means which generates a test procedure made by mixing at random the test commands selected at random from the plurality of test commands and command patterns constituted by combining the plurality of test commands and creates a test program for testing the test procedure and the test data.例文帳に追加

ランダムに生成した試験データ及び試験命令を用いて情報処理装置の試験を行う試験装置１０であって、複数の試験命令からランダムに選択した試験命令と、試験命令を複数組み合わせて構成した命令列パタンとをランダムに混在させた試験手順を生成し、試験手順と試験データとから試験を行うための試験プログラムを生成するプログラム生成手段を備える。 - 特許庁

To provide a method of testing the operational margin of an information storage device having marked random variations, and an information storage device having the function of self-diagnosing the operational margin.例文帳に追加

ランダムばらつきが大きい情報記憶装置について動作余裕をテストする方法、及び動作余裕を自己診断する機能を有する情報記憶装置を提供する。 - 特許庁

Since a plurality of smart card chips respond to stimulus at random times in some cases, the system is well adapted for testing of such the plurality of smart card chips.例文帳に追加

複数のスマートカードチップがランダムな時間に刺激に対して応答する場合があるので、そのシステムはそのような複数のスマートカードチップを検査するのに適応する。 - 特許庁

To provide particular performance data that are not generally obtained by a large-scale integrated testing method by evaluating the performance characteristic of each memory cell in particular about a random access memory cell.例文帳に追加

ランダム・アクセス・メモリ・セルに関し、特に、個々のメモリ・セルの性能特性を評価し、それによって、一般に大規模統合テスト方法では得られない特定の性能データを与える。 - 特許庁

To enhance test quality when test data for a scan-based testing method consist of random numbers and to statically specify and extract portions that degrade the test quality, without using simulations.例文帳に追加

スキャンベースのテスト法においてテストデータが乱数であるときのテスト品質の向上を図り、また、シミュレータを使わずに静的にテスト品質を低下させる箇所を特定、抽出すること。 - 特許庁

To provide a microcompression testing machine capable of sequentially and automatically performing a compression test with respect to the granular sample scattered on a lower pressure plate at random and reducing the load of an operator.例文帳に追加

下部圧盤上にランダムにばら撒かれた粒状試料に対し、逐次自動的に圧縮試験行うことができ、オペレータの負担を軽減することのできる微小圧縮試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a new synchronizing method and apparatus whereby, when the pseudo-random-pattern generating circuits having the mark ratio of 1/4, 1/8, or the like are synchronized with each other, their synchronization takes a short time independently of the period of a testing pattern.例文帳に追加

マーク率１/４又は１/８のような擬似ランダムパターン発生回路間の同期をとるに際して、試験パターンの周期に関わらずに、短い時間で同期をとる新規な同期方法及び同期装置を提供する。 - 特許庁

This method is used for testing a plurality of devices such as HDDs by inspecting whether the HDDs are mounted in response to random requests, and by sequentially allocating one test thread to each mounted HDD.例文帳に追加

ランダムな要求に応答してＨＤＤが装着されたかを検査し，それぞれの装着ＨＤＤに対して一つのテストスレッドを順次に割り当てることによって，ＨＤＤのような複数のデバイスをテストする方法が提供される。 - 特許庁

The system and method include an impedance adjustment circuit 4 incorporated into the output circuit 3 of a first LSI 1, and a test pattern generating circuit 5 for transmitting signals for testing random patterns via the circuit 4 to a second LSI 2.例文帳に追加

第１のＬＳＩ１の出力回路３内に組み込まれたインピーダンス調整回路４と、インピーダンス調整回路４を介してランダムパターンのテスト用信号を第２のＬＳＩ２に対して送出するテストパターン発生回路５を備える。 - 特許庁

To provide a built-in self test (BIST) network using a hierarchy of a universal BIST scheduler (UBS) for scheduling and coordinating testing of elements such as regular structure BIST (RSB) elements and random logic BIST (RLB) elements.例文帳に追加

規則構造組込み自己テスト（ＢＩＳＴ）（ＲＳＢ）要素およびランダム・ロジックＢＩＳＴ（ＲＬＢ）要素などの要素のテストをスケジューリングし、調整するためのユニバーサルＢＩＳＴスケジューラ（ＵＢＳ）の階層を使用したＢＩＳＴネットワークを提供すること。 - 特許庁

In testing an LSI, the ROM 1 is accessed in order of addresses generated from an address generating part 2 provided with a random number table for generating randomly addresses of the entire storage areas of the ROM 1 to read the data stored in the ROM 1.例文帳に追加

ＬＳＩのテスト時に、ＲＯＭ１の全記憶領域のアドレスを乱数的に発生させるための乱数テーブルを備えたアドレス発生部２から発生したアドレス順にＲＯＭ１にアクセスし、ＲＯＭ１に記憶されているデータを読み出す。 - 特許庁

To provide a test method not causing a security hole for a random number generating circuit in the case of testing/verifying the circuit with a constant initial value in a specific mode where the circuit using an initial value has not a constant value at application of power and after reset for the encryption and authentication processing.例文帳に追加

暗号、認証処理を行うため、電源投入やリセット後の初期値が一定でない値を使った乱数発生の回路において、特別なモードを設けて、初期値を一定にして回路のテスト/検証を行う際に、セキュリティホールにならないようなテスト方法を実現する。 - 特許庁

To provide a method for testing toxic substances, through the utilizing of the chemotaxis or the random movements of cells, which is capable of accurately and easily detecting the movements of the cells based on their own forces through the use of a small amount of a cell sample, in detecting the toxicity of the substances is detected.例文帳に追加

本発明は、細胞の走化性又はランダムムーブメントを利用する毒性物質の試験方法に関わり、物質の毒性を検出するに当たり、少量の細胞試料を用いて、細胞の自力に基づく動きを正確にしかも容易に検出しうる方法を提供することを目的とする。 - 特許庁