「reflection microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

LOW-ENERGY REFLECTION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

低エネルギー反射電子顕微鏡 - 特許庁

TOTAL REFLECTION ILLUMINATOR FOR MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡の全反射照明装置 - 特許庁

TOTAL FOCUS REFLECTION TYPE OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

全焦点反射型光学顕微鏡 - 特許庁

BEAM SEPARATOR AND REFLECTION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

ビームセパレータ及び反射電子顕微鏡 - 特許庁

BEAM SEPARATOR AND REFLECTION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

ビームセパレータおよび反射電子顕微鏡 - 特許庁

COVER GLASS FOR TOTAL REFLECTION ILLUMINATING FLUORESCENCE MICROSCOPE例文帳に追加

全反射照明蛍光顕微鏡用カバーガラス - 特許庁

TOTAL REFLECTION FLUORESCENT MICROSCOPE HAVING WHITE LIGHT SOURCE例文帳に追加

白色光源を有する全反射蛍光顕微鏡 - 特許庁

REFLECTION ELECTRON DETECTION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡等の反射電子検出装置 - 特許庁

TOTAL REFLECTION BIOCHIP FOR FLUORESCENCE MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND TOTAL REFLECTION BIOCHIP ASSEMBLY FOR THE FLUORESCENCE MICROSCOPE例文帳に追加

蛍光顕微鏡用全反射バイオチップ及びその製法、並びに蛍光顕微鏡用全反射バイオチップアセンブリ - 特許庁

TOTAL REFLECTION TYPE FLUORESCENCE MICROSCOPE AND ILLUMINATION OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

全反射型蛍光顕微鏡および照明光学系 - 特許庁

MICROSCOPE CAPABLE OF EPIFLUORESCENT AND REFLECTION CONTRAST OBSERVATION AND METHOD FOR USING SAME MICROSCOPE例文帳に追加

落射蛍光及びリフレクションコントラスト観察可能な顕微鏡及びその顕微鏡の使用方法 - 特許庁

TOTAL INTERNAL REFLECTION MICROSCOPE APPARATUS AND METHOD FOR ANALYZING FLUORESCENT SAMPLE例文帳に追加

全反射顕微鏡装置、及び蛍光試料分析方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR REFLECTION ELECTRON DETECTOR FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用半導体反射電子検出器 - 特許庁

REFLECTION TYPE NEAR-FIELD LIGHT DETECTION OPTICAL SYSTEM AND REFLECTION TYPE NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

反射型近接場光検出光学系及び反射型近接場光学顕微鏡 - 特許庁

To provide a microscope device which can achieve the miniaturization thereof, and which is usable while switching between a confocal microscope and a total reflection microscope.例文帳に追加

装置の小型化を図った、共焦点顕微鏡と全反射顕微鏡とを切り換えて使用可能な顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope used for total reflection fluorescent microscopy(TIREM).例文帳に追加

全反射蛍光検鏡(TIRFM)に使用するための顕微鏡を提供する。 - 特許庁

REFLECTION IMAGE FORMING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECT INSPECTING DEVICE USING IT例文帳に追加

反射結像型電子顕微鏡、及びそれを用いた欠陥検査装置 - 特許庁

To provide a total reflection fluorescence microscope having a total reflection lighting source, the microscope which is small-sized and inexpensive in terms of costs, and also, improved in operability.例文帳に追加

小型で価格的にも安価にでき、さらに操作性に優れた全反射照明光源を有する全反射蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING ILLUMINATION REFLECTION MODE IN SCANNING NEAR-FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

走査型近接場顕微鏡におけるイルミネーション反射モードの測定方法 - 特許庁

REFLECTION IMAGE FORMING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE USING IT例文帳に追加

反射結像型電子顕微鏡及びそれを用いたパターン欠陥検査装置 - 特許庁

A plurality of first reflection surfaces (17,17a) and a plurality of second reflection surfaces (16,16a) respectively facing the first reflection surfaces and also arranged in an optical path of the microscope are arranged in between the microscope and the minute flow field.例文帳に追加

複数の第１反射面(17,17a)と、第１反射面の各々に対面し且つ顕微鏡の光路に配置された複数の第２反射面(16,16a)とが顕微鏡と微小流動場との間に配置される。 - 特許庁

The total reflection microscope is equipped with an inverted microscope, a total reflection illumination optical system for total reflection illumination, the stage cover constituted of a fixed cover 124 and an attachable/detachable cover 125, and an auxiliary illumination part.例文帳に追加

全反射顕微鏡は、倒立顕微鏡と、全反射照明のための全反射照明光学系と、固定カバー１２４と着脱カバー１２５からなるステージカバーと、補助照明部とを備えている。 - 特許庁

To provide a total focus reflection type optical microscope capable of focusing on all the surface at the time of observing a super thin film sample on a substrate through a reflection type microscope.例文帳に追加

基板上の超薄膜試料を反射型顕微鏡で観察する際に、全面に焦点が合うような全焦点反射型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To perform high-sensitivity reflection measurement simply at low cost in a transmission/reflection changeover type infrared microscope.例文帳に追加

透過／反射切替え式の赤外顕微鏡において低廉なコストで簡便に高感度反射測定を行えるようにする。 - 特許庁

IMAGING METHOD OF HIGH TIME RESOLVING POWER, IMAGING DEVICE THEREFOR AND TOTAL REFLECTION TYPE FLUORESCENCE MICROSCOPE例文帳に追加

高時間分解能画像化方法及び装置並びに全反射型蛍光顕微鏡 - 特許庁

To provide a fluorescent microscope which is capable of effectively lessening the reflection of exciting light.例文帳に追加

励起光の反射を効果的に低減することのできる蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

An analysis device calculates deformation and movement of the organic sample 11 from starting time to finishing time of photographing by the reflection electron microscope 4 based on images photographed by the reflection electron microscope 4 and the transmission electron microscope 5.例文帳に追加

解析装置は、反射型電子顕微鏡４及び透過型電子顕微鏡５の撮影した画像に基づいて、反射型電子顕微鏡４の撮影開始時刻から撮影終了時刻までの生体試料１１の変形及び運動を計算する。 - 特許庁

The optical system of the microscope is provided with a reflection mirror which is arranged in the optical system between the objective lens of the microscope and the observation image and changes the direction of an optical path by reflection.例文帳に追加

本発明の顕微鏡の光学系は、顕微鏡における対物レンズと、観察像との間の光学系内に設置され、反射により光路の方向を変更する反射用ミラーを有する。 - 特許庁

To provide a microscope in which vertical illumination method and a total reflection illumination method can be easily switched.例文帳に追加

簡便に落射照明と全反射照明方法とを切り替えることができる顕微鏡を提供する - 特許庁

To provide a total reflection microscope having improved operability in the case of changing an observation condition etc.例文帳に追加

観察条件などの変更の際の操作性を向上させた全反射顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a total reflection fluorescent microscope capable of irradiating a sample always with parallel beams.例文帳に追加

常に平行光で標本を照射することができる全反射蛍光顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a total reflection fluorescence microscope that can efficiently acquire a fluorescent light by eliminating loss of the fluorescent light excited by total reflection illumination to the utmost.例文帳に追加

全反射照明により励起された蛍光のロスを極力無くして、蛍光を効率よく取得可能な全反射蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a total reflection fluorescence microscope by which total reflection fluorescence observation having sufficient brightness and excellent contrast is performed by enhancing the use efficiency of illuminating light.例文帳に追加

照明光の利用効率を高め、十分な明るさで、コントラストのよい全反射蛍光観察を可能にした全反射蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a total reflection illuminator of a microscope with which always good fluorescent observation images can be obtained.例文帳に追加

常に良好な蛍光観察像を確保することができる顕微鏡の全反射照明装置を提供する。 - 特許庁

An illumination part 20 in the video microscope 100 is provided with a substrate 2202, a reflection case 30 and a lens case 32.例文帳に追加

ビデオマイクロスコープ１００の照明部２０は、基板２２０２と、反射ケース３０と、レンズケース３２とを備えている。 - 特許庁

To provide a scanning type particle reflection microscope which can reduce damage to a sample and can obtain a clear image.例文帳に追加

試料へのダメージを低減し、鮮明な像を得ることができる走査型粒子反射顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser microscope which permits selective use of both functions of a scanning type and a total reflection type.例文帳に追加

走査型と全反射型との両方の機能を選択的に使用できるレーザー顕微鏡を提供する。 - 特許庁

At one embodiment, a laser beam is focused on a measuring point on the optical element by the microscope, the microscope gathers the reflection light or the scattered light from the damage of the optical element.例文帳に追加

一実施形態において、顕微鏡は、光学素子内の測定点にレーザビームを集束させ、光学素子の損傷からの反射光または散乱光も収集する。 - 特許庁

In this microscope, a slide glass 2 on which a sample 1 is placed is disposed on a total internal reflection prism 3 through a matching oil 4.例文帳に追加

試料１が載置されたスライドガラス２はマッチングオイル４を介して内部全反射プリズム３の上に配置される。 - 特許庁

To provide an infrared microscope which can be used in the most suitable state with a simple optical system in both a transmission mode and a reflection mode.例文帳に追加

簡単な光学系で、透過・反射両モードとも最適の状態で使用できる赤外顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a low-energy reflection electron microscope, capable of positioning a diffraction image field in a diaphragm position at all times.例文帳に追加

常に回折像面を絞り位置に持って来ることができる低エネルギー反射電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To determine a parameter for easily and surely controlling the operation of a microscope even when a microscope unit to be used for observing samples having respectively different reflection factors has optical dispersion.例文帳に追加

反射率の異なるサンプルの観察に使用する顕微鏡のユニットが光学バラツキを有していても、容易で、確実に、顕微鏡の動作を制御するパラメータを決定できるようにする。 - 特許庁

The microscope includes: a first objective lens; a second objective lens; a reflection mirror; an angle adjusting mechanism; and a shifting mechanism.例文帳に追加

本発明の顕微鏡は、第１対物レンズ、第２対物レンズ、反射用ミラー、角度調整機構、およびシフト機構を備える。 - 特許庁

To provide a microscope device for transmission type bright-field observation which can obtain an image of a non-transmission label together with a microscope image without providing any optical system for reflection lighting.例文帳に追加

反射照明用の光学系を設けなくとも、顕微鏡画像と共に非透過性ラベルの画像を取得することのできる透過型明視野観察用の顕微鏡装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus which attains an epifluorescent observation, a confocal observation and a total reflection fluorescent observation, and suppresses the apparatus from being made large in size and high in cost.例文帳に追加

落射蛍光観察、共焦点観察、全反射蛍光観察が可能で、大型化や高コスト化を抑えた顕微鏡装置。 - 特許庁