「reflection microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

A laser scan microscope image from a reflection light is provided at the same time, or sequentially, with the scanning of the laser beam 3, with two images displayed superimposed.例文帳に追加

また、レーザビーム３の走査と同時に、または相前後して反射光によるレーザ走査顕微鏡像が取得され、２つの像が重ね合わせて表示される。 - 特許庁

To provide a beam separator and a reflection electron microscope that can direct either the primary beam and the secondary beam straight, and bend the other beam by 90°.例文帳に追加

一次ビームと二次ビームの一方のビームを直進させ、他方のビームを９０°曲げることができるビームセパレータおよび反射電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a total fluorescence microscope which can realize stable fluorescent observation by total reflection illumination and can improve operability.例文帳に追加

全反射照明による安定した蛍光観察を実現できるとともに、操作性の向上を図ることができる全反射蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The first lens-barrel upper part 130 has a reflection mirror 140 to deflect the luminous flux from a microscope body to which the lens-barrel base 110 is attached toward a reflection mirror 120 of the lens-barrel base 110 at all times.例文帳に追加

第一の鏡筒上部１３０は、鏡筒基部１１０が取り付けられる顕微鏡本体からの光束を、常時、鏡筒基部１１０の反射ミラー１２０に向けて偏向する反射ミラー１４０を有している。 - 特許庁

To provide a semiconductor reflection electron detector for a scanning electron microscope, capable of achieving compatibly between data analysis and collection efficiency of reflection electrons, and capable of improving performance in 3D measurement.例文帳に追加

データ解析の向上及び反射電子の収集効率の向上を両立させ、且つ、３D計測の性能を改善することができる走査型電子顕微鏡用半導体反射電子検出器を提供する。 - 特許庁

To provide a total reflection fluorescence illuminator, capable of rapidly irradiating only an optional designated area from an acquired image with total reflection fluorescence illuminating light, optionally varying the intensity of irradiated light and added to a microscope.例文帳に追加

取得画像から任意の指定領域にのみ全反射蛍光照明光を速やかに照射可能で、かつ照射光の強度を任意に可変できる顕微鏡に付加される全反射蛍光照明装置を提供する。 - 特許庁

To obtain an immersion system condenser lens for a microscope whose spherical aberration is completely corrected even when NA is ≥1.4 so as to realize total reflection illumination.例文帳に追加

顕微鏡用液浸系コンデンサーレンズであって、全反射照明を可能にするために、ＮＡが１．４以上であっても十分に球面収差が補正されるようにする。 - 特許庁

A reflection electron microscope 4 irradiates incident beams 15 on the surface of bio cells 12, and photographs continuous images as a two-dimensional intensity distribution of their reflected and scattered beams 21.例文帳に追加

反射型電子顕微鏡４は、バイオセル１２の表面に入射線１５を照射し、その反射散乱線２１の二次元強度分布である連続画像を撮影する。 - 特許庁

A nondestructive process for an evaluation of the subsurface damage of the optical element comprises to measure a reflection light intensity by focusing a microscope onto a point of the optical element.例文帳に追加

光学素子の表面下の損傷を評価するための非破壊的なプロセスは、光学素子内の点に顕微鏡の焦点を合わせ、反射光の強度を測定する。 - 特許庁

To provide an imaging method capable of observing one fluorescent coloring matter molecule with high time resolving power, an imaging device therefor and a total reflection type fluorescence microscope using the imaging device.例文帳に追加

蛍光色素分子1個の観察を高時間分解能で可能にする画像化方法及び装置、並びに、それを用いた全反射型蛍光顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

In the transparent conductive base material, where the base material, a reflection prevention film, and the transparent conductive film are laminated in this order, the reflection prevention film is made of aluminum-doped zinc oxide, and the average surface roughness (Ra) of the reflection prevention film by an atomic force microscope is 1.0 nm or smaller.例文帳に追加

基材、反射防止膜及び透明導電膜が、この順で積層されてなる透明導電性基材であって、前記反射防止膜がアルミドープ酸化亜鉛からなり、かつ原子間力顕微鏡による前記反射防止膜の平均面粗さ（Ｒａ）が１．０ｎｍ以下であることを特徴とする透明導電性基材。 - 特許庁

The total reflection fluorescence microscope makes the change over of vertical illumination and total reflection illumination possible by changing the incident angle of the illumination light to be radiated to a sample through an objective lens 7 from a laser beam source, in which the incident angle of the illumination light from the objective lens 7 on the sample is regulated to a range making the total reflection illumination obtainable.例文帳に追加

レーザ光源から対物レンズ７を介して試料に照射される照明光の入射角を変化させ落射照明と全反射照明の切換えを可能にした全反射蛍光顕微鏡であって、照明光の対物レンズ７から試料への入射角を全反射照明が得られる範囲に規制する。 - 特許庁

A observation device 1A includes: partial reflection mirrors 2, 3 arranged coaxially; and an optical microscope 19 for detecting light beams emitted from object points on a hologram surface 21a and a photodetector surface 22a through the partial reflection mirrors 2, 3.例文帳に追加

観察装置１Ａは、同軸上に配置された部分反射ミラー２，３と、部分反射ミラー２，３を経由して、ホログラム面２１ａおよび光検出器面２２ａ上の物点から発せられた光線を検出する光学顕微鏡１９とを備える。 - 特許庁

To provide a method of measuring the height of a sample that is not affected by the reflection factor of the sample by reducing the traveling count of a Z stage without reducing the travel amount per one time of the Z stage in a confocal scanning type microscope, and to provide the confocal microscope, a record medium with the height measurement program of the conical microscope recorded thereon, and the program.例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡のＺステージの１回当りの移動量を小さくすることなくＺステージの移動回数を少なくし、試料の反射率の影響を受けない試料の高さ測定方法及び共焦点顕微鏡及び共焦点顕微鏡の高さ測定プログラムを記録した記録媒体およびそのプログラムを提供する。 - 特許庁

An observation optical system 30 of the surgical microscope 1 guides the reflected light of first reflection light on a patient's eye E to an eye lens 36 via an objective lens 31 and a variable magnification lens 32.例文帳に追加

手術用顕微鏡１の観察光学系３０は、患者眼Ｅによる第１照明光の反射光を対物レンズ３１や変倍レンズ３２を介して接眼レンズ３６に導く。 - 特許庁

To provide a total reflection biochip for a fluorescence microscope mass-producible at low cost, reusable and allowing various sample arrangement means to be applied thereto.例文帳に追加

低コストで大量生産することができ、再利用が可能であり、さらには種々の標本配設手段を適用することができる蛍光顕微鏡用全反射バイオチップを提供する。 - 特許庁

In a Koehler type illumination system in which an object is illuminated by introducing laser light to the peripheral part of an objective lens of a microscope, the rotational zone total reflection illumination mechanism is characterized in that the direction of illumination with the laser light is rotatable around the axis of the objective lens 56 of the microscope.例文帳に追加

顕微鏡対物レンズの辺縁部にレーザ光を導入し物体を照明するケーラー式照明系において、前記レーザ光による照明方向を顕微鏡対物レンズ５６の軸心を中心に回転可能としたことを特徴とする回転式輪帯全反射照明機構。 - 特許庁

In the microscope apparatus, a standard sample for generating reflection light uniformly in a scope of actual visual field of an imaging means is arranged at a position of the sample 13 in an optical system to insert and pull it into/out of the optical system (not shown).例文帳に追加

撮像手段の実視野範囲内において一様に反射光を生じる標準標本が、標本１３の位置において、光学系中に挿脱可能に配置されている（図示せず）。 - 特許庁

To provide an automatic focusing microscope capable of detecting a focus at the time of differential interference observation and realizing accurate detection by eliminating influence by the reflection of an internal optical system to the utmost.例文帳に追加

微分干渉観察時に焦点検出が可能であり、かつ内部光学系の反射による影響を極力無くし、高精度な検出が可能な自動焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

When total reflection illumination is selected in the microscope, a piece 65 is rotated by a motor 66, and ceiling plates 62 and 63 are raised to be nearly parallel to the stage 12 so that laser light with which the sample 53 is irradiated from below may not leak to the outside through the objective lens of the microscope.例文帳に追加

顕微鏡において全反射照明が選択されている場合、顕微鏡の対物レンズを介して下方から標本５３に照射されるレーザ光が外部に漏れるのを防ぐように、モータ６６により駒６５が回転し、天井板６２および天井板６３がステージ１２とほぼ平行となる位置まで持ち上げられる。 - 特許庁

A light projection tube unit 101 is releasably attached to a microscope body and allows a vertical illumination module 103, a total reflection illumination module 104, and a spot illumination module 105 to be attached to and detached from an incident section 101A.例文帳に追加

投光管ユニット１０１は、顕微鏡の本体に着脱自在であり、落射照明モジュール１０３、全反射照明モジュール１０４およびスポット照明モジュール１０５を入射部１０１Ａに着脱することができる。 - 特許庁

To provide a cover glass for a total reflection illuminating fluorescence microscope, through which the pulling capacity of an ameba in ameboid movement and the motion of motor protein in a cell can be visualized simultaneously.例文帳に追加

本発明は、アメーバ運動におけるアメーバの牽引力と細胞内におけるモーターたん白質の動きを同時に視認することを可能にした全反射照明蛍光顕微鏡用のカバーガラスを提供するものである。 - 特許庁

The scanning part of the scanning type confocal microscope is provided with a 1st reflection mirror 611 deflecting luminous flux along one direction, a 2nd reflection mirror 613 deflecting the luminous flux deflected by the mirror 611 along the above mentioned direction and a driving part rotating the mirrors 611 and 613 by synchronizing the directions thereof.例文帳に追加

走査型共焦点顕微鏡の走査部は、光束を一方向に沿って偏向する第１の反射鏡６１１と、第１の反射鏡６１１が偏向した光束を前記方向に沿ってさらに偏向する第２の反射鏡６１３と、第１および第２の反射鏡の向きを同期させて回転させる駆動部とを備える。 - 特許庁

To prevent measuring error and obtaining sufficient measuring precision when the reflection coefficient of a measuring object is low and a pattern having a higher reflection coefficient exists in the vicinity of the object, in an apparatus and a method for measuring the dimension of a pattern by obtaining an image with an optical microscope.例文帳に追加

光学式顕微鏡により画像を取得してパターンの寸法を測定する装置及び方法において、測定対象のパターンの反射率が低く、近傍に反射率のより高いパターンが存在する場合にも、測定ミスを防止でき充分な測定精度を得ることができるものを提供する。 - 特許庁

A distribution of a reflection electron or secondary electron intensity is processed from a control system of a scanning microscope and an adjacent terminal, and a shape of an area expressing the vicinity of an edge is digitalized to calculate a tapering tendency based on a result thereof.例文帳に追加

走査型顕微鏡の制御系ないし隣接する端末から反射電子ないしは２次電子強度の分布を処理し、エッジ近傍を表わす領域の形状を数値化しそれらの結果からテーパ傾向を算出する。 - 特許庁

Distribution of reflection electron or secondary electron intensity is processed from a control system of a scan type microscope and an adjacent terminal, and the shape of an area representing the edge vicinity is digitized to calculate a taper gradient from the result.例文帳に追加

走査型顕微鏡の制御系ないし隣接する端末から反射電子ないしは２次電子強度の分布を処理し、エッジ近傍を表わす領域の形状を数値化しそれらの結果からテーパ傾向を算出する。 - 特許庁

A mask holder 12 is finely adjusted and positioned by using a microscope mounted on a sample stand 11 in a state that a reflection mirror 14 is removed and a long wave-length cut filter 13b is pulled out of a filter holder 13.例文帳に追加

反射鏡１４を取り除いた状態で、フィルタホルダ１３から長波長カットフィルタ１３ｂを引き出した状態にした後、サンプル台１１に設けられた顕微鏡１３を使ってマスクホルダ１２を微調整して位置決めを行う。 - 特許庁

To improve an observation tube for an optical instrument, especially, a microscope so that various functions can be realized time-continuously without unnecessarily attenuating light passing through the observation tube and without unnecessarily increasing structural height, thereby the reflection of the light to different units and (or) the reflection of the light into respective optical paths can be realized.例文帳に追加

光学器械、特に顕微鏡の視検筒において、視検筒を通過する光が不必要に減衰することなく、また構造的な高さを不必要に増大させることなく、時間的に連続して種々の機能を実現でき、たとえば異なるユニットへの光の反射および（または）それぞれの光路内への光の反射を実現できるように改良する。 - 特許庁

Reflectance of the particle in the minute flow field is reflected by the first and the second reflection surfaces and makes incidence on the optical path of the microscope and a plurality of images for the same particle obtained from different viewpoints are imaged on a single imaging surface of the imaging apparatus.例文帳に追加

微小流動場の粒子の反射光が第１及び第２反射面によって反射して顕微鏡内の光路に入射し、異なる視点から得られた同一粒子の複数の像が撮像装置の単一の結像面に結像する。 - 特許庁

To form right and left images having uniform brightness on an image pickup surface by correcting the respective deviation of the illuminance of right and left subject images caused by that the object light of the pair of photographing optical systems of a stereoscopic microscope is reflected by each reflection member.例文帳に追加

立体顕微鏡の一対の撮影光学系の被写体光が各反射部材に反射されることにより生じる左右の被写体像の夫々の照度の偏りを補正し、均等な明るさを有する左右の像を撮像面に形成する。 - 特許庁

The subject method for observing the biological blood flow is to observe the image of the blood vessel of a micro-circulation system underneath the mucous membrane of an oral cavity by a PC or a TV monitor via the mucous membrane of the oral cavity by magnifying and displaying by a simple reflection illumination type optical microscope system having a magnification of more than 100.例文帳に追加

口腔の粘膜を介して、その下にある微小循環系の血管の像を１００倍以上の倍率を持つ反射照明方式の単純な光学顕微鏡システムで拡大表示してＰＣ或いはＴＶモニターで見る。 - 特許庁

This detection device of the leakage current spot of a semiconductor chip is characterized by being equipped with an application means 13 for applying a material melting by heat and changing the reflection state of light on at least one side of the semiconductor chip 11, an optical microscope 12 for observing the material applied surface of the semiconductor chip 11, and an image processing device 14 electrically connected to the optical microscope 12.例文帳に追加

加熱により溶けて光の反射状態を変化させる物質を、半導体チップ１１の少なくとも片面に塗る塗布手段１３と、前記半導体チップ１１の物質塗布面を観察する光学顕微鏡１２と、この光学顕微鏡１２に電気的に接続された画像処理装置１４とを具備することを特徴とする半導体チップの漏洩電流箇所の検出装置。 - 特許庁

To provide an anti-reflection film for optical components of an optical glass system, permitting to improve an S/N ratio in observation treating very feeble light such as microscope observation, by preventing collapse of surface particles due to eradication of magnesium fluoride and suppressing micro-scattering.例文帳に追加

光学ガラス系の光学部品の反射防止膜に使用されるフッ化マグネシウムの払拭による表面粒子の崩壊を阻止して微小散乱を抑えることにより、顕微鏡観察等、極微弱光を扱う観察においてＳ／Ｎ比の向上を図る - 特許庁

In an atomic force microscope wherein an optical lever system is adopted, a light emitting element 8 is provided on the back side of a cantilever 5, and a light receiving device 9 is directly irradiated with light from the light emitting element 8, to thereby suppress decline of light receiving sensitivity of the light receiving device 9 caused by reflection of unintended light.例文帳に追加

光てこ方式を採用した原子間力顕微鏡において、発光素子８をカンチレバー５の背面側に設け、発光素子８から直接受光装置９に光を照射することで、意図しない光の反射による受光装置９の受光感度の低下を抑制する。 - 特許庁

As for the cover glass used for the total reflection illuminating fluorescence microscope, a substantially transparent thin film whose Young's modulus is 0.5 to 2KPa and whose refractive index is 1.4 to 1.5 exists on one surface of a glass substrate, and the thin film is formed such that many particulates are dispersed and fixed on its surface which is not in contact with the glass substrate.例文帳に追加

ガラス基板の片面上にヤング率０．５〜２ＫＰａで、屈折率１．４〜１．５の実質的に透明な薄膜が存在し、該薄膜はガラス基板と接していない表面に多数の微粒子が分散固定された全反射照明蛍光顕微鏡に用いるカバーガラスである。 - 特許庁

An inverted microscope 1 includes a reflection member 15 for reflecting at least part of an infinite luminous flux condensed by an objective optical system 3, an imaging optical system 16 for condensing the infinite luminous flux reflected by the reflection member 15 to form an image of a subject A, and an eyepiece optical system 20 for enlarging the image of the subject A formed by the imaging optical system 16.例文帳に追加

対物光学系３により集光された無限遠光束の少なくとも一部を反射する反射部材１５と、該反射部材１５により反射された無限遠光束を集光して被写体Ａの像を結像させる結像光学系１６と、該結像光学系１６により結像される被写体Ａの像を拡大する接眼光学系２０とを備える倒立顕微鏡１を提供する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which is capable of observing a sample with multicolors by using a Nipkow disk system confocal scanner and a spectroscopic unit and does not require image processing with respect to an inversion image because a transmission image and a reflection image of dichroic mirror can be corrected in the same direction in the spectroscopic optical unit.例文帳に追加

ニポウディスク式共焦点スキャナと分光光学ユニットを用いて試料を多色で観察することができると共に、分光光学ユニット内でダイクロイックミラーの透過像と反射像を同じ向きに補正することにより、反転像に対する画像処理を必要としない共焦点顕微鏡を実現すること目的とする。 - 特許庁

The confocal microscope has the spectroscopic unit which spectroscopes an optical image outputted from the Nipkow disk system confocal scanner and performs multicolor observation of the sample, wherein the spectroscopic unit is provided with a plurality of spectroscopic means having the different reflection and transmission characteristics according to the spectroscopy for the optical image and an inversion means that inverts the optical image reflected by the spectroscopic means.例文帳に追加

ニポウディスク方式共焦点スキャナから出力される光学像を分光する分光光学ユニットを有し、試料の多色観察を行う共焦点顕微鏡において、 前記分光光学ユニットは、前記光学像を分光する反射透過特性の異なる複数の分光手段と、 これら分光手段で反射された光学像を反転させる反転手段と、を備えた構成とする。 - 特許庁

This microscope includes a first white light source 302 for directing light along a first optical path, a ring opening 324 which is arranged within the first optical path, has an annular slit 326 and shields all of the light exclusive of the annular light corresponding to this annular slit and an objective lens 314 for achieving the total reflection fluorescent microscopy of a specimen by directing the annular light to the specimen 345.例文帳に追加

第１の光路に沿って光を向けるための第１の白色光源３０２と、第１の光路内に配置されていて、環状スリット３２６を有し該環状スリットに対応する環状の光を除く総べての光を遮光するリング開口３２４と、環状の光を標本３４５に向けて該標本の全反射蛍光検鏡が達成されるようにするための対物レンズ３１４とを含んでいる。 - 特許庁

The laser scanning microscope is equipped with an illumination beam path for illumination of a sample, and a detection beam path for wavelength-dependent sensing of the light from the sample, whereby filters for selection of the detection wavelengths are provided, characterized in that at least one graduated filter spatially variable in regard to the threshold wavelength between the transmission and reflection is provided in several partial beam paths for the selection of the wavelengths.例文帳に追加

この走査型レーザ顕微鏡は、試料を照らすための照明用の放射線経路と、試料光を波長に応じて感知するための検出用の放射線経路とを備え、検出波長を選択するためのフィルタが設けられており、複数の部分放射線経路へと波長を選択するために、透過と反射との間の境界波長が場所によって変わる少なくとも１つのグラデーション・フィルタが設けられている。 - 特許庁