「setting test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TEST MODE SETTING CIRCUIT OF MCU例文帳に追加

ＭＣＵのテストモ—ド設定回路 - 特許庁

METHOD FOR SETTING OF TIRE TEST CONDITION例文帳に追加

タイヤ試験条件設定方法 - 特許庁

I will test this setting. 例文帳に追加

私はこの設定を試してみます。 - Weblio Email例文集

TEST MODE SETTING METHOD AND TEST CIRCUIT AND MICROCONTROLLER例文帳に追加

テストモード設定方法とテスト回路およびマイクロコントローラ - 特許庁

MEMORY DEVICE AND TEST DATA SETTING METHOD例文帳に追加

メモリ装置およびテストデータ設定方法 - 特許庁

ENVIRONMENTAL TEST UNIT AND METHOD FOR SETTING TEST PATTERN例文帳に追加

環境試験装置及びこれの試験パターンの設定方法 - 特許庁

TEST PIECE SETTING DEVICE FOR VACUUM PROCESSING APPARATUS例文帳に追加

真空処理装置用の試料載置装置 - 特許庁

DEVICE FOR SETTING MEASUREMENT INFORMATION OF TEST SYSTEM例文帳に追加

試験システムの測定情報設定装置 - 特許庁

TEST POINT SETTING SYSTEM FOR SUBSTRATE EMBEDDED COMPONENT例文帳に追加

基板埋め込み部品のテストポイント設定方式 - 特許庁

TEST PIECE GRIPPING APPARATUS FOR MATERIAL TESTER, AND TOOL FOR SETTING TEST PIECE例文帳に追加

材料試験機用試験片把持装置および試験片セット用治具 - 特許庁

CLEARANCE SETTING METHOD IN DRAG TEST DEVICE例文帳に追加

引摺り試験装置におけるクリアランス設定方法 - 特許庁

Test printing setting is stored (step S24).例文帳に追加

そして、テスト印刷設定を保存する（ステップＳ２４）。 - 特許庁

SUBSTRATE TESTER AND TEST CONDITION SETTING METHOD例文帳に追加

基板検査装置および検査条件設定方法 - 特許庁

IC TESTER SYSTEM AND TEST-PROGRAM SETTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

ＩＣテスタシステム及びそのテストプログラム設定方法 - 特許庁

METHOD FOR SETTING TEST SEQUENCE AND PARAMETER OF TEST SIGNAL, AND SIGNAL GENERATION DEVICE例文帳に追加

試験信号の試験シーケンス及びパラメータ設定方法及び信号生成装置 - 特許庁

METHOD FOR SETTING FREQUENCY SPAN, AND TEST MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

周波数スパン設定方法及び試験測定装置 - 特許庁

IC TEST APPARATUS WITH WRONG SETTING DETECTION FUNCTION例文帳に追加

誤設定検出機能を具備したＩＣ試験装置 - 特許庁

DEVICE TEST SYSTEM, SETTING STATE DISPLAY DEVICE AND SETTING STATE DISPLAY METHOD例文帳に追加

デバイス試験システム、設定状態表示装置および設定状態表示方法 - 特許庁

TEST METHOD, OPERATING CONDITION SETTING METHOD AND DEVICE CAPABLE OF SETTING OPERATING CONDITION例文帳に追加

試験方法、動作条件設定方法及び動作条件設定可能な装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SETTING TEST ENVIRONMENT例文帳に追加

試験環境設定装置及び試験環境設定方法 - 特許庁

TEMPERATURE TEST DEVICE AND TEMPERATURE SETTING METHOD FOR ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

電子機器の温度試験装置および温度設定方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM, OUTPUT LEVEL SETTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

試験システム、出力レベル設定装置及び試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY, AND METHOD FOR SETTING TEST MODE FOR THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置及びそのテストモード設定方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST MODE SETTING CIRCUIT THEREFOR例文帳に追加

半導体集積回路およびそのテストモード設定回路 - 特許庁

An individual user data insertion circuit 1 receives a test mode selection signal and a test data input signal from a test mode setting/test data generating circuit 19 to discriminate whether or not the setting of the test mode is valid.例文帳に追加

個別ユーザーデータ挿入回路１は、テストモード設定／テストデータ生成回路１９からのテストモード選択信号とテストデータ入力信号を受け取り、テストモード設定が有効か否かを判断する。 - 特許庁

The test support apparatus 300 has a test telegraphic message setting unit 302.例文帳に追加

実施の一形態である試験支援装置３００は試験電文設定部３０２を備える。 - 特許庁

PLANE DISPLAY PANEL EQUIPPED WITH SETTING-IN TYPE MEASUREMENT TEST CIRCUIT例文帳に追加

嵌入式測定試験回路を備えた平面表示パネル - 特許庁

SETTING METHOD OF CORRECTION VALUE, AND TEST PATTERN FOR DENSITY CORRECTION例文帳に追加

補正値の設定方法、及び濃度補正用のテストパターン - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR LEAKAGE TEST OF SPOUT AND SPOUT SETTING MACHINE例文帳に追加

注出口のリークテスト方法、装置及び注出口セット機 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TEST MODE SETTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置およびテストモード設定方法 - 特許庁

A logo test printing implementation setting part 36b sets various settings related to logo test printing and makes set contents stored in a logo test printing setting storage part 37b.例文帳に追加

ロゴテスト印刷実行設定部３６ｂは、ロゴテスト印刷に関る諸設定を設定し、設定内容を、ロゴテスト印刷設定記憶部３７ｂに記憶させる。 - 特許庁

The semiconductor device 1 includes a test mode setting circuit 21 which is connected onto an output route of the mask circuit 11 and performs setting of a test to be performed in the test mode, according to the test mode setting signal being input.例文帳に追加

半導体装置１は、マスク回路１１の出力経路上に接続され、テストモード設定信号が入力されることに応じてテストモードで行われる試験の設定を行うテストモード設定回路２１を備える。 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, TEST CONDITION SETTING METHOD THEREFOR, AND PROGRAM例文帳に追加

集積回路及びそのテスト条件設定方法並びにプログラム - 特許庁

DEVICE TEST SYSTEM, SERVER, DEVICE TESTER, AND PATTERN DATA SETTING METHOD例文帳に追加

デバイス試験システム、サーバ、デバイステスタ、およびパターンデータ設定方法 - 特許庁

METHOD FOR SETTING INITIAL TEST FORCE IN PRESS TYPE HARDNESS TESTER例文帳に追加

押し込み式硬さ試験機における初試験力設定方法 - 特許庁

VARIABLE DELAY CIRCUIT, ITS SETTING METHOD AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加

可変遅延回路、その設定方法及び半導体試験装置 - 特許庁

of sports, the action of setting up a competition to test speed performance 例文帳に追加

スポーツにおいて,スピードを競う形で競技を設定すること - EDR日英対訳辞書

A flash memory 101 is set to a test mode by setting a test pad TP to a L level.例文帳に追加

テストパッドＴＰをＬレベルに設定することによってフラッシュメモリ１０１はテストモードにセットされる。 - 特許庁

When the test mode setting is valid, the set test data are outputted as individual user data.例文帳に追加

テストモード設定が有効の場合、設定されたテストデータを個別ユーザーデータとして出力する。 - 特許庁

To facilitate a test while preventing enlargement of a test mode setting terminal and complication of a test circuit in the test circuit for various kinds of system LSI.例文帳に追加

各種システムＬＳＩのテスト回路において、テストモード設定用端子の増大及びテスト回路の複雑化を抑えつつ、テストの容易化を実現する。 - 特許庁

A test condition setting means 13 sets test condition data D16 on the basis of the test region data D14 and the test light intensity data D15.例文帳に追加

検査条件設定手段１３は、検査領域データＤ１４及び検査光強度データＤ１５に基づき検査条件データＤ１６を設定する。 - 特許庁

A test zone specification part 14 of a test environment setting device 1 specifies a test zone including a cluster area in the range of a moving device for test 2 and an adjacent cluster area.例文帳に追加

試験環境設定装置１の試験ゾーン特定部１４が、試験用移動機２の在圏クラスタエリアと隣接クラスタエリアとを含む試験ゾーンを特定する。 - 特許庁

The transmission apparatus includes a test pattern signal generating means 4 for generating a test pattern signal, a test pattern signal detecting means 5 for detecting a test pattern signal generated by the test pattern signal generating means, and a line test setting means 6 for performing line test setting inside the apparatus by recognizing the reception of the test pattern signal.例文帳に追加

試験パタン信号を生成する試験パタン信号生成手段４と、試験パタン信号生成手段が生成した試験パタン信号を検出する試験パタン信号検出手段５と、試験パタン信号の受信を認識して装置内部の回線試験設定を行う回線試験設定手段６とを備える伝送装置。 - 特許庁

To provide a nobel and improved device test system, setting state display device and setting state display method capable of improving the test efficiency by a user who is grasping the test terminal number and the name of the terminal and simultaneously grasping the attribute information of the test terminal visually and sensuously.例文帳に追加

ユーザが、テスト端子番号やテスト端子名と同時に、そのテスト端子の属性情報を視覚的かつ感覚的に把握し、作業効率を向上させることが可能となる。 - 特許庁

The test condition is selected to change setting for carrying out the test without file-updating the test condition file, and a selected result is stored together with the test condition, in the test condition file.例文帳に追加

試験条件ファイルのファイル更新をすることなく設定変更し試験を行える試験条件を選択し、その選択結果を試験条件とともに試験条件ファイルに格納する。 - 特許庁