「setting test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

An SRAM 1017 for storing test setting data for each externally designated test item and a BIST (built-in self-test) controller 1005 for reading out the test setting data stored in the SRAM and for executing the BIST, in parallel with the operation of storing the test setting data in the SRAM, are provided.例文帳に追加

外部から指定されるテスト項目毎のテスト設定データを蓄積するＳＲＡＭ１０１７と、前記テスト設定データをＳＲＡＭに蓄積する動作と平行して、ＳＲＡＭに蓄積された前記テスト設定データを読み出してＢＩＳＴを実行するＢＩＳＴコントローラ１００５とを備える。 - 特許庁

The first test pad is set in the test pad arranging layer in the searched unoccupied area by the first test pad setting means 13.例文帳に追加

そして、第１テストパッド設定手段１３により、探索した空き領域におけるテストパッド配置層に第１テストパッドが設定される。 - 特許庁

The test operation information storage means stores test operation information including setting position information at least in test operation execution.例文帳に追加

試運転情報記憶手段には、少なくとも試運転実行時において設置位置情報を含む試運転情報が記憶される。 - 特許庁

The system test specification generation device includes software 1, a specification analysis part 2, a system test specification database 3, a system test specification setting part 4, and a system test specification output part 5.例文帳に追加

システムテスト仕様生成装置は、ソフトウェア１と、仕様分析部２と、システムテスト仕様データベース３と、システムテスト仕様設定部４と、システムテスト仕様出力部５で構成される。 - 特許庁

When receiving the test acknowledgement frame, the test control section A12 applies loopback setting to a test function section A13, which transmits a test frame for checking the error frame.例文帳に追加

試験制御部Ａ１２は試験応答フレームを受信すると、試験機能部Ａ１３にループバック設定を行って試験フレームの送信にてエラーフレームのチェックを行う。 - 特許庁

To provide a test program checking apparatus capable of identifying a test item with which a test is performed in an incorrect setting state and prompting modification (configuration) of the test program.例文帳に追加

正しくない設定状態でテストを行っているテスト項目を割り出し、テストプログラムの修正（確認）を促すことができるテストプログラムチェック装置を実現する。 - 特許庁

The test mode indicates thermal throttling control using the thermal control setting.例文帳に追加

試験モードは、温度制御設定を用いたサーマル・スロットリング制御を示す。 - 特許庁

The control apparatus 2 includes: test condition setting means for setting the test condition; execution instructing means for instructing the semiconductor testing apparatus 1 to execute the test; and a capture section 20 serving as test data collecting means for collecting first data obtained by the test.例文帳に追加

制御装置２は、試験条件を設定する試験条件設定手段と試験の実行指示を行う実行指示手段と試験によって得られた第１のデータを収集する試験データ収集手段としてのキャプチャ部２０とを備える。 - 特許庁

When receiving a test printing command, a test printing control part 38 determines test printing contents to be implemented from the command and the set contents stored in the logo setting storage part 37a and the logo test printing setting storage part 37b.例文帳に追加

テスト印刷制御部３８は、テスト印刷指令を受けて、指令と、ロゴ設定記憶部３７ａとロゴテスト印刷設定記憶部３７ｂとに記憶された設定内容とから、実行するテスト印刷内容を決定する。 - 特許庁

It is possible to test the entire memory space by setting not so as to finish a test even if an output of the terminal 12 does not coincide with a test pattern due to the setting of the LSI tester.例文帳に追加

ＬＳＩテスタの設定で端子１２の出力がテストパターンと一致しなくてもテストを終了しないように設定することで、全メモリ空間をテストすることができる。 - 特許庁

The test circuit 13 judges setting of a test mode based on the detection signal, and supplies a prescribed test signal to the internal circuit 14.例文帳に追加

テスト回路１３は、検出信号ＣＯによりテストモードが設定された旨を判断して、所定のテスト信号を内部回路１４に供給する。 - 特許庁

To provide a computer program, a test support method and a test support device capable of supporting setting of an expectation value used for a program test.例文帳に追加

プログラムテストに使用される期待値の設定を支援することができるコンピュータプログラム、テスト支援方法及びテスト支援装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which setting to a test mode can be surely confirmed without increasing test terminals.例文帳に追加

テスト端子の増加をすることなく、テストモードへの設定を確実に確認できる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide an alarm with test function convenient for users, capable of arbitrarily setting the time of a periodic test.例文帳に追加

定期試験の時刻を任意に設定でき、ユーザの使い勝手が良い、試験機能付きの警報器を提供する。 - 特許庁

Then, upon confirming the completion of test with the value of the test status register, the CPU reads the test results from the test circuits for determination, and determines whether to continuously perform the test according to setting of the test general register for continuity of the test.例文帳に追加

この後、ＣＰＵは、テスト状態レジスタの値によりテストが行われたことを確認すると、テスト回路よりテスト結果を読み出して判定を行い、テスト汎用レジスタの設定に従って、続けてテストを行うかどうかなどを判定しテストを続けることが可能とされる。 - 特許庁

To shorten a test time for setting a threshold voltage of a reference memory cell.例文帳に追加

リファレンスメモリセルの閾値電圧を設定するための試験時間を短縮する。 - 特許庁

TESTING DEVICE, QUALITY DETERMINATION REFERENCE SETTING DEVICE, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

試験装置、良否判定基準設定装置、試験方法及び試験プログラム - 特許庁

METHOD FOR SETTING CONDITION AND CONDUCTING TEST BY SPECIAL MILLICODE INSTRUCTION例文帳に追加

特殊ミリコ—ド命令によって条件の設定およびテストを行う方法 - 特許庁

The image display device is provided with a memory part 19 for holding a test pattern image and superimposes the device setting screen signal on a test pattern image signal and performs video processing of the device setting screen signal.例文帳に追加

テストパターン画像を保持するメモリ部１９を備え、機器設定画面信号をテストパターン画像信号に重畳し映像処理される。 - 特許庁

To provide a memory device in which a test data setting time can be shortened by write-in with one word unit and the degree of freedom of test data setting is high.例文帳に追加

１ワード単位での書込によりテストデータ設定時間の短縮が可能で、且つ、テストデータ設定の自由度が高いメモリ装置を提供する。 - 特許庁

In generating the source code, a setting method configuring a program for setting the test data of input items is generated as well as the source code, and before the test, the setting method is called, and test data are set, and during the test, the setting method is called, and the display screen is displayed with the test data set in the input items.例文帳に追加

このテスト方法において、ソースコード生成時に、ソースコードと共に入力項目のテストデータを設定するためのプログラムとなる設定メソッドを生成し、テスト実行前に、設定メソッドを呼び出してテストデータを設定し、テスト実行時に、設定メソッドを呼び出して入力項目内にテストデータが設定された状態で表示画面を表示する。 - 特許庁

To reduce the number of setting times of test conditions by storing the frequently set test conditions in a test condition memory section in consideration of the fact that a plurality of same test conditions are set in the past in the setting of test conditions.例文帳に追加

本発明の課題は、試験条件の設定において、過去に複数の同一の試験条件が設定された経緯によって、設定の多い試験条件を試験条件記憶部に保持させることにより、試験条件の設定回数を低減させることである。 - 特許庁

For each folder to which a sorting setting of form data has been made, a propriety setting for registration of the test form data is made.例文帳に追加

帳票データの仕分け設定を行ったフォルダごとに、テスト帳票データの登録の可否設定を行う。 - 特許庁

To solve the problem that the timing setting of a test scenario is difficult due to any effect on an operation timing due to test relevant processing, and that a test time becomes long in performing the test of a programmable display unit.例文帳に追加

プログラマブル表示器の試験を実施する際に、試験関連処理による動作タイミングへの影響によって試験シナリオのタイミング設定が難しいと共に、試験時間が長くなる。 - 特許庁

The setting means divides the read test image into a plurality of test image blocks, and sets density correction values corresponding to the respective test image blocks on the basis of density values of the respective test image blocks.例文帳に追加

前記設定手段は、読取テスト画像を複数テスト画像ブロックに分割し、各テスト画像ブロックの濃度値に基づき、各テスト画像ブロックに対応する濃度補正値を設定する。 - 特許庁

To set a test mode with a minimum circuit scale without providing an external input terminal exclusively used for test mode setting, even if test modes are increased.例文帳に追加

テストモードが増加しても、テストモード設定に専用の外部入力端子を設けることなく、最小の回路規模でテストモードの設定を可能にする。 - 特許庁

In test mode setting, with all channels selected by a selector 12, a test signal is inputted from a test pin 13 to the selector 12 on its subsequent state side.例文帳に追加

テストモード設定時に、セレクタ１２において全チャンネルを選択状態とし、テストピン１３からセレクタ１２の後段側にテスト信号を入力する。 - 特許庁

OPERATION TEST METHOD AND APPARATUS AND STANDBY PRESSURE SETTING METHOD FOR GOVERNOR例文帳に追加

整圧器の稼働試験方法および装置、ならびに待機用圧力設定方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM TYPE PATTERN INSPECTION DEVICE, AND METHOD FOR SETTING INSPECTION CONDITION OF TEST PIECE例文帳に追加

電子線式パターン検査装置、及び、試料の検査条件の設定方法 - 特許庁

To prevent an operation mode setting circuit from being erroneously shifted to a test mode just after power supply.例文帳に追加

電源投入直後に誤ってテストモードへ移行することを防止する。 - 特許庁

TEST MODE SETTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテストモード設定方法及び半導体集積回路 - 特許庁

Along with setting to a desired test mode by the use of a limited number of terminals, confirmation of the set test mode can be performed.例文帳に追加

限定された端子を用いて所望のテストモードへ設定するとともに、設定されたテストモードを確認できる。 - 特許庁

To shorten testing time of semiconductor devices, while preventing mistakes in setting and altering test conditions, within a test program.例文帳に追加

試験プログラム内での試験条件の設定ミスや変更ミスを防止しながら、半導体デバイスの試験時間を短縮する。 - 特許庁

A test problem generating section generates the cloze test problem by setting a blank area to the cloze word of the slide information.例文帳に追加

テスト問題作成部は、スライド情報の穴埋め単語に空白領域を設定して穴埋めテスト問題を作成する。 - 特許庁

To provide a test point setting system for setting test points necessary for embedded components without omission when there is any embedded component at the time of designing a multi-layer printed board.例文帳に追加

多層プリント基板の設計に際し、埋め込み部品を持つ場合、埋め込み部品に必要なテストポイントを漏れなく設定することのできるテストポイント設定方式を提供する。 - 特許庁

To provide an efficient method etc. for setting up a test instrument of an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路の効率的な試験装置をセットアップする方法等を提供する。 - 特許庁

A test terminal 101 includes an evaluation condition setting part 205 and an evaluation part 207.例文帳に追加

テスト端末１０１は、評価条件設定部２０５、評価部２０７を備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of setting plural test modes arbitrarily.例文帳に追加

任意に複数のテストモードを設定することが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

The characteristic test device and characteristic test method are provided for testing optical characteristics or electrical characteristics by collectively setting a plurality of optical modules detachably mounted on test boards, to a prescribed test temperature.例文帳に追加

検査ボードに着脱自在に取り付けた複数の光モジュールを一括して所定の検査温度に設定して光学的特性或いは電気的特性を検査する特性検査装置と特性検査方法。 - 特許庁

This semiconductor testing device for setting test condition data in a hardware and performing a test includes: a storage part for storing the test condition data; a selection output part for selecting the test condition data stored in the storage part, and outputting the data in each item; and a setting part for setting the test condition data output from the selection output part in the hardware.例文帳に追加

テスト条件データをハードウェアに設定して試験を行う半導体試験装置において、テスト条件データが記憶される記憶部と、記憶部に記憶されたテスト条件データを選択して項目毎に出力する選択出力部と、選択出力部から出力されたテスト条件データをハードウェアに設定する設定部とを備える。 - 特許庁

The contents of the test are set to the unit of the disk objective for the test, and the setting of access timing with respect to the plural disks is also allowed.例文帳に追加

テスト内容は、テスト対象のディスク単位に設定し、また、複数のディスクに対するアクセスタイミングも設定可能である。 - 特許庁

A parameter setting processing and a test program reading processing in the catalog test are simultaneously executed in parallel.例文帳に追加

カタログ機能用いた試験（カタログ試験）におけるパラメータ設定処理と試験プログラム読み込み処理が並行して同時に実行される。 - 特許庁

The power transmitter 200 includes: a power transmission part 250, a power transmission controller 230, and a test register 216 as a test information setting part.例文帳に追加

送電装置２００は、送電部２５０と、送電制御装置２３０と、テスト情報設定部としてのテストレジスタ２１６と、を含む。 - 特許庁

When pressing down a test button of the alarm during the setting mode, the alarm outputs alarm signals by automatically performing an alarm test.例文帳に追加

設定モード中に警報器のテストボタンが押下されると、警報器は自動的に警報テストを行って警報出力する。 - 特許庁

To provide a vibration test control device capable of performing a random vibration test setting the kurtosis of a random signal as a parameter.例文帳に追加

ランダム信号の尖度をパラメータとするランダム振動試験を行うことのできる振動試験制御装置を提供するにある。 - 特許庁