「setting test」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

A test sheet embedding the setting information of the device beforehand as an invisible image, is set to an original reading unit 3, reading the original image of the test sheet is performed, and a control unit 2 temporarily stores the original image in a memory unit 4.例文帳に追加

あらかじめ装置の設定情報を不可視画像として埋め込んだテストシートを原稿読取部３にセットし、そのテストシートの原稿画像の読み取りを行い、制御部２は記憶部４に原稿画像を一時記憶する。 - 特許庁

After an electrical inspection is performed by electrically connecting a probe 20 to a conductive film 17 which is the test pad for the setting of the internal circuit or the evaluation of the characteristics, an antireflection coating 19 is formed on the conductive film 17 which is the test pad.例文帳に追加

内部回路の設定又は特性評価のためのテストパッドとなる導電膜１７にプローブ２０を電気的に接続して電気検査を行なった後、該テストパッドとなる導電膜１７の上に反射防止膜１９を形成する。 - 特許庁

This device is a semiconductor memory which has a test mode decoder 12 decoding plural input signals setting an operation mode for a test dedicated and generating a signal specifying an operation mode for a specific test dedicated and which can set operation modes for various tests, further the device has a pad 13 for testing a probe making the test mode decoder effective at the time of applying voltage.例文帳に追加

テスト専用の動作モードを設定する複数の入力信号をデコードし、特定のテスト専用の動作モードを指定する信号を発生するテストモードデコーダ１２を有して、各種テスト専用の動作モードを設定できるようにした半導体記憶装置であって、電圧が印加された時にテストモードデコーダ１２を有効にするプローブテスト用パッド１３を有している。 - 特許庁

An information processor 1 connected to a communication device 4 with Bluetooth communication units 27 and 45 interposed therebetween transmits a condition setting request of a test and a test request to the communication device 4, determines whether characteristics of the communication device 4 are acceptable or not on the basis of received test results, and displays determination results on a display unit 21.例文帳に追加

ブルートゥースの通信部２７，４５を介して通信機器４に接続された情報処理装置１が、通信機器４に試験の条件設定要求及び試験要求を送信し、受信した試験結果に基づいて通信機器４の特性の良否を判定して判定結果を表示部２１に表示する。 - 特許庁

During the test, an amount of biased phase shift for compensating the difference in propagation distance between respective test signals from an antenna section 27 of the test signal occurrence section 2 to each antenna element constituting the phased-array antenna is transmitted from a bias movement amount setting section 4 to the phased-array antenna, thereby simulating a far field environment.例文帳に追加

また、試験中は、試験信号発生部２のアンテナ部２７からフェーズドアレイアンテナを構成する各アンテナ素子までの、それぞれの試験信号の伝搬距離の差異を補償するためのバイアス移相量を、バイアス移動量設定部４からフェーズドアレイアンテナに送出し、ファーフィールド環境を模擬する。 - 特許庁

The test mode setting circuit of MCU has a clock pin 10-3 to which a clock signal is inputted, a reset pin 10-2 to which a reset signal is inputted, and a test signal generation circuit 50 counting the reset signals and generating a test signal in accordance with the logical value of the clock signal and the reset signal.例文帳に追加

クロック信号が入力されるクロックピン１０−３と、リセット信号が入力されるリセットピン１０−２と、前記クロック信号とリセット信号との論理値に従って、リセット信号をカウントしてテスト信号を発生するテスト信号発生回路５０と、を備えたＭＣＵのテストモード設定回路を構成する。 - 特許庁

When an address signal bit (A0-A19) and/or a data bit (DQ0-DQ15) are accessed in the prescribed pattern state by the prescribed number of times continuously, setting of a test mode can be performed, a test command indicating test operation contents are indicated by using an address signal bit and/or a data bit.例文帳に追加

アドレス信号ビット（Ａ０−Ａ１９）および／またはデータビット（ＤＱ０−ＤＱ１５）が所定のパターンの状態で所定回数連続的にアクセスされると、テストモードの設定が可能となり、テスト動作内容を指定するテストコマンドをアドレス信号ビットおよび／またはデータビットを用いてテスト内容を指定する。 - 特許庁

A test signal is inputted to the first external circuit 6 at the setting of a test mode, a corresponding output signal is inputted into the detection circuit 29 from the first external circuit 6, and the output information from the detection circuit 29 is set to the test register 119 and read by the host 2 via the host I/F 27.例文帳に追加

テストモードの設定時に、第１の外付け回路６にテスト信号が入力され、対応する出力信号が第１の外付け回路６から検出回路２９に入力され、検出回路２９からの出力情報がテストレジスタ１１９に設定されて、ホストＩ／Ｆ２７を介してホスト２により読み出される。 - 特許庁

TWO-DIMENSIONAL CODE READER, TWO-DIMENSIONAL CODE READER SETTING METHOD, TWO-DIMENSIONAL CODE READER READING TEST METHOD, TWO-DIMENSIONAL CODE READER ILLUMINATION DISTRIBUTION CONFIRMATION METHOD, TWO-DIMENSIONAL CODE READER SETTING PROGRAM AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

二次元コード読取装置、二次元コード読取装置設定方法、二次元コード読取装置読取テスト方法、二次元コード読取装置照度分布確認方法、二次元コード読取装置設定プログラムおよびコンピュータ読取可能な記録媒体 - 特許庁

At detection of obstacle, the obstacle generation situation of an electric switching machine is evaluated by setting set of measurement data D_1-D_N-3 of past is set to a reference group G_r and setting set of recent measurement data D_N-2-D_N to a test group G_t.例文帳に追加

障害検出時には、過去の測定データＤ_1，…，Ｄ_N-3の集合を基準グループＧ_rに設定し、最近の測定データＤ_N-2，…，Ｄ_Nの集合を試験グループＧ_tに設定して、電気転てつ機の障害発生状況が評価される。 - 特許庁

When an operator designates test print by operating an operating section 5, a CPU 1 reads in the set values of various setting items stored in an EEPROM 13 and generates bit map image data corresponding to the set values of various setting items.例文帳に追加

オペレータが操作部５を操作してテスト印字を指示すると、ＣＰＵ１は、ＥＥＰＲＯＭ１３に記憶されている各種設定項目の設定値を読み込み、各種設定項目の設定値に対応するビットマップイメージデータを生成する。 - 特許庁

The system comprises DUT simulation means which simulates the operation of the device under test, first switching means which pulls up a pin of the DUT simulation means, second switching means which pulls down the pin of the DUT simulation means, and setting determination means which turns on or off the first and second switching means on the basis of the setting of an active load of the test program and the setting of a comparator.例文帳に追加

本装置は、被試験対象の動作をシミュレーションするＤＵＴシミュレーション手段と、このＤＵＴシミュレーション手段のピンをプルアップする第１のスイッチ手段と、ＤＵＴシミュレーション手段のピンをプルダウンする第２のスイッチ手段と、テストプログラムのアクティブロードの設定及びコンパレータの設定に基づいて、第１、第２のスイッチ手段のオンまたはオフを行う設定判定手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To solve the problem that a user should manually set a test connection destination for performing a connection test or should determine a fixed destination in the case of setting, much labor is required for the user in the former case and the latter case can not be implemented in a connection destination limited service.例文帳に追加

接続試験を行うための試験接続先を設定するためにはユーザが手動で設定するか、固定先を定めておくかしなければならず、前者ではユーザの手間がかかり、後者では接続先限定サービスでは実施できない。 - 特許庁

A semiconductor testing system has: a semiconductor testing apparatus 1 for executing a predetermined test on a semiconductor device 11a; and a control apparatus 2 for setting testing conditions and instructing the semiconductor testing apparatus 1 to execute the test.例文帳に追加

半導体試験システムは、半導体デバイス１１ａに対して所定の試験を行う半導体試験装置１と、試験条件を設定するとともにこの試験の実行を半導体試験装置１に対して指示する制御装置２とを有する。 - 特許庁

To provide a high-speed signal transmission line optimal for a transmitter, capable of selecting and setting a single or a plurality of pre-emphasis characteristics, and to provide a semiconductor test device using the same.例文帳に追加

単一または複数のプリエンファシス特性を選択設定できる送信機に最適な高速信号伝送線路とそれを用いた半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

The potential difference set by the potential difference setting means is applied to the first and the second terminals via the inter-terminal connection control means to test the circuit to be tested.例文帳に追加

電位差設定手段によって設定された電位差を、端子間接続制御手段を介して、第１及び第２の端子に印加して、被試験回路を試験する。 - 特許庁

To configure a printer which realizes the setting of correction data by unerringly detecting a primary color exposure area formed by three primary color exposure in a test chart.例文帳に追加

テストチャートにおいて３原色の露光によって形成された原色露光領域を確実に検出して補正データの設定を実現するプリント装置を構成する。 - 特許庁

A sloped road load generated in the subjected vehicle is included to be set as the initial value of the integrator, in place of the initial setting part, in a sloped road start test or the like.例文帳に追加

初期値設定部に代えて、坂路発進試験等に際して、供試車両に発生する坂路分負荷を積分器の初期値として設定することを含む。 - 特許庁

When an external address signal Ext.A<7> is set to a H level at the time of setting a mode register in a SDRAM, it becomes in a state in which a test mode can be set.例文帳に追加

ＳＤＲＡＭにおいてモードレジスタセット時に外部アドレス信号Ｅｘｔ．Ａ＜７＞をＨレベルに設定するとアドレス信号によってテストモードを設定できる状態となる。 - 特許庁

In this environmental test device, setting input of the operation condition is performed by displaying successively the set screens in the hierarchical structure by button operation by an operation part 3.例文帳に追加

環境試験装置では、操作部３でのボタン操作により、階層構造における設定画面を順次表示させて、操作条件の設定入力を行う。 - 特許庁

After performing setting change of the neighboring cell list(s), the operation of the wireless base station 103 designated to be added is started and, as necessary, the running test is made using a measuring vehicle.例文帳に追加

隣接セルリストの設定変更の後、増設対象に指定された無線基地局１０３の運用を開始し、必要に応じて測定車による走行試験を行う。 - 特許庁

An ordinary external input terminal 1 is used in common for a test mode setting terminal, and a flip-flop 4 with LOAD/HOLD for controlling LOAD/HOLD operation by a reset signal RST is provided.例文帳に追加

通常外部入力端子１をテストモード設定用端子と共用し、リセット信号ＲＳＴにてLOAD/HOLD動作の制御が行われるLOAD/HOLD付きフリップフロップ４を設ける。 - 特許庁

A level setting circuit supplying a logic level to a pad which is uninspected in an operation test is provided to an inside of a semiconductor chip, and a level detection circuit is provided to an area near an inner circuit.例文帳に追加

半導体チップ内部に、動作試験において未検査となるパッドに論理レベルを供給するレベル設定回路と、内部回路の近傍にレベル検出回路を設ける。 - 特許庁

To provide a network test system capable of rapidly detecting the alteration error of a frame, while keeping a degree of freedom of user setting in the header part and payload part of the frame.例文帳に追加

フレームのヘッダ部分およびペイロード部分におけるユーザ設定の自由度を保ちつつ、高速にフレームの改変エラーを検出するネットワーク試験システムを提供する。 - 特許庁

To perform highly accurate performance test measurement and fault diagnosis by achieving detailed setting of respective equipment in operation check, using an external control device having high versatility.例文帳に追加

汎用性の高い外部制御装置を用いて、運転チェックの際における各機器の詳細な設定を可能とし、精度の高い性能検定測定や故障診断を行う。 - 特許庁

To provide an IC tester capable of impressing a proper off-set voltage without setting the off-set voltage by a test program, and capable of suppressing an overrange.例文帳に追加

オフセット電圧をテストプログラムで設定することなく、適切なオフセット電圧を与えることができ、オーバーレンジを抑制できるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

When setting up the printing device 10 including the calibration machine, the measured value of the coloring density of the test print 100 by the calibration machine is calibrated by using the calibration coefficient.例文帳に追加

そして、校正機を含むプリント装置１０のセットアップの際に、校正係数を用いて校正機によるテストプリント１００の発色濃度の測定値を校正する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a terminal for setting a test mode can be shared with a terminal used at normal operation.例文帳に追加

端子の寄生容量を少なく保ちつつ、テストモード設定のための端子を通常動作時に使用する端子と兼用することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a network test system capable of rapidly detecting the alteration error of a frame, while keeping the degree of freedom of user setting in the header part and payload part of the frame.例文帳に追加

フレームのヘッダ部分およびペイロード部分におけるユーザ設定の自由度を保ちつつ、高速にフレームの改変エラーを検出するネットワーク試験システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage of a serial access system in which high speed write-in can be performed by setting forcedly program data to a data latch circuit at the time of a test.例文帳に追加

テスト時にプログラムデータを強制的にデータラッチ回路にセットすることにより高速書き込みができるシリアルアクセス方式の半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

After setting a layout region 103 of the boundary scan test circuit in an input/output cell 100, the layout of the input/output cell 100 and an inner logic circuit (not shown) is performed.例文帳に追加

入出力セル１００に、バウンダリスキャンテスト回路の配置領域１０３を設定した後、同入出力セル１００や内部論理回路（図示略）のレイアウトを行う。 - 特許庁

To provide a preparation apparatus of test patterns for avoiding a state where instability results to the extent of a setting delay in bidirectional switching delay.例文帳に追加

本発明の課題は、双方向切り替えディレイ時の設定ディレイ分不定となる状態を回避することができるテストパターン作成装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

An expected value generating part 24 generates the expected value data of an identifier corresponding to the test packet data TPKT, by referring to the combination table 22 and the identifier setting register 21.例文帳に追加

期待値生成部２４では、組み合わせテーブル２２と識別子設定レジスタ２１を参照し、試験パケットデータＴＰＫＴに対応する識別子の期待値データを生成する。 - 特許庁

For setting the sorting voltage, the isolation valve after using for the first period W1 is subjected to an accelerated degrading test for the second period W2, and the operating voltage V2 is measured.例文帳に追加

選別電圧を設定するために、第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁に、第２期間Ｗ２の促進劣化試験を行い、この動作電圧Ｖ２を測定する。 - 特許庁

Each subprocessor 21-26 reads its own self-test program from the ROM 34 for the subprocessors and executes it before the setting of the DDR 33 by the main processor 11 is performed.例文帳に追加

各サブプロセッサ２１〜２６は、メインプロセッサ１１によるＤＤＲ３３の設定が行われる前にサブプロセッサ用ＲＯＭ３４から自身のセルフテストプログラムを読み出して実行する。 - 特許庁

By a parameter setting screen which is displayed on an input display 2, an operator selects a disk, to be used, from a rack disk, a disk for a test tube and a disk for a urine cup.例文帳に追加

オペレータが、入出力表示器２に表示されるパラメータ設定画面により、使用ディスクがラックディスクか、試験管用のディスクか、尿カップ用のディスクかを選択する。 - 特許庁

Your rsyncd.motd should contain your IP address and other relevant information about your mirror, such as information about the host providing the Portage mirror and an administrative contact. You can now test your server as outlined in the Setting up your own local rsync mirror chapter above.例文帳に追加

rsyncd.motdには、あなたのIPアドレスやportageミラーを提供している旨、管理者への連絡方法等のあなたのミラーに関係する情報が含まれているでしょう。 - Gentoo Linux

At the time of verifying a high speed operation logic circuit, a high speed test pattern is inputted as the input data 6 for setting register directly from a bypass signal 5 to the selector section 2.例文帳に追加

一方、高速動作論理回路検証時には、レジスタ設定用入力データ（６）としての高速テストパターンをバイパス信号（５）からセレクタ部（２）へ直接に入力する。 - 特許庁

To enable customers to freely examine blood of humans or animals by self-service by setting up an automatic clinical examination place having a noninvasive blood test apparatus.例文帳に追加

非侵襲血液検査装置を設置する自動臨床検査所を開所することにより、お客が人又は動物の血液検査をセルフサービスで自由に行うことを可能にする。 - 特許庁

A call processing test initiating means 108 connects or releases the call, having a call number managed in the setting/ release pointer management table 203, based on the schedule management table 202.例文帳に追加

呼処理試験開始手段１０８は、スケジュール管理テーブル２０２に基づいて設定解放ポインタ管理テーブル２０３が管理する呼番号の呼を接続又は解放する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for treating biochemical substances, in which working efficiency in setting samples is improved and reliability in results of treatment and test is secured.例文帳に追加

試料セット時の作業能率を向上させ、処理や試験の結果の信頼性を確保できる生化学物質処理装置および生化学物質処理方法を提供すること。 - 特許庁

A host PC 8 connected to the signal wire changeover connector 2 has a function for setting connection between the test point 4 and the probe point 2b and informing the signal wire changeover connector 2 of the result.例文帳に追加

信号線切換コネクタ２と接続されるホストＰＣ８は、どのテストポイント４とプローブポイント２ｂを接続するか設定し、信号線切換コネクタ２に通知する機能を備える。 - 特許庁

To provide a materials testing machine capable of always performing an accurate material test without requiring skills, without performing trial and error, or without requiring a long time when setting a control gain, and dispensing with setting of initial speed of a load mechanism at a test starting time, concerning the materials testing machine using a motor as a driving source of the load mechanism.例文帳に追加

モータを負荷機構の駆動源とする材料試験機において、制御ゲインの設定に際して熟練を要したり、試行錯誤を行ったり、あるいは長時間を要することなく、常に正確な材料試験を行うことができ、しかも、試験開始時における負荷機構の初期速度の設定をも不要とした材料試験機を提供する。 - 特許庁

The medium is characterized by arranging a plurality of test areas (TEST1-TESTn) for writing on trial by the optical beam and a plurality of power setting information areas (PREC1-PRECn) which are disposed between the respective test areas to record an optimum power setting parameter and equipment identifying information of a recording device which performs writing on trial.例文帳に追加

光ビームによって試し書きされる複数のテストエリア（ＴＥＳＴ１〜ＴＥＳＴｎ）と、この複数のテストエリアの夫々の間に配置されており、最適パワー設定パラメータと試し書きした記録装置の機器識別情報とを記録する複数のパワー設定情報記録エリア（ＰＲＥＣ１〜ＰＲＥＣｎ）と、を設けたことを特徴とする。 - 特許庁

This medium is arranged with a plurality of test areas (TEST1- TESTn) to which trial write operation is performed by a light beam, and a plurality of power setting information recording areas (PREC1-PRECn), positioned between each of a plurality of these test areas to record an optimal power setting parameter and device identification information for a recording device, to which the trial write operation is performed.例文帳に追加

光ビームによって試し書きされる複数のテストエリア（ＴＥＳＴ１〜ＴＥＳＴｎ）と、この複数のテストエリアの夫々の間に配置されており、最適パワー設定パラメータと試し書きした記録装置の機器識別情報とを記録する複数のパワー設定情報記録エリア（ＰＲＥＣ１〜ＰＲＥＣｎ）と、を設けたことを特徴とする。 - 特許庁