「setting test」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

When a single axis test is to be made, first a host computer 15 performs system setting processing, sets system parameters for setting the system configuration of a controller 11 or 21 corresponding to an axis a A or B to be used to a corresponding controller, and then executes a single-axis test program.例文帳に追加

単軸試験を行うときは、ホストコンピュータ１５において、まず、システム設定処理を行い、使用する軸ＡあるいはＢに対応するコントローラ１１あるいは２１のシステム構成を設定するシステムパラメータを対応するコントローラに設定してから、単軸試験プログラムを実行させる。 - 特許庁

When performing imaging (slot imaging) performed in a state that an irradiation visual field is narrowed down by a collimator, setting of a slot width of a prescribed distance is changed based on a subject thickness of the test subject, so that even setting of a movement velocity of an imaging system is changed based on the subject thickness of the test subject.例文帳に追加

コリメータによって照視野を狭く絞った状態で行われる撮像（スロット撮像）の際に、被検体の体厚に基づいて所定距離であるスロット幅を設定変更することで、被検体の体厚に基づいて撮像系の移動速度をも設定変更することになる。 - 特許庁

A timing setting value calculation part 22 calculates setting values of various timing based on a test program P10 with which at least one of rise-up and fall timings of test signals T1-Tn and quality determination timing of a signal acquired from a semiconductor device 30 is specified.例文帳に追加

タイミング設定値計算部２２は、試験信号Ｔ１〜Ｔｎの立ち上がり、立ち下がりタイミング及び半導体デバイス３０から得られる信号の良否判定のタイミングの少なくとも一方が規定されたテストプログラムＰ１０に基づいて各種タイミングの設定値を算出する。 - 特許庁

A server 100 has a source code file 2, a code clone output file 3, a test result file 4 and a code clone merging file 7, and includes a data setting part 8, a code clone detection/merge processing part 9 and a test result setting part 10 as function blocks implemented by hardware resources in the server 100.例文帳に追加

サーバ100内に、ソースコードファイル２、コードクローン出力ファイル３、テスト結果ファイル４、コードクローンマージファイル７を備え、またサーバ100内のハードウェア資源により実現される、機能ブロックとしての、データ設定処理部８、コードクローン検出・マージ処理部９、テスト結果設定処理部10を備える。 - 特許庁

An optical communication control apparatus 22 of the master causes the slave to transmit test data at predetermined times for each setting of the delay line to determine the presence or absence of an error.例文帳に追加

マスタの光通信制御部２２は、ディレイラインの設定値毎にスレーブからテストデータを所定回数送信させ、エラーの有無を判定する。 - 特許庁

After the reset release, the test mode setting signal TESTMODE[7:0] is fixed, and the normal external input terminal 1 can be used as a normal input terminal.例文帳に追加

リセット解除後は、テストモード設定信号TESTMODE[7:0]は固定され、通常外部入力端子１は通常入力端子として使用できる。 - 特許庁

An adding part 23 adds offset quantity specified in the test program P10 for a set value determined in the timing setting value calculation part 22.例文帳に追加

加算部２３は、タイミング設定値計算部２２で求められた設定値に対してテストプログラムＰ１０に規定されたオフセット量を加算する。 - 特許庁

To provide a circuit pattern testing apparatus which facilitates convenient and rapid creation of a recipe, comparison and display of images, setting of test regions, or other operations.例文帳に追加

レシピの作成、画像の比較表示、検査領域の設定などを使い勝手よく、かつ迅速に行う回路パターンの検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a quality control method of electronic parts capable of setting a load condition for a burn-in, an accelerated test, or the like in a short time.例文帳に追加

バーンインや加速試験のための負荷条件の設定などを短時間で行うことのできる電子部品の品質管理方法を提供する。 - 特許庁

Test data for electric system evaluation and storage part control are performed by setting enable signals, activation signals and mode signals from the outside.例文帳に追加

本発明では記憶制御部と記憶部間の評価を装置完成前におこない、かつ専用のテスタも必要としないことを目的とする。 - 特許庁

To optimize the precision laser power, when performing disk-at-once recording by setting up a test recording area close to the recording position.例文帳に追加

ディスク・アット・ワンスによる記録において、記録場所に近接して試し書き領域を設定し、精度の良い記録レーザーパワーの最適化を行う。 - 特許庁

To make an efficient learning plan by evaluating test results according to the question-setting frequencies and learning efficiency of respective questions.例文帳に追加

試験結果を各問題の出題頻度および学習効率に基づいて評価し、効率的な学習計画を立てることができるようにする。 - 特許庁

This memory test circuit is provided with: signal generating circuits for respectively generating a CS signal, an address signal, a data signal and an R/W signal of a memory to be tested; and a test setting control circuit for generating the control data of these signal generating circuits.例文帳に追加

被テストメモリのＣＳ信号、アドレス信号、データ信号、Ｒ／Ｗ信号を生成する各信号生成回路と、これらの信号生成回路の制御データを発生するテスト設定制御回路を備える。 - 特許庁

To provide a high/low temperature test room air-conditioning method capable of setting the entire test room in a required high/low temperature state in a short time, and resetting a specific high/low temperature state in a short time with high reproducibility.例文帳に追加

試験室内全体を所要の高低温状態に短時間で精度よく設定し、また一定の高低温状態への再設定を短時間で再現性よく行う高低温試験室空調方式を提供する。 - 特許庁

Further, the various settings and execution request of the test print and the setting of the secondary transfer voltage of the specific paper specified by the user based on the result of the test print can be performed on one and the same screen of an operation panel.例文帳に追加

更に、テストプリントの各種設定や実行要求と、テストプリントの結果を基にユーザーが指定した特定紙の２次転写電圧の設定とが、操作パネルの同一画面上にて行うことが可能である。 - 特許庁

To provide a loop back test circuit which has a band sufficient for testing a Bluetooth(R) element and is capable of setting an attenuation quantity suited to a loop back test thereof to set a great amplification gain while suppressing oscillation.例文帳に追加

ブルートゥース素子の試験に十分な帯域を持ち、そのループバック試験に適した減衰量を設定でき、それにより発振を抑えながら大きな増幅利得を設定できるループバック試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image display device capable of easily setting an optimum image quality parameter by superimposing a test pattern whose effect caused by a change in an image quality parameter is visually easily recognizable on an OSD and displaying the test pattern.例文帳に追加

画質パラメータ変更に伴う効果が視覚的に分かり易いテストパターンをＯＳＤに重畳して表示することにより、最適な画質パラメータ設定を容易に行える画像表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit and test method for a random number generation circuit, capable of easily setting an operation time for generating random numbers which never cause collision to the random number generation circuit.例文帳に追加

乱数発生回路に対して衝突が発生しない乱数を発生させるための動作時間の設定を簡単に行うことができる乱数発生回路用テスト回路及び乱数発生回路用テスト方法を提供する。 - 特許庁

The method includes setting a temperature sensor to communicate with a transmitter near the filter element, carrying out an integrity test, monitoring the temperature of gases in a housing during the integrity test, and incorporating measured values of the monitored temperature into the readings in the integrity test.例文帳に追加

本発明の方法には、トランスミッタと通信する温度センサをフィルター要素に近接させて設けること、完全性試験を実施すること、完全性試験中のハウジング内の気体の温度を監視すること、監視した温度の測定値を完全性試験の読み取り値に組み入れること、が含まれる。 - 特許庁

In this way, a plurality scenarios are not written in the same register in substantially the same timing, and consequently, unintended register setting is not set during each verification work and the test designer can design a test without taking register competition with the other test into consideration.例文帳に追加

これにより、複数のシナリオがほぼ同じタイミングで同一のレジスタに書き込まれることがなくなるので、それぞれの検証作業で意図しないレジスタ設定となることを回避することができ、テスト設計者は他のテストとのレジスタ競合を考えることなくテストを設計することができる。 - 特許庁

This device sets a test condition of a signal protection system by a test condition setting means 9 of a display operation part 7 and the set testing condition is input to an instrument status simulation means 11 of a site simulation part 8 to simulate a status of a site instrument 2 based on the test condition.例文帳に追加

表示操作部７の試験条件設定手段９で信号保安システムの試験条件を設定し、その設定された試験条件は現場模擬部８の機器状態模擬手段１１に入力され、ここで、その試験条件に基づいて現場機器２の状態が模擬される。 - 特許庁

The device select signal output circuit includes a mask setting memory in which mask setting data are stored and masks the device select signal so that a device to be tested specified by the mask setting data is not selected as a device to be tested about the function test.例文帳に追加

前記デバイスセレクト信号出力回路は、マスク設定データを格納しているマスク設定メモリを有し、前記マスク設定データで特定された被試験デバイスが、前記機能試験が行われる被試験デバイスとして選択されないように、前記デバイスセレクト信号をマスクする。 - 特許庁

The semiconductor memory element is provided with a DFM register 16 for temporarily storing pin setting information on input/output pins of the element, and a test control circuit 15 for controlling the DFM register 16 so that the pin setting information is stored therein by the setting from the outside and the stored pin setting information is read out from the DFM register 16 by the setting from the outside.例文帳に追加

素子の入出力ピンのピン設定情報を一時記憶するＤＦＭレジスタ１６と、外部からの設定によりこのＤＦＭレジスタ１６へピン設定情報の記憶を実行させ、外部からの設定によりこのＤＦＭレジスタ１６から記憶されているピン設定情報の読出しを実行させるテスト制御回路１５とを設けたことを特徴とする。 - 特許庁

The false signal generating device which has received the setting signal generates a false signal corresponding to the setting signal by a false signal generating means 2B and provides it for the connected control device to perform test operation.例文帳に追加

この設定信号を受信した模擬信号発生装置は、模擬信号発生手段2Bによって設定信号に対応する模擬信号を発生させ、接続されている制御装置に与えて試験動作させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which executes the initial setting of an internal circuit when turning on a power supply and permits, in a test mode, the initial setting of the internal circuit similar to that when turning on the power supply even when a power supply voltage is continuously applied.例文帳に追加

電源投入時に内部回路の初期設定を行うと共に、テストモードにおいて電源電圧が継続して印加されていても電源投入時と同様に内部回路の初期設定を可能とする。 - 特許庁

To provide an analog timer, in which using conveniences are superior and in which on/off of the timer output is switchable at a prescribed position of a time setting knob, when the timer is set at a test mode.例文帳に追加

テストモードに設定された時、時間設定ツマミの所定位置でタイマ出力のオン／オフが切替え可能な使い勝手の良いアナログタイマを提供する。 - 特許庁

Then, when "L" is written in the whole address by setting up a test mode, "L" is written in a normal memory cell, and the redundancy memory cell is not changed and remains in "H".例文帳に追加

次に、試験動作モードを設定して全アドレスに“Ｌ”を書き込むと、今度は正規のメモリセルに“Ｌ”が書き込まれ、冗長メモリセルは“Ｈ”のまま残される。 - 特許庁

The circuit for setting up common voltage to be used for a display panel 113 is provided with a voltage dividing circuit 120, a coupler 109, a switch 111, and a test module 117.例文帳に追加

表示パネル１１３に用いるコモン電圧の設定回路は、分圧回路１２０、結合器１０９、スイッチ１１１及びテストモジュール１１７を備える。 - 特許庁

The proper value of delay control signal obtained by the product test is stored in a delay setting circuit 40 composed of a fuse circuit or PROM.例文帳に追加

製品試験で得られた適正な遅延制御信号の値を、ヒューズ回路またはＰＲＯＭで構成される遅延設定回路４０に記憶させる。 - 特許庁

When the test printing result has no problem and the countermeasures are confirmed by user operation, the apparatus setting is changed in accordance with the confirmed countermeasures.例文帳に追加

テスト印刷結果が良好であり、対処方法を確定するユーザ操作が行われることにより、確定した対処方法に応じた装置設定に変更する。 - 特許庁

During a test period, comparing circuits in the internal potential generating circuits 200.1-200.4 compare a level in accordance with a level setting signal with the comparison reference potential.例文帳に追加

テスト期間中は、内部電位発生回路２００．１〜２００．４内の比較回路は、レベル設定信号に応じたレベルと比較基準電位との比較を行う。 - 特許庁

At the reset time, a signal inputted from the ordinary external input terminal 1 is inputted into the flip-flop 4 with load hold as a test mode setting signal.例文帳に追加

リセット時、通常外部入力端子１から入力された信号は、テストモード設定信号として、ロードホールド付きフリップフロップ４へ入力される。 - 特許庁

To provide a fire resistance test apparatus capable of setting a building component, in such an attitude that it is used in an actual building, thereby evaluating its actual fire resistance.例文帳に追加

建築部材を実際の構築状態の姿勢に設置して実際的な耐火性能を評価することができる耐火試験装置を提供すること。 - 特許庁

To realize an IC tester which can test objects to be tested at high speeds without setting an A/D converter and a digital signal-processing part.例文帳に追加

Ａ／Ｄコンバータやデジタル信号処理部を設けることなく、高速に被試験対象の試験を行うことができるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

Also, the operator views the device information recorded on a printed matter outputted according to the execution of the test printing by the printer, and performs setting confirmation.例文帳に追加

また印刷装置でのテスト印刷の実行により出力された印刷物上に記録された装置情報をオペレータが見て設定確認を行う。 - 特許庁

To provide an Internet facsimile machine capable of making e-mail initialization setting work efficient by making a test transmission operation convenient.例文帳に追加

テスト送信の操作を簡便にすることにより、電子メールの初期設定作業の効率化を図ることのできるインターネットファクシミリ装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor chip test socket for accurately positioning and reasonably contacting a probe and a semiconductor chip by facilitating setting or the like of the probe.例文帳に追加

プローブのセッティング等が容易であり、プローブと半導体チップを正確に位置決めし無理なく接触させることができる半導体チップテストソケットを提供する。 - 特許庁

Under this condition, the test mode setting terminal 3 is started up from 0 to 1, and the higher order 3-bit output from the A/D converter 5 is kept in the resistor circuit 6.例文帳に追加

この状態で、テストモード設定用端子３を”０”から”１”に立ち上げて、Ａ／Ｄコンバータ５の上位３ビットの出力をレジスタ回路６に保持する。 - 特許庁

To provide a simple short circuit plate for withstand voltage test capable of short-circuitting respective terminals of a terminal stand by setting them by almost single action.例文帳に追加

端子台の各接続端子間に殆どワンタッチでセットして、それらの間を短絡することができる簡易な耐電圧試験用短絡板を提供すること。 - 特許庁

To provide a weatherproofness test device resistible to exposure to rainfall, capable of protecting a sample from strong wind such as a typhoon when a sample base is installed indoors, and capable of setting a stable water spray mode because of an upward posture of the sample.例文帳に追加

降雨による暴露を可能とし、また、試料台を室内に設置した場合には、台風などの強風から試料を守ることができる。 - 特許庁

After the completion of the warp setting work, the kind of a woven fabric, weaving conditions, etc., including the warp tension are set in a memory part of a controlling device 2, and a test operation is performed.例文帳に追加

機仕掛け作業完了後、織物種類、経糸張力を含む製織条件等を制御装置２の記憶部に設定し、試し運転を行う。 - 特許庁

The method further includes configuring a trigger of the test and measurement device in response to the graphical user input, by setting a value for a trigger parameter of the trigger.例文帳に追加

この方法は、トリガのトリガ・パラメータの値を設定することにより、図形的ユーザ入力に応じて試験測定装置のトリガを構成することを更に含む。 - 特許庁

At the same time, the information on the setting voltage of the test program is utilized, thereby supplying an optimal voltage without requiring a power source control operation.例文帳に追加

且つ、テストプログラムの設定電圧の情報を利用しているため、電源制御の操作を要することなく、最適な電圧を供給することができる。 - 特許庁

An address setting control part 11 in the receiver 1 displays a transition screen for an address setting mode when it is recognized that the address of the analog fire sensor 3-5 making an alarm as a test alarm and the like is the disabled address, and then, the address setting operation for the analog fire sensor 3-5 is allowed.例文帳に追加

受信機１のアドレス設定制御部１１は、試験などにより発報したアナログ火災感知器３−５のアドレスが使用禁止アドレスであることを認識した場合に、アドレス設定モードの移行画面を表示し、アナログ火災感知器３−５のアドレス設定操作を可能とする。 - 特許庁

When inputting the optional attendance time and the clock-out time as a preset test mode, a summary of the calculation process and the calculation result such as the office hours in a prescribed time, overtime, midnight overtime is displayed to be confirmable the initial setting or the setting after changing the setting.例文帳に追加

設定テストモードとして任意の出勤時刻と退勤時刻を入力すると、所定時間内就業時間、残業時間、深夜残業時間などの計算プロセス及び計算結果の一覧が表示され、初期設定時或いは設定変更後の設定の確認ができる。 - 特許庁