「setting test」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

This semiconductor storage 1000 is provided with a test mode setting circuit 6 which receives an external signal and can set plural test modes in serial, a voltage generating circuit 8, a column system control circuit 10, a row system control circuit 12, and a memory cell array 14.例文帳に追加

本発明に係る半導体記憶装置は、外部信号を受けて複数のテストモードをシリアルに設定することが可能なテストモード設定回路６、電圧発生回路８、コラム系制御回路１０、ロウ系制御回路１２、およびメモリセルアレイ１４を備える。 - 特許庁

To provide a measurement/test access control device, method and its program enables to access to an application soft ware of one measurement system from a plurality of operation terminals, and also preventing measurement setting from being damaged by performing measurement/test at the other operation terminal.例文帳に追加

測定／試験アクセス制御装置及び方法並びにそのプログラムに関し、１つの測定系アプリケーションソフトウェアに対して複数の操作端末からのアクセスを可能にし、かつ、他の操作端末の測定／試験の実施によって測定設定が破壊されないようにする。 - 特許庁

To provide a device and method for testing semiconductor integrated circuit device by which test items can be set more efficiently by setting the items based on test results and, consequently, an object to be measured can be tested efficiently.例文帳に追加

試験結果に基づいて試験項目を設定することにより効率的に試験項目を設定することができ、その結果として効率的に被測定対象の試験をすることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

In the unit test recording area where a defect exists, no reproducing signal can be obtained corresponding to the power setting value; however, such signal can be obtained in the unit test recording area as a saving area.例文帳に追加

テスト記録領域にディフェクトが検出された時、外乱により正常な記録が行われなかった時は、パワー設定値をパワー設定記憶部１４の退避メモリ領域に書き込み、テスト記録領域に該パワー設定値に基づく記録パワーでテスト信号の記録を行う。 - 特許庁

To provide a full automated inspection for interlocking the following programs and systems, including an inspection test, by eliminating manual starts of the respective programs and systems of a parts information automatic collection system, an automatic setting test system, and further, to provide a configuration automatic collation confirmation system.例文帳に追加

部品情報自動収集システム、自動設定テストシステム、さらには構成自動照合確認システムの各プログラム及びシステムの人手による起動を排除し、これらのプログラム、システムを連動させ、検査試験を含めた全自動化検査システムを提供する。 - 特許庁

At the time of verifying a low speed operation logic circuit, a low speed test pattern is inputted as the input data 6 for setting register and a test pattern outputted from the speed converting section 1 of the low speed operation logic circuit is selected at a selector section 2 and delivered to the poststage circuit.例文帳に追加

低速動作論理回路検証時には、レジスタ設定用入力データ（６）として低速テストパターンを入力し低速動作論理回路の速度変換部（１）から出力されたテストパターンを、セレクタ部（２）にて選択し後段の回路へ出力する。 - 特許庁

When inputting test tubes into the rack, setting information for controlling a test tube input pattern is output to the rack device based on blood collection instruction information acquired from the terminal of the host system, and the test tubes are input automatically into one rack in the patterned and classified state every patient, and ever hospital ward.例文帳に追加

本発明では、この試験管のラックへの投入に際し、前記上位システムの端末から取得した採血指示情報に基づいて、ラック装置へ試験管投入パターン制御のための設定情報を出力し、一つのラックに、患者ごと又は病棟ごとなどにパターン化して区分けした状態で試験管を自動的に投入するようにしている。 - 特許庁

An external inspection circuit 24 includes a control circuit 38 stored with a test pattern producing program for producing a test pattern according to a signal SIG2, a signal generator 40 for outputting a signal SIG4 (frequency setting signal) according to the test pattern, and a comparison discriminator 42 for comparing a signal SIG3 with an expected value to output a comparison result.例文帳に追加

外部検査回路２４はテストパタン生成プログラムが記憶され、信号ＳＩＧ２に応じてテストパタンを生成する制御回路３８と、テストパタンに応じて信号ＳＩＧ４（周波数設定信号）を出力する信号発生器４０と、信号ＳＩＧ３と期待値とを比較して比較結果を出力する比較判定器４２とを含む。 - 特許庁

In a test mode, a data transmission period can be set shorter than that at the time of normal data read-out operation and a test time of read-out data in a test mode can be shortened by controlling each of latch circuits of N pieces of an output circuit by a latency setting circuit to be operable, and outputting read-out data from a memory array.例文帳に追加

テストモードにおいて、出力回路のＮ個のラッチ回路の各々をレイテンシ設定回路で制御して動作状態とし、メモリアレイから読出データを出力することによりデータ伝達期間を通常のデータ読出動作時よりも短く設定することができ、テストモードにおける読出データのテスト時間を短縮することができる。 - 特許庁

The apparatus for testing semiconductor device for testing a DUT (device under test) while supplying power voltage comprises a voltage detecting part for outputting a detection signal by detecting the voltage of the power source arrival at a threshold voltage set previously, an operation control part for setting the threshold voltage, and a test performing part for starting the test using the detection signal.例文帳に追加

ＤＵＴに電源電圧を供給して試験を行う半導体試験装置において、電源電圧が予め設定された閾値電圧に到達したことを検出して検出信号を出力する電圧検出部と、閾値電圧を設定する演算制御部と検出信号に基づいて試験を開始する試験実行部とを備える。 - 特許庁

The image formation condition setting device 117 determines the ink concentration and the discharge amount to be installed in the recording head 111 on the basis of measured data of a test image formed by the printer 110.例文帳に追加

画像形成条件設定装置１１７は、プリンタ１１０により形成されたテスト画像の測定データをもとに、記録ヘッド１１１に搭載されるインク濃度と吐出量を決定する。 - 特許庁

By setting the sensitivity function so that the maximum value is suppressed and the vibration frequency range is shifted to a higher frequency range, the vibration of the test piece can be suppressed relative to the disturbance.例文帳に追加

感度関数を、最大値を抑制し且つ振動周波数域を高周波数域にシフトさせるように整形することで、外乱に対して供試体の振動を抑えることができる。 - 特許庁

To provide a system and method for evaluating impact resistance of a conveyor belt capable of accurately evaluating the impact resistance by setting a test sample to a condition approximating an use state at a field site.例文帳に追加

試験サンプルを現場での使用状況に近い条件に設定して、耐衝撃性を精度よく評価できるコンベヤベルトの耐衝撃性の評価システムおよび評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing individually a functional block out of a plurality which are provided, reducing the number of terminals for setting an operation mode to a minimum when a test is performed.例文帳に追加

テスト時の動作モードを設定するための端子数を最小限に抑えたうえで、複数備えられる機能ブロックを個別にテストすることができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

Setting means 14 and 15 set the software stored in the storage area 173 to be used when the received software is decided to satisfy the reference in this test.例文帳に追加

設定手段１４、１５が、この試験で、受信されたソフトウェアが基準を充たしていると判定された場合は、記憶エリア１７３に記憶されているソフトウェアを使用するように設定する。 - 特許庁

A counter load value setting resister 1 sets a value to be loaded on the counters 3, 4, when the load pulse of the counters generated by the load pulse generation part 2 in the test mode state is inputted.例文帳に追加

カウンタロード値設定レジスタ１は、テストモード状態でロードパルス生成部２にて生成したカウンタのロードパルスが入力されたときにカウンタ３，４にロードされる値を設定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and a method of testing a semiconductor memory device having a high degree of freedom in setting conditions of a stress test, and detecting various defects.例文帳に追加

ストレス試験の条件設定の自由度が大きく、様々な欠陥を検出可能な半導体記憶装置及び半導体記憶装置の試験方法を提供することである。 - 特許庁

A reflectivity correcting means 14 outputs the correction data D18 to the test light intensity setting means 12 on the basis of reflectivity sampling data D17 acquired from a testing device 3A.例文帳に追加

反射率補正手段１４は検査装置３Ａから得られる反射率サンプリングデータＤ１７に基づき補正データＤ１８を検査光強度設定手段１２に出力する。 - 特許庁

To provide a temperature-testing device, capable of quickly performing an operation confirming test at the accurate temperature by directly setting a part of an object to be tested to the predetermined temperature.例文帳に追加

試験対象の部品を直接、所定の温度にすることができ、正確な温度での動作確認試験をしかも速く行うことが可能な温度試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a printing system which is capable of simultaneously executing a default setting operation and a test printing of a printing device by transmitting a single printing job from a printing job transmitting device.例文帳に追加

印刷ジョブ送信装置からの一つの印刷ジョブの送信により、印刷装置のデフォルト設定操作とテストプリントとを同時に実行することの可能な印刷システムを提供する。 - 特許庁

When a shift register 7 and a control circuit 9 are reset by resetting or a control input 6, a test mode setting input pin 4 is connected to the shift register 7 by a selector 10.例文帳に追加

リセットまたは制御入力６によりシフトレジスタ７と制御回路９がリセットされると、セレクタ１０によりテストモード設定用入力ピン４はシフトレジスタ７に接続される。 - 特許庁

This pseudo error signal generating circuit 30 converts an output signal of the memory circuit in accordance with a setting signal, and supplies a pseudo error signal required for verifying operation of the self-test circuit.例文帳に追加

この擬似エラー信号発生回路３０は、メモリ回路の出力信号を設定信号に応じて変換して、自己テスト回路の動作検証に必要な擬似エラー信号を供給する。 - 特許庁

In an execution mode, an actual vehicle driving test or simulation is performed by the driving condition set by the condition setting part 2 and an initial vehicle parameter, and data processing is performed by the data processing part 4.例文帳に追加

実行モードでは、条件設定部２で設定した走行条件や初期車両パラメータで実車走行試験又はシミュレーションを行い、データ処理部４でデータ処理する。 - 特許庁

To provide an automatic switch with a heat ray sensor, capable of arbitrarily and precisely setting an operation time of a timer circuit, without using a variable resistor and facilitating a test work.例文帳に追加

可変抵抗器を用いることなくタイマ回路の動作時間を任意にかつ精度よく設定可能とするとともに試験作業を容易にする熱線センサ付き自動スイッチを提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection method and apparatus capable of detecting a minute surface defect and setting and changing in accordance with the depth of the minute surface defect, a criterion for determining the quality of an object under test.例文帳に追加

微細な表面欠陥を検出し、さらには微細な欠陥の深さに基づいて被検査物の良否の判定を設定、変更できる表面検査方法及び装置を得る。 - 特許庁

To reduce the number of signal terminals by using a signal terminal exclusively for setting test mode also as an actually operating terminal in a semiconductor integrated circuit incorporating an oscillation stabilization wait circuit.例文帳に追加

発振安定待ち回路を内蔵する半導体集積回路において、テストモード設定専用の信号端子を実動作用端子との兼用化により信号端子の低減を図る。 - 特許庁

To perform exact wavelength calibration of tunable laser and simultaneously automatically perform a normalization measurement for determining insertion loss and return loss as a part of regular test setting.例文帳に追加

同調可能なレーザ用の正確な波長校正を行うと同時に、挿入損失及びリターン・ロスを決定するための正規化測定を通常の試験設定の一部として自動的に行う。 - 特許庁

To shorten the test time without alterations in setting of analysis at every redundant constitution in performing redundancy analysis of a semiconductor device having one or more types of redundant constitution.例文帳に追加

複数種類の冗長構成を有する半導体装置の冗長解析を行うのにあたって、冗長構成毎に解析の設定を変更する必要がなく、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

Thereafter, the control means 11 sequentially displays the dictionary information corresponding to the word registered in the word book on the display means 14 on the basis of the question preparation setting, and performs the word test.例文帳に追加

その後、制御手段１１は該出題設定に基づいて単語帳に登録された単語に対応する辞書情報を順次表示手段１４に表示し、単語テストを行う。 - 特許庁

A scan circuit includes a delay line, provided with a delay element 24 and a delay-mode selector 25, and a mode during test is set to a delay measuring mode, by setting "1" to a delay-mode enable DE of the selector 25.例文帳に追加

スキャン回路に遅延素子２４、ディレイモード用セレクタ２５を備えたディレイラインを設け、テスト時のモードをセレクタ２５のディレイモードイネーブルＤＥに“１”を設定してディレイ測定モードにする。 - 特許庁

For setting the sorting performance Pon2Las, a component after use for the first period W1 is subjected to an accelerated degrading test for a second period W2, and the operation performance Pon2, V2 is measured.例文帳に追加

選別性能Ｐｏｎ２Ｌａｓを設定するために、第１期間Ｗ１の使用後の部品に、第２期間Ｗ２の促進劣化試験を行い、この動作性能Ｐｏｎ２，Ｖ２を測定する。 - 特許庁

A built-in analog test circuit 20 performs the processing above and outputs a result of whether or not the voltage Vout is decreased (increased) before and after the input of the volume setting data as a binary H/L voltage.例文帳に追加

これを内蔵のアナログテスト回路２０で行い、ボリューム設定データ入力前後でＶｏｕｔが低下（上昇）したか否かをＨ／Ｌの２値の電圧として出力する。 - 特許庁

The cooling fan control circuit 22, in coordination with a fan speed table setting utility 100 and under a condition that the fan speed table setting utility 100 is imposing a maximum load to a CPU11, performs test processing for monitoring the maximum temperature detected with the temperature sensor 21.例文帳に追加

この冷却ファン制御回路２２は、ファン速度テーブル設定ユーティリティ１００と協働して、ファン速度テーブル設定ユーティリティ１００が最大負荷をＣＰＵ１１に与えている状況で温度センサ２１が検出した最大温度を監視するテスト処理を実行する。 - 特許庁

The control apparatus 2 includes: a capture section 20 serving as test data collecting means for collecting first data obtained by testing condition setting means for setting the testing conditions and execution instruction means for giving instructions for executing the test; and a converter section 21 serving as converting means by which the first data thus collected is converted into second data low in redundancy.例文帳に追加

制御装置２は、試験条件を設定する試験条件設定手段と試験の実行指示を行う実行指示手段と試験によって得られた第１のデータを収集する試験データ収集手段としてのキャプチャ部２０と、収集された第１のデータを冗長度が少ない第２のデータに変換する変換手段としてのコンバータ部２１とを備える。 - 特許庁

The print controller comprises a means for setting a set value including a value concerning the number of rows to be deleted of unnecessary data, a means for generating row data consisting of more rows than the maximum deleting number of rows which can be set by the setting means as test print data, and a means for transmitting the test print data thus generated to a printer.例文帳に追加

不要データの削除行数に関する値を含む設定値を設定する設定手段と、設定手段において設定可能な最大削除行数以上の行数から成る行データを、テスト印刷データとして生成するテスト印刷データ生成手段と、生成したテスト印刷データを印刷装置へ送信するテスト印刷データ送信手段と、を備えたものである。 - 特許庁

To automatically create a cache test program and a cache state setting program according to cache configuration modeling arrangement and the description of a cache test sheet on the basis of a cache configuration to automatically create a program easily and certainly testing a cache function without a description mistake, in a test program creation system creating the program testing the cache function, a test program creation program, and a record medium.例文帳に追加

本発明は、キャッシュ機能の試験を行うプログラムを生成する試験プログラム生成システム、試験プログラム生成プログラム、および記録媒体に関し、キャッシュ構成をもとにキャッシュ試験シートの記述およびキャッシュ構成モデリング配列に従い、キャッシュ状態設定プログラムおよびキャッシュ試験プログラムを自動生成し、簡易かつ確実かつ記述ミスなしにキャッシュ機能の試験を行うプログラムを自動生成することを目的とする。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus that suppresses deterioration or wear of a photosensitive layer resulting from application of an AC test voltage, by setting an AC test voltage more properly than when the film thickness of a photosensitive layer is indirectly estimated from a cumulative number of sheets on which images are formed or the like by directly obtaining the film thickness of the photosensitive layer.例文帳に追加

感光層の膜厚を直接に求めることで、累積画像枚数等で間接的に推定する場合よりも適正に交流試験電圧を設定して、交流試験電圧の印加に伴う感光層の劣化や摩耗を抑制できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The control circuit repeatedly detects first key operation time corresponding to the test audio, and second key operation time corresponding to the test video so as to set a delay setting value of an audio delay circuit of the delay synchronization circuit.例文帳に追加

制御回路が、リモートコントローラーから送信された遠隔送信信号に基づいて、試験音声に対応する第１キー操作時間と、試験映像に対応する第２キー操作時間と、をそれぞれ繰り返し検出し、遅延同期回路の音声遅延回路の遅延設定値を設定する。 - 特許庁

To provide a test system of a semiconductor device, which eliminates such a probability that large current flows through a connection section of a connected semiconductor device in the case setting of terminals is changed in accordance with a change in functional tests, thereby avoiding such a state that a measurement is carried out unstably or the test can not be conducted.例文帳に追加

機能テスト変更に伴う端子の設定変更の際、接続した半導体装置との接続部分に大電流が流れる虞がなく、測定の不安定や試験が行えなくなったりすることなどのない半導体装置用試験装置を提供する。 - 特許庁

In this way, since a high voltage test can be performed by increasing the power supply voltage VCC of the terminal 2, it is no longer necessary to apply a voltage higher than necessary to the terminal 1 for setting the test mode and break of a gate oxide film of a buffer 3 or the like due to the high voltage can be prevented.例文帳に追加

これにより、端子２の電源電圧ＶＣＣを上昇させて高電圧試験をすることができるので、端子１に必要以上の高電圧を印加して試験モードを設定する必要がなくなり、高電圧によるバッファ３等のゲート酸化膜の破壊を防止できる。 - 特許庁

Setting part 31 to the immunochromatographic test piece is extended nearly diagonal from two rims 25a which is parallel to the moving direction of the antigen or the antibody at immunochromatographic test piece 10 inside the rims which forms observation window 25.例文帳に追加

免疫クロマト試験片当接部３１は、観測用ウィンドウ２５を形成する縁部のうちの免疫クロマト試験片１０における抗原又は抗体の移動方向に対して平行となる２つの縁部２５ａから免疫クロマト試験片１０に略直交するように延設される。 - 特許庁

To avoid the distortion of a semiconductor element pattern due to flares by sectioning a mask in a test pattern region and a chip pattern region and setting a fine pattern having a line width small enough to form no pattern in exposure on the test pattern region.例文帳に追加

本発明は半導体素子の微細パターン形成方法に関し、さらに詳しくは、マスク開口領域を縮小しフレア効果を減少させることにより、望むパターンを歪みなく転写させ得るようにした半導体素子の微細パターン形成方法を提供することにある。 - 特許庁

A load test machine 2 can load a node B apparatus 1 by transmitting a large volume of signaling and user data, or set a data amount for the signaling and user data and alter the content of test depending on the setting such as sequence 051, sequence 052 and sequence 053.例文帳に追加

負荷試験機２はノードＢ装置１にシグナリング及びユーザデータを多量に送信して負荷を掛けたり、シグナリング及びユーザデータに対してデータ量を設定し、その設定に応じて変化させるとともに、試験の内容をシーケンス０５１、シーケンス０５２、シーケンス０５３というように変更することが可能である。 - 特許庁

To prevent the image deterioration of a solid-state imaging apparatus by preventing the generation of false signals such as flares by preventing the incidence of a reflected light by a test pad on a CCD image section while enabling to perform a predetermined internal circuit setting and to extract a characteristics evaluation data by using the test pad.例文帳に追加

テストパッドを用いて所定の内部回路用設定や特性評価用データ抽出を可能としつつ、テストパッドによる反射光のＣＣＤイメ−ジ部への入射を防止してフレア等の疑似信号の発生を防止することにより、固体撮像装置の画像劣化を防止する。 - 特許庁

The method includes steps of: performing tests, in which a test pattern is recorded on the optical disk and a write power by which a recording state of the test pattern is optimum is determined, a plurality of times by differently setting a start power each time; and determining the optimum write power of the optical disk using the optimum write power values obtained as the results of the tests.例文帳に追加

テストパターンを前記光ディスクに記録し、記録状態が最適である記録パワーを決定するテストを、開始パワーを異ならせて設定して複数回行うステップと、各テストに対する最適記録パワーを利用して、光ディスクの最適記録パワーを決定するステップとを含む。 - 特許庁