「setting test」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

The laser output setting value and the recording pulse setting value when the best results are obtained for each part, are made as test results, and the test results and the model number of the disk 101 are written in a test result storage area 107 as disk information on a tested disk.例文帳に追加

各箇所について最良の結果が得られたときのレーザ出力設定値および記録パルス設定値をテスト結果とし、このテスト結果とディスク１０１の型番とをテスト済みディスクのディスク情報としてテスト結果格納領域１０７に書き込む。 - 特許庁

A second data analyzing part 106 performs parameter setting and parameter checking which correspond to the conditions from test data 3, generates a test code that makes processing not included in the test range a stub, and also generates test data for achieving a function of the stub.例文帳に追加

第２のデータ解析部１０６は、テストデータ３より、条件に応じたパラメータ設定やパラメータチェックを行い、また、試験範囲に含まれない処理をスタブとするテストコードを生成すると共に、スタブの機能を実現するためのテストデータを生成する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing a cross point that can test path setting even during operation of the apparatus in a shorter time than that of a conventional test method where no test is available during operation of the apparatus and that takes much test time.例文帳に追加

装置の運用中にテストできず、相当の時間を要する従来のテスト方法に比べて、短時間で、しかも装置の運用中にもパス設定のテストを行うことができるクロスポイントスイッチのテスト方法及びテスト装置を提供する。 - 特許庁

To satisfy a specification and to reduce test time of an substandard special test by singly setting a multi-bit mode standardized by JEDEC (Joint Electron Device Engineering Council) so as to simultaneously set a special test mode whicn is not standardized by JEDEC and this multi-bit test mode.例文帳に追加

JEDEC で標準化されているマルチビットテストモードを単独で設定でき、JEDEC で標準化されていない特殊テストモードとこのマルチビットテストモードを同時に設定できるようにして規格を満たすと共に規格外の特殊テストのテスト時間の短縮を図る。 - 特許庁

Setting values inputted to items 'REC#1' and 'REC#2' of a spreadsheet 1 for input are made into text data and preserved as test data and at the time of unit module test, the preserved test data are read out and supplied to a module to be tested by a driver 3 for test.例文帳に追加

入力用スプレッドシート１の項目「REC#1」，「REC#2」に入力された設定値をテキストデータ化して試験データとして保存し、単体モジュール試験時に、試験用ドライバ３が保存した試験データを読み出し、被試験モジュール３へ供給する。 - 特許庁

The digital still camera 12 registers a setting value corresponding to a test image being selected according to a user's taste newly as the image- processing control data of user setting.例文帳に追加

ディジタルスチルカメラ１２は、ユーザの好みに応じて選択されたテスト画像に対応した設定値を、新たにユーザ設定の画像処理制御データとして登録する。 - 特許庁

A control section 31 of a terminal device 3 controls a control tool 2 to transmit command information for setting the operating state of a CD player 1 subjected to one test to a predetermined one base state before setting it to a test state for the next test.例文帳に追加

端末装置３の制御部３１が、１の試験による動作が終了した後のＣＤプレーヤー１の動作状態を、次の試験の動作を行うためのテスト状態に設定する前に、所定の１の基底状態に設定するコマンド情報を制御治具２に送信させるように制御する。 - 特許庁

An inlet node 10 sets a path according to path setting protocol, specifies the set path after the path setting completes to send a test signal to an outlet node, receives the test signal sent back by the outlet node and analyze the test signal to determine whether it is normal or not.例文帳に追加

入口ノード１０は、パス設定プロトコルに従って、パスを設定し、パスの設定が行われた後に、設定されたパスを指定して、試験信号を出口ノードに送信するし、出口ノードによって折り返し送信された試験信号を受信して、試験信号を解析して正常であるか判定する。 - 特許庁

METHOD AND MECHANISM FOR CONTROLLING TEST PIECE-SETTING AND PASSAGE CORROSION-TESTING APPARATUS INCORPORATED THEREIN例文帳に追加

試験片装着制御方法と試験片装着制御機構及びその機構が組み込まれた流路耐食試験装置 - 特許庁

At the reset releasing time, the flip-flop 4 with LOAD/HOLD holds input data, and a test mode setting signal TESTMODE[7:0] is set.例文帳に追加

リセット解除時、LOAD/HOLD付きフリップフロップ４は、入力データをホールドし、テストモード設定信号TESTMODE[7:0]が設定される。 - 特許庁

The semiconductor device 1 is provided with a normal mode, a plurality of test modes, and a setting confirming mode as an operation mode.例文帳に追加

半導体装置１は、通常モードと複数のテストモードと設定確認モードとを動作モードとして備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory capable of setting an optional upper limit value of the number of error correction times when a test is performed.例文帳に追加

試験時にエラー訂正回数の上限値を任意に設定可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

In GPIIN setting 32, on/off of a test, a polarity, a function and a parameter are set for each input part.例文帳に追加

ＧＰＩＩＮ設定３２では、入力部毎に、テストのＯＮ／ＯＦＦ、極性、機能及びパラメータの設定がされる。 - 特許庁

The setting on the built-in EEPROMs is rewritten with a desired value through a test interface during LSI testing.例文帳に追加

内蔵されたＥＥＰＲＯＭへの設定は、ＬＳＩテスト時に所望の値をテストインターフェイス経由で書き換える。 - 特許庁

To eliminate the need for setting a hearing test and an equalizing characteristics, even when lines are turned into voices that are easy to hear.例文帳に追加

台詞を聞き取りやすい音声とするときにも、聴力テストやイコライズ特性の設定を不要にする。 - 特許庁

The control transistors (46 and 48) receive a reference signal for setting a test condition related to currents I_1 and I_2.例文帳に追加

制御トランジスタは、電流Ｉ_１、Ｉ_２の関係のテスト条件を設定するため基準信号を受信する。 - 特許庁

To provide a method for setting of a tire test condition capable of determining whether or not tire performance satisfies a given level in a real car test by a laboratory test, not with a comparative evaluation between tires.例文帳に追加

タイヤ同士を比べる相対評価ではなく、実車試験においてタイヤ性能が所定のレベルを満たしているか否かをラボ試験で判定することが可能なタイヤ試験条件設定方法を提供する。 - 特許庁

To relieve a load on an operating test work at installation or the like to confirm by an operator performing the operating test whether or not a setting switch is normally set to thereby enable the minimum number of people, that is, one person to carry out the operating test.例文帳に追加

動作試験を行う作業者は正常に設定スイッチが設定されているかを確認するための施工時等における動作試験作業を軽減し、最低限の人数、即ち一人で実行可能にする。 - 特許庁

A test timing information converting part 8 converts the test timing information of the external pin without signal variation which is detected by the setting part 2 into test timing information of the external pin of other function pattern.例文帳に追加

テストタイミング情報変換部８は、信号変化有無設定部２によって検出された信号変化のない外部ピンのテストタイミング情報を、別のファンクションパターンの当該外部ピンのテストタイミング情報に変換する。 - 特許庁

The test device 2 includes a setting change unit 5, a test command sequence generating unit 6, an overtaking determination unit 7, a test command sequence changing unit 8, an SW simulator execution unit 9, and an execution result determination unit 10.例文帳に追加

前記試験装置２は、設定変更部５と、試験命令列生成部６と、追い越し判別部７と、試験命令列変更部８と、ＳＷシミュレータ実行部９と、実行結果判定部１０とを備える。 - 特許庁

To provide a function verification device, a test bench, a simulator program, and a storage medium for avoiding unintended register setting in each verification work and allowing a test designer to design a test without taking register competition with the other test into consideration.例文帳に追加

それぞれの検証作業で意図しないレジスタ設定となることを回避することができ、テスト設計者は他のテストとのレジスタ競合を考えることなくテストを設計することができる機能検証装置、テストベンチ、シミュレータプログラム及び記憶媒体を提供する。 - 特許庁

The setting means sets each correction value for correcting the position of each color corresponding to each of the test image blocks based on the amount of displacement of each color of each of the test image blocks.例文帳に追加

前記設定手段は、各テスト画像ブロックの各色の位置のずれ量に基づき、各テスト画像ブロックに対応する各色の位置を補正する各補正値を設定する。 - 特許庁

All one has to alter and revise a test program is to alter and revise setting conditions of each sheet, allowing the test program to be altered and revised easily.例文帳に追加

また、テストプログラムの変更、修正を行なう場合には各シートの設定条件を変更、修正するだけでいいので、テストプログラムの変更、修正を容易に行うことができる。 - 特許庁

The input means 12 receives the operation from the user, and designates question preparation setting such as a condition of the word used in the word test or a format of the word test to the control part 11.例文帳に追加

入力手段１２はユーザからの操作を受け付け、単語テストで使用する単語の条件、単語テストの形式等の出題設定を制御部１１へ指定する。 - 特許庁

To improve productivity by optimizing the "waiting time setting" in a test program description and by shortening the program execution time of a test program.例文帳に追加

テストプログラム記述における「待ち時間設定」を最適化してテストプログラムプログラム実行時間を短縮することにより生産性を改善できるＬＳＩテストシステムを提供すること。 - 特許庁

To provide an image reading apparatus capable of easily creating calibration data of a correction circuit only by setting a test chart to a device even in any sized test chart.例文帳に追加

どのようなサイズのテストチャートであっても、単にテストチャートを機器にセットするのみで容易に補正回路の較正データを作成することができる画像読取装置を提供する。 - 特許庁

The signal generating circuits and the test setting control circuit have shift registers, and control data and test data are serially inputted to these shift registers from external terminals.例文帳に追加

信号生成回路及びテスト設定制御回路はシフトレジスタを備えており、これらのシフトレジスタに制御データやテストデータが外部端子よりシリアルに入力される。 - 特許庁

To provide a vehicle crash testing device capable of setting each running speed of test vehicles at mutually different speeds in a crash test of vehicle vs. vehicle.例文帳に追加

車両対車両の衝突試験において、被試験車両の各走行速度を互いに異なった速度に設定することが可能な車両衝突試験装置を提供する。 - 特許庁

In the optical disk device for maintaining reading power constant during test writing by using the test area of an optical disk, carrying out test writing by sequentially changing writing power, and determining optical writing power for information writing from the result of the test writing, a reading power setting means is provided for setting the reading power so as to obtain the optimal writing power.例文帳に追加

光ディスクのテストエリアを使用し、テスト書込時の読出パワーを一定とし、書込パワーを順次変化させてテスト書込を行わせ、テスト書込結果より情報書込時の最適書込パワーを決定する光ディスク装置において、前記読出パワーを前記最適書込パワーが得られるように設定する読出パワー設定手段を、設ける。 - 特許庁

Next, the content of the updated default setting is printed (S208) and at the same time, test print data included in the printing job are printed according to the updated default setting (S210).例文帳に追加

そして、更新したデフォルト設定の内容を印刷するとともに（Ｓ２０８）、更新したデフォルト設定に従ってプリントジョブに含まれるテストプリントデータを印刷する（Ｓ２１０）。 - 特許庁

To provide a common output setting circuit of an LCD driver to easily set a common output state in a short time according to a test, and a setting method therefor.例文帳に追加

短時間で容易に試験に応じたコモン出力状態を設定することのできるＬＣＤドライバのコモン出力設定回路及び設定方法を提供する。 - 特許庁

When the laser-driven pulse has q types of recording edge positions to be adjusted, test recording for adjustment is performed in at least (q+1) recording edge position setting states (write strategy setting).例文帳に追加

調整すべき記録エッジ位置がｑ種類のとき少なくともｑ＋１通りの記録エッジ位置設定状態（ライトストラテジ設定）で調整のための試し記録を行う。 - 特許庁

The image forming apparatus is also equipped with a setting means for setting a gain of an analog-digital conversion means such as an AFE to an upper limit value or a lower limit value at the test mode.例文帳に追加

また、この上限値が設定された場合と下限値が設定された場合とで、デジタル画像信号が不変であるビットを検出する手段を設ける。 - 特許庁

To provide a setting method for club face direction capable of precisely setting the direction of a club face in the same standard and executing a highly precise golf club test.例文帳に追加

クラブフェースの向きを同一基準で正確に設定することを可能にし、高精度のゴルフクラブ試験を実施可能にしたクラブフェース向きの設定方法を提供する。 - 特許庁

Upper casing 21 has setting part 31 to the immunochromatographic test piece, which is set to immunochromatographic test piece 10 of lower casing 22, to attach immunochromatographic test piece 10 on the part placed opposite to observation window 25 beyond immunochromatographic test piece 10.例文帳に追加

上部ケーシング２１には、免疫クロマト試験片１０に当接して、下部ケーシング２２の免疫クロマト試験片１０を挟んで観測用ウィンドウ２５とは反対側に位置する部分に免疫クロマト試験片１０を密接させるための免疫クロマト試験片当接部３１を有する。 - 特許庁

When a user inputs test data to a test terminal 101, and inputs information related to an expected recognition result and decision conditions as evaluation conditions, an evaluation condition setting part 205 sets the evaluation conditions, and a test data transmission control part 202 transmits test data to each image recognition part.例文帳に追加

利用者がテスト端末１０１に、テストデータを入力し、期待する認識結果に関する情報と判定条件を評価条件として入力すると、評価条件設定部２０５は評価条件を設定し、テストデータ送信制御部２０２はテストデータを各画像認識部に送信する。 - 特許庁

The system specification setting part 4 reuses the system test specification stored in the system test specification database 3, based on a system specification from the system specification integration part 24, generates the system test specification to be executed while the software components are combined, and outputs it to the system test specification output part 5.例文帳に追加

システム仕様設定部４は、システム仕様統合部２４からのシステム仕様に基づいて、システムテスト使用データベース３に格納されているからシステムテスト仕様を再利用し、ソフトウェア部品が組み合わされた状態で実施されるシステムテスト仕様を生成し、システムテスト仕様出力部５に出力する。 - 特許庁

To provide a new method of a performance test for establishing the fine particle removing performance of a membrane and a nondestructive integrity test for preconfirming that the membrane after use is within setting in the fine particle removing performance, and to provide a test reagent to be applied to the test, and a method of manufacturing the reagent.例文帳に追加

膜の微粒子除去能を確定する性能試験および使用後の膜が微粒子除去性能においてあらかじめ設定内であることを確認す非破壊法の完全性試験の新しい方法と該試験に適用させる試験試薬と該試薬を製造する方法を提供する。 - 特許庁

To increase the efficiency of test work by eliminating the need for creating a stub program exclusively for a program to be tested or setting a testing environment.例文帳に追加

テスト対象プログラム専用のスタブプログラムの作成や、テスト環境の設定を不要とし、テスト作業を効率化する。 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of setting a test voltage applied to a device to be inspected easily and highly accurately.例文帳に追加

被検査デバイスに印加する試験電圧を高い精度で容易に設定することができるバーンイン装置を提供する。 - 特許庁

An edge discrimination reference setting means 1036 changes the edge discrimination reference for test image to set it a plurality of times.例文帳に追加

エッジ判別リファレンス設定手段１０３６は、テスト画像用のエッジ判別リファレンスを変更して複数回設定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester capable of shortening the time required for setting of each part relating to a test.例文帳に追加

試験に関係する各部の設定にかかる時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a material testing machine which improves ease of use and saves the labor of testing by facilitating setting a test condition.例文帳に追加

材料試験機において、試験条件の設定を容易にすることで、使い勝手をよくし、試験の手間を省く。 - 特許庁

To easily perform a test for arbitrarily setting the distance from a light source to a sample surface in a weathering light property-testing apparatus.例文帳に追加

耐候光性試験装置において、光源から試料面までの距離を任意とする試験を容易に行うこと。 - 特許庁

During the shifting operation of a scan path in time from setting of a write value to the setting completion of a read value in a scan flip-flop for setting a value in a test target memory, a value for a refreshing operation is included in a value passed through a flip-flop for setting a value in a test target memory.例文帳に追加

テスト対象メモリに対し値を設定するスキャンフリップフロップに対し、書き込み値を設定し、その後の一連のシフト動作を介して、読み出し値の設定が完了するまでの間の、スキャンパスのシフト動作中に、テスト対象メモリに対し値を設定するフリップフロップを通過してゆく値に対して、リフレッシュ動作を行わせる値を含ませる。 - 特許庁