「setting test」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

The output siganl VO is used as a mode setting signal or the like for a test.例文帳に追加

この出力信号ＶＯは、試験用のモード設定信号等として使用される。 - 特許庁

METHOD FOR SETTING TEST MODE, MEDIUM STORING ITS PROGRAM, SEMICONDUCTOR DEVICE AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

テストモード設定方法、そのプログラムを記憶した記憶媒体、半導体装置及び電子機器 - 特許庁

To set the test condition of a material strength test reduced in the error of a test time by enabling setting a wide range of a well-balanced test condition without damaging the material characteristics due to an excessive temperature/stress test to perform correction, based on a short-time test result under the testing condition.例文帳に追加

過剰な温度・応力試験による材料特性を損なわないで、かつ広範囲でバランスの良い試験条件設定が可能となり、その試験条件で短時間試験結果により補正することで、試験時間の誤差が少ない材料強度試験の試験条件設定が可能となる。 - 特許庁

The semiconductor test device detects a test efficiency value being the optimum value in numerical values exceeding a reference test efficiency value and the matching time corresponding to the test efficiency value by comparing each of the test efficiency values at each matching time with the reference test efficiency value, and performs processing setting them at a matching time out time.例文帳に追加

そして、各マッチ時間ごとの試験効率値のそれぞれを基準試験効率値と比較して基準試験効率値を超える数値の中で最適値となる試験効率値と、この試験効率値に対応するマッチ時間を検出し、マッチタイムアウト時間に設定する処理を行う。 - 特許庁

The sensitivity tester includes a setting information reading means which reads, upon start of sensitivity test, setting information of a fire sensor from an IC tag storing the setting information of the fire sensor; and a test execution means which executes a sensitivity test of the fire sensor based on the read setting information.例文帳に追加

感度試験の開始によって、火災感知器の設定情報を格納しているＩＣタグ等から、上記火災感知器の設定情報を読み取る設定情報読取手段と、上記読み取られた設定情報に基づいて、火災感知器の感度試験を実行する試験実行手段とを有する感度試験器である。 - 特許庁

To provide a tire abrasion test method capable of setting easily and properly a travel mode to test precisely abrasion of a tire.例文帳に追加

走行モードを簡易且つ適切に設定して、タイヤ摩耗を精度良く試験することができるタイヤ摩耗試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a mode setting circuit preventing erroneous setting operation when mode setting operation such as a test mode or the like performed and a mode setting method of a semiconductor device.例文帳に追加

テストモード等のモード設定動作の際に、誤った設定動作を防止するモード設定回路を有する半導体装置及び半導体装置のモード設定方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a sample test system and a sample test method that can simply and reliably batch-change the setting conditions of a plurality of test apparatuses to the same setting conditions, in facilities, such as a testing center having a plurality of test apparatuses of the same type.例文帳に追加

検査センターなどの同一種類の検査装置を複数台有する施設において、複数の検査装置の設定条件を労することなく確実に、かつ一括してその設定条件を同一設定条件に変更できる検体検査システムおよび検体検査方法を提供する。 - 特許庁

An initial probability setting file 13 shows the rate of each parameter value for each parameter item, and a test parameter generator 2 generates a plurality of types of test patterns according to a rate of each parameter value of the initial probability setting file 13, and makes a test bench 4 execute simulation by using a test pattern 3.例文帳に追加

初期確率設定ファイル１３は、パラメタ項目ごとに各パラメタ値の比率を示しており、テストパターンジェネレータ２は、初期確率設定ファイル１３のパラメタ値ごとの比率に従って複数種のテストパターンを生成し、テストベンチ４にテストパターン３を用いたシミュレーションを実行させる。 - 特許庁

The test system 100 is equipped with a module setting file 130 for setting a connection relation between the modules 108, and the test system 100 generates the deliverer 150 based on a content specified in the module setting file 130.例文帳に追加

また、この試験システム１００は、モジュール１０８の接続関係を設定するためのモジュール設定ファイル１３０を備え、試験システム１００は、モジュール設定ファイル１３０に規定された内容に基づいて、配送器１５０を生成する。 - 特許庁

A test generating section, based on the level of an educational course for which the learner registers and a by-level question setting information table, extracts questions out of the test data storage section 24 to generate a test.例文帳に追加

テスト作成部は、受講者が受講登録した教育講座のレベルと、レベル別出題情報テーブルとに基づいてテストデータ収納部２４から問題を抽出してテストを作成する。 - 特許庁

To provide the test circuit of a semiconductor device capable of dispensing with a specific test terminal or a specific circuit and a manufacturing method for setting the mode of the test circuit of a mounted function core.例文帳に追加

搭載された機能コアのテスト回路のモード設定のために特別なテスト端子、もしくは特殊な回路や製造方法を必要としない半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a temperature test device having a structure that a test bath is equipped with an opening and capable of favorably controlling temperature in the test bath in a relatively wide setting temperature range.例文帳に追加

試験槽に開口が設けられた構造を備え、比較的広い設定温度範囲において試験槽の槽内温度を好適に制御することができる温度試験装置を提供する。 - 特許庁

By setting each test switch 4, etc., into a collectively closed state, a test signal from the test signal control circuit 1 is transmitted to the direct current indicators 3, etc., to thereby enable operation confirmation.例文帳に追加

試験スイッチ４、…、４を一括閉状態にすることにより、試験信号制御回路１からの試験信号を直流電流指示計３、…、３に流し、動作確認が可能となる。 - 特許庁

An input switch signal 8 is set in a test mode by a test enable signal input from a test setting terminal 5, and a signal input from a tester 2 is input into an address control 9.例文帳に追加

テスト設定端子５から入力されるテストイネーブル信号によって入力切替スイッチ８はテストモードに設定し、テスター２から入力される信号はアドレスコントロール９に入力する。 - 特許庁

A test mode signal generating circuit outputs a signal TMCE corresponding to the setting confirming mode in addition to test mode signals ZTM0-ZTMm corresponding respectively to a plurality of test modes.例文帳に追加

テストモード信号発生回路は、複数のテストモードにそれぞれ対応するテストモード信号ＺＴＭ０〜ＺＴＭｍに加えて設定確認モードに対応する信号ＴＭＣＥを出力する。 - 特許庁

To provide an LSI test device which can reduce periods necessary for an LSI test by reducing the frequency for setting test timing information contained in a function pattern, in an LSI tester.例文帳に追加

ファンクションパターンに含まれるテストタイミング情報をＬＳＩテスタに設定する回数を減らして、ＬＳＩのテストに要する時間を削減することが可能なＬＳＩテスト装置を提供すること。 - 特許庁

To increase the density on a printed wiring board by setting through hole sections as test points.例文帳に追加

スルーホール部をテストポイントとして設定することにより、プリント配線基板の高密度化を図る。 - 特許庁

To provide a check tool for setting the temperature of a test piece being arranged in a plastic cassette to an ambient temperature quickly.例文帳に追加

プラスチックカセット内に配置された試験片の温度が短時間で周囲温度になる検定具。 - 特許庁

To provide an apparatus which can automatically transfer measured test bodies in an optional order to test body storage racks with a high processing efficiency without limiting an order of setting and measuring test bodies to test body racks even when kinds of test body containers are mixed.例文帳に追加

検体ラックに検体をセットして測定する順序に何ら制限なく、検体容器の種類が混在していても、測定した検体を任意の順序で検体収納ラックに自動的に高い処理能力で移し替えることができる装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for measuring a dimension, capable of accurately setting a position of a test piece and measuring the dimension of the test piece with high accuracy.例文帳に追加

試験片の位置を正確に設定することができ、試験片の寸法を精度よく測定することが可能な測寸装置を提供する。 - 特許庁

To provide a single chip microcomputer or the like, which omits a dedicated terminal for test mode setting for switching and designating a test mode/other operation mode.例文帳に追加

テストモード／他の動作モードを切り換え指定するための専用のテストモード設定用端子を省略したシングルチップマイコンなどを実現する。 - 特許庁

To provide a test circuit for reducing test time, by reducing the number of shift times required for setting to a register on a serial path and for monitoring the value of the register.例文帳に追加

シリアルパス上のレジスタへの設定、レジスタ値のモニタに必要なシフト数を減らし、テスト時間の短縮が可能なテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of more flexibly setting a terminal for inputting test signal into an internal test circuit.例文帳に追加

内部のテスト回路にテスト用の信号を入力するための端子を、より柔軟に設定することができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

The analyzing processing part 11 analyzes the input command to determine whether it is a control command or a test condition setting command, and a test condition assigned by the command is stored when it is the test condition setting command.例文帳に追加

命令解析処理部１１は、入力された命令を解析してそれが制御命令であるのか試験条件設定命令であるのかを判別し、試験条件設定命令であれば当該命令で指定されている試験条件を記憶する。 - 特許庁

Moreover, various circuits 2, 3, 4, 5, 6, 7, 17, and 18 switch output signals to the set test data when the test mode setting is valid on the basis of the test mode selection signal and the test data input signal.例文帳に追加

以下、各種回路２、３、４、５、６、７、１７および１８についてもテストモード選択信号とテストデータ入力信号により、それぞれに設定されたテストモード設定が有効の場合、設定されたテストデータに出力信号を切り替える。 - 特許庁

The apparatus may include a multimedia test engine operable to exercise and test multimedia application programming interfaces (APIs) of a wireless device on the basis of the execution of test setting comprising a test script downloaded to the wireless device.例文帳に追加

無線デバイスにダウンロードされたテスト・スクリプトを備えるテスト設定の実行に基づいて無線デバイスのマルチメディア・アプリケーション・プログラミング・インターフェース（ＡＰＩ）を使用しそしてテストするために動作するマルチメディア・テスト・エンジンを含むことができる。 - 特許庁

The testing device is provided with a testing section 20 which performs tests on the object to be tested with respect to the set test items and a test item setting section 10 which sets the test items for the testing section 20 based on the test results obtained by means of the testing section 20.例文帳に追加

被試験対象に対して、設定された試験項目の試験を行う試験部２０と、試験部２０の試験結果に応じて試験項目を試験部２０に対して設定する試験項目設定部１０とを備える。 - 特許庁

To shorten a test time of a boundary scan circuit, by shortening a time for setting test data before execution of an Extest instruction and setting an instruction code for the Extest instruction in the boundary scan circuit.例文帳に追加

バウンダリスキャン回路において、Ｅｘｔｅｓｔ命令実行前のテストデータの設定とＥｘｔｅｓｔ命令の命令コードの設定時間を短縮し、バウンダリスキャン回路のテスト時間の短縮を図る。 - 特許庁

The test body extraction program detects the software and the setting in the malware infected terminal to inspect whether or not the detected software and the detected setting match with software and setting of the white list.例文帳に追加

検体抽出プログラムは、マルウェア感染端末内のソフトウェア及び設定を検出し、検出したソフトウェア及び設定がホワイトリストのソフトウェア及び設定と一致するかを検査する。 - 特許庁

The standard test specification is customized to a software test specification based on setting information so as to comply with a selected machine type.例文帳に追加

標準検査仕様は、選択機種に適合するように設定情報に基づいてカスタマイズされ、選択された機種用のソフトウエア検査仕様となる。 - 特許庁

To avoid the generation of a timing violation, and to dispense with setting of an expectation in a burn-in test determination device of a semiconductor integrated circuit having a scan test function.例文帳に追加

スキャンテスト機能を有する半導体集積回路のバーンインテスト判定装置において、タイミング違反の発生を回避し、期待値の設定を不要にする。 - 特許庁

That is, the inputs are an operation procedure file 1, a setting contents file group 3, and a test expectation value group 5, while the output is a test output group 6.例文帳に追加

即ち入力には、動作手順ファイル１、設定内容ファイル群３、及びテスト期待値群５があり、出力にはテスト出力群６がある。 - 特許庁

Using the analogue signal input terminal 1 and the A/D converter 5, the test mode is set, so that only a single test mode setting terminal 3 is required.例文帳に追加

アナログ信号入力端子１及びＡ／Ｄコンバータ５を利用して、テストモードの設定を行うので、テストモード設定用端子３は１個で済む。 - 特許庁

A test setting control section 58 detecting an external power source potential EXVDD exceeding the prescribed potential is provided in a test mode signal generating circuit 56.例文帳に追加

テストモード信号発生回路５６に外部電源電位ＥＸＶＤＤが所定の電位を超えたことを検知するテスト設定制御部５８を設ける。 - 特許庁

To provide a device and method for setting an inexpensive test environment in which a communication test of mobile communication terminal can be carried out.例文帳に追加

低コストで移動通信端末の通信試験を行うことが可能な試験環境設定装置及び試験環境設定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device for generating a test case for allowing an operator to execute a test without knowing any operation for setting an inside condition.例文帳に追加

操作者が内部条件を設定する操作を知らなくても、テストを行なうことが可能なテストケースを生成するテストケース生成装置を提供すること。 - 特許庁

A test controlling device 20 performs a test while using at least one tested circuit in the lot as a sample, and on the basis of the result of the test on this sample, a test on a tested circuit other than the sample is omitted as to the test item for which the allowance information is set by the condition setting part 10.例文帳に追加

試験制御装置２０は、ロット内の少なくとも１つの被試験回路をサンプルとして試験し、このサンプルに対する試験結果に基づいて、条件設定部１０により許可情報が設定された試験項目の、サンプル以外の被試験回路に対する試験を省略する。 - 特許庁

A test order setting part 62 provided in the tester 36 calculates a failure rate for each test item based on a plurality of tested results obtained by testing a plurality of solid-state imaging devices, and rearranges a test order of each test item in order of a high failure rate to reset the test pattern.例文帳に追加

テスタ３６に設けられた検査順序設定部６２は、複数の固体撮像素子を検査することによって得られた複数の検査結果を基に、検査項目毎の不良率を算出して、この不良率の高い順に各検査項目の検査順序を並べ替え、テストパターンを再設定する。 - 特許庁

An operator sets the thinning rate of the test case by a test case extraction dialogue 400, and sets the priority order of logics to be applied to the extraction of the test case by a thinning parameter setting dialogue 500.例文帳に追加

オペレータは、テストケース抽出ダイアログ４００でテストケースの間引き率を設定し、間引きパラメータ設定ダイアログ５００でテストケースの抽出に適用されるロジックの優先順位を設定する。 - 特許庁

To start test without operating any pre-processing such as stab preparation or external variables setting in the simplex test and partial connection test of a program composed of multiple modules to be performed by using a debugger.例文帳に追加

デバッガを用いて行う複数モジュールからなるプログラムの単体テストおよび部分結合テストにおいて、スタブ作成や外部変数の設定等の前処理を行わずに、テストを開始できるようにする。 - 特許庁

The communication device 4 sets conditions of the test on the basis of the received condition setting request and transmits results of the test executed on the basis of the received test request, to the information processor 1.例文帳に追加

通信機器４は、受信した条件設定要求に基づいて試験の条件設定を行い、受信した試験要求に基づいて実行した試験の結果を情報処理装置１に送信する。 - 特許庁

To change setting of pin arrangement in a test of a plurality of devices to be tested having the same pin arrangement.例文帳に追加

同一のピン配置を有する複数の被試験デバイスの試験において、ピン配置の設定を変更する。 - 特許庁

A mode setting circuit switches an operation mode to a normal operation mode or a test mode in accordance with an external control.例文帳に追加

モード設定回路は、外部制御により動作モードを通常動作モードまたはテストモードに切り替える。 - 特許庁

The method performs an initial input step of setting a test initial value to the flip-flop using a serial scan input.例文帳に追加

フリップフロップにテスト用の初期値をシリアルスキャン入力により設定する初期入力工程を行う。 - 特許庁