「setting test」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

Also, the test result is displayed in a predetermined time at the display part of the slave device so that it can be confirmed with such a time to spare that the slave device is removed from the setting place after the end of the test.例文帳に追加

また、試験結果を子機の表示部で所定時間表示するようにして、試験終了後に子機を設置位置から取り外すなどの余裕を持って確認することができる。 - 特許庁

To provide a microscope measuring apparatus capable of accurately setting a spectroscopic measuring area of a test object such as a color filter or the like, and accurately grasping spectroscopic information of the test object.例文帳に追加

カラーフィルタなどの被検体の分光計測領域を正確に設定することが可能で、被検体の分光情報を正確に把握できる顕微鏡測定装置を提供する。 - 特許庁

As a result, the time required from taking out of the test piece D from the thermostat 2 until setting it on the anvil 14 can be shortened, to thereby suppress the temperature change of the test piece D.例文帳に追加

その結果、試験片Ｄを恒温槽２から取り出してアンビル１４にセットするまでの時間を短縮することが可能となり、試験片Ｄの温度変化を抑えることができる。 - 特許庁

When a test of a step S1 is started, a transmission protocol testing device in a step S2 transmits a control command for setting a test target device in an initial state and receives an executed response.例文帳に追加

ステップＳ１のテストを開始すると、ステップＳ２の伝送プロトコルテスト装置は、テスト対象機器を初期状態に設定する制御コマンドを送信し、実行済のレスポンスを受け取る。 - 特許庁

This test mode setting circuit for setting into a test mode by an combination of input voltages to a plurality of IO cells is provided with a special IO cell of which the threshold voltage is heightened above the H-level input voltage of the standard IO cell registered in its specification.例文帳に追加

複数のＩＯセルへの入力電圧の組み合わせでテストモードへと設定するテストモード設定回路において、閾値電圧を仕様書に記載された標準ＩＯセルＨレベル入力電圧よりも高く設計した特殊ＩＯセルを設ける。 - 特許庁

A register circuit 106 provided in the built-in self test circuit of the memory changes test contents by performing setting change of an address generating circuit 101, an input data generating circuit 102, a control signal generating circuit 103, and an expected value data generating circuit 104 based on test setting data td received from the outside.例文帳に追加

メモリの組み込み自己テスト回路に備えたレジスタ回路１０６が、外部から受信したテスト設定データｔｄに基づいて、アドレス生成回路１０１、入力データ生成回路１０２、制御信号生成回路１０３及び期待値データ生成回路１０４の設定変更を行うことによりテスト内容を変更する。 - 特許庁

When a data communication test is performed, a host device 12 outputs test data, indicates that the data is outputted by setting a Strobe signal at a low level and the handshake part 24 replies by setting a Busy signal at a high level by receiving the test data and fetches the data in the FIFO memory.例文帳に追加

データ通信テストを行う場合、上位装置１２はテストデータを出力すると共にＳｔｒｏｂｅ信号をローレベルにしてデータが出力されていることを示し、これを受けてハンドシェイク制御部２４は、Ｂｕｓｙ信号をハイレベルにして応答すると共にデータをＦＩＦＯメモリ２６に取り込ませる。 - 特許庁

A multifunction device 100 acquires setting information required for transmitting the image data to a transmission destination from a setting information storage part 105, generates test data using a file name based on the acquired setting information to transmit the test data to the transmission destination via a communication part 103, and receives a response from the transmission destination.例文帳に追加

複合機１００は、画像データを送信先に対して送信するために必要な設定情報を設定情報記憶部１０５から取得し、通信部１０３を介して、取得した設定情報に基づいたファイル名でテストデータを作成して送信先に対して送信し、当該送信先からの応答を受信する。 - 特許庁

The same test condition can be selected by setting a special code in the flow count or the process count of the debug count.例文帳に追加

また、デバッグカウントのフローカウントまたは工程カウントの中に、特別コードを設定し、同じテスト条件を選択することもできる。 - 特許庁

A series of test patches are made by increasing the AC amplitude Vdac across the gap, when setting up the printer, and the reflectivity changes Δref of the patch groups are measured to the AC amplitude.例文帳に追加

印刷装置のセットアップ動作時に、隙間中の交流振幅Ｖdacを増分しながら、一連のテストパッチを作成する。 - 特許庁

An operation test section 120 tests the operation after setting the timing of generating the strobe signal in the detection range.例文帳に追加

動作テスト実行部１２０は、検出可能範囲内にストローブ信号の発生タイミングを設定した上で、動作テストを実行する。 - 特許庁

A host 11 transmits a predetermined test data stream to a printer (peripheral device) 12 at a transmission rate automatic setting mode (2).例文帳に追加

ホスト１１は、通信速度自動設定モードにおいて、予め定めたテストデータ列をプリンタ（周辺装置）１２に送信する（▲２▼）。 - 特許庁

In this test line setting processing, an angle operation using a trigonometric function is never performed by using quantity called 'inclination'.例文帳に追加

この検査線設定処理では、「傾き」という量を用いることで三角関数を用いた角度計算を一切行わない。 - 特許庁

To provide a tire failure detector of excellent precision capable of enhancing workability when changing setting for a test tire.例文帳に追加

検知精度がよく、かつ試験タイヤの設定変更時の作業性を向上することが可能なタイヤ故障検知装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic load device, used for driving performance test of an audio power amplifier, and for independently setting load impedance and phase.例文帳に追加

オーディオパワーアンプの駆動能力試験に用い、負荷インピーダンスと位相とを独立して設定できる電子負荷装置を提供する。 - 特許庁

If the server is not in a stopping state, a transmission test is performed, and the effectiveness/ineffectiveness of transmission setting is judged (S72-84).例文帳に追加

サーバ停止中でなければ、送信テストを行ない、その結果に基づき送信設定の有効／無効を判断する（Ｓ７２〜８４）。 - 特許庁

To provide a recording method effective in setting an optimum recording condition while reducing frequency of test recording and a device.例文帳に追加

テスト記録の回数を低減しつつ、最適な記録条件の設定に有効な記録方法および装置の提供を目的とする。 - 特許庁

The test signal generator receives the setting of a movement independently by each element Y1, Y2, Y3 and generates a video signal so as to simultaneously display the elements Y1, Y2, Y3 in response to the setting.例文帳に追加

本発明は、個別に要素Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３毎に動きの設定を受け付け、この設定に従って複数の要素Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３を同時に表示するようにビデオ信号を生成する。 - 特許庁

An emulation model is generated by a data generating means 371 for emulation equipped with an emulation circuit model library 380 for converting setting in a simulation test bench into setting for emulation.例文帳に追加

シミュレーションテストベンチでの設定をエミュレーション用に変換するエミュレーション回路モデルライブラリ３８０を具備したエミュレーション用データ生成手段３７１により、エミュレーションモデルを生成する。 - 特許庁

An optical disk test device is equipped with a laser power setting circuit 45 and a strategy setting circuit 48 which specify light intensity and pulse width of the laser beam outgoing from a laser light source 21.例文帳に追加

光ディスク検査装置は、レーザ光源２１から出射されるレーザ光の光量およびパルス幅を規定するレーザパワー設定回路４５およびストラテジ設定回路４８を備える。 - 特許庁

A call setting test control part 11 checks a resource required for checking the device state of a first node itself and the setting of connection by a request from a maintenance terminal 13.例文帳に追加

呼設定試験制御部１１が、保守端末１３からの要求により、第１のノード自身の装置状態のチェックおよびコネクション設定に必要なリソースのチェックを行う。 - 特許庁

A test program storage part 24 stores a program realizing a plurality of test items, and a condition setting part 10 sets allowance information allowing omission of at least one test item to a plurality of tested circuits included in a lot.例文帳に追加

試験プログラム記憶部２４は複数の試験項目を実現するプログラムを記憶し、条件設定部１０はロット内に含まれる複数の被試験回路に対して試験項目の少なくとも１つの省略を許可する許可情報を設定する。 - 特許庁

When a user selects an item of 'setting of utilized image' in a test mode for setting various utilizing forms, the automatic photo vending machine displays a utilized image setting menu, and the user can set an available image in edit processing for each time window in the utilized image setting menu.例文帳に追加

写真自動販売機においては、各種利用形態の設定を行なうテストモードにおいて「利用画像設定」を選択すること利用画像設定画面が表示され、利用画像設定画面において、時間帯ごとに、編集処理において利用可能な画像を設定することができる。 - 特許庁

The peripheral equipment 1 is provided with a switch 15 for selectively setting either the device driver for the general operation or the device driver for the test and a function for writing the attribute information data of either the device driver for the general operation or the device driver for the test in the attribute memory 13a according to the switch setting.例文帳に追加

周辺機器１は、一般運用又はテスト用のいずれか一方を選択設定するスイッチ１５と、スイッチ設定に応じて一般運用又はテスト用のいずれか一方の属性情報データをアトリビュートメモリ１３ａに書き込む機能を有している。 - 特許庁

The one chip microcomputer 10 has a starting register 18 starting a test operation and a built-in self test starting pattern generator 19 setting initial values in test control circuits (a pseudo random number generator 14, a logic circuit inspection compressor 15, a pattern generator 16 and a memory inspection compressor 17) for a built-in self test function.例文帳に追加

１チップマイクロコンピュータ１０は、組み込み自己検査機能のために、テスト動作を起動する起動レジスタ１８と、テスト制御回路（疑似乱数発生器１４、論理回路検査用圧縮器１５、パターン発生器１６、メモリ検査用圧縮器１７）に初期値を設定する組み込み自己検査起動パターン発生器１９とを備えている。 - 特許庁

Access to the memories MEM1-MEMn is controlled by controlling a test sequence of the memories MEM1-MEMn by a test sequence control part 1 according to the test sequence setting from the outside, and by enabling/disabling chip enable signals CE1-CEn by a memory access control part 2 according to instructions from the test sequence control part 1.例文帳に追加

テストシーケンス制御部１が、外部からのテストシーケンス設定に従ってメモリＭＥＭ１〜ＭＥＭｎのテストシーケンスを制御し、メモリアクセス制御部２が、テストシーケンス制御部１からの指示に従ってチップイネーブル信号ＣＥ１〜ＣＥｎの有効／無効を切り替え、メモリＭＥＭ１〜ＭＥＭｎへのアクセスを制御する。 - 特許庁

To provide a neutron irradiation tester which can proceed with a test continuously only by shifting the position of a neutron irradiation setting domain in a part to be tested even if an eventuality occurs in the part to be tested during the test.例文帳に追加

テスト中、試験部に不測の事態が発生しても、試験部の中性子照射設定範囲の位置を変えるだけで継続してテストが続行できる中性子照射試験装置を提供する。 - 特許庁

A touch panel type operation device equipped with a test condition setting mechanism, a load control mechanism and a test state display mechanism is arranged on the upper surface part 1D of a measuring control apparatus MD in a tiltable manner.例文帳に追加

計測制御装置ＭＤの上面部１Ｄに対して、試験条件の設定機構、負荷の制御機構、試験状態の表示機構を備えたタッチパネル形の操作器３を起伏可能に設置する。 - 特許庁

An output value of the test circuit 4 is changed by a plurality of combinations by switching setting to each of the plurality of modes, and thereby the input/output characteristics during an AC test time of the buffer circuit 6 can be measured efficiently.例文帳に追加

複数の各モードへの切り替え設定により、テスト回路４の出力値を複数の組み合わせで変更し、バッファ回路６のＡＣテスト時の入出力特性を効率よく測定可能とした。 - 特許庁

To provide a substrate tester and a test condition setting method capable of selecting a test condition suited to a substrate even when surface pattern information of the substrate is unobtainable in advance.例文帳に追加

基板表面のパターンの情報が事前に得られなくても、基板に適した検査条件を選択することができる基板検査装置および検査条件設定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

An I/O cell 101 becomes an output at the time of a burn-in test by a burn-in test mode signal M, and the output of a port output signal setting resistor 106 is selected.例文帳に追加

Ｉ／Ｏセル１０１は、バーンインテスト時にバーンインテストモード信号Ｍによって出力となり、出力信号選択回路１０５では、ポート出力信号設定レジスタ１０６の出力が選択される。 - 特許庁

The test result setting part 10 tests one code clone in the detected code clone set, and sets test case numbers to the tested source code lines to indicate that the entire code clone set has been tested.例文帳に追加

テスト結果設定処理部10は、検出したコードクローンセットの内１つのコードクローンをテストし、テストされたソースコード行にテストケース番号を設定してコードクローンセット全体がテストされたことを表示する。 - 特許庁

Based on the error data obtained by the test, the setting is revised to the write timing which generates no color shift to enable high quality print output.例文帳に追加

テストで得た誤差データをもとに、色ずれの生じない書き込みタイミングに設定を変更し、高品質の印刷出力を可能とする。 - 特許庁

A generation part 1407 generates a test mode operation setting information 1414 from the decision result of the appropriation validity/invalidity deciding part 1406.例文帳に追加

生成部１４０７は、流用可否判定部１４０６の判定結果から、テストモード動作用設定情報１４１４を生成する。 - 特許庁

To provide an abrasion test piece and an abrasion tester, capable of uniformly setting a surface pressure on an abrasion surface and reliably obtaining data.例文帳に追加

摩擦面の面圧を均一に設定して信頼性の高いデータを得ることができる摩耗試験片及び摩耗試験機の提供。 - 特許庁

Also, by setting a test mode, adjacent bit lines /BL are connected each other through a switch circuit 20j including an inverter 22j.例文帳に追加

また、試験モードの設定により、隣接するビット線／ＢＬ同士がインバータ２２_ｊを含むスイッチ回路２０_ｊを介して接続される。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can prevent malfunction at the time of setting a test mode by applying higher voltage than that in normal use conditions.例文帳に追加

通常の使用条件よりも高い電圧を印加して試験モードに入れときの誤動作を防止できる半導体装置の提供。 - 特許庁

In addition, a sufficient data domain is secured by setting the size of each test to a minimum, and the number of count areas to a necessary minimum.例文帳に追加

また、各テストエリアの大きさを最小限とし、カウントエリアの数を必要最小限とすることで、データ領域を十分に確保する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor storage device improving yield by a test mode for switchably setting the number of allowable defective bits.例文帳に追加

許容不良ビット数を切り換え設定するテストモードにより歩留まり向上を図った不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor circuits 101 are set in test mode for testing the operation of the plurality of semiconductor circuits 101 by the setting circuits 102.例文帳に追加

設定回路１０２により、半導体回路１０１を、複数の半導体回路１０１の動作を試験する試験モードに設定する。 - 特許庁

Accordingly, a user can conduct the test operation of the servo motor and the setting of the damping control for the servo motor in one window (a sub-window W1).例文帳に追加

ユーザは、サーボモータのテスト運転および制振制御の設定を１つのウィンドウ（サブウィンドウＷ１）の中で行なうことができる。 - 特許庁

An accumulation means 12 accumulates the test video signal and the reference video signal with setting information showing desired quality measurement processing.例文帳に追加

蓄積手段１２は、試験ビデオ信号及び基準ビデオ信号を、所望品質測定処理を示す設定情報と共に蓄積する。 - 特許庁

With a test mode setting button 16 pressed, the human body detector in a normal mode enters a test mode for a specified period and in this test mode, a setter (human body B) moves within the range of a detection area A2 to be set in a visual field area A1 of an imaging section 10.例文帳に追加

テストモード設定釦１６を押下することで、通常モードからテストモードに所定期間移行し、このテストモード中に、設定者（人体Ｂ）は撮像部１０の視野領域Ａ１内において設定したい検知領域Ａ２の範囲内を移動する。 - 特許庁

For this tester provided are a step installing a testing board having a terminal array similar to the terminal array of a semiconductor device 20 to a socket 50, a production step for producing test signals with a driver 76, a detection step for detecting the test signal having reached the testing board and a setting step for setting the output timing of the test signals, based on the test signals detected in the detection step.例文帳に追加

半導体デバイス２０の端子配列と同様の端子配列を有する試験用ボード１０をソケット５０に装着するステップと、ドライバ７６により試験信号を生成する生成ステップと、試験用ボード１０に到達した試験信号を検出する検出ステップと、検出ステップにより検出した試験信号に基づいて試験信号の出力タイミングを設定する設定ステップとを備えた。 - 特許庁

The processor and method, after analyzing the test sheet, detect a mark sheet printing direction from a changing direction means for directing the mark sheet or real printing, perform the mark sheet printing based on a first print setting within the test sheet; while detects the real printing, and perform the real printing based on a second print setting within the test sheet.例文帳に追加

テストシートを解析した結果、上記マークシート印刷と本番印刷の切り替え指示手段からマークシート印刷指示が検出されると、テストシートに埋め込まれている第１の印刷設定に基づいてマークシート印刷を実行し、本番印刷指示が検出されると、テストシートに埋め込まれている上記第２の印刷設定に基づいて本番印刷を実行する。 - 特許庁