「specification testing」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To generate a reasonable number of test cases capable of testing the quality of a software program while taking a business specification into account.例文帳に追加

業務仕様を考慮し、かつ、ソフトウェアプログラムの品質を検査できる妥当な量のテストケースを生成する。 - 特許庁

A quality judging specification result for the avalanche proof level test of the testing objective semiconductor element on a wafer carried out using the determined specification value as the specification value for the avalanche proof level test is made to serve as a quality judged result in the avalanche proof level test of the testing objective semiconductor element.例文帳に追加

決定された規格値をアバランシェ耐量試験の合否判断の規格値として行ったウエーハ上の試験対象半導体素子のアバランシェ耐量試験の合否判断結果を、その試験対象半導体素子のＲＢＳＯＡ耐量の試験での合否判断結果とする。 - 特許庁

To provide a template preparation device capable of easily defining and reviewing the specification of a template and easily debugging and testing the template.例文帳に追加

テンプレートの仕様の定義およびレビューと、テンプレートのデバックおよびテストとが容易なテンプレートを作成する装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing arrangement supplying test signal of proper voltage accordingly to the specification of the input terminal of a tested device.例文帳に追加

被試験デバイスの入力端子の仕様に応じて適切な電圧の試験信号を供給する試験装置を提供する。 - 特許庁

In a method for testing the real page number bits in a cache directory 304, a specification 306 of a cache is retrieved in order to test the real page number bits of the cache directory associated with the cache to be tested.例文帳に追加

テスト対象のキャッシュに関連付けられたキャッシュ・ディレクトリの実ページ番号ビットをテストするために、当該キャッシュの仕様が検索される。 - 特許庁

To provide a material tester capable of controlling the operation of a tester main body by simply constructing a test executing program corresponding to the testing specification.例文帳に追加

試験仕様に応じた試験実行プログラムを簡易に構築して試験機本体の作動を制御することのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

Consequently, according to this leakage testing device 1, detection accuracy of the pressure in the lattice hole 10 is improved, and specification accuracy of a leak position can be improved, accompanying this.例文帳に追加

このため、漏れ試験装置１によれば、格子孔１０内の圧力の検出精度が向上し、これに伴ないリーク位置の特定精度を向上できる。 - 特許庁

To provide a nuclear instrumentation design aiding system capable of automatic design of component such as specification determination and automatic formation of testing specification by using CAD(computer aided design) and analyzing tools on the basis of upstream system design specification and improving design efficiency and design quality in process instrumentation design for a reactor power station.例文帳に追加

原子力発電所プロセス計装設計において、上流の系統設計仕様を元に、ＣＡＤ、解析ツールを使用し、仕様決定等の機器の自動設計、試験仕様の自動作成が可能で、設計効率及び設計品質の向上を図ることができる原子力計装設計支援システムを提供する。 - 特許庁

The base sequence of any of the sequence numbers 1-4 (refer to the specification) or a part thereof is used for testing on the human pituitary or therapy of human pituitary-associated diseases.例文帳に追加

本発明は、配列番号１〜４のいずれかの塩基配列又はその部分の、ヒト下垂体に関する検査又はヒト下垂体関連疾患の治療のための使用である。 - 特許庁

By the memory 2 of 1st specification, a row address strobe signal RAS of a 1st activation control signal is activated at an effective timing, and read or write is executed by catching a testing address given to a partially shared address bus while operating by using a testing clock as reference.例文帳に追加

第１の仕様のメモリ２は、第１の活性化制御信号ロウアドレスストローブ信号ＲＡＳが有効のタイミングにおいて活性化され、テスト用クロックを基準に動作して、一部共有のアドレスバスに与えられたテスト用アドレスをとらえてリードまたはライトを実行する。 - 特許庁

In this card torsion testing device, the card can be mounted or dismounted easily, and the card can be set simply without replacing a component of the testing device even to a card having the different card length such as an extended specification.例文帳に追加

本発明のカードのねじり試験は、カードの取付け取外しを容易にし、エクステンデット規格等のカード長さの異なったカードに対しても試験装置の部品を交換することなく、簡単にカード設定が可能なカードのねじり試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

In this card bending testing device, the card can be mounted or dismounted easily, and the card can be set simply without replacing a component of the testing device even to a card having the different card length such as an extended specification.例文帳に追加

本発明のカードの曲げ試験は、カードの取付け取外しを容易にし、エクステンデット規格等のカード長さの異なったカードに対しても試験装置の部品を交換することなく、簡単にカード設定が可能なカードの曲げ試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

Thereafter, a power supply voltage and a first test signal are supplied from a testing apparatus body through the probe pin to the semiconductor chip A under conditions determined by a specification and a sorting test is implemented.例文帳に追加

その後、試験装置本体からプローブピンを介して半導体チップＡに仕様で定められた条件で電源電圧と第１のテスト信号とを供給し、選別試験を実施する。 - 特許庁

As the result that the testing access is executed in one or more access routes by a failure specification means 11c, the constituent element of the failure point candidate that is last one is set as the failure point.例文帳に追加

障害特定手段１１ｃにより、１以上のアクセスルートでテスト用アクセスが実行された結果、最後の１つとなった障害箇所候補の構成要素が障害箇所とされる。 - 特許庁

A quality judging specification value for an avalanche proof level test carried out as substitution for the PBSOA proof level test for securing a PBSOA proof level is determined based on a sample of the testing objective semiconductor element.例文帳に追加

試験対象半導体素子のサンプルから、ＲＢＳＯＡ耐量を保証するＲＢＳＯＡ耐量試験の代替として行うアバランシェ耐量試験の合否判断の規格値を決定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing program debug device capable of reducing wastefulness of a facility when using a semiconductor test program or a semiconductor test device having a different specification.例文帳に追加

仕様が異なる半導体試験装置あるいは半導体試験プログラムを用いる場合に設備の無駄を低減することができる半導体試験用プログラムデバッグ装置を提供すること。 - 特許庁

Local magnetic characteristics of a core in the rotary machine are calculated based on material property and design specification of a predetermined core, and the local magnetic characteristics of the core in a testing rotary machine manufactured by the core material and design specification as the material characteristics are measured.例文帳に追加

予め決めた鉄心の材料特性及び設計仕様に基づき回転機における鉄心部の局所的な磁気特性を計算すると共に、上記材料特性とされる鉄心材料及び設計仕様にて作製した試験回転機における鉄心部の局所的な磁気特性を測定する。 - 特許庁

By the memory 3 of 2nd specification, a chip select signal CS of a 2nd activation control signal is activated at the effective timing, and the read or the write is executed by catching the testing address given to the partially shared address bus while operating by using the aforementioned testing clock as reference.例文帳に追加

第２の仕様のメモリ３は、第２の活性化制御信号チップセレクト信号ＣＳが有効のタイミングにおいて活性化され、前記と同じテスト用クロックを基準に動作して、一部共有のアドレスバスに与えられたテスト用アドレスをとらえてリードまたはライトを実行する。 - 特許庁

To align a liquid crystal panel by considering difference in thermal expansion contraction between liquid crystal panels, when testing a plurality of liquid crystal panels of the same specification.例文帳に追加

同一仕様の複数の液晶パネルを点灯検査するときに，液晶パネル間で熱膨張による伸縮量に違いがあっても，その違いを考慮して液晶パネルをアライメントできるようにする。 - 特許庁

A semiconductor testing device 100 tests devices 17A, 17B to be measured which are mounted on two test heads by using two kinds of test programs each of which is constituted so as to include a program specification command for specifying a common program.例文帳に追加

半導体試験装置１００は共通プログラムを指定するプログラム指定コマンドを含んで構成された２種類のテストプログラムを用いて２台のテストヘッドに実装された被測定デバイス１７Ａ，１７Ｂを試験する。 - 特許庁

This method for testing the computer system by applying a load includes: receiving of a load specification which identifies at least one resource of the system and specifies the load applied to the resource(s); and applying of the corresponding and specified load to the resource specified by the load specification.例文帳に追加

本発明にかかる負荷を適用することによってコンピュータシステムをテストする方法は、負荷仕様を受け取ることであって、当該負荷仕様が、システムの少なくとも１つの資源を特定し、かつ、当該資源に適用される負荷を指定する、負荷仕様を受け取ることと、および負荷仕様で特定された各資源について、対応する指定された負荷を当該資源に適用することとを含む。 - 特許庁

To provide a wafer and its testing method, having a configuration capable of being inspected whether or not an overshoot of an output signal output from an output buffer circuit of LSI is a prescribed specification value or less, in a state that chips are arrayed on the wafer in the middle of a manufacturing process.例文帳に追加

ＬＳＩの出力バッファ回路から出力される出力信号のオーバシュート量が所定の規格値以下となっているかを、製造工程途中のウェハ上に配列されたチップ状態で検査可能な構成を有するウェハ及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a piezoelectric transformer drive circuit for protecting a piezoelectric transformer from a short-circuitted state caused between a load and ground potential for some reason or a state of low load impedance during time-division light control and preventing incorrect judgement even if load impedance is high at the time of start, load opening, and high load impedance while limiting current testing specification is satisfied.例文帳に追加

時分割調光時に負荷が何らか理由でグランド電位と短絡された状態や負荷インピーダンスが低い状態に圧電トランスを保護し、限流試験規格を満足し、起動時、負荷オープン時、負荷インピーダンスが高い場合に誤判定をしない圧電トランス駆動回路を提供する。 - 特許庁

The plastic composition containing an IR-reflecting component has a reflectance increased by at least about 300% in the spectrum of the wavelengths of about 750-about 2,500 nm and a ΔT of at least about 15°C measured according to the procedure described in ASTM specification D4803-97 testing method, each compared with a color-matched plastic composition not containing the IR-reflective pigment.例文帳に追加

赤外線反射成分を含むプラスチック組成物は、赤外線反射顔料を含まない等色プラスチック組成物と比較して、約７５０ｎｍ〜約２５００ｎｍ波長のスペクトルにおける反射率が少なくとも約３００％増加し、赤外線反射顔料を含まない等色プラスチック組成物と比較して、ＡＳＴＭ規格Ｄ４８０３−９７試験法に記載の手順に従って測定したデルタＴが少なくとも約１５℃である。 - 特許庁