「test assembly」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

HAND ASSEMBLY OF DUMMY FOR IMPACT TEST例文帳に追加

衝突テスト用ダミーのハンドアセンブリー - 特許庁

SOCKET ASSEMBLY FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT TEST例文帳に追加

半導体素子テスト用のソケットアセンブリ - 特許庁

PROBE FOR ENERGIZATION TEST, AND PROBE ASSEMBLY FOR ENERGIZATION TEST例文帳に追加

通電試験用プローブおよび通電試験用プローブ組立体 - 特許庁

DISCONNECTION TEST METHOD OF COAXIAL CABLE ASSEMBLY例文帳に追加

同軸ケーブルアセンブリの断線試験方法 - 特許庁

METHOD OF ACCEPTANCE DECISION FOR ENGINE ASSEMBLY LEAKAGE TEST例文帳に追加

エンジンアセンブリリークテスト合否判定方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR PRODUCT DIE, AND ASSEMBLY INCLUDING TEST DIE FOR TEST例文帳に追加

半導体製品ダイのテスト方法及び同テストのためのテストダイを含むアセンブリ - 特許庁

PROBE FOR ENERGIZATION TEST AND PROBE ASSEMBLY例文帳に追加

通電試験用プローブ及びプローブ組立体 - 特許庁

ENGINE ASSEMBLY STATUS TEST METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

エンジン組立状態検査方法及びその装置 - 特許庁

The reception test and the assembly test are performed by the same program, then the same test is applied to the ECU 10.例文帳に追加

受入検査とアッセンブリ検査は、同一のプログラムにより行われ、ＥＣＵ１０に対して同じ検査を行う。 - 特許庁

IRRADIATION TEST REACTOR AND FUEL ASSEMBLY FOR IT例文帳に追加

照射試験炉および照射試験炉用燃料集合体 - 特許庁

To test the performance of a sensor circuit before assembly.例文帳に追加

組立て前にセンサ回路の性能を試験できるようにする。 - 特許庁

FLEXIBLE PRINTED CIRCUIT FOR HEAD GIMBAL ASSEMBLY, HEAD GIMBAL ASSEMBLY, AND TEST METHOD OF SLIDER例文帳に追加

ヘッドジンバルアセンブリー用のフレキシブルプリント回路、ヘッドジンバルアセンブリー、およびスライダーの試験方法 - 特許庁

A brushless motor for test is prepared and a rotor assembly is allocated in the internal side of a stator assembly.例文帳に追加

試験用のブラシレスモータを準備し、ロ−タアセンブリをステータアセンブリの内側に配置する。 - 特許庁

PARTICULATE SAMPLER, TRANSPORT PIPE ASSEMBLY AND DISCHARGE TEST UNIT例文帳に追加

パティキュレート・サンプラ及び移送管アセンブリ及び排出試験ユニット - 特許庁

A test assembly 2000 is designed for testing product circuitry of a product die 2011.例文帳に追加

製品ダイ2011の製品回路をテストするためのテストアセンブリ2000。 - 特許庁

PARTICULATE SAMPLER, TRANSFER TUBE ASSEMBLY AND DISCHARGE TEST UNIT例文帳に追加

パティキュレート・サンプラ及び移送管アセンブリ及び排出試験ユニット - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR LATERAL LOAD IMPACT TEST OF FUEL ASSEMBLY例文帳に追加

燃料集合体の横荷重衝撃試験方法及び装置 - 特許庁

To reduce an assembly cost by making chips defective before assembly instead of making them defective in a stress test after assembly.例文帳に追加

組立後のストレス試験で不良化させていたチップを組立前において不良化させて、組み立てコストを削減すること。 - 特許庁

The defective sliders found in the test are removed from the test head suspension assembly and rejected.例文帳に追加

試験結果が不良品であるスライダは、このテストヘッドサスペンションアセンブリから取り外して廃棄する。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM TO TEST SLIDER FOR HEAD GIMBAL ASSEMBLY OF DISK DRIVE例文帳に追加

ディスク装置のヘッドジンバルアセンブリ用スライダの試験方法及びシステム - 特許庁

In one embodiment, the test assembly comprises a test die 2010 and an interconnection substrate 2008 for electrically connecting the test die to a host controller 2002.例文帳に追加

一実施形態では、テストアセンブリは、テストダイ2010及び該テストダイをホストコントローラ2002へ電気的に結合する相互接続基板2008を含む。 - 特許庁

The test assembly includes a test die (2010, 400) and an interconnection substrate (2008) for electrically coupling the test die to a host controller (2002).例文帳に追加

一実施形態では、テストアセンブリは、テストダイ(2010,400)及び該テストダイをホストコントローラ(2002)へ電気的に結合する相互接続基板(2008)を含む。 - 特許庁

After that, products are shipped through an assembly process (S3) and a test process (S4).例文帳に追加

その後、アセンブリ工程（Ｓ３）と検査工程（Ｓ４）を経て製品出荷する。 - 特許庁

HANDLING ROBOT OF MAGNETIC HEAD ASSEMBLY, MAGNETIC HEAD TEST METHOD AND MAGNETIC HEAD TESTER例文帳に追加

磁気ヘッドアッセンブリのハンドリングロボット，磁気ヘッド検査方法および検査装置 - 特許庁

This method includes operating of the rotor assembly and stator assembly before insulation under a test environment with an atmospheric pressure of 2 bars or more.例文帳に追加

気圧２バール以上の試験環境下で、絶縁前の前記ロータアセンブリおよびステータアセンブリを動作することを含む。 - 特許庁

To provide a test assembly (2000) for testing product circuitry (202, 302, 304) of a product die (2011, 300).例文帳に追加

製品ダイ(2011,300)の製品回路(202,302,304)をテストするためのテストアセンブリ(2000)を提供すること。 - 特許庁

CONTACT FOR ELECTRICAL TEST OF ELECTRONIC DEVICE, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND PROBE ASSEMBLY例文帳に追加

電子デバイスの電気的試験用接触子、その製造方法及びプローブ組立体 - 特許庁

This system includes a prober positioning assembly connected with a substrate supporting member in a test chamber.例文帳に追加

装置はテストチャンバ内で基板支持部に連結されたプローバ位置決めアセンブリを含む。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device which can accurately grasps the test temperature after assembly, and its method.例文帳に追加

アセンブリ後のテスト温度を的確に把握できる半導体装置とそのテスト方法を得る。 - 特許庁

A probe conveyance assembly 300 is arranged near the second side part of the test chamber 500, and arranged so as to convey a probe 205 between the probe storing assembly 200 and the test chamber 500.例文帳に追加

プローブ搬送アセンブリ３００はテストチャンバ５００の第２の側部の近傍に配置され、プローブ収納アセンブリ２００とテストチャンバ５００との間でプローブ２０５を搬送するように配置される。 - 特許庁

Therefore, the test program for testing a simple body of the first memory chip can be utilized as a test program for the semiconductor device after assembly.例文帳に追加

このため、第１メモリチップ単体を試験する試験プログラムを、半導体装置の組み立て後の試験プログラムとして流用できる。 - 特許庁

To enable a tilt test and a telescopic test of a steering assembly to be carried out quickly and correctly without the need for any tooling-change process.例文帳に追加

ステアリングアッセンブリーのチルト試験とテレスコピック試験とを、段替え工程を介することなく、迅速かつ正確に行うことを可能とする。 - 特許庁

Each region is separately formed, and integrity test is performed separately before a final assembly.例文帳に追加

各領域は別個に形成され、最終的な組立ての前に個々に、保全性試験が実施される。 - 特許庁

To provide a test plug assembly for testing the integrity of a pipe segment having an inner diameter.例文帳に追加

内径を有するパイプのセグメントの完全性を試験する試験プラグ組立体を提供する。 - 特許庁

requirements on test facilities are approved by general assembly of all involved parties in verification 例文帳に追加

試験設備への要件は，検定に関わるすべての関与者の全体会議で承認される - 経済産業省

To provide a nonvolatile memory card and a test method therefor that can shorten the time for test of a nonvolatile memory after the assembly of the memory card.例文帳に追加

メモリカードの組み立て後に不揮発性メモリのテストを短時間で行うことができる不揮発性メモリカードおよびそのテスト方法を実現する。 - 特許庁

In order to test the continuity of the wire harness manufactured on an assembly diagram board 20, a continuity test unit 33 is connected with the wire harness.例文帳に追加

組立図板２０で製造されるワイヤーハーネスの導通を検査するためにワイヤーハーネスと接続される導通検査ユニット３３を設ける。 - 特許庁

The substrate supporting member is a test table in which X, Y and Z axes are movable, while the prober positioning assembly is movable to the test table.例文帳に追加

基板支持部はＸ、Ｙ及びＺ軸の移動が可能なテストテーブルであり、プローバ位置決めアセンブリはテストテーブルに対して移動可能である。 - 特許庁

The method of installing and configuring a test package for a unit under test in an automated assembly process uses an identifier of the unit under test to retrieve the test files and other files for the installation and configuration.例文帳に追加

自動化された組み立て工程においてテスト中のユニット装置に対してテスト・パッケージをインストールし設定する方法は、上記テスト中のユニットの識別子を用いてテスト・ファイルとインストール及び設定用の他のファイルとを検索する。 - 特許庁

To provide a test method for determining disconnection of a coaxial cable assembly at high speed and with high precision.例文帳に追加

同軸ケーブルアセンブリの断線の有無を高速かつ高精度に判定する試験方法を提供する。 - 特許庁

This system includes a load lock chamber 400 arranged near the first side part of the test chamber 500, and a probe storing assembly 200 arranged under the test chamber 500.例文帳に追加

テストチャンバ５００の第１の側部の近傍に配置されたロードロックチャンバ４００と、テストチャンバ５００の下方に配置されたプローブ収納アセンブリ２００を含む。 - 特許庁

The present invention relates to a test assembly for testing a product circuit of a product die, and a product and a test die are prepared on a semiconductor wafer.例文帳に追加

本発明は、製品ダイの製品回路をテストするためのテストアセンブリに関するもので、製品及びテストダイは別個の半導体ウェハ上に作製される。 - 特許庁

To provide method and system for planarizing of semiconductor contactor, attaining flatter relation, with regard to probe card assembly, and more specifically, between contacting element and device under test on the probe card assembly.例文帳に追加

プローブカードアセンブリに関し、より具体的には、プローブカードアセンブリ上の接触要素と被試験デバイスとの間で、より平坦な関係を達成する。 - 特許庁

A test method has plural test flows corresponding to an estimated result of a process in a post-process test after assembly of a semiconductor memory, and a test flow is selected in accordance with an estimated result of a process measured by an estimation pattern at the time of a post-process test.例文帳に追加

検査方法は、半導体記憶装置の組立後の後工程検査において、プロセスの出来ばえ評価結果に対応する複数の検査フローを有し、後工程検査時に評価パターンにて測定したプロセスの出来映え評価結果に応じて検査フローを選択している。 - 特許庁

In an embodiment of the present invention, after a head slider has been mounted on a suspension, a test on the assembly is conducted.例文帳に追加

本発明の一実施形態において、ヘッド・スライダをサスペンションに実装した後、そのアセンブリのテストが行われる。 - 特許庁