「test process」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TEST PROCESS MANAGEMENT DEVICE, ITS METHOD, TEST PROCESS MANAGEMENT PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM HAVING TEST PROCESS MANAGEMENT PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

テストプロセス管理装置、テストプロセス管理方法、及びテストプロセス管理プログラム、並びにテストプロセス管理プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

In the test process, the process with contents corresponding to the received test command is executed.例文帳に追加

テスト処理では、受信したテストコマンドに対応した内容の処理が実行される。 - 特許庁

If no same test process existed in the past, the test conditions are stored in the test condition memory section 13 from a test condition set section 14, the test process is implemented, and the process history of the test conditions is stored in the implementation state memory section 15 after the completion of the test process.例文帳に追加

過去に同一の試験処理がなければ、その試験条件を試験条件設定部１４から試験条件記憶部１３に記憶させて試験処理を実行し、この試験処理終了後、実行状況記憶部１５にその試験条件の処理履歴を記憶する。 - 特許庁

After that, products are shipped through an assembly process (S3) and a test process (S4).例文帳に追加

その後、アセンブリ工程（Ｓ３）と検査工程（Ｓ４）を経て製品出荷する。 - 特許庁

TESTING METHOD, TEST PROGRAM, PROCESS MONITORING METHOD, AND PROCESS MONITORING PROGRAM例文帳に追加

試験方法、試験プログラム、工程監視方法及び工程監視プログラム - 特許庁

To improve process amount and process time in immunodiagnostic test.例文帳に追加

免疫診断検査における処理量および処理時間を改善する。 - 特許庁

A test process determining part 12 determines the test process data indicating a schedule of a test, and an evaluation reference value as the reference for judging a progress.例文帳に追加

テスト工程設定部１２は、テストのスケジュールを示すテスト工程データと進捗判定の基準となる評価基準値とを設定する。 - 特許庁

On the basis of correlation between information about the product and a test results of the second test process, the standard in the first test process is adjusted.例文帳に追加

そして、製品に関する情報と第２の検査工程の検査結果との相関関係に基づいて、第１の検査工程における基準を調整する。 - 特許庁

A fourth process acquires the test pattern closest to the test conditions in the third process among the prescribed test patterns.例文帳に追加

第４の工程は、所定のテストパターンのうち第３の工程のテスト条件に最も近いテストパターンを求める。 - 特許庁

go successfully through a test or a selection process 例文帳に追加

首尾よくテストや選考過程を通過する - 日本語WordNet

Performing a Test Run of the Travel Reservation Service Process 例文帳に追加

旅行予約サービスプロセスのテスト実行 - NetBeans

TEST SYSTEM AND MANUFACTURING PROCESS OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

テストシステムおよび半導体装置の製造方法 - 特許庁

TEST PROCESS MANAGEMENT SUPPORT SYSTEM FOR SOFTWARE例文帳に追加

ソフトウェアのテスト工程管理支援システム - 特許庁

TERMINAL PROCESS MEMBER FOR LIGHTNING IMPULSE VOLTAGE BREAKDOWN TEST例文帳に追加

雷インパルス電圧破壊試験用端末処理部材 - 特許庁

PROCESS MODEL BASE AUTOMATIC TEST SYSTEM例文帳に追加

プロセスモデルベース自動テストシステム - 特許庁

TEST WAFER FOR PERFORMANCE OF THROUGH-ELECTRODE PROCESS例文帳に追加

貫通電極工程性能の試験ウエハ - 特許庁

EVALUATION TEST DEVICE OF SILICIDE FILM MANUFACTURING PROCESS例文帳に追加

シリサイド膜製造工程の評価試験装置 - 特許庁

TEST PROCESS MANAGEMENT METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

テスト進捗管理方法及びシステム - 特許庁

RESONANCE TEST METHOD AND BENDING DURABLE TESTING PROCESS例文帳に追加

共振試験方法及び曲げ耐久試験方法 - 特許庁

TEST PROCESS CONTROL DEVICE AND METHOD例文帳に追加

テスト工程管理装置、テスト工程管理方法 - 特許庁

SYSTEM FOR CREATING TEST PLAN FOR BUSINESS PROCESS CONTROL例文帳に追加

業務プロセス統制テスト計画作成システム - 特許庁

METHOD FOR ESTIMATING TEST PROCESS PERIOD IN SOFTWARE DEVELOPMENT例文帳に追加

ソフトウェア開発における試験工程期間見積り方法 - 特許庁

A test request control part 14 transmits the test request to a test authorized person in accordance with the test process data determined by the test process determining part 12.例文帳に追加

テスト依頼制御部１４は、テスト工程設定部１２によって設定されたテスト工程データに従ってテスト依頼をテスト関係者に送信する。 - 特許庁

To provide a method for estimating a test process period in software development capable of accurately calculating a test process period based on the information of the number of finished test items and the number of discovered errors until a cretin point of time in a test process.例文帳に追加

試験工程のある時点までの消化試験項目数と発見エラー数の情報に基づいて試験工程期間を適確に算出し得るソフトウェア開発における試験工程期間見積り方法を提供する。 - 特許庁

The test-run feature enables business process developers to perform test runs of their processes. 例文帳に追加

テスト実行機能によって、ビジネスプロセスの開発者はプロセスのテスト実行を行うことができます。 - NetBeans

A test signal generating circuit 11 generates a test signal in a process of waveform adjustment.例文帳に追加

テスト信号発生回路１１は、波形調整の過程において、テスト信号を発生させる。 - 特許庁

ERROR PROCESS TEST SYSTEM OF SOFTWARE, TESTING METHOD, AND RECORDING MEDIUM FOR TEST PROGRAM例文帳に追加

ソフトウェアのエラー処理テストシステム、テスト方法及びテストプログラムの記録媒体 - 特許庁

SURVEILLANCE TEST DEVICE FOR PROCESS CONTROL EQUIPMENT, AND PORTABLE SURVEILLANCE TEST DEVICE例文帳に追加

プロセス制御機器のサーベイランス試験装置及び可搬式サーベイランス用試験装置 - 特許庁

To shorten the test time by simplifying the necessary display screen operation during the test process.例文帳に追加

検査を進めるうえで必要な画面操作を簡易化することにより、検査にかかる時間を短縮する。 - 特許庁

The same process is repeated to a test pattern set of merged test patterns.例文帳に追加

テストパタンの併合されたテストパタンセットに対しても、同様の処理を繰り返す。 - 特許庁

A test method has plural test flows corresponding to an estimated result of a process in a post-process test after assembly of a semiconductor memory, and a test flow is selected in accordance with an estimated result of a process measured by an estimation pattern at the time of a post-process test.例文帳に追加

検査方法は、半導体記憶装置の組立後の後工程検査において、プロセスの出来ばえ評価結果に対応する複数の検査フローを有し、後工程検査時に評価パターンにて測定したプロセスの出来映え評価結果に応じて検査フローを選択している。 - 特許庁

To provide a test case management device that reduces the working process by a test person for classifying test cases for each testing object screen under operation and a test condition varying in response to a test execution state and registering the test cases and reduces the working process by the test person for acquiring the test case adapting to the testing object screen and the test condition during the test.例文帳に追加

本発明は、テスト担当者が操作中のテスト対象画面およびテスト実行状態に応じて変化するテスト条件毎に分類してテストケースを登録する作業工程を削減し、さらにテスト担当者がテスト中にテスト対象画面およびテスト条件と適合する、テストケースを取得する作業工程を削減することを可能とするテストケース管理装置を提供する。 - 特許庁

A test pattern generation process 103 extracts and arranges an execution condition for the process extracted in the process 102 or a data operation retrieval process 104 from a program test patterns list, generates one test pattern and adds an ID thereto.例文帳に追加

テストパターン作成処理103は、処理102又はデータ操作検索処理104で抽出された処理の実行条件を、プログラムテストパターンの一覧から抽出・整理し、1つのテストパターンを作成し、IDを付与する。 - 特許庁

To provide semiconductor test equipment and a semiconductor test method which can conduct a test for defects with high accuracy in a semiconductor manufacturing process.例文帳に追加

半導体製造工程における欠陥検出検査を高精度で行うことが可能な半導体検査装置及び半導体検査方法を提供する。 - 特許庁

Each of the test substrates is classified and allocated to a test substrates group having a common reusable process assigned to the test substrates group.例文帳に追加

各々のテスト基板は、テスト基板のグループに割当てられた共通の再生利用プロセスを有するテスト基板のグループに分類され、配置される。 - 特許庁

The test conditions are: the electrodes of ϕ25 mm cylindrical column/ϕ25 mm cylindrical column; the sample thickness of 0.5 mm; the test method of short time process; and the test temperature of 23°C.例文帳に追加

＜試験条件＞ 電極：φ２５ｍｍ円柱／φ２５ｍｍ円柱 試料厚み：０．５ｍｍ 試験方法：短時間法 試験温度：２３℃ - 特許庁

A combination test pattern generation process 105 generates a combination test pattern list based on the test pattern ID, and displays it to a worker.例文帳に追加

組み合わせテストパターン生成処理105は、テストパターンIDを元に組み合わせテストパターン一覧を作成し、作業者に表示する。 - 特許庁

The method includes: a test piece creating process of creating a test piece 3 on which the tread groove 4 is formed; and a testing process of performing a groove bottom crack resistance performance test by using the test piece 3.例文帳に追加

前記トレッド溝４を形成した試験片３を作成する試験片作成工程と、該試験片３を用いて耐溝底クラック性能テストを行うテスト工程とを含む。 - 特許庁

To enable shortening a test process in a semiconductor storage and to enable reducing power consumption in a burn-in test process.例文帳に追加

半導体記憶装置における検査工程を短縮できるようにし、また、バーンイン検査工程において、消費電力を低減できるようにする。 - 特許庁

In the above case, the memory test is carried out through a sheet process sequence, in which the test is started from a test board where packing semiconductor devices is finished, and semiconductor devices are removed from a test board whose test is finished.例文帳に追加

この場合、半導体装置を詰め終わったテストボードからテストスタート、テスト終了したテストボードから半導体装置を払い出すという枚葉処理のシーケンスによってメモリテストが実行される。 - 特許庁

Click Continue.On the completion of the process the HasNoReservations test passes successfully. 例文帳に追加

「継続」をクリックします。 このプロセスが完了すると、HasNoReservations テストは成功です。 - NetBeans

To obtain a wafer marking device being used in semiconductor wafer test process.例文帳に追加

半導体ウエハテスト工程にて使用されるウエハマーキング装置を得る。 - 特許庁

METHOD, SYSTEM, AND SOFTWARE FOR EVALUATING ADJUSTMENT FACTOR IN TEST PROCESS OR MONITOR PROCESS例文帳に追加

試験プロセス又は監視プロセスにおいて調整因子を評価する方法、システム及びソフトウェア - 特許庁

BUSINESS PROCESS TEST DESIGN SUPPORT DEVICE, BUSINESS PROCESS TESTING METHOD AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

ビジネスプロセステスト設計支援装置、ビジネスプロセス試験方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁

To reduce a manufacturing cost and to shorten a manufacturing process in a process from an airtightness test to shipment.例文帳に追加

気密試験から出荷までの工程において、製造コストの低減と製造工程の短縮化を図る。 - 特許庁