「test process」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

A test chart 91 is printed which includes: a YMC non-discharge detecting pattern image 71 consisting of a process black colored Y+M+C dot 88 and a K dummy jet adjusting image 73 consisting of a K dot 74.例文帳に追加

また、プロセスブラック色のＹ＋Ｍ＋Ｃドット８８から成るＹＭＣ不吐出検知パターン画像７１と、Ｋドット７４から成るＫダミージェットと調整画像７３と、を含むテストチャート９１を印字する。 - 特許庁

To shorten the time required for a pre-shipment power generation operation test and further suppress the deterioration of a reforming catalyst during an operation stop period, in a fuel cell power generation system provided with a reforming process device.例文帳に追加

改質処理装置を備えた燃料電池発電システムにおいて、出荷前発電運転試験にかかる時間を短縮し、しかも運転停止期間中に改質触媒の劣化を抑制する。 - 特許庁

A density of a gradation test pattern formed by a simple medium tone process control with a small forming number of pattern images is measured (101, 102), and approximated data are obtained by applying approximation processing to detected data (103).例文帳に追加

パターン像の形成数が少ない簡易中間調プロコンにより形成した階調テストパターンの濃度を測定し（１０１，１０２）、検出データに対する近似処理を行って近似データを求める（１０３）。 - 特許庁

Each chip has a variable resistance element CC formed simultaneously by a process common to the memory cell between interconnected test pads TT and TB of a first pad for memory location detection.例文帳に追加

各チップは、相互に接続される第１のメモリ位置検知用パッドのテストパッドＴＴ，ＴＢ間に、それぞれ、メモリセルと共通のプロセスにより同時に形成される可変抵抗素子ＣＣを有する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device capable of suppressing a reduction in the deflecting strength of a chip and preventing cracking of a semiconductor chip in an assembling process, a reliability test, etc.例文帳に追加

チップの抗折強度の低下を抑制でき、組み立て工程や信頼性試験などで半導体チップが割れるのを防止できる半導体装置の製造方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a probe card in which concentration of current of the probe card used for a test process in manufacture of a semiconductor device of SOC (System On Chip) consuming large current is prevented and damage of concentration is prevented.例文帳に追加

大電流を消費するＳＯＣ(System On Chip)などの半導体装置の製造における試験工程に用いるプローブカードの電流集中を防いでその損傷を防ぐプローブカードを提供する。 - 特許庁

This generation circuit has a VCID(VCD ID) storing part (11), a VCDU(Virtual Channel Data Unit) counter part (12) an APID(Applied Process ID) storing part (13), a sequence counter part (14) and a data buffer where test data are written independently and guarantees the continuity of counters.例文帳に追加

ＶＣＩＤ格納部（１１）、ＶＣＤＵカウンタ部（１２）、ＡＰＩＤ格納部（１３）、及びシーケンスカウンタ部（１４）と、試験データを書き込むデータバッファとを独立に持ち、カウンタの連続性を保証する。 - 特許庁

The method includes a process for treating a test person infected or probably infected with herpes viruses with the compounds or their salts at a therapeutically acceptable dose.例文帳に追加

ヘルペスウイルスに感染したまたは感染のおそれのある被験体を、治療的に受容可能な用量のこれらの化合物および治療的に受容可能なこれらの塩により処置する工程を包含する方法。 - 特許庁

The electron beam test system analyzes faulty or breakdown caused by a process defect by irradiating an electron beam to a semiconductor integrated circuit device to be analyzed and obtaining a potential contrast.例文帳に追加

被解析対象物である半導体集積回路装置に電子ビームを照射して電位コントラストを取得することにより、プロセス欠陥に起因する不良又は故障を解析する電子ビームテストシステムである。 - 特許庁

The ability evaluation device acquires a plurality of intermediate products produced in a process wherein the test subject creates the final product in prescribed timing, and stores time at the time of acquiring each intermediate product.例文帳に追加

被験者が最終成果物を作成する過程で生成された複数の中間成果物を所定のタイミングで取得し、各々の該中間成果物を取得する時点の時刻を記憶しておく。 - 特許庁

To provide a protective diode, which is effective as a protective circuit in a test/assembly process and capable of carrying out high-speed processing in actual operations, a device equipped with the diode, and assembling method of the device.例文帳に追加

検査及び組立工程においては保護回路が有効で、実動作においては高速処理が可能となる保護ダイオード及びそれを有する装置ならびにその組立方法を提供する。 - 特許庁

The physical design is corrected through the process of deleting the redundant latches and a test is conducted on the corrected physical design to determine whether the corrected physical design will operate as expected.例文帳に追加

冗長なラッチを削除するプロセスで物理設計が修正され、この修正された物理設計のテストを行って、この修正された物理設計が予想どおり動作するかどうかを判定する。 - 特許庁

The image forming apparatus of the embodiment executes a continuous image formation test to specify the model of the self apparatus when a system controller is connected to an engine controller in an assembly process.例文帳に追加

本実施形態に係る画像形成装置は、組立工程において、システム制御部とエンジン制御部とが接続されると、自装置の機種を特定するための連続画像形成のテストを実行する。 - 特許庁

To properly process defective address data in the processes after wafer test has been completed during a nonvolatile memory production when a defective cell that is newly detected or discovered is to be replaced by a redundancy cell.例文帳に追加

不揮発性メモリの製造に際して、ウェハテスト終了後の後工程において、新たに検出あるいは判明した不良セルをリダンダンシセルに置き換える場合の不良アドレスデータの処理の適正化を図る。 - 特許庁

This pressure-proof test device 10 provided with a vessel 12 filled with a liquid 11 for immersing the high-pressure gas container 1 is arranged on a production line in a downstream of a process for filling the filling- objective gas into the high-pressure gas container.例文帳に追加

高圧ガス容器(1)を浸漬させる液体(11)が満たされた槽(12)を備える耐圧試験装置(10)を、高圧ガス容器に充填対象ガスを充填させる工程の後の製造ライン上に配置する。 - 特許庁

The process for producing, in a test specimen, selective immune down regulation to infectious bacterial materials comprises a step capable of producing the selective immune down regulation and introducing the infectious material component, an agent containing the fragment thereof or a combination of the agents to the test specimen.例文帳に追加

被験体において感染性細菌性物質に対する選択的免疫ダウンレギュレーションを生成するためのプロセスであって、選択的免疫ダウンレギュレーションを生成し得、かつ該感染性物質の成分またはそのフラグメントを含む試薬または試薬の組合せを該被験体に導入する工程を包含する、プロセス。 - 特許庁

This laminography inspection system is equipped with a radioactive source, a plurality of linear image detectors to demarcate an image plane, a fixed table to dispose the test object at a fixed position between the radioactive source and the image detector, and a computer device to process a plurality of the images of the test object which are acquired from the image detectors.例文帳に追加

断層撮影検査システムが、放射線源、影像平面を画定する複数の線形影像検出器、放射線源と影像検出器の間の固定された位置に試験物体を配置する固定式テーブル、および影像検出器から獲得された試験物体の複数の影像を処理するコンピュータ装置を備える。 - 特許庁

This MRI apparatus executes pulse sequences including a saturation recovery sequence impressing a high frequency magnetic field to a test subject to excite a nuclear magnetization; and an image acquisition sequence impressing the high frequency magnetic field and a gradient magnetic field to the test subject in a predetermined process and allowing a predetermined slice to emit MR signals for use in an image formation.例文帳に追加

検査対象に高周波磁場を印加して核磁化を励起する飽和回復シーケンスと、前記検査対象に所定の手順で前記高周波磁場と傾斜磁場とを印加して画像作成に使用するMR信号を所定のスライスから発生させる画像取得シーケンスとを含むパルスシーケンスを行う。 - 特許庁

To provide a probe card provided with an interposer, capable of suppressing conduction failure between electrodes of the first substrate (main substrate) and the second substrate (sub-substrate) by thermal deformation of the interposer which occurs in high-temperature thermal test or device thermal test, improving the production yield, and shortening the production process time.例文帳に追加

高温熱試験時あるいはデバイス熱試験時に発生するインターポーザの熱変形による第１基板（メイン基板）と第２基板（サブ基板）の電極間の導通不良の発生を抑制し、しかもその製造歩留まりが向上し、製造工程時間が短くなるインターポーザを備えたプローブカードを提供する。 - 特許庁

When the test is carried out whether a block address and an actual block are in a one-to-one relation, the actual access to a memory cell MC becomes unnecessary in this test process by not holding the information indicating whether the access to the memory cell MC is present or not but holding the information in the latch circuit LT 110 as the access flag.例文帳に追加

ブロックアドレスと実際のブロックとが一対一に対応しているかどうかをテストする際には、メモリセルＭＣにアクセスがあったかどうかの情報を保持するのではなく、このラッチ回路ＬＴ１１０にアクセスフラグとして保持することにより、このテスト工程でメモリセルＭＣに実際にアクセスする必要がなくなる。 - 特許庁

To provide method and program for predicting software reliability, a computer readable recording medium recording the predicting program, and a software reliability predicting device allowing accurate planning of a test process by estimating an upper limit of an estimated value of the number of potential bugs existing in software just after starting the test and thus estimating the test period somewhat long.例文帳に追加

試験開始後間もない時点で、ソフトウェア内に存在する潜在バグ数の推定値の上限を見積もり、それに伴い試験期間を多少長めに見積もることで、試験工程の正確な計画を立てることを可能にするソフトウェア信頼性予測方法、ソフトウェア信頼性予測プログラム及び当該予測プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、並びにソフトウェア信頼性予測装置を提供する。 - 特許庁

If the electrical characteristic defects of one semiconductor chip is detected when a semiconductor wafer 1 is subjected to a probe test, the characteristic defects of the defective semiconductor chip can be detected in accordance with the test result of the probe test in the TEG closest to the failure region or a dimensional variation in one shot, to realize quick feedback to a manufacturing process, so that the manufacturing yield of semiconductor devices can be improved.例文帳に追加

半導体ウエハ１のプローブテスト時に、ある半導体チップの電気的特性不良が検出されると、その不良領域に最も近いＴＥＧにおけるプローブテストの検査結果、あるいはショット内寸法ばらつきなどから、不良の半導体チップにおける特性不良を検出することによって早期に製造工程へのフェードバックが可能となり、半導体装置の製造歩留まりを向上することができる。 - 特許庁

This method includes a process during which a configuration file including predetermined parameters prescribing the type and function of the device is read, and then, by generating test components, for generating a test environment, which have been selected according to the configuration file by adopting a configuration engine and have been connected, through a bus, to device representation, the test environment for the device is dynamically generated.例文帳に追加

本方法は、デバイスのタイプおよびデバイスの機能を規定する予め定められたパラメータを含むコンフィギュレーション・ファイルを読み込み、次に、コンフィギュレーション・エンジンを採用して、前記コンフィギュレーション・ファイルに従って選ばれ、バスを介してデバイス表現と接続されることによって試験環境を生成する試験部品を生成することによって前記デバイスのための試験環境を動的に生成する工程を含む。 - 特許庁

Using these test blocks, it is made possible to integrate a periodic test or on-demand test of the field devices to normal and continuous operations of the process control system or safety system without causing any scheduling problem or connection problem and without the need for relying on a maintenance person or other workers, thereby enabling better monitoring of the operation status of the field devices.例文帳に追加

これらの試験ブロックを用いることにより、フィールドデバイスの定期試験またはオンデマンド試験を、スケ−ジュール問題または接続問題を引き起こすことなく、また保守作業員または他の作業員に依存する必要もなく、プロセス制御システムまたは安全システムの通常のかつ継続した動作に統合することが可能になり、それにより、フィールドデバイスの動作ステータスをよりよく監視することが可能になる。 - 特許庁

A first analytical method includes a process for bringing the test sample into contact with a labeling partner capable of specifically combining with the substance to be analyzed, a process for bringing an obtained reactant into contact with a solid phase support medium capable of carrying a complex and removing an unreacted labeling partner, and a process for analyzing a signal derived from a labeling substance on the solid phase support medium.例文帳に追加

第１の分析方法は、被検試料と、分析対象物質に特異的に結合可能な標識化パートナーとを接触させる工程；得られた反応物を、複合体を担持可能で且つ未反応の標識化パートナーを除去可能な固相支持体と接触させる工程；及び固相支持体上の標識物質に由来する信号を分析する工程を含む。 - 特許庁

Shutting operation of the shut valve 16 in a test-shut process is performed in response to a shut signal from the outside when gas pressure on the secondary side lowers.例文帳に追加

工場出荷時は二次側のガス圧力は低下しており、また現場での開栓時は作業者により二次側のガス圧力を低下させることができるので、二次側のガス圧の低下をテスト遮断の条件に加えることができる。 - 特許庁

The process execution part 14 perform logic analysis from the lowest step toward an upper step to acquire truth/false of condition branching included in the batch AP as the test object and a boundary value for acquiring value candidate information.例文帳に追加

処理実行部１４は、最下位ステップから上位ステップに向けてロジック解析を行い、テスト対象のバッチＡＰに含まれる条件分岐の真／偽と、境界値とを取得して値候補情報を取得する。 - 特許庁

To provide a process for analyzing an assignment of chromosome on individual micronuclei induced by a test substance, for example, environmental mutagens or the like as well as exactly identifying the site specificity of a chromosomal aberration.例文帳に追加

環境変異原等の被検物質により誘発された各々の小核について、夫々、染色体における帰属性を解析し、且つ染色体異常の部位特異性を正確に同定する方法を提供する。 - 特許庁

In the third process, the flow rate of test fluid is adjusted by uniformly applying pressure throughout an overlapped portion of at least the tubular member 2 and the rod member 3 in the expander 1 from the external.例文帳に追加

第３工程は、膨張器１における少なくとも管状部材２と棒状部材３の重なり合う部分の全体にわたって、外部から均等に圧力をかけることにより、試験用流体の流量を調整する。 - 特許庁

Therefore, even if the emitter deposited at top of the upper holding cylinder evaporates in the producing process or a life test, no unnecessary thermonic emission is generated and no insulation failure occurs between the cathodes.例文帳に追加

このため製造プロセスあるいはライフ試験中に上部陰極保持シリンダの上端部に蒸着したエミッタが蒸発しても不要な熱電子放射は発生せず、陰極相互間の絶縁不良は発生しない。 - 特許庁

To provide a non-volatile ferroelectric memory, in which a defective cell can be easily detected and removed even if a process condition is changed without requiring another test mode, and a detecting method for a defective cell using the memory.例文帳に追加

別のテストモードが必要なく、工程条件が変わっても容易に不良セルを検知して除去することのできる不揮発性強誘電体メモリ装置並びにそれを用いた不良セル検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide lubricant compositions such as a calibration fluid composition for calibration (operation test) of an injector and a low viscosity lubricating rust preventive oil composition, which are used for an inspection line in a diesel injector manufacturing process.例文帳に追加

ディーゼルインジェクター製造工程における検査ラインで使用するインジェクターのキャリブレーション（作動検定）用のキャリブレーションフルード組成物や低粘度潤滑防錆油組成物などの潤滑油組成物を提供する。 - 特許庁

A flag processor instruction which uses the variable word length memory enables a low-cost efficient process and a flag memory, a status test flag, and a latched condition state can directly be referred to.例文帳に追加

可変ワード長メモリを利用するフラグプロセッサ命令セットにより、低コストで効率的な論理処理が可能となり、フラグメモリ、ステータステストフラグ、およびラッチされた条件状態に対する直接の参照を行うことができる。 - 特許庁

The reporting device 20 is connected to the monitoring device 10 by radio communication and, upon receiving the delay process start signal, conducts a temporary operation test to see whether the monitoring device 10 is operating normally.例文帳に追加

通報機器２０は、監視機器１０とは無線通信によって接続され、遅延処理開始信号を受信すると、監視機器１０が正常に動作しているか否かを確認する臨時動作試験を実行する。 - 特許庁

To provide a method for cleaning a substrate in which burrs occurring on the element forming surface of a substrate through probe test can be removed, and to provide a process for producing a semiconductor device and equipment for cleaning a substrate.例文帳に追加

プローブ検査によって基板の素子形成面にカエリが生じた場合でも、このカエリを除去することができる基板清浄方法及び半導体装置の製造方法、並びに基板清浄装置を提供する。 - 特許庁

It is described in the example with the result of the pharmacological test that the cells obtained by a process consisting of the steps of (1) and (2) in the example have an excellent inhibitory effect of angiogenesis and of diminishing effect of the cancer growth. 例文帳に追加

実施例において、 (1)～(2)からなる工程により得られた細胞が、優れた血管新生抑制効果を奏すること、及び、実際に癌を縮小させることを示す薬理試験結果が記載されている。 - 特許庁

To provide an IC test handler provided with a clamping device capable of restraining a lateral shift amount of an IC in an IC clamping process, and capable of preventing a terminal contact trouble or the like from occurring even in the IC having a reverse face terminal of a narrow pitch.例文帳に追加

ＩＣクランプ過程でのＩＣの横ずらし量を抑制でき、狭端子ピッチの裏面端子を持つＩＣでも端子接触不具合等の発生を防止できるクランプ装置を備えたＩＣテストハンドラの提供。 - 特許庁

A test operation for circulating a refrigerant in the refrigerant circuit 10 so that high pressure of the refrigerating cycle becomes higher than a critical pressure of the refrigerant, is performed in a noncondensable gas discharging step of a constructing process of this refrigerating unit 1.例文帳に追加

冷凍装置（1）の施工工程における非凝縮性ガス排出ステップの際に、冷凍サイクルの高圧が冷媒の臨界圧力よりも高くなるように冷媒回路（10）で冷媒を循環させる試運転を行う。 - 特許庁

To provide a method for processing test data of a semiconductor which can detect abnormality in a fabricating process even if the number of defective products is small, and quickly research causes of generating the defective products.例文帳に追加

不良品の発生数が少ない場合でも、製造工程の異常を検出することができ、不良品の発生原因の調査を早期に行うことができる半導体試験データ処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a living body adhesive mucous-membrane treating system with sustained release including at least one active ingredient exhibiting over 70% active ingredient solubility test for eight hours and a process for production of the same.例文帳に追加

８時間に亘る７０％超の活性成分溶解性試験を具備する、少なくとも一種の活性成分を含む持続放出性の生体粘着性粘膜治療システム及びその製造方法の提供。 - 特許庁

To provide an autonomous diagnostic function upon device installation while simplifying a test process of immediate screening of a malfunction part, examination of effect of the malfunction on other parts, and operation confirmation at the time of a trouble.例文帳に追加

不具合発生時の早急な不具合箇所の選別、非対象箇所への影響の確認及び動作確認の試験工程を簡略化できるとともに、装置設置時における自立した診断機能を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory which can perform confirmation of presence or absence of a short circuit of word lines and pairs of bit lines in a manufacturing process and specifying a short circuit part, in wafer state and to provide its test method.例文帳に追加

ワード線とビット線対とが製造過程でショートすることがあるため、その有無の確認と、ショート個所の特定をウェハ状態で行なうことができる半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

A load device (such as a measuring test head) can be lifted or lowered by winding a transmission rope at the upper edge of a first (fixed) pulley and the lower edge of a second (moving) pulley by using a double-process principle.例文帳に追加

倍行程原理を利用し、伝動ロープを第一（定）滑車の上縁及び第二（動）滑車の下縁に巻回することにより、荷重装置（例えば、測定試験ヘッド）を上昇・下降させることが可能となる。 - 特許庁

To provide a suspension for testing a characteristic of a magnetic head slider, capable of easily attaching/detaching a magnetic head slider to/from a suspension and holding the magnetic head slider not to come off due to an impact, etc., in handling in a characteristic test and a manufacturing process.例文帳に追加

磁気ヘッドスライダをサスペンションに取付け・取外しすることが容易で、特性試験及び製造工程での取扱いに際し衝撃等で磁気ヘッドスライダが脱落しないように保持できる構造が必要である。 - 特許庁

As a result of a test, it becomes clear that fluctuation of the value of an insertion resistance in a process in which the insertion stroke of the male tab T is increasing is not very much, and the maximum value of the insertion resistance is comparatively small.例文帳に追加

実験の結果、雄タブＴの挿入ストロークが増していく過程における挿入抵抗の値の変動はそれほど大きくなく、挿入抵抗の最大値も比較的小さい、ということが明らかになった。 - 特許庁