「test process」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

An actual stub determining process 104 called from the tentative stub 103 when a test is conducted determines and executes the execution stubs a1 and a2 according to the argument values at the time of the tentative stub calling, the internal conditions, and the specific condition file 107.例文帳に追加

そして、テスト実施時に仮スタブ１０３から呼び出される実スタブ決定処理１０４が、仮スタブ呼び出し時の引数値及び内部条件と指定条件ファイル１０７とに基づいて、実行する実スタブａ１又はａ２を決定し、実行する。 - 特許庁

In the chamber (104), a wall (118) of the gas measurement chamber (104) is heated to a temperature higher than the dew point of the test gas (110) so as to reduce adverse effects due to the condensation in the gas measurement chamber (104), before a measuring process.例文帳に追加

ガス計測室（１０４）内で凝縮する結露の悪影響を低減するために、本発明のガス計測室（１０４）は、計測工程前にガス計測室（１０４）の壁（１１８）が試験ガス（１１０）の露点を超えるように加熱される。 - 特許庁

Thereafter, a wafer test is carried out in a final manufacturing process, where wafer probes are put on the first and second pad 16 and 18 to be energized apply a voltage between them, whereby the wiring 14 is fused.例文帳に追加

その後、製造工程の最終段階としてウェハーテストが行われ、その際に、ウェハープローブ針を上記第１および第２のパッド１６，１８に当てて電圧を印加し、第１および第２のパッド１６，１８間に通電して、配線１４が溶断される。 - 特許庁

An external connection electrode 21, which has the same outer size and cross section as for an external connection electrode 21, formed in a semiconductor device forming region 11, is formed at a peripheral part of a semiconductor device test region 11a with the same process.例文帳に追加

半導体装置テスト用領域１１ａの周辺部には、半導体装置形成領域１１内に形成される外部接続用電極２１と同一プロセスで同一の外形サイズおよび断面積の外部接続用電極２１が形成される。 - 特許庁

To provide an immunodiagnostic device capable of observing a process on the way of a test under the condition where an enriched effect of a sample or a reagent is kept, in an immunoassay using a flow-through diagnostic device, and a kit using the device.例文帳に追加

本発明は、フロースルー診断装置を用いた免疫測定法において、試料・試薬の濃縮効果を維持したまま、試験の途中経過を観察することが可能である、免疫診断装置、及びこれを用いたキットを提供することを目的とする。 - 特許庁

In another embodiment, a method of treating or preventing vascular inflammation of a test subject or lowering the in-blood level of c-reactive proteins includes a process of administrating at least one sterol absorption inhibitor selected from the group consisting of a compound represented by formula (I) or its pharmaceutically acceptable salts or solvates to the test subject.例文帳に追加

他の実施形態では、本発明は、被験体の血管炎症を治療または予防するかｃ−反応性タンパク質のレベルを低下させる方法を提供し、該方法は、被験体に、式（Ｉ）で表わされる化合物またはその薬学的に受容可能な塩または溶媒和物からなる群から選択される少なくとも１種のステロール吸収阻害剤を投与する工程を包含する。 - 特許庁

The inspection method of the semiconductor integrated circuit includes: a stress test of applying a stress voltage to dummy wiring LD provided so as to run in parallel with signal wiring L3 and L4 inside the semiconductor integrated circuit; and a test process of determining the quality of the semiconductor integrated circuit by measuring a leakage current between the signal wiring L3 and L4 and the dummy wiring LD.例文帳に追加

本発明の半導体集積回路の検査方法では、半導体集積回路内の信号配線Ｌ３・Ｌ４に並走するように設けられたダミー配線ＬＤにストレス電圧を印加するストレス試験と、信号配線Ｌ３・Ｌ４とダミー配線ＬＤとの間のリーク電流を測定することにより半導体集積回路の良否を判定するテスト工程とを含む。 - 特許庁

To provide a new method for extracting a nucleic acid by which the extraction process of nucleic acid (DNA/RNA) can readily be carried out regardless of kinds of test samples without using a reagent requiring careful handling, and which provides a nucleic acid sample hardly exerting bad influence even if the obtained nucleic acid sample is subjected to a PCR nucleic acid amplification test without requiring a nucleic acid purifying step thereafter.例文帳に追加

被検試料の種別を問わず、また慎重な取り扱いを有する試薬を使わずに簡便に核酸（ＤＮＡ／ＲＮＡ）を抽出する処理を行うことができ、且つ、得られた核酸試料を、その後の核酸精製工程を必要とすることなく、そのままＰＣＲ核酸増幅試験に課しても悪影響を与えない、新規な核酸抽出方法を提供すること。 - 特許庁

This method for discriminating an animal hair fiber product comprises a process for extracting a DNA from a test sample, a process for performing a polymerase chain reaction using one or more primer pairs selected from the group consisting of primer pairs for discriminating fox, mink, and chinchilla species in the presence of the extracted DNA as a template to amplify a DNA fragment specific to each animal hair fiber species, and a process for analyzing the amplified DNA.例文帳に追加

被検試料からＤＮＡを抽出する工程、抽出したＤＮＡを鋳型として、フォックス種鑑別用、ミンク種鑑別用及びチンチラ種鑑別用プライマーペアからなる群から選択される1以上の示されるプライマーを用いたポリメラーゼチェインリアクションにより、各獣毛種に特異的なＤＮＡ断片を増幅する工程、増幅されたＤＮＡを分析する工程を含む、獣毛繊維製品の鑑別法を提供する。 - 特許庁

Since a decrease in dicyanamide anion during life test can be suppressed, irrespective of humidity absorption during a manufacturing process, this electrolytic capacitor has the good life characteristic and the low impedance characteristic, and further has the low temperature characteristic and is excellent in capacitance stability.例文帳に追加

以上の本発明の電解コンデンサは、製造工程中の吸湿があっても寿命試験中のジシアナミドアニオンの減少が抑制されるので、寿命特性が良好で、さらに低インピーダンス特性を有し、低温特性、静電容量の安定性も良好である。 - 特許庁

It calculates the differences of the image data mean values between the regions under test, and, if a maximum value of the calculated differences is greater than a predetermined criterion value G, decides that the image data after the shading correction process has a read density nonuniformity.例文帳に追加

そして、各測定対象領域間でのイメージデータ平均値の差を算出し、その算出した差の最大値が予め定める判定基準値Ｇよりも大きければ、シェーディング補正処理後のイメージデータは読取り濃度むらを有していると判定する。 - 特許庁

When the output of the comparing circuit 58 is asserted during the period, the tester makes the driver unusable, and prevents damage to be caused by an excessive back drive period which a test formation process does not predict when the driver is not made inapplicable.例文帳に追加

前記比較回路の出力が、該時間にわたってアサートされた場合は、前記テスタは、前記ドライバを使用不能にし、これによって、そうしない場合にはテスト生成プロセスが予測しなかった過度のバックドライブ期間によって受けたであろう損傷を防止する。 - 特許庁

To provide a polishing method which can set a polishing time with high accuracy corresponding to the kind of a wafer to be polished or the changeover of a process without executing test polishing which reduces throughput in a production line for a plurality of kinds of semiconductor devices, and to provide its system.例文帳に追加

多品種の半導体デバイスを生産するラインにおいて、スループットを低下させるテスト研磨を行わなくても、研磨対象ウェハの品種もしくは工程の切り変えに応じて研磨時間を精度良く設定できる研磨方法およびそのシステムを提供する。 - 特許庁

When a nondestructive test on an in-reactor structure 1 results in the detection of a stress corrosion cracking 2, a process is performed for applying compressive residual stresses to a compressive residual stress area 3 which is a surface area involving the stress corrosion cracking 2.例文帳に追加

原子炉炉内構造物１に対して非破壊検査を実施した結果、応力腐食割れ２を発見した場合、この応力腐食割れ２を含む表面領域である圧縮残留応力域３に対して圧縮残留応力を付加する処理を行う。 - 特許庁

To provide a test method of electronic components, containing semiconductors which secures processing efficiency, while holding back increase in cost for the entire system by enabling the testing of electric characteristics thereof in a conveying process that allows conveying of a plurality of electronic components as units.例文帳に追加

システム全体のコストアップを抑えつつ、処理能率を確保するために複数の電子部品を単位として搬送しながら、その搬送過程で電子部品の電気的な特性を試験することのできる、半導体素子を含む電子部品の試験方法を提供する。 - 特許庁

This biodegradable and porous polymeric substrate for tissue engineering use is obtained by the following process: using a biodegradable polymer solution comprising a boiling mixture, a polymeric test piece is prepared and then boiled in a boiling medium and thereafter dried.例文帳に追加

沸騰性混合物を含有する、生分解性高分子の高分子溶液を利用して、高分子試片を作成した後、該高分子試片を沸騰媒質下で沸騰させ、乾燥させて生分解性かつ多孔性を有する組織工学用高分子支持体を製造する。 - 特許庁

This electric stimulating device includes a power generator 13 and at least one intracorporeal electrode 5, wherein the power generator 13 and the electrode 5 are electrically separated from each other, in the process of MRT test, excessive temperature rise is not caused, and both are connected to each other through an energy transporting connector.例文帳に追加

発電装置１３及び少なくとも１つの体内電極５を含み、この発電装置１３と電極５とを電気的に分離し、MRT検査の間過度の温度上昇を生ぜずエネルギー輸送可能な結合装置を介して両者を結合する。 - 特許庁

Preferably the specimen or the test solution is cultured by also using a process for culture in the presence of isopropyl-β-D-thiogalactopyranoside(IPTG) and/or by using a fluorescent substrate having excellent sensitivity to β-galactosidase as (5) a substrate, preferably 4-methylumbelliferyl-β-D-galactoside.例文帳に追加

イソプロピル−β−Ｄ−チオガラクトピラノサイド（ＩＰＴＧ）の存在下で培養する、および／または（５）基質としてβガラクトシダーゼの感度の良い蛍光基質、好ましくは４−メチルウンベリフェリル−β−Ｄ−ガラクトシドを用いて培養する工程と併用することが好ましい。 - 特許庁

Information regarding the debugging which is generated by the compiling and linking processes and information program rearrangement by an object process are connected by using the recognition numbers as media and then debugging information for the source code debugging in the test operation of the object processor is generated.例文帳に追加

コンパイル・リンク処理で生成するデバッグに係る情報と、対象プロセッサでのプログラム再配置情報とを、上記の認識番号を媒介として結び付け、それによって、対象プロセッサでのテスト動作におけるソースコードデバッグのためのデバッグ情報を作成する。 - 特許庁

A side erase test process is provided with: a distant erase management table (52) in which a distant erase place of the storage medium (19) is measured and registered; and a control circuit (11) which performs the forcible rewrite of the registered distant erase place when the number of write counts of the certain track exceeds a predefined frequency.例文帳に追加

サイドイレーズ試験工程で、記憶媒体（１９）の遠方イレーズ箇所を測定し、登録した遠方イレーズ管理テーブル（５２）と、あるトラックのライトカウント数が規定回数を越えると、登録した遠方イレーズ箇所を強制リライトする制御回路（１１）とを設ける。 - 特許庁

To provide a cell-washing centrifuge which can uniformly drain the supernatants of washing liquids in all test tubes in a supernatant-draining process to enhance the effect of cell washing and obtain a highly reliable cell examination result.例文帳に追加

上澄液排出工程において全ての試験管について洗浄液の上澄液の排出を均等に行うことによって細胞洗浄効果を高めて信頼性の高い細胞検査結果を得ることができる細胞洗浄遠心機を提供すること。 - 特許庁

In another surface flaw inspection method of the metal rod material, the longitudinal direction position and a peripheral direction position of the surface flaws 14 detected by the leakage flux flaw detection test are displayed by the lamp, in the process for inspecting the surface flaws 14.例文帳に追加

本発明にかかる金属製棒材の他の表面疵検査方法では、表面疵１４の検査をする工程において、漏洩磁束探傷試験によって検知された表面疵１４の長手方向位置及び周方向位置がランプで表示される。 - 特許庁

To provide an inspection device and a test method for circuit board which can precisely judge quality in continuity/insulation performance of a circuit within the inspecting circuit board even if the circuit board has no inside layer conductive plane, in order to promote efficiency of circuit board inspection process.例文帳に追加

検査対象の回路基板が内層導電プレーンを持たなくとも、回路基板内の回路の導通性能、絶縁性能の良否を高速で高精度で判定できる回路基板検査装置及び検査方法を提供し、回路基板検査工程の効率化を図る。 - 特許庁

Time B when a process to make electric power supplied to an assist motor zero is executed is estimated based on time delay characteristics of actual exhaust gas energy measured and created beforehand by engine test right before actual supercharge pressure reaches a target supercharge pressure (time A).例文帳に追加

実過給圧が目標過給圧に到達する直前（時刻Ａ）で、予めエンジン試験で測定して作成した実排気エネルギーの時間的な遅れ特性に基づいて、アシストモータへの供給電力をゼロにする処理を実行する時刻Ｂを予測する。 - 特許庁

In this recording system, a test pattern to be used in the process to correct the color drift is constituted of a plurality of pieces of patch data showing the varying printing ratio of coloring materials maintained to a small size and each piece of the patch data is recorded so that it is arranged so as to allow the continuous variation of color casts.例文帳に追加

色ずれを補正する処理に用いられるテストパターンを、小さいサイズで保持された色材の印字比率が異なる複数のパッチデータによって構成されるものとし、各パッチデータが連続的に色味が変動するように配置するよう記録する。 - 特許庁

The electrolytic capacitor has improved lifetime characteristics, low-impedance characteristics, low-temperature characteristics, and stability in capacitance since a decrease in dicyanamide anions in a life test is suppressed regardless of absorption of moisture during a manufacturing process.例文帳に追加

以上の本発明の電解コンデンサは、製造工程中の吸湿があっても寿命試験中のジシアナミドアニオンの減少が抑制されるので、寿命特性が良好で、さらに低インピーダンス特性を有し、低温特性、静電容量の安定性も良好である。 - 特許庁

Because the reduction of dicyanamide anions is suppressed in a life test even with moisture absorption during a production process, the above electrolyte is excellent in the long life characteristic and has the low impedance characteristic, the low-temperature characteristic, and excellent stability in capacitance.例文帳に追加

以上の電解コンデンサ用電解液は、製造工程中の吸湿があっても寿命試験中のジシアナミドアニオンの減少が抑制されるので、寿命特性が良好で、さらに低インピーダンス特性を有し、低温特性、静電容量の安定性も良好である。 - 特許庁

In the method, KAM values which indicate the differences in in-crystal orientations in the crystal grains, crystal grain boundaries, etc. of a test material which has consumed its material life time to prepare a master curve which represents the relation between the measured KAM values; the degree of consumption of material lifetimes in a first process.例文帳に追加

本方法によれば、第１工程として材料寿命を消費した試験材料の結晶粒内，結晶粒界等の結晶方位差を示すＫＡＭ値を測定し、これと材料寿命の消費度との関係を表すマスターカーブを作成する。 - 特許庁

Packet, data containing a mail address number of the terminal is transmitted from the maintenance terminal to the mail address number of the test terminal and a reply, is confirmed, so that it is confirmed whether a packet data call process is functioning of a base station wireless installation operates normally.例文帳に追加

保守端末装置から同端末のメールアドレス番号を含んだパケットデータを試験端末装置のメールアドレス番号に対して送信し返信を確認することで、基地局無線装置のパケットデータ呼処理機能が正常に動作しているかを確認する。 - 特許庁

The method for screening a compound comprises the following process: in the presence of a compound inhibiting the enzyme activity of calcineurin and a compound to be tested, a fission yeast mutant which can be synthetic lethal by calcineurin gene distruption is cultured; the presence of the growth of the fission yeast mutant is determined; and the test compound having inhibition activity against suppression of calcineurin enzyme activity is screened through this process.例文帳に追加

カルシニューリンの酵素活性を抑制する化合物と被検化合物との存在下、カルシニューリン遺伝子破壊によって合成致死となり得る分裂酵母変異体を培養して、該分裂酵母変異体の増殖の有無を測定することによりカルシニューリン酵素活性抑制の阻害活性を有する被検化合物をスクリーニングする化合物のスクリーニング方法。 - 特許庁

After forming one reference test pattern image expressed in a different gradation expression from the gradation expression of images formed in a plurality of printing modes carrying out normal printing process on a specified image carrier and detecting the density of the formed reference test pattern image, the density corrected data corresponding to the plurality of printing modes are produced based on the detected density.例文帳に追加

通常の印字処理を行う複数の印刷モードで形成される画像の階調表現とは異なる階調表現で表された一の基準テストパターン像を上記所定の像担持体上に形成し，この形成された上記一の基準テストパターン像の濃度を検知した後に，この検知された濃度に基づいて上記複数の印刷モードに対応する濃度補正データを生成するよう構成される。 - 特許庁

Meanwhile, if the difference between the two fields in the block is large (i.e., correlation is low), the block is encoded with a field encoding process that reinforces a test (intra-field) correlation in each of fields and the (intra-field) correlation between the each of the fields and its adjacent field (5).例文帳に追加

一方、ブロック内の２フィールド間の差が大きければ（すなわち相関が低ければ）、そのブロックは、それぞれのフィールド内の（イントラフィールド）相関およびそれぞれのフィールドとその隣接フィールドとの（インタフィールド）相関の調査が強化されるフィールド符号化プロセスによって符号化される（５）。 - 特許庁

The chip structure for a multiply integrated circuit is provided with chip-to-chip interface circuits for selective connection of internal circuits in an integrated circuit for testing an interface circuit having the ESD protection circuit and the input/output circuit for establishing communication with an external testing system during a test and a burn-in process.例文帳に追加

多重集積回路チップ構造は、テストおよびバーン・イン手順中に外部テスト・システムと通信するためのＥＳＤ保護回路および入出力回路を有するインターフェース回路をテストするため集積回路の内部回路を選択的に接続するチップ間インターフェース回路を有する。 - 特許庁

To enable respective point states in the whole plane to be acquired simultaneously in parallel without allowing any time lag to occur, in order to carry out a rapid test without the need for any additional step of tagging a specimen with a molecule, in an imaging process to measure the specimen such as a biological material or the like.例文帳に追加

生体物質等の検体の測定のためのイメージングの際に、面全体の各点の状態をタイムラグを生じさせずに同時並行で取得することを可能とし、検体への分子タグ付けのための付加的なステップを不要として速やかな検査を可能とする。 - 特許庁

When a test process decided that the mixed memory array cannot be or can be mended, a signal showing that it is incapable or capable of being mended respectively is output directly to an external testing device.例文帳に追加

試験プロセスが、メモリ混載アレーを修理することができないと判断した場合、メモリ混載アレーは修理不能であることを示す信号を、また欠陥を修理することができると判断した場合、メモリ混載アレーは修理可能であることを示す信号を外部試験装置へ直接与える。 - 特許庁

To provide a lens adjustment system capable of facilitating the adjustment of characteristics of an AF processing means, which performs a process with respect to AF by displaying a test chart corresponding to content onto the monitor such as a personal computer in a lens device with an AF function.例文帳に追加

ＡＦ機能を備えたレンズ装置において、ＡＦに関する処理を行うＡＦ処理手段の特性調整を、その内容に応じたテストチャートをパソコン等のモニタに表示させて行うことによってＡＦ処理手段の特性調整を簡易に行えるようにしたレンズ調整システムを提供する。 - 特許庁

To provide a release film wherein high level accuracy in a test by a cross-nicol method of a deflection plate, and increasing production yield by a reduction of roll-cleaning and improvement of qualities by a reduction of foreign materials can be realized in a manufacturing process using a release film.例文帳に追加

偏光板のクロスニコル法による検査において、高度な精度を実現でき、離型フィルムを用いた製造工程において、ロール清掃の低減による製造歩留まりの向上や、異物の低減による品質を向上させることのできる離型フィルムを提供する。 - 特許庁

Execution of non-contact inspection in place of a conventional continuity test can eliminate contact on the electrode surface of the display portion and shorten inspection process for formation of the electrode, making it possible to inspect faults of the electrode developed in processes after the electrode formation to improve the quality.例文帳に追加

導通検査に代えて非接触検査を行うことにより、表示部の電極表面に接触せずに済み、また電極形成時の検査工程を短縮することができ、電極形成以降の工程において発生する電極欠陥の検査が可能となり、品質の向上が図れる。 - 特許庁

In the measurement of an error rate performed in the process to optimize the signal channel parameter of the disk device, the error rate is deteriorated by means of deteriorating the S/N ratio of an input signal, thereby the decision of the optimized parameter value is attained by the error rate test of less transfer bits.例文帳に追加

ディスク装置の信号チャンネルパラメータの最適化の過程で行われるエラーレートの測定において、入力信号のＳ／Ｎ比を劣化させることにより、エラーレートを劣化させ、より少ない転送ビットのエラーレート試験で最適化パラメータ値を決定することを可能にする。 - 特許庁

The deodorizing device or the test tub 1 used for evaluating the deodorization performance of the deodorant includes: a deodorization tub 2 in which a deodorizing unit 10 or deodorant 11 is set for performing the deodorization process under a fixed deodorization environment; and an injection/discharge tub 3 for injecting or discharging an odor component.例文帳に追加

脱臭装置、又は脱臭剤の脱臭性能評価に用いる試験槽１は、脱臭ユニット１０又は脱臭剤１１が設置され且つ一定の脱臭環境下で脱臭処理を行う脱臭槽２と、臭い成分が注入又は排出される注入・排出槽３とを備える。 - 特許庁

To provide a method for fabricating a semiconductor device in which a short circuit caused by fragments of a test pattern is prevented at the time of mounting the semiconductor device by improving the dicing process of a semiconductor wafer, and the yield of an electrooptic device mounting the semiconductor device can be enhanced.例文帳に追加

半導体ウエハの分割工程を改善することによって、半導体装置を実装する場合のテストパターンの破片に起因する短絡不良を防止し、さらに、半導体装置を実装した電気光学装置の歩留まりを向上させることのできる製造方法を提供する。 - 特許庁

The difference in height is found by carrying out fitting compensation process using a plurality of focal degree evaluating values in arbitrary parts, in which the positions are detected on a plane of a plurality of test piece images with different focal positions and carrying out detection of the focal position from the maximum value (minimum value) of obtained curves Pa and Pb.例文帳に追加

焦点位置の異なる複数枚の試料像の平面上の位置が同じ任意部分の合焦度評価値を複数個用いてフィッティング補間処理を行い、得られた曲線Ｐａ，Ｐｂの最大値（最小値）から合焦位置検出し、高さ差を求める。 - 特許庁

The inspection system includes a test signal source, a signal detection part, a signal process part, an analysis unit, and an integration circuit provided with a boundary scanning function and can be used for inspecting whether the pins of an inspecting object, e.g. integrated circuit are surely connected to the printed substrate assembly.例文帳に追加

本発明の検査システムは、テスト信号源、信号検出部、信号処理部、分析ユニット、およびバウンダリスキャン機能を有する集積回路を含み、たとえば集積回路のような被検体のピンが確実にプリント基板アセンブリに接続しているかどうかを検査するのに用いることができる。 - 特許庁

(3) A person who intends to obtain approval under paragraph (1) shall submit a written application attached with data concerning test results of food which he/she produced or processed through said comprehensive sanitation management and production process and other data, pursuant to an Ordinance of the Ministry of Health, Labour and Welfare. 例文帳に追加

３　第一項の承認を受けようとする者は、厚生労働省令で定めるところにより、申請書に当該総合衛生管理製造過程を経て製造し、又は加工した食品の試験の成績に関する資料その他の資料を添付して申請しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To simplify a fabrication process for a disk like container for centrifugal separation which comprises a center space, a peripheral space, and a through hole for feed and suction of a test specimen and contains a viscous material (e.g. gel) effective for separating blood, and to reduce the price of the container for centrifugal separation.例文帳に追加

中央空間と周辺空間と検体供給・吸引用の貫通孔を有し、血液を良好に分離するために有効な粘性材料（例えばゲル）を含む遠心分離用円盤状容器の製造工程を簡素化し、ひいては該遠心分離用容器の価格を安価にすること。 - 特許庁