「test process」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

After having passed through vapor deposition processes (c) to (f) to vapor-deposit the organic layer and electrode, a test process (g) to perform a predetermined test to the vapor-deposited organic layer and electrode is equipped, and a sealing process (h) is performed after the test process.例文帳に追加

基板に有機層及び電極を蒸着する蒸着工程（ｃ）〜（ｆ）を経た後に、この蒸着された有機層及び電極に対して所定の検査を行う検査工程（ｇ）を備え、該検査工程の後に封止工程（ｈ）を行う。 - 特許庁

Information and a reference value input and calculated in the engineering process are processed by a process control part, the process control part calculates all the tests to be executed by the test module and results obtained in the test process by the test module are provided to the process control part.例文帳に追加

エンジニアリングプロセス内に入力され、算出される情報及び基準値は、プロセス制御部によって処理され、プロセス制御部は、テストモジュールによって実行されるべき全てのテストを算出し、テストモジュールによりテストプロセスで得られた結果は、プロセス制御部に提供される。 - 特許庁

The method of forming the test print material comprises a test data formation process for acquiring the test data, a raster image data forming process for acquiring raster image data, and a print-out process for providing the test print material by printing the raster image data by means of a print-out means.例文帳に追加

また、テストデータを得るテストデータ生成過程と、ラスターイメージデータを得るラスターイメージデータ生成過程と、ラスターイメージデータを入力して印刷出力手段によって印刷しテスト印刷物を得る印刷出力過程とを有するテスト印刷物作成方法。 - 特許庁

In the testing device, when the designated operation mode is a parallel test mode for performing the same test simultaneously in parallel by the plurality of test modules, the central processing unit controls the test operation of the plurality of test modules by executing one test process determined beforehand.例文帳に追加

この試験装置において、中央処理装置は、指定された動作モードが、複数の試験モジュールにより同一の試験を同時に並行して行わせる並行試験モードである場合には、予め定められた一の試験用プロセスを実行することより複数の試験モジュールにおける試験動作を制御する。 - 特許庁

To reduce development costs for a test and an evaluation process by creating a script for test of high test precision and lightening the burden of work needed for the creation of the script for test.例文帳に追加

テスト精度の高いテスト用スクリプトを作成すると共に、テスト用スクリプト作成時に要する作業負荷を軽減することで、テスト及び評価工程における開発コストを軽減する。 - 特許庁

To provide a test case management method which can collectively process maintenance of addition/deletion/copying of test cases while considering a combination of a test target screen and a test condition.例文帳に追加

本発明は、テストケースの追加・削除・コピーのメンテナンスを行う際に、テスト対象画面・テスト条件の組み合わせを考慮して一括で処理が可能なテストケース管理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a technology for significantly reducing test man-hours for the withstand voltage test of a three-terminal capacitor using a simple device, and for making the withstand voltage test by a one-time withstand voltage test process of the three-terminal capacitor to be tested completed.例文帳に追加

簡便な装置で３端子コンデンサの耐電圧試験の試験工数を大幅に削減し、かつ被試験３端子コンデンサを１回の耐電圧試験工程で耐電圧試験を完了させる技術を提供する。 - 特許庁

In this situation, if you run the test case when there is already a running process instance initiated by the same test case,the second process instance will not be initiated and the test will fail.例文帳に追加

この状況で、同じテストケースによって開始された実行中のプロセスインスタンスがすでにあるときにテストケースを実行した場合、2 番目のプロセスインスタンスは開始されず、テストは失敗します。 - NetBeans

When it is confirmed that the test command has been received, a test command reception flag is reset, and the value of a display control process flag is changed to the value corresponding to a test process.例文帳に追加

テストコマンドを受信していることを確認したら、テストコマンド受信フラグをリセットし、表示制御プロセスフラグの値をテスト処理に応じた値にする。 - 特許庁

The crack development testing method has a crack-forming process for forming the crack 2 in a test piece 1 and a holding process for holding the test piece 1, while applying definite displacement to the test piece 1 in a direction 4 vertical to the extending direction of the crack 2.例文帳に追加

き裂進展試験方法は、試験片１に、き裂２を形成するき裂形成工程と、試験片１に、き裂２が延びる方向に垂直な方向４に一定の変位を加えたまま保持する保持工程と、を有する。 - 特許庁

A complex miniature test includes a process to conduct a drop weight test using surface miniature specimen, and a process to conduct a miniature test for measuring brittle fracture surface ratio or absorbed energy by using an internal miniature specimen.例文帳に追加

本発明の複合小型試験は：表層小型試験片を用いて落重試験を行う工程と；内部小型試験片を用いて脆性破面率または吸収エネルギーを測定する小型試験を行う工程と；を含む。 - 特許庁

To raise the accuracy of observation and the process of a profile line by preventing the charging of a test piece at the observation and process of the test piece by a charged particle beam device and effectively utilize a processing gas to be blown on the test piece at processing.例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置による試料の観察や加工の際に、試料の帯電を防いで輪郭線の観察や加工の精度を上げるとともに、加工時には試料に吹き付ける加工用ガスを有効に活用する。 - 特許庁

When the test process is terminated, the value of the display control process flag is changed to the value corresponding to the variable pattern command reception waiting process.例文帳に追加

テスト処理を終了すると、表示制御プロセスフラグの値を変動パターンコマンド受信待ち処理に応じた値とする。 - 特許庁

The manufacturing method of the product includes: a creation process for creating the product; a first test process for testing the product; and a second test process for testing a part of products that meet a standard in the first test process.例文帳に追加

製品の製造方法において、製品を作製する作製工程と、この製品を検査する第１の検査工程と、第１の検査工程において基準を満たした製品のうち、一部の製品について検査する第２の検査工程と、を設ける。 - 特許庁

BLEEDING TEST DEVICE AND BLEEDING TEST METHOD IN GROUT INJECTION CONSTRUCTION METHOD INCLUDING EVACUATION PROCESS INTO CABLE SHEATH OF PC STRUCTURE例文帳に追加

ＰＣ構造物のケーブルシース内への真空引き工程を含むグラウト注入工法におけるブリージングテスト装置、及びブリージングテスト方法。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER EQUIPPED WITH MULTI-TEST CIRCUIT AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING MULTI-TEST PROCESS例文帳に追加

マルチテスト回路を備える半導体ウェハおよびマルチテスト工程を含む半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide an IC chip and its test method dispensing with interruption of the manufacturing process of a laser driving circuit for performing an evaluation test.例文帳に追加

レーザ駆動回路の製作工程を中断して評価試験を必要とすることのないＩＣチップ及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

Irradiation is detected in a method of exposing the sample to irradiation by a test module monitoring a weathering test process from an improved position.例文帳に追加

改良された位置から耐候試験過程をモニターする試験モジュールで、試料が照射に曝される方法で照射を検知する。 - 特許庁

A process execution part 14 fetches data about the batch AP as the test object from a program data storage part 21 and executes a program test.例文帳に追加

処理実行部１４は、プログラムデータ記憶部２１から、テスト対象のバッチＡＰのデータを取り出して、プログラムテストを実行する。 - 特許庁

This method has a process of performing one or more test cycles of an LBIST system in a device during the test.例文帳に追加

この方法は、テスト中のデバイス内のＬＢＩＳＴシステムの１つ以上のテストサイクルを行う工程を具備する。 - 特許庁

Next, the metal test piece 2 in which the plating layer 3 is formed is embedded in resin 4 to obtain a metal test piece 2 in a resin embedding and grinding process.例文帳に追加

次いで、メッキ層３を形成した金属試験片２を樹脂埋め込み・研磨工程により樹脂４に埋め込んだ金属試験片３をうる。 - 特許庁

To perform an open loop test of a PLL circuit and a closed loop test including a lock-up time in the same inspection process.例文帳に追加

ＰＬＬ回路の開ループテストおよびロックアップタイムを含めた閉ループテストを同一の検査工程で実施できるようにすること。 - 特許庁

To provide a process and apparatus for generating simulated network test traffic from a stored test traffic definition.例文帳に追加

保存されたテストトラフィック定義から擬似ネットワークテストトラフィックを生成するためのプロセス及び装置を提供する。 - 特許庁

Irradiation is sensed by a test module for monitoring a weathering test process from an improved location, in the manner in which the specimens are exposed to irradiance.例文帳に追加

改良された位置から耐候試験過程をモニターする試験モジュールで、試料が照射に曝される方法で照射を検知する。 - 特許庁

To enable a tilt test and a telescopic test of a steering assembly to be carried out quickly and correctly without the need for any tooling-change process.例文帳に追加

ステアリングアッセンブリーのチルト試験とテレスコピック試験とを、段替え工程を介することなく、迅速かつ正確に行うことを可能とする。 - 特許庁

Whether a test command from a test command output device has been received or not is confirmed in a variable pattern command reception waiting process.例文帳に追加

変動パターンコマンド受信待ち処理にて、テストコマンド出力装置からのテストコマンドを受信したか否か確認する。 - 特許庁

In this method of manufacturing the high-purity gas-filled vessel, the high-purity gas-filled vessel is pressured in a test by hydraulic pressure in a pressure test process.例文帳に追加

高純度ガス充填容器の製造方法において、耐圧試験工程では、高純度ガス充填容器に対して水圧による耐圧試験を行う。 - 特許庁

In a test pattern measuring process (ST12), the size of a test pattern transferred onto a wafer is measured.例文帳に追加

テストパターン測定工程ＳＴ１２において、ウェハ上に転写されたテストパターンの寸法を測定する。 - 特許庁

To output a test result to the outside in a short time of a wafer test in a manufacturing process of a semiconductor integrated circuit including a nonvolatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリを含む半導体集積回路の製造工程におけるウェハテストにおいて、短時間にテスト結果を外部に出力させる。 - 特許庁

Then, via a process by a indeterminate value determining means 105, the test patterns are merged by a test pattern merging means 106.例文帳に追加

その後、不確定値決定手段１０５による処理を経て、テストパタン併合手段１０６によってテストパタンの併合が行われる。 - 特許庁

SERVER PROCESS TESTING SYSTEM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH SERVER PROCESS TEST FRAMEWORK RECORDED AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH SERVER PROCESS TEST PROGRAM RECORDED例文帳に追加

サーバプロセス試験システム、サーバプロセス試験フレームワークを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、およびサーバプロセス試験プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

A test process 20 to be performed by a test system 100 includes: a test class thread 31 for performing a test class 30 in which a method for testing a device is described; and a tool thread 11 for performing a tool 10 which includes a function that can be used for the test of the device.例文帳に追加

試験システム１００で実行される試験プロセス２０は、デバイスの試験方法を記述したテストクラス３０を実行するためのテストクラス・スレッド３１と、デバイスの試験に利用可能な関数を含むツール１０を実行するためのツール・スレッド１１と、を含む。 - 特許庁

At the start of a test process, the information of test item inputted to a test terminal 1 is transferred to a test management server 3 through a host computer 2 and registered in a progress management DB 5 by a test registering function 33 of the server 3.例文帳に追加

テスト工程開始時には、テスト端末機１に入力されたテスト項目の情報を、ホストコンピュータ２を介してテスト管理サーバ３に転送し、テスト管理サーバ３のテスト登録機能３３により進捗管理ＤＢ５に登録する。 - 特許庁

In the wafer test process, a test time criterion value is calculated from test time achievements in the past for each product and each measurement conditions, and actual test time is compared with the criterion value for every notice of wafer end from a device such as a tester thus performing GO/NO-GO test.例文帳に追加

ウエハのテスト工程にて、各製品毎、測定条件毎の過去のテスト時間実績からテスト時間判定基準値を算出し、テスタ等の装置からのウエハ終了通知毎に、実際のテスト時間と、判定基準値とを比較し良否判定を行う。 - 特許庁

A test pattern compressing function by repeating a test pattern reactivating technique in a test pattern creating process and a test pattern compressing function by discriminating a test pattern which detects the largest number of undetected failures from among a plurality of test patterns used in the repeated process are simultaneously made compatible at a high speed by using a PPPF failure simulation technique.例文帳に追加

テストパタンの再活性化手法をテストパタン生成工程において繰り返すことによるテストパタン圧縮機能、及び当該繰り返し工程において用いられる複数のテストパタンの中から最も多くの未検出故障を検出するテストパタンを識別することによるテストパタン圧縮機能を、ＰＰＰＦ故障シミュレーション手法を用いることで同時に高速に両立する。 - 特許庁

The test is performed by a hydrogen charging process for immersing the flange part 12 in an acidic solution 20 to charge the test piece 10 with hydrogen, a cadmium-coating process for applying cadmium 21 to the whole surface of the test piece 10, to suppress the discharge of hydrogen from the test piece 10 and a breaking process for breaking the notch part 13, by chucking both ends of the test piece 10 and drawing it.例文帳に追加

試験では、鍔部１２を酸性溶液２０に浸漬することによって、試験片１０に水素をチャージする水素チャージ工程と、試験片１０の全表面にカドミウム２１を塗布することによって、試験片１０からの水素の放出を抑制するカドミウム塗布工程と、試験片１０の両端をチャックして引っ張ることによって、切欠部１３を破断させる破断工程と、が実施される。 - 特許庁

The determination process includes a process for receiving identification information indicating one test image of a plurality of test images printed using the plurality of pattern sets from a user and a process for determining one pattern set corresponding to one test image on the basis of the identification information.例文帳に追加

決定工程は、複数のパターンセットを用いて印刷された複数のテスト画像のうちの１つのテスト画像を示す識別情報をユーザから受け取る工程と、識別情報に基づいて１つのテスト画像に対応する１つのパターンセットを決定する工程と、を含む。 - 特許庁

Once your data rules are set your test data creation becomes a predictable and repeatable process. 例文帳に追加

データ規則が設定できれば、テストデータ作成は予測可能で繰り返し可能なプロセスとなる。 - コンピューター用語辞典

This implementation is only meant to serve as a test harness for the Loan Service process. 例文帳に追加

この実装は、ローンサービスプロセス用のテストハーネスとして機能することのみを意図しています。 - NetBeans

Test running BPEL processes by sending sample messages to the deployed process or processes. 例文帳に追加

配備された 1 つまたは複数のプロセスにメッセージを送信することによる、BPEL プロセスのテスト実行。 - NetBeans

To deploy, test-run, and debug the BPEL process, use the CompositeApplication project. 例文帳に追加

BPEL プロセスを配備、テスト実行、およびデバッグするには、複合アプリケーションプロジェクトを使用します。 - NetBeans

To enable decision on quality of an overcurrent detection function in a wafer test process.例文帳に追加

ウエハテストの工程で過電流検出機能の良否判定を可能にする。 - 特許庁

Thus, TPTP of each magnetic head can be measured quantitatively, for example, at the burn-in test process.例文帳に追加

これにより，例えばバーンインテスト工程で，各磁気ヘッドのＴＰＴＰを定量的に測定できる。 - 特許庁

In this way, the exposure test can be performed as part of the normal printing process.例文帳に追加

このような態様で、通常の印刷工程の一部として露出試験を行なうことができる。 - 特許庁

In the sixth process, wafer probing 5 is performed for an electrical property test of semiconductor wafer.例文帳に追加

第６工程で、半導体ウエハの電気的特性試験のためにウエハプロービング５をする。 - 特許庁