「"test process"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

METHOD FOR ESTIMATING TEST PROCESS PERIOD IN SOFTWARE DEVELOPMENT例文帳に追加

ソフトウェア開発における試験工程期間見積り方法 - 特許庁

To enable shortening a test process in a semiconductor storage and to enable reducing power consumption in a burn-in test process.例文帳に追加

半導体記憶装置における検査工程を短縮できるようにし、また、バーンイン検査工程において、消費電力を低減できるようにする。 - 特許庁

A test process determining part 12 determines the test process data indicating a schedule of a test, and an evaluation reference value as the reference for judging a progress.例文帳に追加

テスト工程設定部１２は、テストのスケジュールを示すテスト工程データと進捗判定の基準となる評価基準値とを設定する。 - 特許庁

On the basis of correlation between information about the product and a test results of the second test process, the standard in the first test process is adjusted.例文帳に追加

そして、製品に関する情報と第２の検査工程の検査結果との相関関係に基づいて、第１の検査工程における基準を調整する。 - 特許庁

After that, products are shipped through an assembly process (S3) and a test process (S4).例文帳に追加

その後、アセンブリ工程（Ｓ３）と検査工程（Ｓ４）を経て製品出荷する。 - 特許庁

To obtain a wafer marking device being used in semiconductor wafer test process.例文帳に追加

半導体ウエハテスト工程にて使用されるウエハマーキング装置を得る。 - 特許庁

MEMORY CARD AND MEMORY CARD TEST METHOD, CAPABLE OF SIMPLIFYING TEST PROCESS例文帳に追加

試験工程を簡略化できるメモリカード及びメモリカードの試験方法 - 特許庁

If the same test process existed in the past, corresponding test conditions are stored in the test condition memory section 13, the test process is implemented, and the process history of the test conditions is stored in an implementation state memory section 15 after the completion of the test process.例文帳に追加

過去に同一の試験処理があれば、対応する試験条件を試験条件記憶部１３に保持させ、試験処理を実行し、試験処理終了後に、実行状況記憶部１５にこの試験条件の処理履歴を記憶する。 - 特許庁

To provide a method for estimating a test process period in software development capable of accurately calculating a test process period based on the information of the number of finished test items and the number of discovered errors until a cretin point of time in a test process.例文帳に追加

試験工程のある時点までの消化試験項目数と発見エラー数の情報に基づいて試験工程期間を適確に算出し得るソフトウェア開発における試験工程期間見積り方法を提供する。 - 特許庁

If no same test process existed in the past, the test conditions are stored in the test condition memory section 13 from a test condition set section 14, the test process is implemented, and the process history of the test conditions is stored in the implementation state memory section 15 after the completion of the test process.例文帳に追加

過去に同一の試験処理がなければ、その試験条件を試験条件設定部１４から試験条件記憶部１３に記憶させて試験処理を実行し、この試験処理終了後、実行状況記憶部１５にその試験条件の処理履歴を記憶する。 - 特許庁

The manufacturing method of the product includes: a creation process for creating the product; a first test process for testing the product; and a second test process for testing a part of products that meet a standard in the first test process.例文帳に追加

製品の製造方法において、製品を作製する作製工程と、この製品を検査する第１の検査工程と、第１の検査工程において基準を満たした製品のうち、一部の製品について検査する第２の検査工程と、を設ける。 - 特許庁

To enable decision on quality of an overcurrent detection function in a wafer test process.例文帳に追加

ウエハテストの工程で過電流検出機能の良否判定を可能にする。 - 特許庁

METHOD, SYSTEM, AND SOFTWARE FOR EVALUATING ADJUSTMENT FACTOR IN TEST PROCESS OR MONITOR PROCESS例文帳に追加

試験プロセス又は監視プロセスにおいて調整因子を評価する方法、システム及びソフトウェア - 特許庁

Thus, TPTP of each magnetic head can be measured quantitatively, for example, at the burn-in test process.例文帳に追加

これにより，例えばバーンインテスト工程で，各磁気ヘッドのＴＰＴＰを定量的に測定できる。 - 特許庁

A test process of software is evaluated by using a decided reliability growth model.例文帳に追加

そして、確定した信頼度成長モデルを用いてソフトウェアのテストプロセスを評価する。 - 特許庁

To enable a monitoring device to unilaterally change a mode SW position in accordance with a test process of this device for control rods.例文帳に追加

本装置の試験工程に合わせて一方的にモードＳＷ位置を変更できるようにする。 - 特許庁

To simplify a burn-in test process in a wafer state, thus providing a compact device.例文帳に追加

ウェハ状態でのバーンイン試験の工程を簡素化し、装置のコンパクト化を計る。 - 特許庁

To shorten the test time by simplifying the necessary display screen operation during the test process.例文帳に追加

検査を進めるうえで必要な画面操作を簡易化することにより、検査にかかる時間を短縮する。 - 特許庁

In the test process, the process with contents corresponding to the received test command is executed.例文帳に追加

テスト処理では、受信したテストコマンドに対応した内容の処理が実行される。 - 特許庁

To provide a high-safety manufacturing method of a semiconductor device including a B/I (Burn-In) test process.例文帳に追加

安全性が高いＢ／Ｉテスト工程を含んだ半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To obtain abnormality judging equipment and method being used in wafer test process.例文帳に追加

ウエハテスト工程にて使用される異常判定装置及びその方法を得る。 - 特許庁

To accurately and timely manage the progress state of a test process without arranging a full-time manager for managing the progress state of a test process in each group.例文帳に追加

各グループ毎にテスト工程の進捗状況を管理する専任の管理者を配置することなく、テスト工程の進捗状況を正確にかつタイムリーに管理する。 - 特許庁

A test request control part 14 transmits the test request to a test authorized person in accordance with the test process data determined by the test process determining part 12.例文帳に追加

テスト依頼制御部１４は、テスト工程設定部１２によって設定されたテスト工程データに従ってテスト依頼をテスト関係者に送信する。 - 特許庁

Upon receiving a test start event from an event reception section 11, a control process section 12 confirms the presence or absence of the same test process by referring the past test process implementation state to an implementation state memory section 15.例文帳に追加

制御処理部１２は、イベント受信部１１から試験開始イベントが入力されると、実行状況記憶部１５に、過去の試験処理実行状況を参照して、同一の試験処理の有無を確認する。 - 特許庁

After having passed through vapor deposition processes (c) to (f) to vapor-deposit the organic layer and electrode, a test process (g) to perform a predetermined test to the vapor-deposited organic layer and electrode is equipped, and a sealing process (h) is performed after the test process.例文帳に追加

基板に有機層及び電極を蒸着する蒸着工程（ｃ）〜（ｆ）を経た後に、この蒸着された有機層及び電極に対して所定の検査を行う検査工程（ｇ）を備え、該検査工程の後に封止工程（ｈ）を行う。 - 特許庁

In a post-wafer-sorting stage of device manufacture, a plurality of flash memory devices which each include a flash controller die related to a common housing and at least one flash memory die are passed to a test process such as a batch test process or mass test process.例文帳に追加

デバイス製造のポスト・ウェファ・ソート・ステージ中に、共通ハウジングに関連づけられたフラッシュコントローラ・ダイおよび少なくとも一つのフラッシュメモリ・ダイを各々が含む複数のフラッシュメモリ・デバイスを、例えば、バッチ・テスト・プロセスまたはマス・テスト・プロセス等のテスト・プロセスへ通す。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER EQUIPPED WITH MULTI-TEST CIRCUIT AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING MULTI-TEST PROCESS例文帳に追加

マルチテスト回路を備える半導体ウェハおよびマルチテスト工程を含む半導体装置の製造方法 - 特許庁

Irradiation is detected in a method of exposing the sample to irradiation by a test module monitoring a weathering test process from an improved position.例文帳に追加

改良された位置から耐候試験過程をモニターする試験モジュールで、試料が照射に曝される方法で照射を検知する。 - 特許庁

To provide a probe card for sharing a housing part even in a test process of different semiconductor devices.例文帳に追加

異なる半導体デバイスのテスト工程においても、ハウジング部分を共用することが可能なプローブカードを提供する。 - 特許庁

In a test process of HDD manufacturing, the HDD specifies a relation between clearance and temperature by measurement to determine the correction coefficient.例文帳に追加

ＨＤＤの製造のテスト工程において、ＨＤＤは、測定によりクリアランアスと温度との間の関係を特定し、上記補正係数を決定する。 - 特許庁

In this case, a test process is performed before the signal pads for driving TFTs TX1 and TX2 are covered with the seal layer 41.例文帳に追加

ここで、検査工程は、ＴＦＴ駆動用信号入力パッドＴＸ_1 ，ＴＸ_2 がシール層４１で覆われる前に行われる。 - 特許庁

To prevent deterioration in the characteristics of a product and shortening in the lifetime thereof due to residual polarization during test process.例文帳に追加

試験工程における残留分極がもたらす特性の劣化及び製品寿命の短縮を防止する。 - 特許庁

Irradiation is sensed by a test module for monitoring a weathering test process from an improved location, in the manner in which the specimens are exposed to irradiance.例文帳に追加

改良された位置から耐候試験過程をモニターする試験モジュールで、試料が照射に曝される方法で照射を検知する。 - 特許庁

When the test process is terminated, the value of the display control process flag is changed to the value corresponding to the variable pattern command reception waiting process.例文帳に追加

テスト処理を終了すると、表示制御プロセスフラグの値を変動パターンコマンド受信待ち処理に応じた値とする。 - 特許庁

To simplify a test process by elimiminating a labor and time for confirming a defective address and cutting off a capacity fuse which is other than a manufacturing process.例文帳に追加

不良アドレスの確認、容量ヒューズの切断という製造工程外の手間を無くすことによりテスト工程の簡略化を図る。 - 特許庁

The method has an engineering process, an analysis process, a test process and a control process and accesses an information.例文帳に追加

エンジニアリングプロセス、分析プロセス、テストプロセス及び制御プロセスを有するとともに、情報システムにアクセスする。 - 特許庁

In this method of manufacturing the high-purity gas-filled vessel, the high-purity gas-filled vessel is pressured in a test by hydraulic pressure in a pressure test process.例文帳に追加

高純度ガス充填容器の製造方法において、耐圧試験工程では、高純度ガス充填容器に対して水圧による耐圧試験を行う。 - 特許庁

It is preferable to confirm the update adjustment factor (109) before the update adjustment factor is taken into the test process or monitor process.例文帳に追加

更新調整因子を試験プロセス又は監視プロセスに取り入れる前に、更新調整因子を確認するのが好ましい（１０９）。 - 特許庁

To provide a semiconductor management device which can perform burn-in simplification efficiently in final test process.例文帳に追加

ファイナルテスト工程におけるバーンイン簡略を効率的に行なうことが可能な半導体管理装置を提供すること - 特許庁

A step for removing residual polarization is carried out at steps S14 and S20 before a transition is made from the test process to other process.例文帳に追加

この試験工程から他の工程へ以降する前に、ステップＳ１４及びＳ２０において残留分極を除去する工程が行われる。 - 特許庁

If there are two lighting points, the number of steps in an aging test process is enough to suppress the increase of the number of steps to a minimum.例文帳に追加

発光点が２つの場合には、エージング試験工程の工程数が倍で済み、工程数の増加分を最小限に抑えることができる。 - 特許庁

To obtain a reliability growth model decided at an initial stage of a test process in a software test process evaluation system using a reliability growth model obtained by modeling a relation between evaluation quantity to software of an evaluation object and a fault discovered for the evaluation quantity.例文帳に追加

評価対象のソフトウェアに対する評価の量とその評価量に対して発見される障害の関係をモデル化した信頼度成長モデルを用いるソフトウェアのテストプロセス評価方式において、テストプロセスの初期段階で確定した信頼度成長モデルが得られるようにする。 - 特許庁

A test process comparing part 18 compares a progress reference value determined by the test process determining part 12, with the result of the analysis outputted by the test result analyzing part 16, judges the situation of the progress, and outputs the comparison result data indicating the result of the judgment.例文帳に追加

テスト工程比較部１８は、テスト工程設定部１２によって設定された進捗基準値とテスト成績分析部１６によって出力された分析結果とを比較して進捗状況を判断し、この判断結果を示す比較結果データを出力する。 - 特許庁

The endurance test method for an optical product includes: a scratch resistance test process for pressing a scratch part to an optical product in the state that a prescribed load is imposed and performing relative exercise of the optical product and the scratch part; and a synthetic sweat test method for immersing the optical product after the scratch resistance test process in synthetic sweat for a prescribed period of time.例文帳に追加

光学製品の耐久性試験方法において、光学製品に擦傷部を所定の荷重がかかる状態で押し付け、光学製品と擦傷部を相対運動させる耐擦傷性試験工程と、当該耐擦傷性試験工程後の前記光学製品を、所定時間人工汗に浸漬させる人工汗試験工程を備えさせる。 - 特許庁

After this preparation process, a voltage input test of the existing remote monitoring controller is performed with a disconnecting switch on, while performing a test process of voltage input test of a new remote monitoring controller with the disconnecting switch off, and after the test process with the disconnecting switch off, an existing one removal process of removing wiring having their base end at the existing remote monitoring controller is performed.例文帳に追加

この準備工程の後、断路スイッチを入りにして、既設の遠方監視制御装置の電圧入力試験を実施する一方、断路スイッチを切りにして、新設の遠方監視制御装置の電圧入力試験を実施する試験工程と、試験工程の後、断路スイッチを切りにして、既設の遠方監視制御装置を基端とする配線を撤去する既設撤去工程とを実施する。 - 特許庁