「test program」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

A test program and a test pattern generating program are downloaded into the CPU cores 2c and 3c of the LSI or the group of LSIs to generate test patterns by the test pattern generating program and diagnose internal function blocks etc.例文帳に追加

そして、上記ＬＳＩもしくは上記ＬＳＩ群のＣＰＵコア２ｃ，３ｃに試験プログラムおよび試験パターン生成プログラムをダウンロードし、上記試験パターン生成プログラムにより、試験パターンを発生させ、内部の機能ブロック等の診断を行う。 - 特許庁

When a stub program is replaced by an actual program, a test case generation unit 14 generates test case information (2f) for testing the replaced program according to stub information stored in a stub information storage unit 23, and stores the generated test case information in a test case storage unit 22.例文帳に追加

テストケース生成部１４は、スタブ情報記憶部２３に記憶されたスタブ情報に従い、スタブプログラムが実際のプログラムに置き換わった際に、置き換わったプログラムをテストするためのテストケース情報（２ｆ）を生成し、テストケース記憶部２２に格納する。 - 特許庁

To obtain a program debugging apparatus which obtains a test result similar to that in a case where a program for semiconductor test is operated with respect to an actual semiconductor device to be inspected and by which the content of the program for semiconductor test can be verified accurately on the basis of the test result.例文帳に追加

実際の被検査用半導体デバイスに対して半導体試験用プログラムを動作させた場合と同様の試験結果を得て、この試験結果に基づいて半導体試験用プログラムの内容を的確に検証できるようにする。 - 特許庁

A test device 10 for testing an information processor using test data generated at random and test commands includes a program generating means which generates a test procedure made by mixing at random the test commands selected at random from the plurality of test commands and command patterns constituted by combining the plurality of test commands and creates a test program for testing the test procedure and the test data.例文帳に追加

ランダムに生成した試験データ及び試験命令を用いて情報処理装置の試験を行う試験装置１０であって、複数の試験命令からランダムに選択した試験命令と、試験命令を複数組み合わせて構成した命令列パタンとをランダムに混在させた試験手順を生成し、試験手順と試験データとから試験を行うための試験プログラムを生成するプログラム生成手段を備える。 - 特許庁

This program processor 100 merges a plurality of test pattern programs 101 and prepares and stores a merged pattern program 102 in program conversion processing for an IC test.例文帳に追加

プログラム処理装置１００は、ＩＣテストのためのプログラム変換処理において、複数のテストパタンプログラム１０１を併合して併合パタンプログラム１０２を作成・記憶する。 - 特許庁

To provide a unit test support device and a program therefor achieved in a function to automatically generate a minimum required test program when a stub is replaced with an actual program.例文帳に追加

スタブを実プログラムに置き換えた際に最低限必要となるテストプログラムを自動生成する機能を実現した単体テスト支援装置およびそのプログラムを提供する。 - 特許庁

To improve productivity by optimizing the "waiting time setting" in a test program description and by shortening the program execution time of a test program.例文帳に追加

テストプログラム記述における「待ち時間設定」を最適化してテストプログラムプログラム実行時間を短縮することにより生産性を改善できるＬＳＩテストシステムを提供すること。 - 特許庁

The device test program is constituted of a program 12 described in general-purpose programming language and a program 13 described in programming language exclusive for semiconductor test.例文帳に追加

デバイステストプログラムは、汎用プログラミング言語で記述されたプログラム１２と、半導体試験用の専用のプログラミング言語で記述されたプログラム１３によって構成されている。 - 特許庁

TEST CASE GENERATION DEVICE, TEST CASE GENERATION PROGRAM, MODEL BASE DEVELOPMENT PROGRAM, DEVICE AND PROGRAM FOR DIAGNOSING VALIDITY OF SOURCE CODE GENERATION, AND METHOD FOR DEVELOPING MODEL BASE例文帳に追加

テストケース生成装置、テストケース生成プログラム、モデルベース開発プログラム、ソースコード生成妥当性診断装置、ソースコード生成妥当性診断プログラム、およびモデルベース開発方法。 - 特許庁

When a testee requests content(program) for evaluation test from a mobile terminal MN to an evaluation test server 5, an evaluation test program is distributed from the evaluation test server 5 to a mobile terminal MN in response to this.例文帳に追加

被験者がモバイル端末MNから評価試験サーバ５に対して評価試験用のコンテンツ（プログラム）を要求すると、これに応答して評価試験サーバ５からモバイル端末MNへ評価試験プログラムが配信される。 - 特許庁

To provide a test pattern producing apparatus, a circuit design apparatus, a test pattern producing method, a circuit design method, a test pattern producing program, and a circuit design program, for reducing the processing time in test pattern production and the amount of memory used.例文帳に追加

テストパターン生成時の処理時間や使用メモリ量の削減を図るテストパターン生成装置、回路設計装置、テストパターン生成方法、回路設計方法、テストパターン生成プログラム、回路設計プログラムを提供する。 - 特許庁

A test result totaling part 300 totals failures discriminated as a test result of the program registered in a test result original file 20 by every processing classification to sort the program into plural program parts and by every processing form to divide each program part into plural program re-dividing parts and stores the totaled failures in a test result totaling file 40.例文帳に追加

テスト結果集計部３００は、テスト結果原ファイル２０に登録された、プログラムのテストの結果判別した不良を、プログラムを複数のプログラム部分に区分する処理分類別及び各プログラム部分を複数のプログラム再分割部分に区分する処理形態別に集計し、テスト結果集計ファイル４０に記憶する。 - 特許庁

To provide a test item preparation aiding device capable of preparing test items necessary for a test of an object directional program with less manhour.例文帳に追加

オブジェクト指向プログラムのテストに必要なテスト項目を少ない工数で作成することができるテスト項目作成支援装置を提供すること。 - 特許庁

The present invention improves a tester simulation system for simulating a test of a device under test on the basis of a test program.例文帳に追加

本発明は、テストプログラムに基づいて、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

The tester simulation device for simulating a test of the test object by a tester based on the test program is improved.例文帳に追加

本発明は、テストプログラムに基づいて、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

The mobile terminal MN executes the evaluation test program acquired from the evaluation test server 5, and transmits the evaluation result to the evaluation test server 5.例文帳に追加

モバイル端末MNは、評価試験サーバ５から取得した評価試験プログラムを実行し、その後、評価結果を評価試験サーバ５へ送信する。 - 特許庁

The load test program includes a small-scale test program 8 having few hardware resources to be assigned, compared with a hardware configuration of large computer, and control information 8a is added to the small-scale test program 8.例文帳に追加

負荷試験プログラムは、大規模コンピュータのハードウェア構成と比較して、割り当てるべきハードウェア資源が少ない小規模試験プログラム８を備え、小規模試験プログラム８には、制御情報８ａが付加されている。 - 特許庁

To provide a test program emulator for a semiconductor device capable of proofreading an error due to a failure of a programmer caused in a test program of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体素子のテストプログラムにて発生するプログラマの失敗によるエラーを校正できる半導体素子のテストプログラムエミュレータを提供する。 - 特許庁

PROGRAM, DEVICE AND METHOD FOR GENERATING TEST CASE例文帳に追加

テストケース生成プログラムとテストケース生成装置およびテストケース生成方法 - 特許庁

To efficiently expand test coverage in dynamic verification of a program.例文帳に追加

プログラムの動的検証においてテストカバレッジを効率的に拡大する。 - 特許庁

IMAGE PROCESSING UNIT, METHOD OF GENERATING CHART, TEST CHART, AND CHART GENERATION PROGRAM例文帳に追加

画像処理装置、チャート生成方法、テストチャート及びチャート生成プログラム - 特許庁

To reduce costs required for a performance test of a developed application (program).例文帳に追加

開発したアプリケーション（プログラム）の性能テストに要するコストを削減する。 - 特許庁

BAR-CODE GENERATION SYSTEM, BAR-CODE GENERATION PROGRAM, PRINTER AND TEST CHART例文帳に追加

バーコード生成システム、バーコード生成プログラム、印刷装置およびテストチャート - 特許庁

METHOD FOR GENERATING TEST CASE, INFORMATION PROCESSING SYSTEM, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

テスト・ケース生成のための方法、情報処理システムおよびコンピュータ・プログラム - 特許庁

TEST MAGNETIC RECORDING SIGNAL GENERATION DEVICE, AND PREPARATION METHOD AND PROGRAM FOR THE SAME例文帳に追加

テスト用磁気記録信号発生装置、該作成方法及び該プログラム - 特許庁

PROVIDING SYSTEM AND REPRODUCTION TEST SYSTEM FOR DIGITAL BROADCAST PROGRAM, AND PROVIDING METHOD AND REPRODUCTION TEST METHOD FOR THE PROGRAM例文帳に追加

デジタル放送番組提供システム、デジタル放送番組再生テストシステム、デジタル放送番組提供方法、及び、デジタル放送番組再生テスト方法 - 特許庁

PRINT CONTROLLER, PROGRAM, AND TEST PRINTING METHOD OF PRINT CONTROLLER例文帳に追加

印刷制御装置、プログラム、および印刷制御装置のテスト印刷方法 - 特許庁

DEBUGGING METHOD FOR TEST PROGRAM FOR IC TESTER, AND SIMPLIFIED PSEUDO IC TESTER例文帳に追加

ＩＣテスタ用テストプログラムのデバッグ方法、並びに簡易疑似ＩＣテスタ - 特許庁

The first program section is programmed when a test of an internal circuit is passed.例文帳に追加

第１プログラム部は、内部回路のテストがパスしたときにプログラムされる。 - 特許庁

SOFTWARE FAULT MANAGEMENT DEVICE, TEST MANAGEMENT DEVICE AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

ソフトウェアの障害管理装置、テスト管理装置、ならびにそれらのプログラム - 特許庁

SIGNAL GENERATION TIMING CONTROL PROGRAM AND INTEGRATED CIRCUIT PERFORMANCE TEST DEVICE例文帳に追加

信号発生タイミング制御プログラム及び集積回路動作試験装置 - 特許庁

APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM FOR GENERATING TEST PATTERN例文帳に追加

テストパターン作成装置、テストパターン作成方法及びテストパターン作成プログラム - 特許庁

HEARING TEST DEVICE AND METHOD, COMPUTER PROGRAM, AND HEARING AID ADJUSTMENT SYSTEM例文帳に追加

聴覚検査装置、方法およびコンピュータプログラム、補聴器調整システム - 特許庁

OSCILLOSCOPE TESTING METHOD, OSCILLOSCOPE TEST SYSTEM, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

オシロ装置試験方法、オシロ装置試験システム、プログラム、および記録媒体 - 特許庁

SOFTWARE TEST COMPLETION DETERMINATION METHOD, INFORMATION PROCESSOR, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

ソフトウェアテスト終了判定方法、情報処理装置、プログラム、記録媒体 - 特許庁

BEHAVIORAL SYNTHESIS DEVICE AND METHOD HAVING TEST BENCH GENERATION FUNCTION, AND PROGRAM例文帳に追加

テストベンチ生成機能を有する動作合成装置と方法及びプログラム - 特許庁

TEST PROGRAM EMULATOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, EMULATION METHOD AND OPERATION METHOD例文帳に追加

半導体素子のテストプログラムエミュレータ及びエミュレーション法並びに運用法 - 特許庁

METHOD FOR PREPROCESSING SEMICONDUCTOR TEST PROGRAM AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験用プログラムの前処理方法および半導体試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE AND METHOD FOR VERIFYING EXECUTION RESULT OF COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

コンピュータプログラムの実行結果を検証するためのテスト装置及び方法 - 特許庁

The control part 15 executes the basic test/diagnostic program or the new test/diagnostic program according to the result determining the execution instruction.例文帳に追加

そして制御部１５は、実行指示を判別した結果に従って、基本試験・診断プログラム、或いは、新規試験・診断プログラムを実行する。 - 特許庁

Ensure that the program codes and test results are assessed properly, recorded and stored.例文帳に追加

プログラムコード及びプログラムテスト結果を評価し、記録及び保管すること。 - 経済産業省

A test pattern f and a test program g for skew detection suited for a measured LSI are created based on the minimum resolution, the maximum skew value, circuit connection information d and a test program c.例文帳に追加

最小分解能および最大スキュー値と回路接続情報ｄとテストプログラムｃをもとに被測定ＬＳＩに合わせたスキュー検出用のテストパタンｆとテストプログラムｇを生成する。 - 特許庁

To provide a program analysis device, a program analysis method and a program analysis program which automatically identify a factor point preventing generation of a test vector for an optional test item.例文帳に追加

任意のテスト項目に対してテストベクタを生成できない場合にその要因箇所を自動的に特定するプログラム解析装置、プログラム解析方法及びプログラム解析プログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁

TEST CREATION SERVER, RESULT DOCUMENT CREATION SERVER, EXERCISE PROBLEM COLLECTION CREATION SERVER, PROBLEM MAINTENANCE SERVER, TEST CREATION PROGRAM, RESULT DOCUMENT CREATION PROGRAM, EXERCISE PROBLEM COLLECTION CREATION PROGRAM, AND PROBLEM MAINTENANCE PROGRAM例文帳に追加

テスト作成サーバ、結果帳票作成サーバ、演習問題集作成サーバ、問題メンテナンスサーバ、テスト作成プログラム、結果帳票作成プログラム、演習問題集作成プログラム及び問題メンテナンスプログラム - 特許庁

At the time of the IC test processing, the analysis and conversion processing part 1041 successively analyzes a program for one instruction from the read test program 301, and successively converts the analyzed program into a test program 302 for its own equipment, and stores it in the storage part 1044.例文帳に追加

解析変換処理部１０４１は、ＩＣテスト処理に際して、読み出したテストプログラム３０１から１命令分のプログラムを順次解析し、その解析したプログラムを自機用のテストプログラム３０２に順次変換して記憶部１０４４に記憶する。 - 特許庁