| 意味 | 例文 |
test programの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1631件
To provide a software test method and program, reduced in testing time.例文帳に追加
テスト時間を短縮することができるソフトウェアのテスト方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁
METHOD AND PROGRAM FOR TIMING VERIFICATION OF LSI TEST DATA例文帳に追加
LSIテスト・データのタイミング検証方法およびLSIテスト・データのタイミング検証プログラム - 特許庁
METHOD FOR ANALYZING MEASUREMENT DATA OF DEVICE UNDER TEST, PROGRAM, AND MEASUREMENT DATA ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加
被試験対象デバイスの測定データ解析方法、プログラム、および測定データ解析システム - 特許庁
CLINICAL TEST DATA ANALYSIS SUPPORT APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
臨床検査データ解析支援装置、臨床検査データ解析支援方法及びそのプログラム - 特許庁
To attain improvement in work efficiency and accuracy in the operation test of a sequencer program.例文帳に追加
シーケンサプログラムの動作試験時における作業効率および精度の向上を図る。 - 特許庁
INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING APPARATUS, METHOD FOR RECORD TEST, AND PROGRAM FOR CARRYING OUT THE METHOD例文帳に追加
情報記録再生装置、記録テスト方法及び該方法を実行するためのプログラム - 特許庁
The test state display program reads the tool personal computer number 207 when its execution is started.例文帳に追加
試験状況表示プログラムは、実行開始時に冶具パソコン番号207を読み込む。 - 特許庁
To reduce development cost of a test program for a memory chip mounted on a semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置に実装されたメモリチップの試験プログラムの開発コストを削減する。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device shortening a loading time of a test program.例文帳に追加
テストプログラムのロード時間を短くすることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
PRINTER, IMAGE PROCESSOR, PRINTING CONTROL METHOD, PROGRAM, TEST PATTERN DATA, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
印刷装置、情報処理装置、印刷制御方法、プログラム、テストパターンデータ及び記録媒体 - 特許庁
To provide a test maintenance program management system of a magnetic resonance imaging device with high security.例文帳に追加
セキュリティの高い磁気共鳴イメージング装置のテスト・メンテナンスプログラム管理システムを提供する。 - 特許庁
A host adaptor 322 can call other program object for executing a special test.例文帳に追加
ホストアダプタ322は、特定のテストを実行する他のプログラムオブジェクトを呼び出すことができる。 - 特許庁
WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM, WIRELESS COMMUNICATION TESTING METHOD, AND WIRELESS COMMUNICATION TEST PROGRAM例文帳に追加
無線通信システム及び無線通信試験方法並びに無線通信システム試験プログラム - 特許庁
To manage the result of a test to be performed to a program prior to delivery.例文帳に追加
プログラムが配信前に受けるべきテストの結果を管理することができるようにする。 - 特許庁
To divide the test scripts of a software program into parts by using processing on one picture as a unit.例文帳に追加
ソフトウェア・プログラムのテスト・スクリプトを一画面での処理を単位に部品化すること。 - 特許庁
To improve the measurement precision of coverage in a test of program where dynamic binding exists.例文帳に追加
動的束縛が存在するプログラムのテストにおけるカバレッジの測定精度を向上させる。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE SIMULATING DEVICE AND PROGRAM DEBUGGING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR TEST USING THE SAME例文帳に追加
半導体デバイスシミュレート装置及びそれを用いた半導体試験用プログラムデバッグ装置 - 特許庁
METHOD FOR SETTING TEST MODE, MEDIUM STORING ITS PROGRAM, SEMICONDUCTOR DEVICE AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加
テストモード設定方法、そのプログラムを記憶した記憶媒体、半導体装置及び電子機器 - 特許庁
The test data is fed and run in order to check if the program can be handled correctly 例文帳に追加
プログラムが,正しく作動するかどうかを検査するために,テストデータを与えて実行させる - コンピューター用語辞典
To improve the maintainability and reliability of a source program and the facility of a verification test.例文帳に追加
ソースプログラムの保守性および信頼性、並びに、検証テストの容易性を向上させる。 - 特許庁
METHOD FOR PRODUCING TEST PATTERN, INFORMATION PROCESSOR, INTEGRATED CIRCUIT TESTING SYSTEM, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
テストパターン生成方法、情報処理装置、集積回路試験システム、プログラム、記録媒体 - 特許庁
To provide a forming method of a developable test program tool for allowing even an inexperienced engineer to make a test pattern program in a short period in the forming method and the device of the developable test program tool, and a device thereof.例文帳に追加
本発明は展開型試験プログラムツールの生成方法及び装置に関し、経験の浅い技術者でも短期間でテストパターンプログラムを作成することができる展開型試験プログラムツールの生成方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁
In the case of compiling a test program by an intermediate code group compiler, an intermediate code to be linked with the common program is inserted into the position of the program specification command.例文帳に追加
中間コード群コンパイラによってテストプログラムをコンパイルする際に、プログラム指定コマンドの位置に共通プログラムにリンクさせる中間コードを挿入する。 - 特許庁
To provide a test program for an application program for accurately testing the picture of an application program without manually indicating a verification object.例文帳に追加
検証対象を手動により指定することなくアプリケーションプログラムの画面を正確にテストできるアプリケーションプログラムのテストプログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a communication program testing method and a communication program testing system for performing the communication load test of a program by minimizing the consumption of the resource of a server.例文帳に追加
サーバのリソースの消費を最小限にしてプログラムの通信負荷試験を行う通信プログラム試験方法及び通信プログラム試験システムを提供する。 - 特許庁
To provide a program development supporting device capable of restoring the operated result of a program to a test block without executing the program from the beginning again.例文帳に追加
テスト区間に至るまでのプログラムの動作結果を、プログラムを最初から再実行せずに復元することができるプログラム開発支援装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method and device for generating a test bench, and a computer program, enabling simplifying description for generating the test bench.例文帳に追加
テストベンチ生成のための記述の簡略化を可能にするテストベンチ生成方法、テストベンチ生成装置、及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁
DEVICE FOR GENERATION OF TEST DATA, METHOD FOR GENERATING TEST DATA AND STORAGE MEDIUM WHICH STORES PROGRAM TO HAVE COMPUTER TO PROCESS ON THE SYSTEM例文帳に追加
テストデータ生成装置、テストデータ生成方法及びそのシステムでの処理をコンピュータに行なわせるためのプログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁
To provide an automatic test program execution method for automatically and continuously downloading test programs by a portable terminal.例文帳に追加
携帯端末上で連続して複数のテストプログラムを自動的にダウンロードして実行するテストプログラムの自動実行方法を提供する。 - 特許庁
PRINTER, METHOD OF JUDGING FORMING OF DOT, COMPUTER PROGRAM, RECORDING MEDIUM, COMPUTER SYSTEM, TEST PATTERN REGION, AND METHOD OF PRINTING TEST PATTERN REGION例文帳に追加
印刷装置、ドット形成判定方法、コンピュータプログラム、記録媒体、コンピュータシステム、テストパターン領域、及び、テストパターン領域印刷方法 - 特許庁
To provide a semiconductor device, a test method, and a program capable of performing a test within a short period of time.例文帳に追加
本発明は、短い時間でテストを行うことが出来る半導体装置、試験方法及びプログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide a testing device capable of creating a test program where appropriate settling time detected automatically is reflected and reducing test costs.例文帳に追加
自動的に検出される適切なセットリングタイムが反映されたテストプログラムを作成し、テストコストを低減できる試験装置を提供する。 - 特許庁
To obtain an off-line test device for achieving, by one computer the off-line test of a sequence control program to be performed by a programmable controller.例文帳に追加
プログラマブルコントローラで実行されるシーケンス制御プログラムのオフラインテストを1台のコンピュータで実現可能なオフラインテスト装置を得ること。 - 特許庁
A computer 100 performs test execution of a program, adds link information to memory dump obtained as a result of the test and shows it on a monitor 115.例文帳に追加
計算機100でプログラムをテスト実行し、テストの結果として得られるメモリダンプに、リンク情報を付加して、モニタ115に表示する。 - 特許庁
Feature test macros allow the programmer to control the definitions that are exposed by system header files when a program is compiled. 例文帳に追加
機能検査マクロ (feature test macro) により、プログラマはプログラムがコンパイルされる際にシステムのヘッダファイルにより公開される定義を制御することができる。 - JM
To provide a semiconductor testing system capable of simply updating a test program in accordance with an update request from a test board side.例文帳に追加
試験ボード側からの更新要求に応じて簡単に試験プログラムを更新することができる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁
TEST PATTERN GENERATION METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST PATTERN GENERATOR OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, CONTROL PROGRAM, READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加
半導体集積回路のテストパターン生成方法および半導体集積回路のテストパターン生成装置、制御プログラム、可読記録媒体 - 特許庁
In addition to a roll call test for checking whether the redundancy circuit is used/unused, the semiconductor storage device is added with a fuse program check mode as a 2nd roll call test mode.例文帳に追加
リダンダンシ回路の使用/未使用をチェックするロールコールテストの他に第2のロールコールテストモードとしてヒューズプログラムチェックモードを追加する。 - 特許庁
In this semiconductor test device for executing the test by forwarding plural test patterns to a device to be measured via test pattern memories 702, 703, following the measurement sequence by the test program in order to execute the function test of the semiconductor device 704 which is measuring object, the measurement sequence is changed so that the number of times of test pattern transfer between pattern memories in the semiconductor test device becomes minimum.例文帳に追加
測定対象となる半導体デバイス704 の機能テストを行うためにテストプログラムによる測定シーケンスにしたがって複数のテストパターンをテストパターンメモリ702,703 を介して被測定デバイスに転送し、テストを実行する半導体テスト装置において、半導体テスト装置内のパターンメモリ間におけるテストパターンの転送回数が最小になるように測定シーケンスを変更する。 - 特許庁
A program counter switching part 109 is controlled so that an address value of the program counter 101 is selected when the address of the memory 117 is detected in the program counter 101 and an address value of the program counter 108 for test when the address of the external memory is detected in a test mode.例文帳に追加
プログラムカウンタ切替部109は、テストモード時に、プログラムカウンタ101にメモリ117のアドレスを検出したとき、プログラムカウンタ101のアドレス値を選択し、プログラムカウンタ101に外部メモリのアドレスを検出したとき、テスト用プログラムカウンタ108のアドレス値を選択するよう制御する。 - 特許庁
To obtain an automatic test item creating device which reduces the development time of a program by reducing the test period of a purchased program and reducing the burden of an engineer who is familiar with the function of a program to be developed.例文帳に追加
購入プログラムのテスト期間の短縮と、開発するプログラムの機能に熟知したエンジニアの負担を軽減することでプログラムの開発期間を短縮するテスト項目自動作成装置を提供する。 - 特許庁
Interrupt address tables CIT and TIT to be used in the interrupt process executed according to the image control program CP or the test program TP are stored in association with the image control program CP and the test program TP in the program ROM 414.例文帳に追加
プログラムROM414は、画像制御プログラムCPおよび検査プログラムTPにしたがって実行される割り込み処理に用いられる割り込みアドレステーブルCIT,TITを画像制御プログラムCPおよび検査プログラムTPの双方に対応してそれぞれ格納している。 - 特許庁
The operations of the respective test functions are controlled by describing a command, which designates the communication protocol in the communication test function, in the test program described using a command for designating the operations of the in-circuit test function and the function test function.例文帳に追加
そしてインサーキットテスト機能およびファンクションテスト機能の動作をそれぞれ指定するコマンドを用いて記述されるテストプログラム中に、通信テスト機能における通信プロトコルを指定するコマンドを記述することで、前記各テスト機能の作動をそれぞれ制御する。 - 特許庁
ANALYSIS RESULT DISPLAYING DATA GENERATOR, METHOD AND PROGRAM, PROGRAM GENERATOR WITH TEST FUNCTION, METHOD AND PROGRAM, CONTROL OPERATION DETERMINING APPARATUS, METHOD AND PROGRAM, AND CONTROL OPERATION DETERMINING SYSTEM例文帳に追加
分析結果表示用データ生成装置、方法及びプログラム、テスト機能付きプログラム生成装置、方法及びプログラム、制御動作判定装置、方法及びプログラム、並びに、制御動作判定システム - 特許庁
To solve the problem that a large number of test man-hours are required for repeatedly compiling and loading each of test modules to a debugger in order to operate a plurality of module tests when a STAB program only for testing is assembled for testing the modules in a test target program.例文帳に追加
テスト対象プログラム内のモジュールテストを行うために、テスト専用のスタブプログラムを組込むのだが、複数のモジュールテストを実行するために、テストするモジュール毎にコンパイルしデバッガにロードを繰返すためテスト工数がかかる。 - 特許庁
To provide a technique for verifying function operation of a virtual tape device under a test operation environment by operating a test program on a host computer that is a host control device and a test program on a monitoring terminal.例文帳に追加
上位制御装置であるホストコンピュータ上の試験用プログラムと監視端末の試験プログラムとを稼働させることによって、この試験運用環境下における仮想テープ装置の機能動作を検証する技術を提供する。 - 特許庁
To provide a protection method for a test program safely distributing the test program without depending on confidentiality and to provide a test method for LSI whose data analysis is difficult for a third party.例文帳に追加
守秘義務に頼る必要なく、安全にテストプログラムを流通させることの可能なテストプログラムの保護方法を提供すること及び第三者によるデータの解析が困難なLSIのテスト方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
Test data definition data 21 input in a unit test program creation system 1 is recorded by XML (extensible markup language), and the hierarchical structure of the structure group supplied to a test target program is represented by a previously defined tag.例文帳に追加
単体テストプログラム作成システム1が入力するテストデータ定義データ21は、XML(extensible markup language)によって記載され、予め定義したタグによって、テスト対象プログラムに供給する構造体群の階層構造が表されている。 - 特許庁
During a test, at least one test program is executed which allows a flash controller on each flash controller die to test one or more flash memory dies of each flash device.例文帳に追加
テスト中、各フラッシュコントローラ・ダイ上に属するフラッシュコントローラが、各フラッシュ・デバイスの一つ以上のフラッシュメモリ・ダイの各々をテストするための、少なくとも一つのテスト・プログラムを実行する。 - 特許庁
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