「test program」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

The determination result is not the basic test/ diagnostic program, a new test/diagnostic program matching a change, addition, or the like of the system specifications is loaded from an external device 20 to be stored in an internal memory inside the control part 15.例文帳に追加

判別した結果が、基本試験・診断プログラムでない場合は、外部装置２０からシステムの仕様変更、追加等に対応した新規試験・診断プログラムをロードし、制御部１５内の内部メモリに記憶する。 - 特許庁

A semiconductor testing device 100 tests devices 17A, 17B to be measured which are mounted on two test heads by using two kinds of test programs each of which is constituted so as to include a program specification command for specifying a common program.例文帳に追加

半導体試験装置１００は共通プログラムを指定するプログラム指定コマンドを含んで構成された２種類のテストプログラムを用いて２台のテストヘッドに実装された被測定デバイス１７Ａ，１７Ｂを試験する。 - 特許庁

To provide an operation synthesis device and a method, and a program, for generating a test bench in which a same test vector can be used in an action simulation and an RTL simulation.例文帳に追加

動作シミュレーションとＲＴＬシミュレーションで同じテストベクタを使用できるためのテストベンチを生成する動作合成装置及び方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

A logic operation part 4 generates data for test on the basis of an operation control signal generated by the execution of the above-mentioned program for test by the control part 3.例文帳に追加

ロジック演算部４は制御部３が上記テスト用プログラムを実行することによって生成した演算制御信号に基づいてテスト用データを生成する。 - 特許庁

To provide a program, device and method for software test management, which are utilized between test support functions by unifying management of information related to tests.例文帳に追加

テストに関する情報を一元管理することにより、テスト支援機能間で活用するソフトウェアテスト管理プログラム、ソフトウェアテスト管理装置、ソフトウェアテスト管理方法を提供する。 - 特許庁

Thus, since the test object is narrowed down, test items which actually become necessary can be narrowed down among a program to be tested to perform coverage measurement.例文帳に追加

このように、テスト対象の絞り込みを行なわせているので、テスト対象のプログラムの内、実際に必要とされるテスト項目を絞り込んでカバレージ測定を行うことができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit, a semiconductor integrated circuit design method, a scanning test pattern generation method, and a program capable of reducing cost in a scanning test.例文帳に追加

スキャンテストにおけるコストを低減することができる半導体集積回路、半導体集積回路設計方法、スキャンテストパタン生成方法及びそのプログラムを提供すること - 特許庁

To perform test more precisely in the test device for testing both or either of a control model and the control program created based on its control model.例文帳に追加

制御モデル及びその制御モデルをもとに作成される制御プログラムの両方又は一方を検査する検査装置において、検査をより精密に行えるようにする。 - 特許庁

A release processing part 40 deletes the data related to the test stored in the virtual directory 36 after performing the test, and transfers the program to be released to the regular directory 34.例文帳に追加

リリース処理部４０は、テスト後に仮想ディレクトリ３６に格納されたテストに係るデータを削除し、リリースが可能となったプログラムなどを本番ディレクトリ３４に移行する。 - 特許庁

The wafer test host 21 transmits the wafer specification code J2 to an electrical inspection device 22, and the electrical inspection device 22 selects a test program and then executes the electrical inspection.例文帳に追加

ウエハテストホスト２１は電気的検査装置２２へウェハスペックコードＪ２を送信し、電気的検査装置２２はテストプログラムを選定した上で電気的検査を実行する。 - 特許庁

To provide a behavioral synthesis device and method, and program, for generating a test bench in which the same test vector can be used in an action simulation and an RTL (register transfer level) simulation.例文帳に追加

動作シミュレーションとＲＴＬシミュレーションで同じテストベクタを使用できるためのテストベンチを生成する動作合成装置及び方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To make it possible to easily perform a test corresponding to a change in environments and to easily increase test patterns with respect to an interactive program which performs input operation by a graphic user interface(GUI).例文帳に追加

ＧＵＩによる入力操作を行う対話型プログラムについて、環境の変化に対応したテストを容易に行い、また、容易にテストパターンを増やすことを可能にする。 - 特許庁

A test emulation part 140 operates a device test program 112 to be an object to be debugged under the operating system of a general-purpose computer, and a semiconductor testing apparatus is constituted in a pseudo manner.例文帳に追加

テスタエミュレート部１４０は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム１１２を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成する。 - 特許庁

SERVER PROCESS TESTING SYSTEM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH SERVER PROCESS TEST FRAMEWORK RECORDED AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH SERVER PROCESS TEST PROGRAM RECORDED例文帳に追加

サーバプロセス試験システム、サーバプロセス試験フレームワークを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、およびサーバプロセス試験プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To accurately and rapidly carry out creating an LSI inspection specification, checking test program specifications between different devices and considering a programming description enabling the shortest test period to be realized.例文帳に追加

ＬＳＩ検査仕様書作成、異機種間のテストプログラム仕様の確認、テスト時間を最短にするプログラミング記述の検討を正確かつ迅速に行うことを目的とする。 - 特許庁

METHOD FOR ESTIMATING TEST YIELD TO SEMICONDUCTOR PRODUCT AND PROGRAM FOR EXECUTING METHOD (ESTIMATION OF TEST YIELD TO SEMICONDUCTOR PRODUCT PREPARED FROM LIBRARY)例文帳に追加

半導体製品に対するテスト歩留まりを推定する方法及び方法を実行するためのプログラム（ライブラリから作製される半導体製品に対するテスト歩留まりの推定） - 特許庁

A test simulate part operates a device test program 112 to be debugged under the operating system of a general computer, and constitutes a pseudo semiconductor testing device.例文帳に追加

テスタシミュレート部は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム１１２を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成するものである。 - 特許庁

A control register 31 essentially contained in an IC test device in which a control result that a control program 64 imitates an operation of the IC test device to obtain is stored.例文帳に追加

制御用レジスタ３１は本来ＩＣ試験装置に内蔵され、制御プログラム６４がＩＣ試験装置の動作を模倣して得た制御結果が格納される。 - 特許庁

A test item generation section 17 generates test items to be executed for the program based on the parameters stored in the parameter DB (bypass) 15 and the parameter DB (alteration) 16.例文帳に追加

試験項目生成部１７は、パラメータＤＢ（バイパス）１５と、パラメータＤＢ（改ざん）１６とが記憶するパラメータに基づいて、プログラムに対して実行する試験項目を生成する。 - 特許庁

Then a layout program 50 monitors the contents of the database 30 periodically for operating a main test execution control program 34 immediately when the conditions of any device to be tested reach the test condition to execute a characteristic measurement test for the device to be tested.例文帳に追加

そして、割付処理プログラム５０によって定期的にデータベース３０の内容が監視され、いずれかの被試験装置の状態が試験条件に到達した場合にはただちに主試験実行制御プログラム３４を起動して、その被試験装置に対する特性測定試験が実行される。 - 特許庁

To provide an automatic generating method for a LSI test pattern program which can generate automatically a test pattern program easily when capacity, the number of I/O, and the like are changed, its device, and a LSI test method, in a semiconductor memory such as a DRAM, a SRAM, a FLASH, or the like.例文帳に追加

ＤＲＡＭやＳＲＡＭやＦＬＡＳＨなどの半導体メモリにおいて、容量やＩ／Ｏ数などが変更されたとき容易にテストパターンプログラムを自動生成できるようにしたＬＳＩテストパターンプログラム自動生成方法およびその装置並びにＬＳＩテスト方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method and a system of making/grading test questions in which a test is effectively executed in a limited space, preventing a cheating, a server of making/grading the test questions, a portable respondent terminal device, a program, and a program to be mounted on the portable respondent terminal device.例文帳に追加

限られたスペースで、カンニングを防止しつつ、効率的に試験を実施することができる試験問題作成・採点方法およびそのシステム、試験問題作成・採点サーバ、携帯型解答者端末装置、プログラム、並びに携帯型解答者端末装置搭載用プログラムを提供すること。 - 特許庁

METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR IDENTIFYING SURFACE PROFILE OF ULTRASONIC FLAW DETECTION TEST BODY, AND METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR ULTRASONIC FLAW DETECTION TEST, INCORPORATED WITH IDENTIFICATION OF SURFACE PROFILE OF ULTRASONIC FLAW DETECTION TEST BODY例文帳に追加

超音波探傷試験体の表面形状同定方法、表面形状同定装置及び表面形状同定プログラム、並びに、超音波探傷試験体の表面形状同定処理を組み込んだ超音波探傷試験方法、超音波探傷試験装置及び超音波探傷試験プログラム - 特許庁

To provide a burn-in test program simulation device, its method, and a storage medium for simulating a burn-in test program for executing a burn-in test on an IC without using any actual device or any IC to be tested so as to shorten the evaluation time.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣのバーンイン試験を実行するためのバーンイン試験プログラムを実装置及び被試験ＩＣを使用せずにシミュレーションすることで評価時間を短縮するバーンイン試験プログラムのシミュレーション装置及び方法と記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

To provide a test program development device allowing easy comprehension of a form of an automatically generated source code, allowing guarantee of identity of test conditions between an input sheet and a source file after edition by a user, and allowing heightening of working efficiency of debug or the editing of a test program.例文帳に追加

自動生成されたソースコードの形態を容易に把握でき、入力シートとユーザーが編集した後のソースファイル相互間のテスト条件の同一性が保証され、テストプログラムの編集やデバッグの作業効率を高めることができるテストプログラム開発装置を提供すること。 - 特許庁

Moreover, a test item extracting part 13 receives the analytic result of the program analyzing part 11 and extracts the inspection item of the program A for each symbol of the algorithm chart.例文帳に追加

さらに、テスト項目抽出部１３は、プログラム解析部１１の解析結果を受け、アルゴリズムチャートのシンボルごとにプログラムＡの検査項目を抽出する。 - 特許庁

The execution module is executed to generate an execution log recording transmitting and receiving messages exchanged between the test object program and the pseudo program in time series.例文帳に追加

実行モジュールを実行し、試験対象プログラムと擬似プログラムの間で交わされた送受信メッセージを時系列に記録した実行ログを生成する。 - 特許庁

To provide a program production system of a semiconductor testing device which reduces the trouble of developing an OS and a test program and simplifies debugging work.例文帳に追加

ＯＳやテストプログラムの開発の手間を低減でき、デバッグ作業を簡略化することができる半導体試験装置のプログラム作成方式を提供すること。 - 特許庁

In response to turning on of a power source, the boot program is started, and a control part 15 detects that a predetermined key for instructing execution of the test/diagnostic program is pressed or not.例文帳に追加

電源投入に応答してブートプログラムが起動し、制御部１５は、試験・診断プログラムの実行を指示する所定キーの押下を検出する。 - 特許庁

To effectively generate an executable test program according to path information of a counterexample gained as a result of performing a model inspection to an object program.例文帳に追加

対象プログラムに対してモデル検査を行った結果得られる反例のパス情報どおりに実行可能なテストプログラムを効果的に生成すること。 - 特許庁

For example, when correction of program is instructed due to a failure, the "program" to be corrected is specified, the influence range of the "program" is acquired from the influence range management database, and only the test case contained in the acquired influence range is executed as reoperation test.例文帳に追加

例えば、障害が発生してプログラムの修正が指示されたときに、修正される「プログラム」を特定し、当該「プログラム」の影響範囲を影響範囲管理データベースから取得して、取得した影響範囲に含まれるテストケースのみを、再動作試験として実施する。 - 特許庁

The image display device comprises a program ROM 414 for storing an image control program CP for displaying images based on image data and a test program TP for testing whether the image display device is normally operated or not independently; and a control part capable of executing the image control program CP and the test program TP.例文帳に追加

画像表示装置は、画像データに基づく画像を表示するための画像制御プログラムＣＰと、画像表示装置が正常に動作するか否かを検査するための検査プログラムＴＰとを互いに独立した状態で格納したプログラムＲＯＭ４１４と、画像制御プログラムＣＰおよび検査プログラムＴＰを実行可能な制御部とを備える。 - 特許庁

To generate a reasonable number of test cases capable of testing the quality of a software program while taking a business specification into account.例文帳に追加

業務仕様を考慮し、かつ、ソフトウェアプログラムの品質を検査できる妥当な量のテストケースを生成する。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR DIAGNOSING TEST OF DEVICE AND RECORDING MEDIUM RECORDING CONTROL PROGRAM FOR THE SAME例文帳に追加

デバイス試験診断システム及びそのデバイス試験診断方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TELEGRAPHIC MESSAGE DATA, SERVER DEVICE, TEST SYSTEM FOR APPLICATION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

電文データ生成方法、電文データ生成装置、サーバ装置、アプリケーションプログラムの試験システムおよび記録媒体 - 特許庁

To provide a test program generation system generating automatically a template for each LSI tester model.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ機種ごとのテンプレートを自動的に生成することのできるテストプログラム生成システムを提供する。 - 特許庁

REAL TIME SEQUENTIAL TEST METHOD AND PROGRAM AND RECORDING MEDIUM FOR MAKING COMPUTER RUN PROCESS IN THE METHOD例文帳に追加

実時間遂次検定方法及びその方法における処理をコンピュータに行わせるためのプログラム及び記録媒体 - 特許庁

To provide an IC tester capable of customizing directly a circuit constitution of a performance board on a debugging tool of a test program.例文帳に追加

テストプログラムのデバッグツール上で、パフォーマンスボードの回路構成を直接にカスタマイズ可能なＩＣテスタを提供。 - 特許庁

A test program generation device 104 designates a security attack from a threat list table 105 by a designation unit 701.例文帳に追加

テストプログラム生成装置１０４は、指定部７０１にて脅威一覧テーブル１０５からセキュリティ攻撃を指定する。 - 特許庁

To provide a debug support system for a semiconductor integrated circuit test program with a parameter change point as a break point.例文帳に追加

パラメータの変更点をブレークポイントとする半導体集積回路試験プログラムのデバッグ支援装置を提供する。 - 特許庁

TEST DATA BACKUP SYSTEM AND METHOD, BACKUP CONTROL PROGRAM AND STORAGE MEDIUM STORING THE SAME例文帳に追加

試験データバックアップシステム及び試験データバックアップ方法、並びに、バックアップ制御プログラム及びこれを記憶した記憶媒体 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR AUTOMATICALLY GENERATING TEST ITEM AND MACHINE READABLE RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM RECORDED例文帳に追加

テスト項目自動生成システム及びテスト項目自動生成方法並びにプログラムを記録した機械可読記録媒体 - 特許庁

TEST ROUTE VERIFYING DEVICE AND STOAGE MEDIUM STORED WITH PROGRAM MAKING COMPUTER PERFORM PROCESSING OF THE SAME DEVICE例文帳に追加

テストルート検証装置及びその装置での処理をコンピュータに行なわせるためのプログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁

The device 2 executes a test program by the received instruction and transmits an execution result to the device 3.例文帳に追加

エミュレーション装置２は受信した命令でテストプログラム５を実行し、実行結果を自動テスト装置３に送信する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INFORMATION COLLECTION SYSTEM AND RECORDING WITH RECORDING INFORMATION COLLECTION SYSTEM TEST PROGRAM RECORDED THEREIN例文帳に追加

情報収集システム試験装置および方法と情報収集システム試験プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁