1153万例文収録!

「test program」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > test programの意味・解説 > test programに関連した英語例文

セーフサーチ:オフ

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

test programの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1631



例文

When the amount of test pieces on which the test is finished reach a previously set amount, the macro program is executed to carry out various data processing based on test data in the temporal storage area.例文帳に追加

試験が終了した試験片の数量が予め設定した数量に達すると、マクロプログラムを実行し、一時記憶領域の試験データに基づいて各種のデータ処理を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus, a semiconductor test apparatus control method, a program, and a storage medium which generate a large-current load with high precision only by functions of a test apparatus.例文帳に追加

テスト装置の機能のみで大電流負荷を高精度に生成することができる半導体試験装置、半導体試験装置の制御方法、プログラム、及び記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a program of improving a failure detection rate without increasing the number of diagnostic test patterns in a semiconductor integrated circuit having a test mechanism by an incorporated self-test method.例文帳に追加

組込み自己試験法によるテスト機構を備えた半導体集積回路において、診断テストパターン数を増加させずに故障検出率を向上させることができるプログラムを提供する。 - 特許庁

After initializing the programmable logic 6 to be upgraded by new configuration data and a simulation model, a test sequence is carried out in accordance with a test program and both test results are compared with each other.例文帳に追加

新しいコンフィギュレーションデータでアップグレードするプログラマブルロジック6とシュミレーションモデルを初期化した後、テストプログラムに従いテストシーケンスを実行し、両者のテスト結果を比較する。 - 特許庁

例文

To provide a device and a program for supporting to rapidly and easily prepare the test case group of a test specification providing a low working load to a test case preparing person and capable of increasing a coverage.例文帳に追加

テストケース作成者に与える作業負荷が低く、網羅性の高い試験仕様書のテストケース群を迅速かつ容易に作成できるよう支援を行う装置及びプログラムを提供する。 - 特許庁


例文

To solve the following problem: test costs such as test time and test program development man-days increase, and human errors increase due to test program complications, because control by individual chips becomes necessary in the case where a plurality of chips are simultaneously measured by an external device, because trimming data is a random data peculiar to each chip.例文帳に追加

トリミングデータはチップ毎に固有のランダムなデータであるため、外部装置により複数チップを同時測定している場合、チップ個別の制御が必要となり、テスト時間・テストプログラム開発工数等のテストコストやテストプログラム複雑化によるヒューマンエラー増大を招く。 - 特許庁

To provide a test script processing program, which converts a test script according to a corrected content without abolishing an existing test script even in a case in which a program correction such as function extension or failure correction is caused in an operation object application in correction of the existing test script.例文帳に追加

既存テストスクリプトの修正において、操作対象アプリケーションに機能拡張や不良修正などのプログラム修正が生じた場合でも、既存のテストスクリプトを破棄することなく、修正された内容に従ってテストスクリプトを変換するテストスクリプト処理プログラムを提供すること。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM OF MAKING/GRADING TEST QUESTION, SERVER OF MAKING/GRADING TEST QUESTION, PORTABLE RESPONDENT TERMINAL DEVICE, PROGRAM, AND PROGRAM TO BE MOUNTED ON PORTABLE RESPONDENT TERMINAL DEVICE例文帳に追加

試験問題作成・採点方法およびそのシステム、試験問題作成・採点サーバ、携帯型解答者端末装置、プログラム、並びに携帯型解答者端末装置搭載用プログラム - 特許庁

Using a DAT system (100), a programmer can test the communication interfaces of a thread via either a scripting program, any COM-compliant program, or a graphical test utility.例文帳に追加

DATシステム(100)を用いて、プログラマーは、スクリプティングプログラム、任意のCOMコンプライアントプログラム、またはグラフィカルなテストユーティリティを介してスレッドの通信インターフェイスをテストすることができる。 - 特許庁

例文

SPECIMEN-TESTING SYSTEM AND METHOD, COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM RECORDING SPECIMEN TEST PROCESSING PROGRAM BY COMPUTER, AND PROGRAM FOR MAKING COMPUTER CONDUCT SPECIMEN TEST PROCESSING例文帳に追加

検体検査システム、検体検査方法、コンピュータによる検体検査処理プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体、コンピュータに検体検査処理を実行させるためのプログラム - 特許庁

例文

To provide an improved technique capable of backtracking while including database (DB) sequence processing in a program model test in which an application program using a DB is a test target.例文帳に追加

データベース(DB)を利用するアプリケーションプログラムを検査対象とするプログラム・モデル検査において、DBのシーケンス処理をも含めてバックトラックできる改善された技術を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing program debug device capable of reducing wastefulness of a facility when using a semiconductor test program or a semiconductor test device having a different specification.例文帳に追加

仕様が異なる半導体試験装置あるいは半導体試験プログラムを用いる場合に設備の無駄を低減することができる半導体試験用プログラムデバッグ装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method of a semiconductor test program for automatically conducting inspection of plural conditional branches of a conditional branching instruction in the inspection of the semiconductor test program.例文帳に追加

半導体試験プログラムの検査において、条件分岐命令の複数の条件分岐の検査を自動で行う半導体試験プログラムの検査装置及び検査方法の提供。 - 特許庁

A program generation means generates a test program outputting an output value based on the computed true and faulty input values.例文帳に追加

プログラム生成手段は、演算された真および偽入力値に基づく出力値を出力させるテストプログラムを生成する。 - 特許庁

To efficiently prepare a test pattern for an updated program when contents of a program to be tested are changed.例文帳に追加

テスト対象のプログラムの内容が更新された場合に、更新後のプログラム用のテストパターンを効率的に作成できるようにする。 - 特許庁

TEST CENTER SYSTEM, TERMINAL DEVICE, AUDITION COMPENSATION METHOD, AUDITION COMPENSATION METHOD PROGRAM RECORDING MEDIUM, AND PROGRAM FOR AUDITION COMPENSATION METHOD例文帳に追加

検査センター装置、端末装置、聴力補償方法、聴力補償方法プログラム記録媒体、聴力補償方法のプログラム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING TEST QUESTION AND ITS PROGRAM AND STORAGE MEDIUM WITH ITS PROGRAM STORED THEREON例文帳に追加

試験問題評価方法及び装置及び試験問題評価プログラム及び試験問題評価プログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁

To provide a client-server program simulator system and simulation method for efficiently performing load test for a server program.例文帳に追加

効率よくサーバプログラムの負荷試験を行うことのできるクライアント・サーバプログラムのシミュレータシステム及びシミュレーション方法を提供する。 - 特許庁

A chip information acquiring device 103 acquires chip information 102 stored in a semiconductor chip 101, selects a test program corresponding to the acquired chip information 102 out of programs stored in a test program database 104, and loads the selected test program onto a semiconductor tester 105.例文帳に追加

チップ情報取得装置103は、半導体チップ101に記憶されたチップ情報102を取得し、取得したチップ情報102に対応するテストプログラムを、テストプログラムデータベース104に格納されているプログラムの中から選択し、選択したテストプログラムを半導体テスター105にローディングする。 - 特許庁

To provide a test method of a control program, which is capable of easily checking whether the control program mounted on a control model or an electronic control unit is abnormal or not when performing model base development and to provide a test device and a test program for use in this method.例文帳に追加

モデルベース開発を行うにあたって、制御モデルや電子制御装置に実装された制御プログラムの異常の有無を簡易に検査することのできる制御プログラムの検査方法、及び該制御プログラムの検査に用いる検査装置及び検査プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide: a printed circuit board test-assisting apparatus that can efficiently assist in conducting an actual measurement test after a high-density mounting printed board is manufactured; a printed circuit board test-assisting method; and a printed circuit board test-assisting program.例文帳に追加

高密度実装のプリント基板の製造後における実測試験を効率的に支援することのできるプリント基板試験支援装置、プリント基板試験支援方法、及びプリント基板試験支援プログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁

A fare adjustment program is stored in a storage means, and second test data different from first test data input by an input means and resulting in the same charge as that of the first test data are prepared from the first test data.例文帳に追加

記憶手段に精算プログラムを記憶しておき、入力手段により入力した第1のテストデータから第1のテストデータと異なり、かつ、前記第1のテストデータと精算額が同一金額となる第2のテストデータを作成する。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for electronic devices, for detecting error-occurred spots and for preventing alarms, when power supply thereof is turned to ON or OFF, in a test program having test programs with several tens of thousands to several hundred thousand steps.例文帳に追加

電子デバイス用試験装置及び電子デバイスの試験方法に関し、数万〜数十万ステップの試験プログラムにおいて、異常が発生した箇所を検出するとともに、電源のON、OFF時にアラームが出ないようにする。 - 特許庁

Whether or not success/failure conditions specified as conditions for deciding success/failure based on the test result of an object to be tested in a test program are matched with success/failure decision conditions in test required specifications is determined for one test item.例文帳に追加

一のテスト項目について、テストプログラムに被テスト対象のテスト結果に基づく合否判定のための条件として規定された合否判定条件が、テスト要求仕様における合否判定条件に合致するか否かを判別する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TEST FACILITATING DESIGN OF LSI CIRCUIT AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WHERE TEST FACILITATING DESIGN PROCESSING PROGRAM IS RECORDED例文帳に追加

LSI回路のテスト容易化設計方法および装置ならびにテスト容易化設計処理プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide an acceptance-testing terminal device, an acceptance test support system, and a program, allowing an easy acceptance test of a component incorporated in a commodity.例文帳に追加

商品に組み込まれた部品を容易に検収することができる検収用端末装置、検収支援システム及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a one-chip microcomputer capable of creating a test program without considering an address, where a STOP instruction is executed, and shortening a test period of time.例文帳に追加

STOP命令を実行する番地を考慮せずにテストプログラムを作成でき、かつテスト時間を短縮できるワンチップマイクロコンピュータを得る。 - 特許庁

To perform an effective ECC functional test by program in which all data patterns can be set only for test object address data and ECC data.例文帳に追加

検査対象アドレスのデータとECCデータだけについて全データパターンを設定できプログラムによる有効なECC機能検査を実行する。 - 特許庁

To provide a pneumoconiosis diagnosis supporting device and a pneumoconiosis diagnostic supporting program for generally supporting a pulmonary function test and an X-ray photograph test.例文帳に追加

肺機能検査およびエックス線写真検査を総合的に支援するじん肺診断支援装置およびじん肺診断支援プログラムの提供。 - 特許庁

To provide a test data filing system and a test data filing program capable of managing a test time as information varied by a subject, test contents, and a tester for practically managing test times in an ophthalmology hospital, which frequently uses a test apparatus, and using the test time served according to the subject and the tester as data resources of usability determination and test scheduling of the test apparatus inside the hospital.例文帳に追加

検査時間を被検者、検査内容及び検者によって変動する情報として管理することで、検査装置を多用する眼科病院において各検査時間の管理をより実用的に行うことができ、被検者及び検者に応じて実用化された検査時間を病院内の検査装置の利用効率の判断や検査スケジューリングのデータ資源として用いることができる検査データファイリングシステム及び検査データファイリングプログラムを提供する。 - 特許庁

A program test device 20a tests the content of the program provided to a mobil phone 50 via the network in advance and generates test result data 202 which records information indicating a function included in the program and resources to be accessed when the program is executed.例文帳に追加

プログラム検査装置20aは、ネットワークを介して携帯電話機50に提供されるプログラムの内容を事前に検査し、プログラムに含まれている関数や、プログラムを実行した場合にアクセスされるリソースを示す情報を記録した検査結果データ202を生成する。 - 特許庁

A control means 14 having an in-circuit test function 11, a function test function 12 and a communication test function 13 and collectively controlling the operations of these test functions and the operation procesure thereof according to the test program set in a circuit board is provided.例文帳に追加

インサーキットテスト機能11と、ファンクションテスト機能12と、通信テスト機能13とを一体に備え、これらの各テスト機能の動作とその動作手順を、前記回路基板に対して設定したテストプログラムに従って一括管理して制御する制御手段14とを備える。 - 特許庁

Then, by allocating test items for testing the function of the program to be released to the respective determined test periods on the basis of the function indicated by a function ID included in test item information read from a test item information storage device 20, the test plan is prepared.例文帳に追加

次に、リリースされるプログラムの機能をテストするテスト項目を、テスト項目情報記憶装置20から読み出したテスト項目情報に含まれる機能IDが示す機能に基づいて、前記決定された各テスト期間に割り当てることによって、テスト計画を作成する。 - 特許庁

DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR SUPPORTING GENERATION OF TEST PATTERN例文帳に追加

テストパターン生成支援装置、テストパターン生成支援方法、テストパターン生成支援プログラム、および記録媒体 - 特許庁

TEST INFORMATION MANAGEMENT SYSTEM, DEVICE, METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

試験情報管理システム、試験情報管理装置、試験情報管理方法及び試験情報管理プログラム - 特許庁

TEMPERATURE TEST SYSTEM FOR ELECTRONIC APPARATUS AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME AND TEMPERATURE CONTROL UNIT AND PROGRAM例文帳に追加

電子機器の温度試験システムとその制御方法および温度調整装置ならびにプログラム - 特許庁

DETERMINISTIC COMPONENT MODEL DETERMINATION DEVICE, DETERMINATION METHOD, PROGRAM, STORAGE MEDIUM, TEST SYSTEM AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

確定成分モデル判定装置、判定方法、プログラム、記憶媒体、試験システム、および、電子デバイス - 特許庁

IMAGE DISPLAY DEVICE, GAME MACHINE, IMAGE DATA TESTING METHOD, IMAGE DATA TEST PROGRAM AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

画像表示装置、遊技機、画像データ検査方法、画像データ検査プログラム、および記録媒体 - 特許庁

TEST FACILITY SYSTEM, TIME SYNCHRONIZING METHOD FOR APPLICATION SOFTWARE TO BE USED THEREFOR AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

試験設備システム及びそれに用いるアプリケーションソフトウェアの時刻同期方法並びにそのプログラム - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR GENERATING TEST PATTERN AND ITS DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法と試験パタン生成方法及び装置並びにプログラム - 特許庁

To provide a circuit for performing the almost substantial test of program processing.例文帳に追加

この発明は、実体に近いプログラム処理のテストが行える回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

LIFE TESTING APPARATUS FOR PORTABLE TERMINAL WITH SLIDING MECHANISM, AND LIFE TEST PROGRAM例文帳に追加

摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置および方法並びに寿命試験プログラム - 特許庁

REGRESSION DETERMINATION DEVICE, ITS METHOD AND ITS PROGRAM AND REGRESSION TEST SYSTEM AND ITS METHOD例文帳に追加

リグレッション判定装置、その方法及びそのプログラム並びにリグレッションテストシステム及びその方法 - 特許庁

To easily test whether a flow of processing based on a program is normal or not.例文帳に追加

簡単にプログラムに基づく処理の流れが正常であるか否かを検査できるようにする。 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT TEST SYSTEM WITH LOG FUNCTION, LOG INFORMATION ANALYSIS METHOD AND LOG INFORMATION ANALYSIS PROGRAM例文帳に追加

ログ機能付き集積回路試験システム、ログ情報解析方法及びログ情報解析プログラム - 特許庁

TEST METHOD OF LOAD CONNECTION OF SERVER AND RECORD MEDIUM RECORDING PROGRAM USING FOR THE METHOD例文帳に追加

サーバの接続負荷テスト方法及びこの方法に使用されるプログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

To provide a technique for optimizing a program by reusing an execution result of a subclass test function.例文帳に追加

サブクラステスト関数の実行結果を再利用してプログラムを最適化する技術を提供する。 - 特許庁

To remarkably reduce the manhours for preparing a test program used when a semiconductor memory is tested.例文帳に追加

半導体メモリをテストする際に用いられるテストプログラムの作成工数を大幅に低減する。 - 特許庁

The program execution part 134 includes: a first test execution mode to execute the operation confirmation of the Web page by making an interface disposed by a Web browser be called from the test program; and a second test execution mode to execute the operation confirmation of the Web page by making a control code newly added to the Web page be called from the test program.例文帳に追加

プログラム実行部134は、ウェブブラウザが公開するインタフェースをテスト・プログラムから呼び出させることによりウェブページの動作確認を実行する第1のテスト実行態様と、ウェブページに対し新たに追加した制御コードをテスト・プログラムから呼び出させることによりウェブページの動作確認を実行する第2のテスト実行態様とを含む。 - 特許庁

例文

Specification file information of every test item 11 which is described in the inspection specification 13, is extracted from a specification file 1 being extracted from the test program, whereby the inspection specification 13 of the test program can be created automatically, accurately and rapidly.例文帳に追加

テストプログラムから抽出したスペックファイル1から、検査仕様書13に記述する各テスト項目11毎のスペックファイル情報を抽出することにより、テストプログラムの検査仕様書13を自動的で正確かつ迅速に作成することができる。 - 特許庁




  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS