「test program」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

To generate test items for performing a security test without manufacturing an IC in which a program is written.例文帳に追加

プログラムを書き込んだＩＣを製造することなくセキュリティ試験を行うための試験項目を生成することができる。 - 特許庁

To provide a technique of generating test data capable of testing a verification program without preparing multiple test data.例文帳に追加

複数のテストデータを準備することなく、検証プログラムをテストすることができるテストデータを生成する技術を提供する。 - 特許庁

A test signal is generated according to a test program 10 and transmitted 11 to a terminal 2 to be tested and a reference terminal 3.例文帳に追加

試験プログラム１０に従って試験信号を作成して被試験端末２及び基準端末３に送信１１する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DISCRIMINATING RESULT OF SPEECH UNDERSTANDING TEST AND STORAGE MEDIUM STORING DISCRIMINATING PROGRAM FOR RESULT OF SPEECH UNDERSTANDING TEST例文帳に追加

音声疎通試験結果判定方法及び装置及び音声疎通試験結果判定プログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁

To provide a medium test method and a device, and a program, wherein a medium test which is suitable for DTM is applied.例文帳に追加

媒体試験方法及び装置並びにプログラムにおいて、ＤＴＭに適した媒体試験を行うことを目的とする。 - 特許庁

To inexpensively perform operation verification of a test program at high speed in offline simulation environment of a test device.例文帳に追加

試験装置のオフライン・シュミレーション環境において、テストプログラムの動作検証をより高速かつ低コストで実現する。 - 特許庁

To shorten testing time of semiconductor devices, while preventing mistakes in setting and altering test conditions, within a test program.例文帳に追加

試験プログラム内での試験条件の設定ミスや変更ミスを防止しながら、半導体デバイスの試験時間を短縮する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS DESIGNING DEVICE, DESIGNING METHOD, DESIGNING PROGRAM, TEST VECTOR VERIFICATION DEVICE, AND TEST VECTOR GENERATION DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路、その設計装置、設計方法、設計プログラム、テストベクタ検証装置、およびテストベクタ作成装置 - 特許庁

The operation verification device combines the program and the input data to form execution sets and a test scenario as well, and subsequently continuously executes the respective execution sets to thereby automatically execute an operation test by a test program.例文帳に追加

プログラムと入力データを組み合わせて実行セット、更には、テスト・シナリオを構成した上で、各実行セットを連続実行させることにより、テスト・プログラムによる動作テストが自動実行される。 - 特許庁

To provide a method for test program generation, an apparatus thereof and a test apparatus for semiconductor integrated circuit, equipped with the apparatus capable of efficiently generating a test program, without requiring complex operations.例文帳に追加

煩雑な作業を必要とせず効率的に試験プログラムを生成することができる試験プログラム生成方法及び装置並びに当該装置を備える半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

A test result is stored by performing the test by transmitting the program to a test means under a condition set by the user, and is registered as code violation place information by detecting a code violation place from the program.例文帳に追加

ユーザにより設定された条件でプログラムをテスト手段に送信してテストを行ってテスト結果を記憶し、プログラムから規約違反箇所を検出して規約違反箇所情報として登録する。 - 特許庁

To provide an endurance test apparatus for a golf club head to automatically carry out an endurance test with requiring by an observer to always stays at a test site for visual examination and without stop of the test device, provide a method for the endurance test for the golf club head, and provide an endurance test program for the golf club head.例文帳に追加

常時観察者が付いて目視観察することがなく、さらに装置を停止することなく自動的に耐久試験を行うゴルフクラブヘッド耐久試験装置、ゴルフクラブヘッド耐久試験方法およびゴルフクラブヘッド耐久試験プログラムを提供する。 - 特許庁

A wafer control host 1 has a test condition database 3, that stores test conditions including information on the quality decision test program for a semiconductor chip, information on a specific characteristic value and a characteristic measurement test program for measurement, and information on a chip address for carrying out a characteristic measurement test.例文帳に追加

ウエハ制御ホスト１は、半導体チップの合否判定テストプログラムの情報と、具体的な特性値と測定するための特性測定テストプログラムの情報と、特性測定テストを行うチップアドレスの情報とを含むテスト条件が記憶されているテスト条件データベース３を備える。 - 特許庁

COMPUTER MOUNTING METHOD, SYSTEM AND PROGRAM FOR MOUNTING CHALLENGE/RESPONSE TYPE TEST例文帳に追加

チャレンジ−レスポンス型テストを実装するためのコンピュータ実装方法、システム、プログラム - 特許庁

VECTOR SET GENERATION METHOD, TESTING SYSTEM, AND RECORDING MEDIUM FOR STORING TEST PROGRAM例文帳に追加

ベクトル・セット生成方法、試験システム及び試験プログラムを格納する記録媒体 - 特許庁

INSPECTION SYSTEM, TEST METHOD, INSPECTION PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM例文帳に追加

検査装置、検査方法、検査プログラムおよびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide a test procedure generating device for improving program development efficiency.例文帳に追加

プログラム開発効率を向上させる試験手順生成装置を提供する。 - 特許庁

CALCULATION APPARATUS, CALCULATION METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, TEST SYSTEM, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

算出装置、算出方法、プログラム、記憶媒体、試験システム、および、電子デバイス - 特許庁

INFORMATION PROCESSOR, TEST PATTERN DATA COMPRESSION METHOD FOR INFORMATION PROCESSOR, AND PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置、情報処理装置のテストパターンデータ圧縮方法及びプログラム - 特許庁

METHOD, DEVICE AND PROGRAM FOR CREATING TEST SCENARIO例文帳に追加

テストシナリオ作成方法、テストシナリオ作成装置およびテストシナリオ作成のためのプログラム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PREPARING TEST CASE RELATED TO FUNCTION COMPETITION AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

機能競合に関するテストケース生成方法とその装置、そのためのプログラム - 特許庁

The test program 200 executes processing for testing an operation of a communication device 125.例文帳に追加

テストプログラム２００は、通信デバイス１２５の動作をテストする処理を実行する。 - 特許庁

The framework determines the output result from a DUT or the DUT model to the prescribed test item executed based on the test plan program based on the test result data stored in the test result database.例文帳に追加

フレームワークは、テストプランプログラムに基づいて実行される所定のテスト項目に対するDUT又はＤＵＴモデルからの出力結果を、試験結果データベースに格納された試験結果データに基づいて決定する。 - 特許庁

When the connection characteristics of the connection mechanisms are not different from each other, a first load test execution part 22 determines load test combination programs of the test program and the load program with load effects for all processors, allocates them to the processors, and executes the load test.例文帳に追加

第１負荷試験実行部２２は接続機構の接続特性に相違がない場合、全プロセッサを対象に負荷効果のある試験プログラムと負荷プログラムとの負荷試験組合せプログラムを決定し、プロセッサに割付けて負荷試験を実行する。 - 特許庁

The arrangement of the test bench needed for the verification program is described within the verification program, whereby a mechanism is constructed which is executed after the test bench conforming to the test bench arrangement described is automatically constructed from the test bench of the largest arrangement.例文帳に追加

検証用プログラムに必要なテストベンチの構成を検証用プログラム内に記述することで、記述されたテストベンチ構成にしたがったテストベンチが最大構成のテストベンチから自動的に構築されてから実行される仕組みを構築する。 - 特許庁

The system automatically generates a test program and an analogue section test pattern of a mixed-signal LSI to be tested by a digital section test program of the mixed-signal LSI to be tested, and an analogue core test program model file and an analogue core test pattern model file which are retrieved based on an analogue core information file which is retrieved from an analogue core test database.例文帳に追加

被試験ミックスドシグナルＬＳＩのデジタル部テストプログラムと、アナログコアテストデータベースから取り込まれるアナログコア情報ファイルに基づいて取り込まれるアナログコアテストプログラム雛型ファイル及びアナログコアテストパタン雛型ファイルと、によって被試験ミックスドシグナルＬＳＩのテストプログラム及びアナログ部テストパタンを自動生成するシステム及びそのシステムをプログラムとして記録した記録媒体。 - 特許庁

While the program is executing, test processing means 1d monitors whether the determined conditions are met, and if the conditions are met, the test processing means 1d refers to the definition information to perform an operation test of the program by calling the exception program components corresponding to the program.例文帳に追加

テスト処理手段１ｄは、当該プログラムの実行中に、特定した条件が満たされたかを監視し、当該条件が満たされると、定義情報を参照して、当該プログラムに対応する例外用プログラム部品を呼び出すことで当該プログラムの動作テストを行う。 - 特許庁

A program conversion device 1 stores the three hierarchized libraries of a main flow, a group flow and a sub-flow and precisely converts each flow of a test program by referring to the libraries at the time of converting the test program being a conversion source into the test program of the format fitted to the IC tester.例文帳に追加

プログラム変換装置１は、メインフロー、グループフローおよびサブフローの３つの階層化されたライブラリを記憶し、変換元となるテストプログラムを異なるＩＣテスタに適合する形式のテストプログラムに変換する際に、これらのライブラリを参照することによって、テストプログラムの各フローを正確に変換する。 - 特許庁

In a test mode, a CPU 10 can output register information to an external device 16 by transferring a certain program from an external device to a RAM 11 in accordance with a test program stored in a test ROM 12, and executing the program.例文帳に追加

テストモードでは、ＣＰＵ１０が、テストＲＯＭ１２に記憶されたテストプログラムに基づいて外部機器から任意のプログラムをＲＡＭ１１に転送し、このプログラムを実行することでレジスタ情報を外部機器１６に出力することができる。 - 特許庁

A test program is created using a microprogram of a spreadsheet program, which is one application software one is accustomed to use, thereby allowing even a user having little knowledge of semiconductor test systems to create the test program easily.例文帳に追加

通常使い慣れたアプリケーションソフトの一つである表計算ソフトのマイクロプログラムを利用してテストプログラムを作成するようにしたものであり、これによって、半導体試験装置の知識の浅いユーザでも容易にテストプログラムを生成することができる。 - 特許庁

To eliminate test item extraction omission and to improve test quality by comprehensively extracting all running routes of a program in test item extraction work.例文帳に追加

試験項目抽出作業においてプログラムの全ての走行ルートを網羅的に抽出することで試験項目抽出漏れを皆無とし、試験品質の向上をはかる。 - 特許庁

Also, a result storage position where processing to store a test result to be obtained for the test conditions of the object to be tested in predetermined variables is executed on the test program is acquired.例文帳に追加

また、テストプログラム上の、被テスト対象のテスト条件に対して得られるテスト結果を所定の変数に格納する処理が実行される結果格納位置を取得する。 - 特許庁

First, a combination test confirmation extraction process 102 retrieves and extracts a process matching an input combination test confirmation process from program test patterns in a file 106.例文帳に追加

まず、組み合わせテスト確認抽出処理102は、入力された組み合わせテスト確認処理と一致する処理を、ファイル106内のプログラムテストパターンから検索・抽出する。 - 特許庁

To provide a test case validity automatic verification program and a test case validity automatic verification result display method which can verify test case validity appropriately.例文帳に追加

適切にテストケース妥当性を検証することができるテストケース妥当性自動検証プログラムおよびテストケース妥当性自動検証結果表示方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test program and a test method capable of performing a load change test in accordance with a hardware configuration on a target system with an arbitrary hardware configuration.例文帳に追加

任意のハードウェア構成を有する対象装置についてハードウェア構成に応じた負荷変動試験を実施することができる試験プログラムおよび試験方法を提供する。 - 特許庁

In this microprocessor, a test address different from a boot address is selected after the reset of the microprocessor, a test program is executed on the basis of the selected test address.例文帳に追加

この発明は、マイクロプロセッサのリセット後に、ブートアドレスとは別のテストアドレスを選択し、選択したテストアドレスに基づいてテストプログラムを実行するように構成される。 - 特許庁

To quantitatively measure what degree a test is covered to a program module to be an object and to notify a person in charge of the test of it when a software test is performed.例文帳に追加

ソフトウェア試験を実施する際、対象となるプログラムモジュールに対してどの程度試験が網羅されたかを定量的に測定して試験担当者に知らせる。 - 特許庁

To provide a test data generating program, a test data generating device, and a test data generating method, capable of improving exhaustiveness in validation for logic verification.例文帳に追加

論理検証における検証網羅性を向上させることが可能なテストデータ生成プログラム、テストデータ生成装置及びテストデータ生成方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A test program is analyzed by an emulator program internal block, and the analysis result is compared with computer-filed semiconductor device standards to find an error contained in the test program at its early stage and proofread it.例文帳に追加

テストプログラムをエミュレータプログラム内部ブロックにて解析し、解析された結果をコンピュータファイル化された半導体素子規格と相互比較してテストプログラムに含まれたエラーを初期に発見し、それを校正する。 - 特許庁

Then, the test conditions specified as conditions necessary for acquiring the test result of the object to be tested in the test program according to the acquired result storage position are extracted, and whether or not the extracted test conditions are matched with test conditions in the test required specifications is determined.例文帳に追加

そして、その取得された結果格納位置に従ってテストプログラムに被テスト対象のテスト結果を得るために必要な条件として規定されたテスト条件を抽出し、その抽出したテスト条件がテスト要求仕様におけるテスト条件に合致するか否かを判別する。 - 特許庁

A 1st test program 1 is installed to the 1st terminal device 10 and the communicating function which is to be the subject of the test is integrated.例文帳に追加

第１の端末装置１０には、第１テストプログラム１がインストールされ、試験対象となる通信機能が組み込まれる。 - 特許庁

To provide an IC test system capable of quickly retrieving a desired measurement result file, in debugging a test program for IC testers.例文帳に追加

ＩＣテスタ用テストプログラムのデバッグにおいて、所望の測定結果ファイルを迅速に探索可能なＩＣテストシステムを提供。 - 特許庁

Because inputting only the program of a part necessary for the test, the memory capacity for the test work can be reduced.例文帳に追加

また、テストに必要な箇所のプログラムのみを入力するため、テスト作業用のメモリ容量を少なくすることが可能となる。 - 特許庁

To provide a method and means for holding a test script library to be used in executing the regression test of an application program.例文帳に追加

アプリケーション・プログラムの回帰試験を実施する際に使われる、試験スクリプト・ライブラリを保持する方法と手段を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SELECTING TEST PATTERN AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH TEST PATTERN SELECTION PROGRAM STORED THEREON例文帳に追加

テストパターン選別装置、テストパターン選別方法およびテストパターン選別プログラムを格納したコンピュータ読取り可能な記録媒体 - 特許庁