「test program」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

The test board 2 includes an interface circuit 5 which requests the test program corresponding to the semiconductor device 4 from the semiconductor testing device 3 in accordance with the semiconductor device 4 to be mounted thereon, and which instructs the semiconductor testing device 3 to read out the requested test program.例文帳に追加

試験ボード２は、搭載される半導体装置４に応じて、半導体装置４に対応する試験プログラムを半導体試験装置３に要求し、要求した試験プログラムを半導体試験装置３に読み出し指令させるインターフェース回路５を有する。 - 特許庁

To provide a test support apparatus which can streamline the data verification of a database (RDB) across program introduction by information system development, a test support system, a method of controlling the test support apparatus, a program and a recording medium.例文帳に追加

情報システム開発におけるプログラムの導入前後におけるデータベース（ＲＤＢ）のデータ検証作業を効率的に行うことが可能なテスト支援装置、テスト支援システム、テスト支援装置の制御方法、プログラム、及び記録媒体を提供することを目的とする。 - 特許庁

APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR DETERMINING TEST TARGET, AND NETWORK MONITORING SYSTEM例文帳に追加

試験対象決定装置、試験対象決定方法、試験対象決定プログラム及びネットワーク監視システム - 特許庁

To automatically conduct a test on the exception handling of a program created by use of an object-oriented programming language.例文帳に追加

オブジェクト指向プログラミング言語を用いて作成されたプログラムの例外処理のテストを自動的に行う。 - 特許庁

To provide a test program preparing device and method which is capable of performing failure analysis of a tested LSI.例文帳に追加

試験後のＬＳＩの故障解析を考慮したテストプログラム作成装置およびその方法を提供する。 - 特許庁

FUNCTION VERIFICATION DEVICE, TEST BENCH, MODEL DESIGNED BY HARDWARE DESCRIPTION LANGUAGE, SIMULATOR PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

機能検証装置、テストベンチ、ハードウェア記述言語により設計されたモデル、シミュレータプログラム及び記憶媒体 - 特許庁

By the above constitution, the operability of the automatic test program generating system can be improved.例文帳に追加

上記のような構成とすることで、テストプログラム自動生成システムの操作性を向上させることができる。 - 特許庁

To dispense with an expensive IC tester, and to easily, simply and quickly degug a test program prepared already.例文帳に追加

高価なＩＣテスタ不要として、作成済みテストプログラムが簡単容易に、かつ速やかにデバッグすること。 - 特許庁

SYSTEM, APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM FOR CONTROLLING RECEPTION OF TEST DRUG例文帳に追加

試験薬受領管理システム及び試験薬受領管理装置，試験薬受領管理方法並びにプログラム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING HEAVY LOAD IN ENCRYPTION SYSTEM AND RECORDING MEDIUM STORING HEAVY LOAD TEST PROGRAM例文帳に追加

暗号化システムにおける高負荷試験方法及び装置と高負荷試験プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

VOICE OUTPUT METHOD IN TESTING DEVICE, TESTING DEVICE, AND RECORD MEDIUM STORING TEST CONTROL PROGRAM例文帳に追加

試験装置における音声出力方法、試験装置および試験制御プログラムが記録された記録媒体 - 特許庁

To provide a simulation support tool which can automatically generate a ladder program for test input.例文帳に追加

テスト入力用のラダープログラムを自動的に生成することができるシミュレーション支援ツールを提供すること - 特許庁

As a result, it is possible to improve the debugging efficiency of a program TPRG for executing the memory access test.例文帳に追加

この結果、メモリアクセス試験を実行するためのプログラムＴＰＲＧのデバッグ効率を向上できる。 - 特許庁

To speedily and efficiently test a control program of an electronic control unit(ECU) loaded on a vehicle.例文帳に追加

車両に搭載されるＥＣＵ（電子制御装置）の制御プログラムを迅速かつ効率的にテストする。 - 特許庁

In the display device, when a test program is loaded, a test route between the respective design modules of a semiconductor tester described in the test program and the DUT is made in a block diagram, and an initialized value on the program is imaged and outputted on a screen.例文帳に追加

テスタを構成するメインフレームのテスターコントローラに設けられ、ヘッドの操作状態を表示する表示装置において、テストプログラムロード時に、テストプログラムに記述された半導体試験装置の各計測モジュールとＤＵＴ間のテスト経路をブロック図とし、プログラム上の初期設定値をイメージ化して画面に出力する。 - 特許庁

JITTER MEASUREMENT APPARATUS, JITTER CALCULATOR, JITTER MEASUREMENT METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, COMMUNICATION SYSTEM, AND TEST APPARATUS例文帳に追加

ジッタ測定装置、ジッタ算出器、ジッタ測定方法、プログラム、記録媒体、通信システム、および試験装置 - 特許庁

To provide an emulation circuit with simplified circuit/device structure to create an LSI test program(TP).例文帳に追加

ＬＳＩテストプログラム（ＴＰ）を作成するための回路・装置構成簡易化したエミュレーション回路を提供する。 - 特許庁

To enable test debugging of a screen processing program for performing job processing over transiting plural screens.例文帳に追加

遷移する複数画面にわたって業務処理を行う画面処理プログラムのテストデバックを可能にする。 - 特許庁

ENVIRONMENT CREATION SUPPORTING DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR CONDUCTING MODEL TEST例文帳に追加

モデル検査実施のための環境生成支援装置、環境生成支援方法、環境生成支援プログラム - 特許庁

DETERMINISTIC COMPONENT IDENTIFICATION DEVICE, DETERMINISTIC COMPONENT IDENTIFYING METHOD, PROGRAM, STORAGE MEDIUM, TEST SYSTEM, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

確定成分識別装置、確定成分識別方法、プログラム、記憶媒体、試験システム、および、電子デバイス - 特許庁

To provide a method for testing memory which utilizes a general memory test program independent of an internal memory configuration.例文帳に追加

メモリの内部構成に依存しない汎用的な試験プログラムによるメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁

A program executing unit 103 executes the programs to be tested according to an instruction issued by the test executing unit 102.例文帳に追加

プログラム実行部１０３は、試験実行部１０２の指示に従って、試験対象プログラムを実行する。 - 特許庁

PROGRAM FOR SUPPORTING TEST-FACILITATING DESIGN OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト容易化設計を支援するためのプログラムおよび半導体集積回路 - 特許庁

TEST CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT, EXTERNAL TESTER, MEASUREMENT METHOD OF SETUP TIME, CONTROL PROGRAM, AND READABLE STORAGE MEDIUM例文帳に追加

テスト回路、集積回路、外部テスター、セットアップ時間の測定方法、制御プログラムおよび可読記憶媒体 - 特許庁

To realize an on-line program test without requiring any operator even when an operation is necessary.例文帳に追加

オンラインプログラムテストにおいて、オペレーションが必要な場合でもオペレータを必要とせずにテストを可能とする。 - 特許庁

To provide a memory card capable of running a new program for test or the like by a built-in data processor without newly adding a program memory.例文帳に追加

プログラムメモリを新たに追加すること無く内蔵データ処理装置にテスト用などの新たなプログラムを実行可能なメモリカードを提供する。 - 特許庁

In such a case, a start address instruction line showing a start address number where each test pattern program 101 is stored is attached to the program 101.例文帳に追加

その際に、各テストパタンプログラム１０１に当該テストパタンプログラム１０１が記憶される開始アドレス番号を示す開始アドレス指示行を付加する。 - 特許庁

An operation verification device 100 in one embodiment includes a program execution part 134 executing a test program for operation confirmation of the Web page.例文帳に追加

実施の１形態の動作検証装置１００は、ウェブページの動作確認のためのテスト・プログラムを実行するプログラム実行部１３４を備える。 - 特許庁

QUESTION AND ANSWER METHOD USING STATISTICAL TEST, QUESTION AND ANSWER SYSTEM, QUESTION AND ANSWER PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM RECORDING THE PROGRAM例文帳に追加

統計的検定を利用した質問応答方法，質問応答システム，質問応答プログラムおよび質問応答プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a testing apparatus and a test program for reducing the amount of correction in a program when a measuring device to be used is changed.例文帳に追加

使用する測定器に変更が生じたときのプログラム修正量を低減するようにした試験装置及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

A program 80 for being tested is automatically tested by a test device 10 based on a test case correct solution 4 created by a high-order design tool 1, an operation procedure 5 for the test case correct solution, and a basic test operation procedure stored in a storage device 100.例文帳に追加

上位設計ツール１で作成されたテストケース正解例４及びテストケース正解例準拠操作手順５と、記憶装置１００に記憶された基本テスト操作手順とに基づいて、テスト装置１０で被テストプログラム８０のテストを自動実行する。 - 特許庁

To provide a function verification device, a test bench, a simulator program, and a storage medium for avoiding unintended register setting in each verification work and allowing a test designer to design a test without taking register competition with the other test into consideration.例文帳に追加

それぞれの検証作業で意図しないレジスタ設定となることを回避することができ、テスト設計者は他のテストとのレジスタ競合を考えることなくテストを設計することができる機能検証装置、テストベンチ、シミュレータプログラム及び記憶媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a test specification preparation support device and a test specification preparation method, allowing storage/reuse of a test policy to efficiently prepare test specifications by a unified procedure, to provide a test specification preparation program making a computer execute the method, and to provide a construction method for a database used for the method.例文帳に追加

テスト方針の蓄積・再利用を可能にして統一した手順でテスト仕様書を効率的に作成し得るテスト仕様作成支援装置、テスト仕様作成方法、この方法をコンピュータに実行させるテスト仕様作成プログラムおよびこの方法に用いるデータベースの構築方法を提供すること。 - 特許庁

Multiple pieces of information on test conditions described in a test program PR are stored in a hardware register 3, then one piece is selected by a register controller 9 from among the multiple pieces of information on test conditions stored in the hardware register 3, and the first test of a device 30 to be measured is conducted, based on the information on test conditions selected.例文帳に追加

試験プログラムＰＲに記述された複数の試験条件情報をハードウェア・レジスタ３に格納した後、ハードウェア・レジスタ３に格納された複数の試験条件情報のうちの一つをレジスタ・コントローラ９で選択し、その選択された試験条件情報に基づいて被試験デバイス３０の一回目の試験を行う。 - 特許庁

The test system 1 includes: a test device 2; a tested device 3 connected to the test device 2 by a data communication line 5 and a power supply line 6, where a test program runs with power supplied from the test device 2; and a detection means 4 detecting operation current of the tested device 3.例文帳に追加

本発明の試験システム１は、試験装置２と、試験装置２とデータ通信線５及び電源供給線６によって接続されており、試験装置２からの電源の供給によって試験プログラムが稼働する被試験装置３と、被試験装置３の稼働電流を検出する検出手段４と、を備える。 - 特許庁

In the IC tester 1, a test control part 71 executes an IC test based on a test program 61 to a device under test on a tester board part 5, the test result is stored in a data acquisition file 62 as the sorting data, and the sorting data which is stored in the file 62 is extracted via a data acquisition part 73.例文帳に追加

ＩＣテスタ１において、テスト制御部７１はテスタボード部５上の被測定デバイスにテストプログラム６１に基づくＩＣテストを実行し、テスト結果を分類データとしてデータ収集ファイル６２に格納し、データ収集ファイル６２に格納された分類データをデータ収集部７３を介して抽出する。 - 特許庁

The method and apparatus of the present invention provides for a test stand, a plurality of X-ray test phantoms(10, 20, 30, 40, 50, 60, 70) and a computer program for data entry, analysis and storage of the test results.例文帳に追加

一般的に、本発明の方法及び装置は、テスト台と、複数のＸ線テスト模型（１０、２０、３０、４０、５０、６０、７０）と、データ入力、分析、及びテスト結果の保存のためのコンピュータプログラムとを提供する。 - 特許庁

One test in tests being related by second relation information is selected for tests related by the second relation information as a test used for the regression test to be made after correcting the program.例文帳に追加

プログラムを修正した後に行う回帰試験に用いる試験として、第２関係情報によって関係付けられた試験に関しては、第２関係情報によって関係付けられた試験のうち、１つの試験を選択する。 - 特許庁

The pin group to receive the fan-out test data is selected using a DMA-based hardware, the test data is fanned out, and a software-based test data program and pattern are prepared to operate the single device.例文帳に追加

ＤＭＡ-ベースハードウェアを利用してどのピングループが“ファンアウト”テストデータを受信すべきであるかを選択し、テストデータをファンアウトし、ソフトウェア-ベーステストプログラムおよびパターンを作り出して単一デバイスを操作することができる。 - 特許庁

In a general test, controller software 11 transfer a command stored in a device test program storage part 12 to a thermostatic bath 20 or tester part 30 according to description order of programs to perform a burn-in test.例文帳に追加

コントローラソフトウェア１１は、通常試験の場合には、デバイステストプログラム記憶部１２に記憶されている命令をプログラムの記述順に従って恒温槽部２０又はテスタ部３０に転送してバーンイン試験を行う。 - 特許庁

To reduce a pattern transfer time by minimizing the number of times of test pattern transfer from a buffer memory to a local memory, following a measurement sequence by a test program, and to thereby shorten the measuring time, in a function test of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の機能テストに際して、テストプログラムによる測定シーケンスにしたがうバッファメモリからローカルメモリへのテストパターン転送回数を最小化してパターン転送時間を削減し、測定時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a test diagnostic method for a computer system for starting test diagnosis even in a status that the normal operation of an input/output port is not sufficiently secured without using any input/output port for the transfer of a test diagnostic program.例文帳に追加

試験診断プログラムの転送に入出力ポートを使わず、入出力ポートの正常動作が十分に保証されない状態でも試験診断を開始できるコンピュータシステムの試験診断方法を提供する。 - 特許庁

To eliminate a need of a socket substrate for checking a tester and a test board itself of a test system, and for debagging a test program, and to optionally conduct attachment and detachment for a finished product IC and an IC socket without depending on insertion and removing of a pin.例文帳に追加

テストシステムのテスタ、テストボード１２自体のチェックや、テストプログラムのデバッグを行うための、ソケット基板を不要とすると共に、完成品ＩＣ、ＩＣソケットの脱着をピンの挿脱によることなく、任意に行うこと。 - 特許庁

To provide an inexpensive and simple test magnetic recording signal generation device capable of writing magnetic data in which optional jitters are generated, a test bankbook preparation device, a test magnetic recording signal generation method, and a program.例文帳に追加

任意のジッタを生じさせた磁気データを書き込むことが可能な安価で簡易なテスト用磁気記録信号発生装置、テスト用通帳作成装置、テスト用磁気記録信号発生方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a program checking device and a program checking method capable of selecting and executing only an absolutely necessary test case and a recording medium with a checking program stored.例文帳に追加

必要最小限のテストケースだけを選択して実行することができるプログラム検査装置、プログラム検査方法及び検査を行うためのプログラムを格納した記録媒体を提供すること。 - 特許庁