限界試験の英語

(１)二つの摺動部品と同じ材料の標準試験片の限界PV値Pvを標準条件中で測定し、限界滑り線速度Vcを求める。例文帳に追加

In step (1), a limiting PV value Pv of a standard specimen formed from the same material as two slide components is measured under standard conditions, and a limiting slide linear velocity Vc is found. - 特許庁

、中空円筒試験片同士の組合せで測定された両連続摺動の限界PV値から片側間欠摺動の限界すべり速度および限界PV値を簡便に推算する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for simply estimating limit sliding speed and a limit PV value of a one-side intermittent slide from limit PV values of a bicontinuous slide measured by a combination of hollow cylinder test pieces. - 特許庁

半導体集積回路の機能試験パタンと、外部からの比較的遅いクロック信号とを用いて、機能試験パタンの任意のサイクルでの動作周期の限界、つまり本半導体集積回路装置の遅延性能を容易に試験することができる半導体集積回路の試験回路およびその試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a circuit and a method for testing a semiconductor integrated circuit, which can easily test a limitation of an operation cycle, i.e., a delay characteristic of the semiconductor integrated circuit device at an arbitrary cycle in a function test pattern of the semiconductor integrated circuit, by using the function test pattern and a relatively slow clock signal input from the outside. - 特許庁

材料の界面データおよび限界寸法情報をもたらし得る、便利かつ非破壊的な試験技術の必要性が強く感じられている。例文帳に追加

To provide a convenient and nondestructive testing method capable of acquiring an interface data and limit dimension information of a material. - 特許庁

新たな試験条件あるいは実部材でのスポット溶接部の破断限界荷重の推定方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for estimating the limit breaking load of a spot welded part in a new test condition or an actual member. - 特許庁

ｔＲＰ期間の性能限界試験を実行可能な半導体装置及びその制御方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device and a controlling method thereof capable of executing a performance limit test for a tRP period. - 特許庁

新たな試験条件あるいは実部材でのスポット溶接部の破断限界荷重の推定方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a method of estimating a rapture limit load of a spot welding part under a new testing condition or in an actual member. - 特許庁

極小トラック幅ヘッド対応の限界性能を向上させることができる磁気ディスクドライブ用磁気ヘッドの試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a testing method for a magnetic head for a magnetic disk drive which can improve the limit performance corresponding to a very- narrow-width head. - 特許庁